CN106557393A - 一种ic芯片的自动验证系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种IC芯片的自动验证系统，涉及集成电路技术领域，可应用于对诸如驱动芯片等IC芯片的验证，通过在IC芯片开发设计期间，先对IC芯片中的各功能模组预置对应的标准校验码，并于IC芯片中设置采集上述各功能模组的编码采集单元，以在后续对成品的IC芯片进行完整性验证时，可通过上述编码采集单元获取IC芯片开机状态时各个功能模组的验证码，再利用设置在PC上的用户端中的比较单元将获取的验证码与预置的标准校验码进行核对，若核对不一致的地方则可根据相应的标准校验码快速的定位那个功能模块发生错误，进而在有效缩短验证时间的同时，实现IC芯片验证过程的自动化操作。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种IC芯片的自动验证系统。
背景技术
当前的IC(Integrated Circuit，集成电路)芯片设计及制造过程中，芯片的完整验证是确保制造出的产品能够满足工艺需求的关键步骤，而随着科技的进步及社会的发展，人们对于IC产品的更新迭代速度期望越来越高，而当前的IC芯片的完整验证方法则需要耗费过长的时间来进行验证，进而无法跟上产品的推广速度。
另外，在产品的生产优化或更新换代过程中，一旦IC改版，就需要重新进行完整验证，不但时程过长，影响产品的推广速度，且由于目前的完整验证均需要人工进行验证，而人为疏忽造成的错误验证会大大延长完整验证的时程，且验证的准确性也无法得到有效的保证。
发明内容
针对上述存在的问题，本发明提供一种IC芯片的自动验证系统(Auto-Verify System)，可应用于对诸如驱动芯片(Driver IC)等IC芯片的完整性验证，主要是通过在待验证的IC芯片中预置验证模组(IP)，并配合诸如PC端UI(User Interface，用户界面)/FPGA(FieldProgrammable Gate Array，现场可编程门阵列)等设备器件，以实现对待验证IC芯片的自动验证，且还能实现针对数字/模拟的分别验证等功能。
为了实现上述目的，本发明采取的技术方案为：
一种IC芯片的自动验证系统，所述IC芯片包括待验证器件结构和与所述待验证器件结构连接的编码采集单元，所述自动验证系统包括：
比较单元，与所述编码采集单元连接；以及
存储单元，与所述比较单元连接，且所述存储单元中预存有与所述IC芯片匹配的标准校验码；其中
所述IC芯片上电后，所述编码采集单元采集所述待验证器件结构的验证码，所述比较单元将所述验证码与所述标准校验码进行比对，并根据比对结果输出所述IC芯片的验证信息。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统中：
所述验证码包括模拟验证码和数字验证码。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统中：
所述待验证器件结构包括数字功能模块中的寄存器；以及
所述寄存器与所述编码采集单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述编码采集单元采集所述寄存器中存储的所述数字验证码。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统中：
所述待验证器件结构包括待验证电路节点；以及
所述待验证电路节点与所述编码采集单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述编码采集单元采集所述待验证电路节点的所述模拟验证码。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统中：
所述IC芯片还包括编码生成单元，以及
所述待验证电路节点通过所述编码生成单元与所述编码采集单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述编码生成单元采集所述待验证电路节点的讯号并生成所述模拟验证码，所述编码采集单元采集所述编码生成单元生成的所述模拟验证码。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统还包括：
验证单元，所述比较单元通过所述验证单元与所述编码采集单元连接；以及
编码纠错单元，分别与所述验证单元和所述比较单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述验证单元对所述编码采集单元采集的所述待验证器件结构的验证码进行验证；
若所述验证码存在错误编码，则经所述编码纠错单元纠错后发送至所述比较单元；
