CN106575513B - 光学信息记录介质以及光学信息记录介质再现装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光学信息记录介质，其中通过CAV或区CAV预先形成连续摆动的槽，并且形成为允许信息被记录在槽和邻近于槽的岸中，其中，地址信息通过调制摆动来记录，地址信息包括指示地址信息的位置的同步图案和地址数据，同步图案具有多个第一摆动图案和多个第一图案之间的多个第二摆动图案，并且第一摆动图案的间隔中的至少一部分不是均匀的。

Description

光学信息记录介质以及光学信息记录介质再现装置
技术领域
本公开涉及例如用于可记录光盘的光学信息记录介质以及光学信息记录介质再现装置。
背景技术
迄今，使用激光记录或再现记录信息的光盘已用于实际应用中。光盘的类型包括仅再现类型、可记录类型以及可重写类型。在可记录类型和可重写类型中，必须预先记录指示光盘的位置的地址信息以便记录信息。
作为记录地址信息的方法，已知的有根据地址信息调制形成称为摆动的沟槽的信号的系统。沟槽被称为槽，并且由槽形成的轨道被称为槽轨道。槽被限定为在制造光盘的过程中利用激光照射的部分，夹在相邻的槽之间区域称为岸，并且由岸形成的轨道被称为岸轨道。
通常，在记录地址信息时，记录同步部分(在下文中，视情况称为同步图案)和数据部分(在下文中，视情况称为地址数据)。记录地址信息的位置通过同步图案找到，并且再现地址数据。理想的是可以清楚地区别同步图案与地址数据。
例如，在蓝光光盘(BD)(注册商标)中，地址信息由摆动槽记录，并且允许数据被记录在槽上(参见专利文献1)。作为用于调制地址的系统，在BD中使用最小移动键控(MSK)和锯齿摆动(STW)两者。
引用列表
专利文献
专利文献1：JP 4121265B
发明内容
技术问题
记录容量可以通过数据被记录在岸L和槽G上的岸/槽记录系统来增加。然而，必须再现每个槽和岸中的地址信息。在扫描槽轨道时，相邻的岸轨道的RF信号泄漏，并且因此使摆动槽的再现信号的SNR降级。另一方面，在扫描岸轨道时，不仅SNR由于槽轨道的RF信号的泄漏而降级，而且岸轨道的宽度变化；因此，使SNR进一步降级。因此，希望即使在SNR降级的状态下也可靠地进行同步图案的检测。
通常建议的同步图案检测电路不具有在类似以上的SNR降级的状态下准确检测同步图案的足够的能力。
因此，本公开的目的是提供光学信息记录介质以及利用其的光学信息记录介质再现装置，在地址信息通过摆动记录的情况下，即使在SNR不良的环境下也可以可靠地检测同步图案。
问题的解决方案
根据本公开，提供一种光学信息记录介质，包括：通过CAV或区CAV预先形成的连续摆动的槽。允许信息记录在槽和邻近于槽的岸上，地址信息通过对摆动进行调制来记录，地址信息包括指示地址信息的位置的同步图案和地址数据，并且同步图案包括多个第一摆动图案和第一摆动图案之间的第二摆动图案，并且第一摆动图案的至少部分间隔被设置为不等间隔。
根据本公开，提供一种光学信息记录介质再现装置，该装置被配置为：光学再现光学信息记录介质，该光学信息记录介质包括：通过CAV或区CAV预先形成的连续摆动的槽，其中，允许信息被记录在槽和邻近于槽的岸上，地址信息通过调制摆动来记录，地址信息包括指示地址信息的位置的同步图案和地址数据，并且同步图案包括多个第一摆动图案和第一摆动图案之间的第二摆动图案，并且第一摆动图案的间隔中的至少部分被设置为不等间隔；检测第一摆动图案以检测同步图案；以及通过同步图案的检测解码地址数据。
发明的有益效果
根据至少一个实施方式，在岸/槽记录系统中，即使在SNR由于RF信号的泄漏而不良的情况下，也可以可靠地检测同步图案，并且可以正确地再现地址信息。本文中描述的效果不必受限制，并且可以是在本公开中描述的任何效果。
附图说明
图1是用于描述光盘和光盘的轨道的实例的示意图。
图2是示出岸/槽记录系统的光盘的一部分的放大示意图。
图3是用于描述作为调制系统的实例的MSK的示意图。
图4是用于描述本公开的实施方式的ADIP字的示意图。
