CN106546850B - 一种基于检测热台的sru故障确认方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及ATE(自动测试设备)领域，针对现有技术存在问题，提供一种基于检测热台的SRU故障确认装置及方法。将关联性强的SRU组成虚拟单元，专门配备检测热台，通过换插SRU方式配合ATE完成SRU故障确认。本发明包括ATE发送固有基本信号与实际测试分析信号；并接收总线控制器的SRU状态信息，判断SRU是否正常工作；采样单元接收ATE固有基本信号，然后存入开关信号寄存器；总线控制器接收ATE实际测试分析信号发送给SRU控制寄存器；同时接收开关信号寄存器的固有基本信号，发送给SRU控制寄存器；同时生成波形数据到控制数据寄存器；同时控制波形产生单元在触发信号的触发下读取波形数据产生复杂信号时序给SRU控制寄存器，同时接收SRU状态寄存器的SRU检测码，回传给ATE。

Description

一种基于检测热台的SRU故障确认方法及装置

技术领域

本发明涉及ATE(自动测试设备)领域，尤其是一种基于检测热台的SRU故障确认方法及装置。

背景技术

自动检测设备主要用于对装备的功能、性能检测，自动化程度强，测试效率高，测试过程中ATE结合装备的系统自检结果、综合故障隔离逻辑和技术资料等，可将装备的故障隔离到LRU（外场更换单元）或SRU，对于SRU，下一步进入更换修复或转入分机/模块级维修检测流程进行故障确认。当故障定位出的SRU 或返修的故障SRU作为被测单元时，分两类SRU进行故障确认，一类SRU功能相对独立，接口信号模拟简单，可以直接利用检测设备进行功能性能检测和故障确认，而另一类SRU在工作中与其它组件之间有多位并行数据线、地址线、读写脉冲或高速数据总线等复杂信号交联，测试时自动检测设备模拟此类信号难度大，成本高，需开发专用测试方法对此类SRU进行故障确认。

目前针对信号交联复杂的SRU进行故障确认的方法主要是结合装备的系统自检结果和技术资料等给出判断，此方法的缺点如下：

a)自动化程度差，测试效率低。测试过程中，操作员需根据装备测试过程的中间结果，查阅装备技术手册，对装备状态分析判断，最后确认SRU故障，属于半自动测试，未能充分发挥ATE高效的自动测试优势。

b)故障检测率低。系统自检的故障隔离区域主要至LRU和少数功能独立的SRU，经工程统计，依靠系统自检结果对SRU故障检测率，检测率一般在60%左右，难以满足内场维修检测指标要求。

c)故障确认需要人工干预，不确定因素大。应用传统的方法对此类SRU故障确认，需要工程师根据工程经验分析装备的系统自检结果和故障状态，人为判断，此方法对操作人员的能力要求高，可靠性差。

因此，基于传统方法，对SRU测试困难，很难高效准确的进行故障确认。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对现有技术存在的问题，提供一种基于检测热台的SRU故障确认装置及方法。将关联性强的SRU组成虚拟单元，专门配备检测热台，通过换插SRU方式配合上位机完成SRU故障确认。

本发明采用的技术方案如下：

一种基于检测热台的SRU故障确认方法包括：

步骤1：将需要确认故障的SRU插入检测热台；执行步骤2；

步骤2：ATE发送测试信号给计算机；当计算机解析ATE发送的测试信号为自检功能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储，执行步骤3；否则，当解析测试信号为功能性能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储，执行步骤5；其中固有基本信号包括样式开关信号、外部触发信号、BIT开关信号和方向开关信号；

步骤3：总线控制器根据计算机发送的控制信号读取开关信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，同时根据计算机板对外部存储空间的操作产生用于启动SRU正常工作的地址译码使能控制信号和指示灯控制信号，产生用于选择SRU不同自检通道的SRU开关控制信号，产生用于触发SRU自检的SRU自检控制信号，并将地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关控制信号以及SRU自检控制信号发送至SRU控制寄存器；执行步骤4；

