CN208537685U - 电脑主板Type-C测试模组 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开并提供了一种结构简单、测试方便安全、减少人为干预和提高效率的电脑主板Type‑C测试模组。本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括安装板、设置在所述安装板下部的弹簧针块、设置在所述弹簧针块内部的探针和设置在所述安装板上部的测试模块，所述探针的一端与所述测试模块之间通过软排线相连接，所述探针的另一端与待测产品相配合。本实用新型可用于Type‑C数据接口测试的技术领域。

Description

电脑主板Type-C测试模组

技术领域

本实用新型涉及一种电脑主板Type-C测试模组。

背景技术

随着各设备厂商的推进，USB Type-C接口逐渐成为平板、笔记本、手机等设备的接口方案，现有技术中对Type-C接口的测试方案需要使用不同设备进行不同功能测试，整个测试过程繁琐且需要大量人力干预，不利于大规模的测试的问题；现有测试方案需要在待测产品成品时进行测试，不利于不良品的返修。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单、测试方便安全、减少人为干预和提高效率的电脑主板Type-C测试模组。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括安装板、设置在所述安装板下部的弹簧针块、设置在所述弹簧针块内部的探针和设置在所述安装板上部的测试模块，所述探针的一端与所述测试模块之间通过软排线相连接，所述探针的另一端与待测产品相配合。

在上述方案中，测试模块提供了对USB Type-C接口的测试，测试模组运作时，弹簧针块里的高频探针会扎向待测产品的测试点，将待测产品的Type-C接口信号引到软排线上，软排线再引至Type-C Test Module即测试模块上，进行测试；与现在市面的使用测试设备直接插入待测设备的测试方案相比，本方案采用弹簧针块加软排线的方式连接，便于集成化、自动化和规模化，从连接稳定性和后期维护上也具有较大的改进。

进一步地，所述测试模块包括主板和均与所述主板电信号连接的Display Port测试单元、USB2.0测试单元、充电测试单元和负载能力测试单元。

在上述方案中，测试模块集成了Type-C接口的主要功能测试方案，全过程可以自动化实现，减少了人为干预，提高了测试稳定性，也大大加快了效率，减轻了测试成本。

进一步地，所述Display Port测试单元包括Display Port接收芯片、多路选择器一和EEPROM储存器，所述Display Port接收芯片与所述主板通过通信收发线电信号连接，所述多路选择器一与所述主板和所述Display Port接收芯片均电连接，所述EEPROM储存器与所述Display Port接收芯片之间通过I2C总线信号线相互连接。

进一步地，所述USB2.0测试单元包括信号调节器、多路选择器二和USB设备，所述信号调节器的输入端与所述主板相连接，所述信号调节器的输出端与所述多路选择器二的输入端相连接，所述多路选择器二的输出端与所述USB设备相连接。

进一步地，所述充电测试单元包括配置通道控制逻辑检测芯片和多路选择器三，所述多路选择器三通过标准信号线与所述主板电连接，所述多路选择器三连接所述配置通道控制逻辑检测芯片的输入端。

进一步地，所述负载能力测试单元包括电连接至所述主板的过压保护电路、与所述过压保护电路电连接的场效应管和与所述场效应管电连接的电子负载。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型另一个角度结构示意图；

图3是测试模块的框图。

具体实施方式

如图1至图3所示，本实用新型的具体实施方式是：本实用新型包括安装板1、设置在所述安装板1下部的弹簧针块2、设置在所述弹簧针块2内部的（高频）探针21和设置在所述安装板1上部的测试模块40，所述探针21的一端与所述测试模块40之间通过软排线3相电连接，所述探针21的另一端与待测产品上的USB Type-C接口相配合。在本方案中，测试模块40提供了对USB Type-C接口的测试，测试模组运作时，弹簧针块2里的高频探针21会扎向待测产品的测试点，将待测产品的Type-C接口信号引到软排线3上，软排线3再引至Type-CTest Module即测试模块40上，进行测试；与现在市面的使用测试设备直接插入待测设备的测试方案相比，本方案采用弹簧针块2加软排线3的方式连接，便于集成化、自动化和规模化，从连接稳定性和后期维护上也具有较大的改进。

进一步地，所述测试模块40包括主板4和均与所述主板4电信号连接的DisplayPort测试单元、USB2.0测试单元、充电测试单元和负载能力测试单元。在本方案中，测试模块40集成了Type-C接口的主要功能测试方案，全过程可以自动化实现，减少了人为干预，提高了测试稳定性，也大大加快了效率，减轻了测试成本。

进一步地，所述Display Port测试单元包括Display Port接收芯片51、多路选择器一52和EEPROM储存器53，所述Display Port接收芯片51与所述主板4通过通信收发线54电信号连接，所述多路选择器一52与所述主板4和所述Display Port接收芯片51均电连接，所述EEPROM储存器53与所述Display Port接收芯片51之间通过I2C总线信号线55相互连接。

进一步地，所述USB2.0测试单元包括信号调节器61、多路选择器二62和USB设备63，所述信号调节器61的输入端与所述主板4相连接，所述信号调节器61的输出端与所述多路选择器二62的输入端相连接，所述多路选择器二62的输出端与所述USB设备63相连接。

进一步地，所述充电测试单元包括配置通道控制逻辑检测芯片71和多路选择器三72，所述多路选择器三72通过标准信号线73与所述主板4电连接，所述多路选择器三72连接所述配置通道控制逻辑检测芯片71的输入端。所述配置通道控制逻辑检测芯片71的输出端电信号连接所述多路选择器一52、多路选择器二62和多路选择器三72。

