TWI583979B - 檢測裝置、檢測方法及包含其之電子設備 - Google Patents
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Description
本發明涉及一種測控技術領域，特別是涉及一種檢測裝置、檢測方法及電子設備。
由於在高速信號中，Sink端的直流偏置電壓和source端的直流偏置電壓不一樣，故要採用交流電容耦合信號，所以SATA、PCIE、USB3.0等差分線通常都會串接0.1uf的電容。
基於電容的特性，加入了0.1uf電容的線路，會隔斷整條交流電容耦合信號線路，普通檢測電路只能檢測交流電容耦合信號線路是否有短路，對於交流電容耦合信號線路中是否有缺件、錯件及開路的情況則無法檢測。
鑒於以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在於提供一種檢測裝置、檢測方法及電子設備，用於解決現有技術中無法檢測交流電容耦合信號電路中是否有缺件、錯件及開路的問題。
為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種檢測裝置，包括一交流電容耦合信號電路，該交流電容耦合信號電路包括一第一電容及一第一電阻，該第一電容的一端與該第一電阻的一端及該檢測裝置連接，該第一電容的另一端連接第一電源，該第一電阻的另一端接地；該檢測裝置包括：一發送模組、一介面模組以及一檢測模組。
該發送模組用於確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的一工作狀態時，將一高電平狀態指示資訊發送給該介面模組；在該介面模組的一工作狀態轉化為一高電平狀態的一預設時間段後，將一讀取狀態指示資訊發送給該介面模組。
該介面模組用於接收到該高電平狀態指示資訊時，根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態；接收到該讀取狀態指示資訊時，根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為一讀取狀態。
該檢測模組用於在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組的一工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為一延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。
優選地，該檢測模組具體用於：將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一第一延時值進行比較；若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一開路狀態；否則，將該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一第二延時值進行比較；若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一正常狀態；若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值不相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一錯件或缺件狀態。
優選地，該檢測模組具體用於：將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較；若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，計算該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值的差值；將該差值與一閾值進行比較；若該差值小於或等於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態；若該差值大於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態；其中，該第一延時值小於該第二延時值。
優選地，該檢測模組，還用於在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態後，且該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為接近零的情況下，確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一短路狀態。
基於上述裝置，本發明實施例提供了一種檢測方法，該檢測方法包括：該發送模組確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的該工作狀態時，將該高電平狀態指示資訊發送給該介面模組。
該介面模組根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態。
該發送模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該高電平狀態的該預設時間段後，將該讀取狀態指示資訊發送給該介面模組。
該介面模組根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該讀取狀態。
該檢測模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為該延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。
優選地，所述根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態，包括：將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較；若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，將該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值進行比較；若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態；若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值不相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態；其中，該第一延時值小於該第二延時值。
優選地，所述根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態，包括：將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較；若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，計算該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值的差值；將該差值與該閾值進行比較；若該差值小於或等於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態；若該差值大於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態；其中，該第一延時值小於該第二延時值。
優選地，該檢測方法還包括：該檢測模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態後，且該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為接近零的情況下，確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該短路狀態。
基於上述裝置，本發明實施例還提供了一種電子設備，該電子設備包括上述的檢測裝置。
如上所述，本發明提供的檢測裝置、檢測方法及電子設備，包括交流電容耦合信號電路，該交流電容耦合信號電路包括第一電容及第一電阻，該第一電容的一端與該第一電阻的一端及該檢測裝置連接，該第一電容的另一端連接第一電源，該第一電阻的另一端接地。