步骤4：SRU控制寄存器接收并存储总线控制器发送的信号后，将其发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理，输出至被测试SRU；ATE通过返回的被检测SRU自检状态信号判定对应SRU板卡自检功能测试是否正常；其中SRU使能控制信号控制检测热台中各个SRU正常工作，提供被测SRU所需交联信号，开启自检控制信号对被测SRU进行状态自检；

步骤5：采样电路给触发信号产生单元发送用于外触发产生SRU测试所需的外部触发信号；总线控制器根据计算机对外部存储空间的操作产生SRU模块的使能信号和控制信号给SRU控制寄存器，同时总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号和方向开关信号，结合计算机板下发的测试命令产生波形参数数据存入控制数据存储器；同时总线控制器控制触发信号产生单元生成触发信号给波形产生单元，波形产生单元生成SRU测试所需的波形信号；执行步骤6；

步骤6：SRU控制寄存器接收并存储总线控制器的信号后发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，给SRU发送所需的控制码信号，译码器生成SRU开关控制信号时序打开被测SRU不同通道，把控制码发送给SRU；ATE通过被检测SRU返回的检测码判断SRU板卡功能性能测试是否正常。

进一步的，所述步骤3具体包括：

步骤31：总线控制器根据计算机对外部存储空间的操作产生各个SRU的地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关信号和SRU自检控制信号，并发送给SRU控制寄存器；

步骤32：总线控制器根据计算机的控制信号读取开关控制信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，并根据BIT开关信号和方向开关信号产生被测SRU所需要的SRU自检控制信号到SRU控制寄存器；

步骤33：当BIT开关使能信号使能后，在n路BIT开关信号作用下，采集时钟信号的上升沿输出各SRU通道的设定的视频脉冲，n路BIT开关信号关闭后，相应通道的自检控制信号停止输出；当BIT开关使能信号无效后，所有通道自检控制信号波形输出停止，保持为某一固定电平，该电平可由ATE输出的不同测试命令设置为高或低。

进一步的，所述步骤4中通过返回的被检测SRU自检状态信号判定对应SRU板卡自检功能测试是否正常具体过程是；当SRU板卡正常时，SRU板卡将SRU自检状态信号回传给译码器，译码器将SRU自检状态信号值进行译码处理后发送给SRU状态寄存器；当SRU板卡不能正常工作时，则SRU板卡回传错误电平信号给译码器；SRU状态寄存器接收译码器回发的SRU自检状态信号值后，通过总线控制器回传给计算机板，计算机板通过通信协议打包后发送给ATE，由ATE对测试结果进行分析判断，判定该SRU板卡自检功能是否正常。

进一步的，所述步骤5具体包括：

步骤51：总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生各个SRU的指示灯控制信号、SRU使能控制信号、SRU开关信号使能给SRU控制寄存器；

步骤52：总线控制器从开关寄存器读取方向开关信号，根据不同的测试项目产生控制码到SRU控制寄存器，用于输出SRU开关控制信号，打开SRU的被测通道；

步骤53：总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号，结合计算机下发的测试命令生成波形参数到控制数据存储器，控制数据存储器用于存储波形数据空间；

步骤54：总线控制器通过触发信号产生单元控制波形产生单元产生不同波形信号的控制码到SRU控制寄存器。

进一步的，所述总线控制器控制触发信号产生单元工作在两种工作模式：内部自动触发方式和外部信号触发方式；内部自动触发方式具体为：当ATE测试命令需要内部自动触发模式，触发信号产生单元读取SRU控制寄存器的内触发信号，发送给波形产生单元，总线控制器控制波形产生单元在内触发信号作用下输出控制码使能信号，控制码使能信号有效后，时钟的上升沿波形产生单元将读取控制数据寄存器内的波形数据产生控制码，存储至SRU控制寄存器；外部信号触发方式具体为：触发信号产生单元采集采样电路发送的外部触发信号，将其发送给波形产生单元，外部触发信号的触发沿根据ATE测试命令不同设置；总线控制器解析计算机的触发模式指令输出使能信号给波形产生单元，当触发模式指令输出使能信号有效后，波形产生单元在时钟的上升沿捕捉外触发信号的上升沿或下降沿，根据ATE测试命令的上升沿或下降沿触发要求，产生SRU控制码信号，并存储至SRU控制寄存器。