图5是用于描述本公开的实施方式的地址信息的示意图。
图6是用于描述以不等间隔记录同步图案的MSK标记的情况的示意图。
图7是示出同步图案中的MSK标记的间隔的实例的示意图。
图8是用于描述本公开的实施方式的优势的示意图。
图9是MSK标记的检测电路的实例的框图。
图10是用于描述本公开的实施方式的优势的示意图。
图11是本公开的实施方式的同步图案检测装置的框图。
图12是本公开的实施方式的再现装置的框图。
具体实施方式
以下描述的实施方式是本公开的优选的具体实例，并且具有优选的各种限制的技术上受限制的。然而，在以下描述中，本公开的范围不限于这些实施方式，除非描述了本公开受到特定限制。
以下描述将按照以下顺序进行。
<1.实施方式>
<2.变型例>
<1.实施方式>
“光盘的实例”
现在将描述根据本公开的实施方式的光学信息记录介质。图1A和图1B示出根据实施方式的光学信息记录介质的构造的实例。光学信息记录介质是，例如，圆盘形的高密度记录光盘。图1A是光盘的概观，并且图1B是图1A的光盘的一部分的放大图。
如图1A和图1B所示，在光盘10中，形成在从内周至外周的方向或从外周至内周的方向上螺旋连续的沟槽形状的槽G和夹在相邻的槽(groove)G之间的区域的岸(land)L。槽G在制造光盘10的过程中形成。槽G通过，例如，将激光施加到涂覆有光致抗蚀剂的主盘而形成。
数据通过将数据记录在岸L和槽G上的岸/槽记录系统来记录。光盘10的槽G是摆动槽。地址信息通过根据地址信息调制形成摆动的信号的系统来记录。在本说明书中，槽被限定为在制造光盘的过程中利用激光照射的部分，由槽形成的轨道被称为槽轨道，夹在相邻的槽之间的区域被称为岸，并且由岸形成的轨道被称为岸轨道。
在本公开的实施方式中，圆盘在形成槽的记录过程中以恒定角速度(在下文中，称为CAV)旋转。同样可以采用区CAV，其中圆盘在直径方向上被划分形成多个区，并且CAV控制在区中执行。通过CAV或区CAV，在螺旋摆动轨道中，摆动的基波的相位可以在圆盘的径向上彼此同步。
图2示出光盘10的一部分的放大图。示出聚束点SP在例如槽上扫描的情况。存在以下问题，即在扫描槽轨道时，相邻的岸轨道的RF信号泄漏，并且因此使摆动槽的再现信号的SNR降级。另一方面，在岸轨道中，不仅相邻的槽轨道的RF泄漏，而且岸轨道的宽度变化；因此，使RF信号的SNR降级。考虑到这些问题，希望可靠地进行同步图案的检测。
“调制系统”
在本公开的实施方式中，第一摆动图案和第二摆动图案被用作同步图案。MSK被用于第一摆动图案，例如。由MSK的系统形成的图案被称为MSK标记。第二摆动图案是单调(非调制的)摆动。
MSK标记包括三个连续的摆动。前摆动和后摆动的频率被设定为基波的频率的1.5倍，并且因此中央摆动的波形具有极性，即，相对于没有经历MSK的部分是反向的。在槽通过MSK调制的情况下，与基波的差异大。因此，存在以下优势，即MSK标记可以在短的区段中十分精确地检测到。然而，存在以下问题，即岸宽度的变化增加并且影响到记录在岸轨道中的RF信号(记录数据)的再现。此外，在摆动槽的再现信号被用于通过锁相环路(PLL)形成与再现信号同步的时钟的情况下，就时钟再现而言记录大量的MSK标记不是优选的，因为PLL的同步在MSK标记的区段中解锁。
“地址信息”
地址信息记录在预刻槽地址(ADIP)字的单元中。作为一个实例，如图4所示，光盘10在径向上被划分成7个相等的部分，并且在每个划分的区域中记录一个ADIP字。因此，在光盘10的一圈中记录7个ADIP字。
图5示出ADIP字的配置。ADIP字包括64个ADIP单元。一个ADIP单元包括80个NWL。NWL是摆动的基波的一个周期。在光盘10中，ADIP单元No.0的ADIP单元至ADIP单元No.63的ADIP单元是顺次记录的。
前端8个ADIP单元(No.0至No.7)被用作ADIP字的同步图案。其他的56个ADIP单元(No.8至No.63)被用作地址数据。在地址数据的情况下，每个ADIP单元表示1位数据。同步图案使用MSK，然而地址数据采用另一个调制系统。不过，可以采用相同的调制系统。