該檢測裝置包括：發送模組、介面模組、及檢測模組；其中，該發送模組，用於確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的工作狀態時，將高電平狀態指示資訊發送給該介面模組；在該介面模組的工作狀態轉化為高電平狀態的預設時間段後，將讀取狀態指示資訊發送給該介面模組；該介面模組，用於接收到該高電平狀態指示資訊時，根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態；接收到該讀取狀態指示資訊時，根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為讀取狀態；該檢測模組，用於在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組的工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。如此，本發明實施例中利用電容的充放電特性，檢測該介面模組的工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為延時值，從而能夠根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的預定延時值來檢測該交流電容耦合信號電路中是否有缺件、錯件及開路的情況。
以下透過特定的具體實例說明本發明的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所揭露的內容輕易地瞭解本發明的其他優點與功效。本發明還可以透過另外不同的具體實施方式加以實施或應用，本說明書中的各項細節也可以基於不同觀點與應用，在沒有背離本發明的精神下進行各種修飾或改變。需說明的是，在不衝突的情況下，以下實施例及實施例中的特徵可以相互組合。
需要說明的是，以下實施例中所提供的圖示僅以示意方式說明本發明的基本構想，遂圖式中僅顯示與本發明中有關的組件而非按照實際實施時的元件數目、形狀及尺寸繪製，其實際實施時各元件的型態、數量及比例可為一種隨意的改變，且其元件佈局型態也可能更為複雜。
下面結合附圖及具體實施例對本發明做進一步詳細的說明。
本發明實施例提出了一種檢測裝置，應用於對交流電容耦合信號電路的工作狀態進行檢測，該交流電容耦合信號電路包括第一電容及第一電阻，該第一電容的一端與該第一電阻的一端及該檢測裝置連接，該第一電容的另一端連接第一電源，該第一電阻的另一端接地；如第一圖所示，該檢測裝置包括：發送模組100、介面模組101、及檢測模組102。
該發送模組100用於確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的工作狀態時，將高電平狀態指示資訊發送給該介面模組101；在該介面模組的工作狀態轉化為高電平狀態的預設時間段後，將讀取狀態指示資訊發送給該介面模組101。
該介面模組101用於接收到該高電平狀態指示資訊時，根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態；接收到該讀取狀態指示資訊時，根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為讀取狀態。
該檢測模組102用於在該介面模組101的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組101的工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。
具體的，該第一電容的一端與該第一電阻的一端及該檢測裝置中的介面模組101連接。
以上功能模組的劃分方式僅為本發明實施例給出的一種優選實現方式，功能模組的劃分方式不構成對本發明的限制。為了描述的方便，以上該裝置的各部分以功能分為各種模組分別描述。
在實際應用中，上述功能模組可以集成到一個硬體設備中實現，例如，該發送模組100、介面模組101、及檢測模組102集成到一個單片機、數位訊號處理器、或現場可程式設計閘陣列中實現，該介面模組101可由該單片機、該數位訊號處理器、或該現場可程式設計閘陣列中的輸入/輸出（Input/Output，I/O）介面實現。
基於相同的技術構思，本發明實施例還提供了一種電子設備，該電子設備包括：上述的檢測裝置。
基於相同的技術構思，本發明實施例提供了一種基於上述檢測裝置實現的檢測方法，應用於對該交流電容耦合信號電路的工作狀態進行檢測，如第二圖所示，該檢測方法包括：
步驟S200：該發送模組100確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的該工作狀態時，將該高電平狀態指示資訊發送給該介面模組101。
本步驟中，該交流電容耦合信號電路的該工作狀態包括：開路狀態、正常狀態、錯件或缺件狀態、短路狀態。
步驟S201：該介面模組101根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態。
本步驟中，該介面模組101可由該單片機、該數位訊號處理器、或該現場可程式設計閘陣列中的I/O介面實現。
本步驟中，該介面模組101自身的工作狀態包括：高電平狀態及讀取狀態；該介面模組101根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態，即：I/O介面將自身的工作電壓拉高為5V。
步驟S202：該發送模組100在該介面模組101的該工作狀態轉化為該高電平狀態的該預設時間段後，將該讀取狀態指示資訊發送給該介面模組101。
本步驟中，該介面模組101在自身工作狀態轉化為該高電平狀態之後延時該預設時間段，通常該預設時間段為很短，可以達到us微秒級，之後該發送模組100將該讀取狀態指示資訊發送給該介面模組101，該讀取狀態指示資訊用於指示該介面模組101將自身的該工作狀態轉化為該讀取狀態。
步驟S203：該介面模組101根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該讀取狀態。
本步驟中，該介面模組101在自身工作狀態轉化為該高電平狀態之後延時該預設時間段，之後該介面模組101根據該讀取狀態指示資訊將自身工作狀態切換為讀取狀態。
步驟S204：該檢測模組102在該介面模組101的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組101的該工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為該延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。
本步驟中，該介面模組101根據該讀取狀態指示資訊將自身工作狀態切換為讀取狀態，這個時候該介面模組101的工作電壓會慢慢降低，最後降低為零，該檢測模組102記錄這個降低到零的時間以作為延時值。 具體地，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值，可以採用以下兩種方式確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態：
方式一：首先將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較。
若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，將該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值進行比較。
若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態。
若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值不相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態。
其中，該第一延時值小於該第二延時值。
方式二：首先將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較。
若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，計算該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值的差值。
將該差值與該閾值進行比較。
若該差值小於或等於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態。
若該差值大於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態。
其中，該第一延時值小於該第二延時值。
其中，上述閥值為一預先設定的時長，其作用為：在該延時值與理論時間不相同時，將該預先設定的時長同該延時值與理論時間之間的時間差進行比較。