进一步的，所述步骤6中通过被检测SRU返回的检测码判断SRU板卡功能性能测试是否正常具体过程是：当SRU板卡工作正常时，SRU板卡将检测码回传给译码器，译码器将信号值进行译码处理后发送给SRU状态寄存器；SRU状态寄存器接收译码单元回传的检测码使能信号和检测码信号值后，通过总线控制器回传给计算机板，计算机板通过通信协议打包后发送给ATE，最终由ATE对SRU检测码进行分析判断该SRU板卡功能性能测试是否正常。

进一步的，所述检测热台是带有电源、电源指示板、计算机、FPGA芯片和外围电路及一个通风口的封闭空间，检测热台一侧面设置能固定多个SRU、FPGA芯片固定接口，另一侧面留有信号转接端口与ATE进行信号交互，其余端面是通风架构成的带有一个通风口的封闭空间；采样电路、总线控制器、开关信号寄存器、控制数据存储器、触发信号产生单元、波形产生单元、SRU控制寄存器、译码器以及SRU状态寄存器都通过FPGA编程实现。

一种基于检测熱台的SRU故障确认装置包括：

ATE，用于提供电源、发送固有基本信号给采样电路；发送测试信号给计算机；并通过计算机接收总线控制器回传的SRU自检状态信号，判断SRU板卡自检功能测试是否正常；通过计算机接收总线控制器回传的SRU检测码，判断SRU板卡功能性能测试是否正常；

采样电路，用于接收ATE发送的固有基本信号，然后存入开关信号寄存器中；

总线控制器，用于当计算机解析ATE发送的测试信号为自检功能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储；总线控制器根据计算机发送的控制信号读取开关信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，同时根据计算机板对外部存储空间的操作产生用于启动SRU正常工作的地址译码使能控制信号和指示灯控制信号，产生用于选择SRU不同自检通道的SRU开关控制信号，产生用于触发SRU自检的SRU自检控制信号，并将地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关控制信号以及SRU自检控制信号发送至SRU控制寄存器；SRU控制寄存器接收并存储总线控制器发送的信号后，将其发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理，输出至被测试SRU；ATE通过返回的被检测SRU自检状态信号判定对应SRU板卡自检功能测试是否正常；其中SRU使能控制信号控制检测热台中各个SRU正常工作，提供被测SRU所需交联信号，开启自检控制信号对被测SRU进行状态自检；当解析测试信号为功能性能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储；采样电路给触发信号产生单元发送用于外触发产生SRU测试所需的外部触发信号；总线控制器根据计算机对外部存储空间的操作产生SRU模块的使能信号和控制信号给SRU控制寄存器，同时总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号和方向开关信号，结合计算机板下发的测试命令产生波形参数数据存入控制数据存储器；同时总线控制器控制触发信号产生单元生成触发信号给波形产生单元，波形产生单元生成SRU测试所需的波形信号；SRU控制寄存器接收并存储总线控制器的信号后发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，给SRU发送所需的控制码信号，译码器生成SRU开关控制信号时序打开被测SRU不同通道，把控制码发送给SRU；ATE通过被检测SRU返回的检测码判断SRU板卡功能性能测试是否正常；

开关信号寄存器，用于存储采样电路发送来的固有基本信号；

控制数据存储器，用于存储总线控制器产生的波形数据；

触发信号产生单元，用于产生外部触发信号或内部触发信号；

波形产生单元，用于产生SRU所需信号时序；

SRU控制寄存器，用于接收并存储总线控制器信号和波形产生单元生成的波形信号发送给译码器，同时根据ATE的测试命令发送内触发信号给触发信号产生单元；

译码器，用于将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，根据SRU控制寄存器的指令产生当前测试所需信号时序，对检测热台中被测SRU进行功能性能测试；