其他调制系统的实例是MSK被修改的调制系统。这个调制系统被称为MSK修改(+)和MSK修改(-)。每个调制系统是以下系统，其中在摆动的基波的频率由f表示时，以下描述的波形依次出现在如下的8个NWL的区段中。前侧上的区段的波形设定为+cos(f)。
MSK修改(+)：+cos(0.75f),+sin(f)×6,+sin(1.25f)
MSK修改(-)：+cos(1.25f),-sin(f)×6,-sin(0.75f)
因为地址数据的56个ADIP单元中的每个表示1位数据，所以地址数据由56位组成。在实施方式中，序列号(20位)、层号(3位包括A/B面标识)以及保留位(1位)是规定的，并且对这些地址数据进行纠错编码；因此，生成32位冗余码(视情况称为奇偶性)。
现在将参考图6描述位于ADIP字的前端的同步图案。图6A至图6D示出了通过在水平方向上将图5的同步图案的区域(ADIP单元No.0至No.7)划分成4个相等的部分获得的图表。就是说，图6A示出NWL 0至NWL 19的区域，图6B示出NWL 20至NWL 39的区域，图6C示出NWL 40至NWL 59的区域，图6D示出NWL 60至NWL 79的区域。
如图6所示，20个MSK标记(表示为MSK 1至MSK 20)被记录为同步图案。以MSK 20、MSK 19、MSK 18、……、和MSK 1的顺序进行记录(再现)。MSK标记的间隔被设定为不等间隔。图7示出MSK标记的间隔。间隔指的是两个MSK标记之间存在的单调周期数量。然而，间隔可以被限定为两个MSK标记的前端之间的间隔。20个MSK标记的所有间隔不必都是不相等的，并且它们的至少部分是不相等的就足够了。
ADIP字的前端MSK标记，MSK 20，被记录在前端位置之后的位置30NWL中。接下来，MSK 19，在MSK 20之后的位置35NWL中检测到。然后，MSK标记的间隔逐一减少。最后两个，MSK 2和MSK 1，之间的间隔，被设定为17。56个NWL的区段位于从MSK 1的后侧至ADIP字的同步图案的最后的位置。因此越接近地址数据，间隔被设定得越短。
“同步图案的SNR的改善”
在本公开的实施方式中的同步图案中，短的MSK标记被记录在多个地方中，并且多个MSK标记被同时检测；因此，可以使得同步位置的检测的精确度比MSK标记的中心部分的区段被重复的同步图案中的同步位置的检测精确度更高。例如，图8A示出MSK标记的基本形式，并且图8B示出MSK标记的中心部分被延长至4个波并且使得标记的整个长度的是6个NWL的长度的形式。在图8中，插入同步图案的区段的长度被设定为40个NWL，例如。
传统的MSK解调电路具有在图9中示出的配置。从盘中再现的摆动信号被提供至输入端子1。摆动信号和来自输入端子3的载波信号通过乘法器2相乘。载波信号是与再现信号同步的信号，并且在MSK的解调过程中乘以具有相同的频率的载波。
乘法器2的输出信号被提供至积分器4。复位信号从端子5输入至积分器4，积分器4通过复位信号重置并且存储在积分器4中的值返回至初始值，例如0。积分器4的输出信号被提供至采样保持电路6。
采样脉冲从端子7提供至采样保持电路6。采样脉冲采样并保持积分器4的输出。采样保持电路6的输出信号被提供至比较电路8。
参考电平从端子9提供至比较电路8。参考电平是从采样保持电路6输出的摆动信号的中值。在输入信号大于参考电平的情况下，比较电路8产生(+1)的值的输出；相反地，在输入信号小于参考电平的情况下，比较电路8产生(-1)的值的输出。MSK的解调输出从比较电路8获得。在MSK标记的情况下，(+1)的检测输出在前区段和后区段中，3个NWL之中，获得，并且(-1)的检测输出在中间部分获得。然而，在以下描述中，假定极性被颠倒，并且(+1)的检测输出在中间部分中获得并且(-1)的检测输出在其他部分中获得。