需要說明的是：若該交流電容耦合信號電路為開路狀態，則利用電容的充放電特性，該介面模組101的工作電壓會瞬間降低為零，即：該介面模組的工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間幾乎為零，因此，可以將該第一延時值設置為零或微秒級的時間值，具體需要根據實際情況設置該第一延時值，這裡對該第一延時值不作具體限定。若該交流電容耦合信號電路為非開路狀態，則繼續判斷該交流電容耦合信號電路是否為錯件或缺件狀態，此時需要利用電容的充放電特性，根據該第一電阻的阻值、所串聯的該第一電容的容值、及該第一電源的電壓值，並透過以下公式計算出正常情況下，該介面模組101的工作電壓自開始降低至最後電壓為零的理論時間Ut：Ut=U0*e（-T/RC）；其中，U0該第一電源的電壓值，R為該第一電阻的阻值，C為該第一電容的容值，RC又稱為時間常數。將該第二延時值設置為該理論時間，以實現對該交流電容耦合信號電路的錯件或缺件狀態的檢測， 若該延時值與該理論時間相同或差值在該閾值範圍之內，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態，若該延時值與該理論時間不相同或差值未在該閾值範圍之內，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態；如此，利用電容的充放電特性，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的預定延時值能夠檢測出該交流電容耦合信號電路中是否有缺件、錯件及開路的情況。
進一步地，在該交流電容耦合信號電路為非短路狀態時，由於該介面模組101透過該第一電阻接地，因此，該介面模組101轉化為讀取狀態後的工作電壓應該能夠降低到零，若該檢測模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態後，且該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為接近零的情況下，則可以確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該短路狀態。
為了更清楚地對本發明實施例進行說明，下面在實際應用中結合具體實施例對該交流電容耦合信號電路的檢測流程進行詳細描述。
如第三圖所示，本發明實施例中，該交流電容耦合信號電路包括第一電容C及第一電阻R，該第一電容C的一端與該第一電阻R的一端連接，該第一電容C的另一端連接第一電源VDD高電位，該第一電阻R的另一端接地GND低電位；該第一電容C的一端及該第一電阻R的一端接入單片機的I/O介面。
在不做任何動作的情況下，此時單片機的I/O介面的實際工作電壓應該是低電位，讀到的資料應該是低電位‘0’，透過該單片機的I/O介面的實際工作電壓是否為低電位‘0’來檢測該交流電容耦合信號電路是否處於短路狀態。
將單片機的I/O介面的工作電壓拉高為5V，延時預設時間段（很短us微秒級），之後將單片機的I/O介面切換為讀取狀態，這個時候單片機的I/O介面的工作電壓會慢慢降低，最後降低為“0”，記錄這個降低到“0”的時間。
若降低到“0”的時間為零，則判斷該交流電容耦合信號電路的工作狀態為開路狀態；否則，根據降低到“0”的時間及理論時間判斷該交流電容耦合信號電路的工作狀態，若降低到“0”的時間與理論時間不相同，則判斷該交流電容耦合信號電路的工作狀態為錯件或缺件狀態，若降低到“0”的時間與理論時間相同，則判斷該交流電容耦合信號電路的工作狀態為正常狀態，從而實現對該交流電容耦合信號電路工作狀態的快速檢測。
綜上該，本發明實施例中該發送模組100確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的該工作狀態時，將該高電平狀態指示資訊發送給該介面模組101；該介面模組101根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態；該發送模組100在該介面模組101的該工作狀態轉化為該高電平狀態的該預設時間段後，將該讀取狀態指示資訊發送給該介面模組101；該介面模組101根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該讀取狀態；該檢測模組102在該介面模組101的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組101的該工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為該延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態；如此，本發明實施例中利用電容的充放電特性，檢測該介面模組的工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為延時值，從而能夠根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的預定延時值來檢測該交流電容耦合信號電路中是否有缺件、錯件及開路的情況。所以，本發明有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。
上述實施例僅例示性說明本發明的原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本發明的精神及範疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本發明所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本發明的權利要求所涵蓋。
100‧‧‧發送模組
101‧‧‧介面模組
102‧‧‧檢測模組
101‧‧‧介面模組
102‧‧‧檢測模組
第一圖顯示為本發明提供的檢測裝置的組成結構示意圖； 第二圖顯示為本發明提供的檢測方法的實現流程示意圖；以及 第三圖顯示為本發明提供的具體實施例的示意圖。
Claims (9)
- 一種檢測裝置，包括一交流電容耦合信號電路，該交流電容耦合信號電路包括一第一電容及一第一電阻，該第一電容的一端與該第一電阻的一端及該檢測裝置連接，該第一電容的另一端連接第一電源，該第一電阻的另一端接地；該檢測裝置包括一發送模組、一介面模組以及一檢測模組；其中， 該發送模組，用於確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的一工作狀態時，將一高電平狀態指示資訊發送給該介面模組；在該介面模組的該工作狀態轉化為該高電平狀態的一預設時間段後，將一讀取狀態指示資訊發送給該介面模組； 該介面模組，用於接收到該高電平狀態指示資訊時，根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態；接收到該讀取狀態指示資訊時，根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該讀取狀態；以及 該檢測模組，用於在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組的一工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為一延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中：該檢測模組具體用於： 將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一第一延時值進行比較； 若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一開路狀態；否則，將該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的一第二延時值進行比較； 若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一正常狀態；以及 若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值不相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一錯件或缺件狀態。