否则，所述验证单元将所述验证码直接发送至所述比较单元。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统还包括：
分析单元，与所述编码采集单元连接；
数字数据单元，分别与所述验证单元和所述分析单元连接；以及
模拟数据单元，分别与所述验证单元和所述分析单元连接；其中
所述分析单元对所述编码采集单元发送的验证码分类为所述模拟验证码和所述数字验证码，并将所述模拟验证码发送至所述模拟数据单元，将所述数字验证码发送至所述数字数据单元。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统还包括：
第一传输单元，与所述验证单元连接；以及
第二传输单元，分别与所述第一传输单元、所述数字数据单元、所述模拟数据单元和所述分析单元连接；其中
所述数字数据单元将接收的所述数字验证码依次通过所述第二传输单元和所述第一传输单元发送至所述验证单元，以进行数字验证；
所述模拟数据单元将接收的所述模拟验证码依次通过所述第二传输单元和所述第一传输单元发送至所述验证单元，以进行模拟验证。
作为一个优选的实施例，上述的任意一项所述IC芯片的自动验证系统中：
所述验证码和所述标准校验码均包括错误检查纠错码(ErrorChecking and Correcting，简称ECC)和/或循环冗余校验码(CyclicRedundancy Check，简称CRC)。
作为一个优选的实施例，上述的IC芯片的自动验证系统还包括：
用户模块，包括所述比较单元、所述纠错单元、所述验证单元和所述第一传输单元；以及
传输模块，包括所述第二传输单元、所述数字数据单元、所述模拟数据单元和所述分析单元；其中
所述用户模块通过所述第一传输单元依次经过所述第二传输单元和所述分析单元向所述编码采集单元发送验证请求。
上述发明具有如下优点或者有益效果：
本申请中的IC芯片的自动验证系统，通过在IC芯片开发期间，先对IC芯片中的各功能模组预置对应的校验码(如CRC/ECC验证标准码等)，并于IC芯片中设置编码采集单元(Auto-Verify IP)；后续在对成品的IC芯片进行完整性验证时，通过上述编码采集单元获取IC芯片开机状态时的验证码，并可利用设置在PC上的用户端对采集的验证码进行核对，进而快速自动的实现对IC芯片的验证。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明及其特征、外形和优点将会变得更加明显。在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未可以按照比例绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。
图1是本申请实施例中IC芯片的自动验证系统的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体的实施例对本发明作进一步的说明，但是不作为本发明的限定。
图1是本申请实施例中IC芯片的自动验证系统的结构示意图；如图1所示，本实施例中提供了一种IC芯片的自动验证系统，可应用于对诸如驱动芯片等IC芯片3的完整性验证中，且上述的IC芯片3可包括待验证器件结构31以及与该待验证器件结构31连接的编码采集单元(Auto-Verify IP)32，主要用于手机并产出验证码；例如若该IC芯片为驱动芯片，则上述的待验证器件结构31可为具有驱动功能(Driver function)的多个功能模块。
优选的，在上述的IC芯片3设计时，可先将各个数字功能模组依据寄存器内容进行ECC/CRC编码，或者针对关键电路节点设置标记电路，并对标记电路进行讯号收集或ECC/CRC编码，并以此生成验证标准码(即标准校验码)；另外，可在IC芯片的内部增设一个验证模块(即上述的编码采集单元32)和编码生成单元(可集成于上述编码采集单元32中)，以在后续IC芯片产出后进行验证时，可对IC芯片各个数字功能模组的寄存器进行ECC/CRC编码及采集，同时对上述关键电路节点的标记电路自行产生的讯号或ECC/CRC编码，以作为上述待验证器件结构31的验证码。
进一步的，上述IC芯片中的自动验证系统可包括：
集成于用户模块1中的比较单元(compare module)11、编码纠错单元(ECC module)12、验证单元(verify module)13和第一传输单元(control unit)14，且上述的第一传输单元14与验证单元13、编码纠错单元12及比较单元11依次连接，而验证单元13还可与比较单元11连接。