在使用这样的积分检测电路的情况下，在NWL No.1至No.4是如图8B所示的待检测的区段时，得到4个(+1)的检测输出，并且因此总值是(+4)。相比之下，在检测到移位1NWL(例如，NWL No.2至No.5)的区段时，得到(+2)的总值。因此，MSK标记的中心区段像在图8B中一样延长的图案具有正确的检测输出和错误的检测输出之间的差异小的问题。因此，在SNR不良时，会做出错误的检测。
相比之下，在本公开的实施方式中，MSK标记是如图8C中所示的分散记录的。MSK标记在记录MSK标记(NWL No.1、No.7、No.15和No.25)的正确的位置中被检测到，检测结果被加起来，并且所得到的值被当作是检测输出。在这个方法中，在移位1NWL时，检测输出的总值从(+4)变为(-4)。因此，检测输出的差大，因此存在以下优势，即移位1NWL的区段的位置被错误地检测为同步图案的可能性会减少。
下面，在本公开的实施方式中，多个MSK标记以不等间隔布置。作为实例，MSK标记以越接近地址数据变得越窄的不等间隔布置。MSK标记出现的频率被设定为不影响PLL再现摆动时钟的水平。作为比较，对MSK标记如图10A所示的以相等间隔布置的同步图案进行研究。图10A的实例是插入同步图案的区段的长度被设定为，例如，40个NWL并且从前端起的4个MSK标记以3个NWL的相互间隔布置的实例。在4个MSK标记被正确地检测到时，得到+4的检测输出。在检测位置移位6个NWL时(图10A)，检测到3个MSK标记的中心位置，并且因此检测输出的总值是(+2)。因此，存在以下问题，即与正确的检测输出具有小的差异的检测输出与在与MSK标志的布置的间隔相对应的周期一起出现。
在本公开的实施方式中，MSK标记以如上所述的不等间隔布置。例如，间隔被设定为(3、5、7、13)如图10B所示。在检测位置象图10A的实例一样移位6个NWL时，获得(+1)的检测输出的仅是一个积分检测电路，并且因此检测输出的总值是(-2)。与在正确的检测位置的情况下获得的(+4)的值的差异大，并且错误检测的可能性可以减少。不是所有的多个间隔都必须是不相等的，并且所有的间隔中的小部分可以是相等的间隔。
在布置MSK标记时，可以使用以下方法，其中不使用不等间隔，MSK标记被放入伪随机数序列，例如，最大长度线性移位寄存器序列(M序列)，的值“1”的位置中。作为具体实例，以下是具有(25-1＝31)的周期的M序列。MSK标记被布置为对应于序列中的“1”。
(1010111011000111110011010010000)
在这个方法中，错误检测的可能性低，并且MSK标记的数量大；因此，存在以下优势，即正确的同步位置中的检测信号的总值是大的值。然而，存在以下问题，即在“1”连续出现的部分中，干扰出现在摆动PLL的长区段中，并且时钟再现变得不稳定。对于“1”连续出现的部分，在周期为(2n-1)的情况下n个“1”连续出现。因此，不能说使用伪随机数序列是优选的方法。
“同步图案检测装置”
现在将参考图11描述根据本公开的同步图案检测装置的实施方式。从光盘再现的摆动波形被提供至由虚线围绕示出的MSK标记检测单元11的乘法器12。这个摆动波形是摆动PLL的处理之后的信号。乘法器12具有基于第一摆动图案和参考波产生波检测输出的波检测电路的功能。
从盘再现的摆动信号和参考波形13被提供至乘法器12。参考波形13是与再现信号同步的摆动波形。参考波形可以是像传统的MSK解调电路中的一样的载波信号，或者可以是与MSK标记相似的三个摆动波形。乘法器12的输出被提供至积分电路14，并且乘法器12的输出信号在规定的时间段上积分。积分电路14的输出是具有模拟值的信号。模拟值具有与MSK标记的相关度一致的水平。
传统的MSK解调电路具有在图9中示出的配置。从盘中再现的摆动信号被提供至输入端子1。摆动信号和来自输入端子3的载波信号通过乘法器2相乘。载波信号是与再现信号同步的信号，并且具有相同的频率的载波在MSK的解调过程中相乘。