- 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中：該檢測模組具體用於： 將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較； 若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，計算該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值的一差值； 將該差值與一閾值進行比較； 若該差值小於或等於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態；以及 若該差值大於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態； 其中，該第一延時值小於該第二延時值。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中：該檢測模組，還用於在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態後，且該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為接近零的情況下，確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為一短路狀態。
- 一種基於申請專利範圍第1項至第4項任一項所述之檢測裝置實現之檢測方法，其中，該檢測方法包括： 該發送模組確定需要檢測該交流電容耦合信號電路的該工作狀態時，將該高電平狀態指示資訊發送給該介面模組； 該介面模組根據該高電平狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該高電平狀態； 該發送模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該高電平狀態的該預設時間段後，將該讀取狀態指示資訊發送給該介面模組； 該介面模組根據該讀取狀態指示資訊將自身的該工作狀態轉化為該讀取狀態；以及 該檢測模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態時，檢測該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為零的時間以作為該延時值，根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態。
- 如申請專利範圍第5項所述之檢測方法，其中，該根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態，包括： 將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較； 若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，將該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值進行比較； 若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態；以及 若該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值不相同，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態； 其中，該第一延時值小於該第二延時值。
- 如申請專利範圍第5項所述之檢測方法，其中，該根據所檢測的該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該預定延時值確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態，包括： 將該延時值及該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值進行比較； 若該延時值小於或等於該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第一延時值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該開路狀態；否則，計算該延時值與該交流電容耦合信號電路的該工作狀態對應的該第二延時值的差值； 將該差值與該閾值進行比較； 若該差值小於或等於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該正常狀態；以及 若該差值大於該閾值，則確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該錯件或缺件狀態； 其中，該第一延時值小於該第二延時值。
- 如申請專利範圍第5項所述之檢測方法，其中，該檢測方法還包括： 該檢測模組在該介面模組的該工作狀態轉化為該讀取狀態後，且該介面模組的該工作電壓自開始降低至最後電壓為接近零的情況下，確定該交流電容耦合信號電路的該工作狀態為該短路狀態。
- 一種電子設備，包括如申請專利範圍第1項至第4項任一項所述之檢測裝置。 【圖式】
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|---|---|---|---|---|
| CN109901046A (zh) * | 2017-12-08 | 2019-06-18 | 英业达科技有限公司 | 电路板的电压引脚导通检测系统及其方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6664778B2 (en) * | 2001-05-22 | 2003-12-16 | Agilent Technologies, Inc. | Circuit board coupon tester |
| TW200931042A (en) * | 2008-01-04 | 2009-07-16 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Voltage allowance tester |
| CN104091554A (zh) * | 2014-05-22 | 2014-10-08 | 四川长虹电器股份有限公司 | 列驱动芯片的测试方法及系统 |
| TW201512679A (zh) * | 2013-08-21 | 2015-04-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 電源偵測電路 |
| CN104950239A (zh) * | 2014-03-25 | 2015-09-30 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 一种背光驱动检测电路 |
-
2016
- 2016-12-23 TW TW105142855A patent/TWI583979B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6664778B2 (en) * | 2001-05-22 | 2003-12-16 | Agilent Technologies, Inc. | Circuit board coupon tester |
| TW200931042A (en) * | 2008-01-04 | 2009-07-16 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Voltage allowance tester |
| TW201512679A (zh) * | 2013-08-21 | 2015-04-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 電源偵測電路 |
| CN104950239A (zh) * | 2014-03-25 | 2015-09-30 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 一种背光驱动检测电路 |
| CN104091554A (zh) * | 2014-05-22 | 2014-10-08 | 四川长虹电器股份有限公司 | 列驱动芯片的测试方法及系统 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109901046A (zh) * | 2017-12-08 | 2019-06-18 | 英业达科技有限公司 | 电路板的电压引脚导通检测系统及其方法 |
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