进一步的，上述的用户模块1中还设置有存储单元(图中未标示)，可用于存储上述预置的与IC芯片3上待验证器件结构匹配的标准校验码(如可包括ECC编码和/或CRC编码等)；同时，上述的验证码可包括诸如模拟验证码和数字验证码，相应的上述的标准校验码也要对应包括与其匹配的模拟校验码和数字校验码等。
传输模块2，可集成有诸如第二传输单元(control unit)21、模拟数据单元(digital type analog data)22、数字数据单元(digital data)23和分析单元(analytical module)24，且上述分析单元24分别通过模拟数据单元22和数字数据单元23与第二传输单元21连接，同时上述的分析单元24还可直接与第二传输单元21连接。
另外，上述的第一传输单元14和第二传输单元21连接，而分析单元24还与编码采集单元32连接。
优选的，上述分析单元24可用于将编码采集单元32采集的验证码进行分类并分别发送至诸如上述的数字数据单元23和模拟数据单元22等各个对应类型数据处理单元中，以分别进行模拟或数字的验证；例如，可将采集的验证码中的数字数据发送至数字数据单元23，而将数字类型的模拟数据发送至模拟数据单元22中，进而分别实现数字验证和模拟验证。
优选的，上述的第一传输单元14和第二传输单元21则可用于数据的传输接收，而比较单元11、编码纠错单元12和验证单元13则主要用于对获取验证码的验证、纠错及与标准校对码的比较分析等。
进一步的，在上述的IC芯片3产出并进行验证时，于IC芯片3上电后，可通过设置于诸如PC上的用户端1通过第一传输单元14，依次经过第二传输单元21和分析单元24向IC芯片3发送验证请求(request)。
上述的IC芯片3接收并确认上述的验证请求后，利用编码采集单元32对待验证器件结构31进行编码采集，且上述的待验证器件结构31可自行产出验证码(如ECC/CRC编码等)；较佳的，上述的编码采集单元32可通过12C/SPI或特定端口等进行输出至上述的验证单元13或比较单元11；同时，上述的编码采集单元32也可依次通过上述的传输模块2进行数据的接收及传送。
优选的，上述的编码采集单元32在采集到上述的验证码后，可利用分析单元24对该验证码进行分类汇总，以使得模拟类型的验证码发送至模拟数据单元22，而数字类型的验证码则发送至数字数据单元23，进而分别实现模拟验证和数字验证；当然，也可依据实际需求通过分析单元24直接发送至第二传输单元。
优选的，上述的针对验证码进行分类汇总的功能模块也可集成于用户端1中，使得传输模块2仅用于数据的传输，具体可依据实际工艺需求而设定。
进一步的，上述的验证码在经过上述传输模块后传输至用户模块1中，即验证单元13对接收的验证码先进行验证分析，若该验证码有误则要经过上述的编码纠错单元12对该验证码进行纠错，再发送至比较单元11；而若验证码无误，则可直接将验证码发送至比较单元11；然后，比较单元11在将接收到的验证码(和/或纠错后的验证码)与存储在存储单元(图中未标示)中与该验证码匹配(和/或与纠错后的验证码匹配)的标准校验码进行比较，并根据比较结果输出该IC芯片的验证信息。
进一步的，上述的用户端1可根据上述的验证信息分析出该IC芯片是否验证合格，若不合格则会输出该IC芯片那个功能模块出现错误及错误的类型，并精准定位其相应的物理位置，以便于后续的分析校对，进而加快整个验证进程。
优选的，针对上述的验证信息还可输出对应的报告信息进行发布及存储，如可依据上述的验证码与标准校验码的对比数据及对比结果中的错误数据，评估出IC芯片的错误形式及状态等，并生成相应的报告以便于查询及汇总分析，进而有效的缩短整个验证时间。
综上所述，本申请记载的IC芯片的自动验证系统，可应用于对诸如驱动芯片等IC芯片的验证，通过在IC芯片开发设计期间，先对IC芯片中的各功能模组预置对应的标准校验码，并于IC芯片中设置采集上述各功能模组的编码采集单元，以在后续对成品的IC芯片进行完整性验证时，可通过上述编码采集单元获取IC芯片开机状态时各个功能模组的验证码，再利用设置在PC上的用户端中的比较单元将获取的验证码与预置的标准校验码进行核对，若核对不一致的地方则可根据相应的标准校验码，以快速的定位那个功能模块发生错误，进而在有效缩短验证时间的同时，实现IC芯片验证过程的自动化操作。
本领域技术人员应该理解，本领域技术人员结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例，在此不予赘述。这样的变化例并不影响本发明的实质内容，在此不予赘述。
以上对本发明的较佳实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例，这并不影响本发明的实质内容。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
Claims (10)