积分电路14的输出信号被提供至延迟和加法单元15。延迟和加法单元15包括串联连接的多个延迟电路以及加法器，其中，积分电路14的积分输出被提供至该延迟电路并且多个延迟电路中设定相应的延迟量以便同时检测包括在同步图案中的多个MSK标记，加法器将从串联连接的延迟电路提取的多个积分输出相加。具体地，延迟和加法单元15包括具有与如上所述的MSK标记的间隔相对应的延迟量的延迟电路DL1至DL19。在正确的同步检测时间，与MSK1的MSK标记相对应的模拟值在延迟电路DL1的输入侧上产生，与MSK2至MSK19相对应的模拟值分别在延迟电路DL2至DL19的相邻级之间产生，并且与MSK20相对应的模拟值在末级的延迟电路DL20的输出侧上产生。
这20个模拟值通过加法器16相加，并且从加法器16获得同步检测信号。同步检测信号被提供至阈值评估电路17，并且与规定阈值相比较。在正确的同步检测时间，例如，同步检测信号低于阈值，并且产生高水平的检测输出。这个检测输出用作同步图案检测输出。如果检测位置移位，则同步检测信号是不少于阈值评估电路17中的阈值的值，并且产生低水平的检测输出。
在图11中示出的同步图案检测电路不进行20个检测位置中的阈值评估，而是实际上将模拟值相加并且然后通过比较相加值与阈值评估电路17中的阈值来进行评估。因此，即使在基于逐一的检测位置的阈值评估得到错误的评估结果的情况下，错误评估结果的出现的可能性也可以通过在将所有的检测位置中获得的模拟值相加之后进行阈值评估来减少。
在如上所述的本公开的一个实施方式中，在正确的同步位置和其他位置之间检测信号的水平上的差异是很大的，并且因此可以可靠地得到同步。此外，对摆动PLL的影响可以通过适当选择MSK标记出现的频率来减少。
在单调部分中，PLL可以被容易地引入，因为不存在由于摆动调制而导致的对PLL的影响。在本公开的实施方式中，单调部分设置在同步图案的前侧上，并且PLL的引入是有希望的。此外，即使PLL的引入在同步图案的前侧上未完成，MSK标记的间隔随着越接近同步图案的前端变得越宽的配置也对PLL的引入产生有效作用，并且此外可以使得由于PLL的不稳定而导致的MSK检测的损失数量保持在低水平；因此，能够从PLL的引入立即检测到同步图案的可能性可以提高。
如果同步检测信号的SNR在将来通过，例如，盘的材料、制造盘的方法和记录信号的方法等的改进而改善，则电路可以被配置为仅检测部分同步图案，而不检测整个同步图案，并且从而可以减少同步检测电路的规模。在这种情况下，同步检测信号的SNR与用于检测的MSK标记的数量成比例，然而检测电路的规模不仅取决于MSK的数量而且取决于延迟电路中的延迟量。因此，在试图减少用于检测的MSK的数量时，则高效的是不以从具有最宽的间隔的MSK起的顺序的使用MSK。在本公开的实施方式中，MSK标记的间隔被设定为随着接近地址数据而变得更短，并且因此在这种情况下希望不以距地址数据最远的MSK起的顺序使用MSK。在这种情况下，从用于检测的最后的MSK标记至地址数据的距离是固定的，与没有使用的MSK的数量无关，并且因此检测电路的设计变得容易。
“盘再现装置”
现在将描述根据本公开的实施方式的盘再现装置，主要描述地址的再现。如图12所示，数据记录在光盘21上，并且数据从光盘21再现。
光盘21由主轴电机22旋转。来自激光驱动单元24的驱动信号被提供至光学头23，并且强度根据记录数据25调制的激光束从光学头23施加于光盘21；因此，数据被记录在基于再现的地址信息确定的光盘21的规定位置上。
来自光学头23的读取激光束施加到光盘21，反射光由光学头23中的光电检测器检测，并且再现信号由信号检测单元26检测。从信号检测单元26中提取再现信号27、诸如聚焦误差信号和/或跟踪误差信号的伺服误差信号28、以及摆动信号29。摆动信号29是在轨道方向上被分成两部分的光检测元件的检测器的输出信号。例如，两个检测器的信号的总量的信号被作为摆动信号29而提取。摆动信号29是根据摆动波形的信号。
伺服误差信号28被提供至伺服电路30。主轴电动机22的旋转通过伺服电路30控制在恒定角速度下，并且控制光学头23的聚焦和跟踪。
由信号检测单元26检测到的摆动信号29被提供至PLL 31。PLL 31的输出信号被提供至同步图案检测电路32。与再现信号同步的时钟从PLL31输出。时钟用作再现过程中的处理的时间参考。时钟从PLL 31提供至同步图案检测电路32。