进一步地，所述负载能力测试单元包括电连接至所述主板4的过压保护电路81、与所述过压保护电路81电连接的场效应管82和与所述场效应管82电连接的电子负载83。

如图3所示，主板4与Display Port接收芯片51（Display Port为一种视频接口标准，最高可实现高达17.28Gbps数据带宽）通过通信收发线54TX、RX四组差分线连接，Display Port接收芯片51则与EEPROM储存器53（EEPROM指带电可擦可编程只读存储器）通过I2C_SCL/SDA（一种通讯总线协议里规定的两个信号线）相互连接；多路选择器一52通过SBU1和SBU2连接至主板4，同时多路选择器一52又与Display Port接收芯片51相连接；多路选择器三72通过CC1和CC2连接至主板4，同时多路选择器三72又与CC LOGIC芯片（CC LOGIC芯片为配置通道控制逻辑检测芯片71，在本专利指的是符合Type-C标准的，具有电源管理、数据端口、替代模式等本文用到的功能的芯片）相连接；主板4通过VBUS线连接有过压保护电路81（OVP），过压保护电路81电连接场效应管82，场效应管82电连接CC LOGIC芯片；另一方面，主板4电连接信号调节器61（REDRIVER），信号调节器61连接多路选择器二62，多路选择器二62电连接USB设备63（USB DEVICE）；另一方面，配置通道控制逻辑检测芯片71具有Power Delivery（功率输出）功能，CC LOGIC芯片的输出端电信号连接多路选择器一52、多路选择器二62和多路选择器三72，通过多路选择器三72将CC线连接至CC LOGIC芯片，产品与CC LOGIC芯片进行Power Delivery协商，即可利用VBUS对DUT进行充电。

本方案包含了四个测试方向：

1、Display Port测试：产品上的信号从针点通过Pogo block即弹簧针块2引到测试模块40，两对TX，RX线包含了四组差分线，连接到Display Port接收芯片51，SBU1/SBU2由多路选择器一52控制连通与否，在连通的条件下，CC LOGIC芯片与产品协议通信进入替代模式，Display Port接收芯片51会读取EEPROM里的配置文件，成功后产品将可以识别到本测试模块40模拟的显示设备。通过与产品通讯，读取分辨率，通信速率等数据与配置文件对比，即可完成测试。

2、USB2.0测试及正反插测试：通过多路选择器三72，将CC1或CC2下拉到一个规定阻值的电阻Rd，产品即成为UFP（上行数据端口）设备，本测试单元成为DFP（下行数据端口）设备，产品与本模块上的U盘设备即可完成协商通信。控制CC1或CC2的下拉Rd，即可模拟接口的正反插效果。

3、充电功能测试：本单元上的CC LOGIC芯片具有Power Delivery功能，通过多路选择器三将CC线连接至CC LOGIC芯片，产品与本单元的CC LOGIC芯片进行Power Delivery协商，即可利用VBUS对产品进行充电。

4、DUT负载能力：将VBUS通过MOS管选通到电子负载83（ELOAD）上，进行负载能力测试。

本测试方案采用了Pogo block即弹簧针块2进行连接，将信号引至测试模块40上，并在测试模块40集成了Type-C接口的主要功能测试方案，全过程可以自动化实现，减少了人为干预，提高了测试稳定性，也大大加快了效率，减轻了测试成本。并且可以通过与上位机通信，实现测试数据的数字化，便于使用者存档测试数据，进行追根溯源。本测试方案主要是可以在产品PCBA阶段即可进行测试，实现低成本、空间占用小、大规模的快速测试。

本实用新型可用于Type-C数据接口测试的技术领域。

Claims (6)

1.一种电脑主板Type-C测试模组，其特征在于：它包括安装板（1）、设置在所述安装板（1）下部的弹簧针块（2）、设置在所述弹簧针块（2）内部的探针（21）和设置在所述安装板（1）上部的测试模块（40），所述探针（21）的一端与所述测试模块（40）之间通过软排线（3）相连接，所述探针（21）的另一端与待测产品相配合。

2.根据权利要求1所述的电脑主板Type-C测试模组，其特征在于：所述测试模块（40）包括主板（4）和均与所述主板（4）电信号连接的Display Port测试单元、USB2.0测试单元、充电测试单元和负载能力测试单元。

3.根据权利要求2所述的电脑主板Type-C测试模组，其特征在于：所述Display Port测试单元包括Display Port接收芯片（51）、多路选择器一（52）和EEPROM储存器（53），所述Display Port接收芯片（51）与所述主板（4）通过通信收发线（54）电信号连接，所述多路选择器一（52）与所述主板（4）和所述Display Port接收芯片（51）均电连接，所述EEPROM储存器（53）与所述Display Port接收芯片（51）之间通过I2C总线信号线（55）相互连接。

4.根据权利要求2所述的电脑主板Type-C测试模组，其特征在于：所述USB2.0测试单元包括信号调节器（61）、多路选择器二（62）和USB设备（63），所述信号调节器（61）的输入端与所述主板（4）相连接，所述信号调节器（61）的输出端与所述多路选择器二（62）的输入端相连接，所述多路选择器二（62）的输出端与所述USB设备（63）相连接。

5.根据权利要求2所述的电脑主板Type-C测试模组，其特征在于：所述充电测试单元包括配置通道控制逻辑检测芯片（71）和多路选择器三（72），所述多路选择器三（72）通过标准信号线（73）与所述主板（4）电连接，所述多路选择器三（72）连接所述配置通道控制逻辑检测芯片（71）的输入端。

6.根据权利要求2所述的电脑主板Type-C测试模组，其特征在于：所述负载能力测试单元包括电连接至所述主板（4）的过压保护电路（81）、与所述过压保护电路（81）电连接的场效应管（82）和与所述场效应管（82）电连接的电子负载（83）。