1.一种IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述IC芯片包括待验证器件结构和与所述待验证器件结构连接的编码采集单元，所述自动验证系统包括：
比较单元，与所述编码采集单元连接；以及
存储单元，与所述比较单元连接，且所述存储单元中预存有与所述IC芯片匹配的标准校验码；其中
所述IC芯片上电后，所述编码采集单元采集所述待验证器件结构的验证码，所述比较单元将所述验证码与所述标准校验码进行比对，并根据比对结果输出所述IC芯片的验证信息。
2.如权利要求1所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述验证码包括模拟验证码和数字验证码。
3.如权利要求2所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述待验证器件结构包括数字功能模块中的寄存器；以及
所述寄存器与所述编码采集单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述编码采集单元采集所述寄存器中存储的所述数字验证码。
4.如权利要求2所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述待验证器件结构包括待验证电路节点；以及
所述待验证电路节点与所述编码采集单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述编码采集单元采集所述待验证电路节点的所述模拟验证码。
5.如权利要求4所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述IC芯片还包括编码生成单元，以及
所述待验证电路节点通过所述编码生成单元与所述编码采集单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述编码生成单元采集所述待验证电路节点的讯号并生成所述模拟验证码，所述编码采集单元采集所述编码生成单元生成的所述模拟验证码。
6.如权利要求2所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述自动验证系统还包括：
验证单元，所述比较单元通过所述验证单元与所述编码采集单元连接；以及
编码纠错单元，分别与所述验证单元和所述比较单元连接；其中
所述IC芯片上电后，所述验证单元对所述编码采集单元采集的所述待验证器件结构的验证码进行验证；
若所述验证码存在错误编码，则经所述编码纠错单元纠错后发送至所述比较单元；
否则，所述验证单元将所述验证码直接发送至所述比较单元。
7.如权利要求6所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述自动验证系统还包括：
分析单元，与所述编码采集单元连接；
数字数据单元，分别与所述验证单元和所述分析单元连接；以及
模拟数据单元，分别与所述验证单元和所述分析单元连接；其中
所述分析单元对所述编码采集单元发送的验证码分类为所述模拟验证码和所述数字验证码，并将所述模拟验证码发送至所述模拟数据单元，将所述数字验证码发送至所述数字数据单元。
8.如权利要求7所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述自动验证系统还包括：
第一传输单元，与所述验证单元连接；以及
第二传输单元，分别与所述第一传输单元、所述数字数据单元、所述模拟数据单元和所述分析单元连接；其中
所述数字数据单元将接收的所述数字验证码依次通过所述第二传输单元和所述第一传输单元发送至所述验证单元，以进行数字验证；
所述模拟数据单元将接收的所述模拟验证码依次通过所述第二传输单元和所述第一传输单元发送至所述验证单元，以进行模拟验证。
9.如权利要求1-8中任意一项所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述验证码和所述标准校验码均包括错误检查纠错码和/或循环冗余校验码。
10.如权利要求8所述IC芯片的自动验证系统，其特征在于，所述自动验证系统还包括：
用户模块，包括所述比较单元、所述纠错单元、所述验证单元和所述第一传输单元；以及
传输模块，包括所述第二传输单元、所述数字数据单元、所述模拟数据单元和所述分析单元；其中
所述用户模块通过所述第一传输单元依次经过所述第二传输单元和所述分析单元向所述编码采集单元发送验证请求。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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