如参考图11描述的，同步图案检测电路32检测在每个ADIP字的前端的同步图案。同步图案的检测信号和数据被提供至ADIP解码器33。ADIP解码器33解码记录在每个ADIP字中的地址数据等，并且进行误差校正。
<2.变型例>
已经具体地描述了本公开的实施方式。然而，本公开的实施方式不限于上述实施方式，而是可以基于本公开的技术精神和实质以各种各样的方式修改。例如，上述实施方式中所提及的配置、方法、过程、形状、材料、数值等仅是实例。可根据需要使用不同的配置、方法、过程、形状、材料、数值等。
此外，本技术还可如下配置。
(1)
一种光学信息记录介质，包括：
通过CAV或区CAV预先形成的连续摆动的槽，
其中，允许信息记录在槽和邻近于槽的岸上，
地址信息通过对摆动进行调制来记录，
地址信息包括指示地址信息的位置的同步图案和地址数据，并且
同步图案包括多个第一摆动图案和第一摆动图案之间的第二摆动图案，并且第一摆动图案的至少部分间隔被设定为不等间隔。
(2)
根据(1)所述的光学信息记录介质，其中，第二摆动图案是第一摆动图案被相位调制的图案。
(3)
根据(1)所述的光学信息记录介质，其中，第一摆动图案是MSK标记，并且第二摆动图案是单调。
(4)
根据(1)所述的光学信息记录介质，其中，第一摆动图案的间隔通过增加或减去固定数量而发生分级变化。
(5)
根据(4)所述的光学信息记录介质，其中，第一摆动图案的间隔被设定为越接近地址数据变得越小。
(6)
根据(5)所述的光学信息记录介质，其中，间隔被设定为使得前端位置中的第一摆动图案和第二位置中的第一摆动图案之间的间隔是35个NWL并且间隔每次减少1个NWL。
(7)
根据(1)所述的光学信息记录介质，
其中，规定数量的第二摆动图案被插入地址信息的前端位置和前端位置中的第一摆动图案的位置之间，以及
规定数量的第二摆动图案被插入地址信息的最后位置和最后位置中的第一摆动图案的位置之间。
(8)
一种光学信息记录介质再现装置，被配置为：
光学再现光学信息记录介质，
光学信息记录介质包括：
通过CAV或区CAV预先形成的连续摆动的槽，
其中，允许信息记录在槽和邻近于槽的岸上，
地址信息通过对摆动进行调制来记录，
地址信息包括指示地址信息的位置的同步图案和地址数据，以及
同步图案包括多个第一摆动图案和第一摆动图案之间的第二摆动图案，并且第一摆动图案的至少部分间隔被设定为不等间隔；
检测第一摆动图案以检测同步图案；以及
通过同步图案的检测解码地址数据。
(9)
根据(8)所述的光学信息记录介质再现装置，包括：
波检测电路，被配置为生成第一摆动图案和参考波的波检测输出；
积分电路，被配置为对波检测电路的输出积分；
串联连接的多个延迟电路，积分的输出被提供至该延迟电路并且该延迟电路中设定相应的延迟量以便同时检测包括在同步图案中的多个第一摆动图案；
加法器，被配置为将从串联连接的延迟电路提取的多个积分输出相加；以及
阈值评估电路，被配置为对加法器的输出进行阈值评估。
(10)
根据(8)所述的光学信息记录介质再现装置，其中，第二摆动图案是第一摆动图案被相位调制的图案。
(11)
根据(8)所述的光学信息记录介质再现装置，其中，第一摆动图案是MSK标记，并且第二摆动图案是单调。
(12)
根据(8)所述的光学信息记录介质再现装置，其中，第一摆动图案的间隔通过增加或减去固定数量而发生分级变化。
(13)
根据(12)所述的光学信息记录介质再现装置，其中，第一摆动图案的间隔被设定为越接近地址数据变得越小。
(14)
根据(13)所述的光学信息记录介质再现装置，其中，间隔被设定为使得前端位置中的第一摆动图案和第二位置中的第一摆动图案之间的间隔是35个NWL并且间隔每次减少1个NWL。
(15)
根据(8)所述的光学信息记录介质再现装置，
其中，规定数量的第二摆动图案被插入地址信息的前端位置和前端位置中的第一摆动图案的位置之间，以及
规定数量的第二摆动图案被插入地址信息的最后位置和最后位置中的第一摆动图案的位置之间。
符号说明
10 光盘
11 MSK标记检测单元
15 延迟和加法单元
22 主轴电机
23 光学头
31 PLL
32 同步图案检测电路
33 ADIP解码器。

Claims (13)

1.一种光学信息记录介质，包括：
通过CAV或区CAV预先形成的连续摆动的槽，
其中，允许信息记录在所述槽和邻近于所述槽的岸上，
地址信息通过对摆动进行调制来记录，
所述地址信息包括指示所述地址信息的位置的同步图案和地址数据，并且
所述同步图案包括多个第一摆动图案和所述第一摆动图案之间的第二摆动图案，并且所述第一摆动图案的至少部分间隔被设定为不等间隔，
其中，所述至少部分间隔被设定为使得前端位置中的所述第一摆动图案和第二位置中的所述第一摆动图案之间的间隔是35个NWL并且所述至少部分间隔每次减少1个NWL。
2.根据权利要求1所述的光学信息记录介质，其中，所述第二摆动图案是所述第一摆动图案被相位调制的图案。
3.根据权利要求1所述的光学信息记录介质，其中，所述第一摆动图案是MSK标记，并且所述第二摆动图案是单调。
4.根据权利要求1所述的光学信息记录介质，其中，所述第一摆动图案的至少部分间隔通过增加或减去固定数量而发生分级变化。
5.根据权利要求4所述的光学信息记录介质，其中，所述第一摆动图案的至少部分间隔被设定为越接近所述地址数据变得越小。
6.根据权利要求1所述的光学信息记录介质，
其中，规定数量的第二摆动图案被插入所述地址信息的前端位置和所述前端位置中的所述第一摆动图案的位置之间，以及
规定数量的第二摆动图案被插入所述地址信息的最后位置和所述最后位置中的所述第一摆动图案的位置之间。
7.一种光学信息记录介质再现装置，被配置为：
光学再现光学信息记录介质，
所述光学信息记录介质包括：
通过CAV或区CAV预先形成的连续摆动的槽，
其中，允许信息记录在所述槽和邻近于所述槽的岸上，
地址信息通过对摆动进行调制来记录，
所述地址信息包括指示所述地址信息的位置的同步图案和地址数据，以及
所述同步图案包括多个第一摆动图案和所述第一摆动图案之间的第二摆动图案，并且所述第一摆动图案的至少部分间隔被设定为不等间隔，其中，所述至少部分间隔被设定为使得前端位置中的所述第一摆动图案和第二位置中的所述第一摆动图案之间的间隔是35个NWL并且所述至少部分间隔每次减少1个NWL；
检测所述第一摆动图案以检测所述同步图案；以及
通过所述同步图案的检测，解码所述地址数据。
8.根据权利要求7所述的光学信息记录介质再现装置，包括：
波检测电路，被配置为生成所述第一摆动图案和参考波的波检测输出；
积分电路，被配置为对所述波检测电路的输出积分；
串联连接的多个延迟电路，积分的输出被提供至所述延迟电路并且所述延迟电路中设定相应的延迟量以便同时检测包括在所述同步图案中的多个所述第一摆动图案；
加法器，被配置为将从所述串联连接的延迟电路提取的多个积分输出相加；以及
阈值评估电路，被配置为对所述加法器的输出进行阈值评估。
9.根据权利要求7所述的光学信息记录介质再现装置，其中，所述第二摆动图案是所述第一摆动图案被相位调制的图案。
10.根据权利要求7所述的光学信息记录介质再现装置，其中，所述第一摆动图案是MSK标记，并且所述第二摆动图案是单调。
11.根据权利要求7所述的光学信息记录介质再现装置，其中，所述第一摆动图案的至少部分间隔通过增加或减去固定数量而发生分级变化。
12.根据权利要求11所述的光学信息记录介质再现装置，其中，所述第一摆动图案的至少部分间隔被设定为越接近所述地址数据变得越小。
13.根据权利要求7所述的光学信息记录介质再现装置，
其中，规定数量的第二摆动图案被插入所述地址信息的前端位置和所述前端位置中的所述第一摆动图案的位置之间，以及
规定数量的第二摆动图案被插入所述地址信息的最后位置和所述最后位置中的所述第一摆动图案的位置之间。
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