SRU状态寄存器，用于接收译码器读回的SRU状态信号值，发送给总线控制器。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

本发明可实现复杂SRU的故障确认，通过检测台的设计配合上位机完成装备测试，检测台内硬件可重用装备内构件，降低了自动测试设备的设计复杂程度，对SRU构成的虚拟单元分机的功能性能测试和故障隔离，实现复杂SRU的故障检测。

某项目应用此方法，经统计故障隔离出SRU的准确率大于85%，提高了SRU故障检测率，对测试设备的功能起到提升作用。

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1是FPGA芯片结构示意图。

图2是总线控制器输出时序图。

图3是触发信号产生单元内部自动触发方式的时序图。

图4是触发信号产生单元外部信号触发方式的时序图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

本发明相关说明：

1、SRU是LRU中具备不同功能的电子模块,SRU功能复杂,种类很多,不同的SRU接口定义一般不同,通常需要为每型SRU研制专项的测试设备。SRU模块的种类很多，功能和接口一般不同，主要分为以下几类测试：重量、功耗、电压、电阻、离散量、模拟量、并行总线、脉冲、存储器、RS232、RS422、R485、1553总线、ARINC429总线、视频、音频等。

2、FPGA芯片包括采样电路、开关信号寄存器、总线控制器、SRU控制寄存器、SRU状态寄存器、触发信号产生单元、波形产生单元以及译码器。采样电路是用于采集各类开关信号的电路；总线控制器是通过FPGA编程实现信号转换的寄存器；SRU控制寄存器是用于存储SRU相关控制参数的寄存器；SRU状态寄存器是存储SRU相关状态参数的寄存器。译码器是进行译码处理的电路。

固有基本信号包括样式开关信号、方向开关信号以及BIT开关信号等信号,样式开关信号、方向向开关信号与BIT开关信号依次经过采样电路、开关信号寄存器、总线控制器、SRU控制寄存器以及译码器后，分别对应输出SRU控制码信号、SRU开关控制信号与SRU自检控制信号。实际测试信号是根据各个SRU被测试方式不同而不同由上位机产生的信号。

译码器输出的信号包括SRU使能控制信号，SRU自检控制信号、以及SRU参数设置信号；其中参数检测信号包括开关控制信号、指示灯控制信号、SRU控制码信号。

工作过程：

1）检测热台是带有电源、电源指示板、FPGA芯片及一个通风口的封闭空间，检测热台一侧面设置能固定多个SRU、FPGA芯片固定接口，其余端面是通风架构成的带有一个通风口的封闭空间；电源给各个SRU供电，使SRU能正常工作；电源指示板主要实现供电电源和检测电源的状态显示。

2）检测热台可实现信号的转接功能。

检测热台是由多个SRU构成的功能相对独立的虚拟单元。相对于单个信号交联复杂的SRU而言，检测热台的外部接口信号简单，模拟方便，需要的测试资源较少，测试简单可靠。由电源给检测热台中SRU、FPGA芯片供电，测试时，检测热台中多个SRU和检测热台中的FPGA芯片连接，并实现测试信号的输入输出以及检测热台中FPGA芯片与上位机之间的通信。检测热台中FPGA芯片将上位机输出的信号转入到各SRU，并将各SRU输出的检测结果信号输出到上位机，由上位机进行处理判断。

3）检测热台和ATE配合，完成SRU自动测试。

在执行测试任务时，首先将需确认故障的SRU插入检测热台，此SRU与其余构件构成功能相对独立的虚拟单元。然后将SRU与FPGA芯片相连。在测试程序的控制下，由电源模块提供电源、ATE提供测试分析信号和固有基本信号，并由FPGA芯片中采样电路以及总线控制器采集实际测试分析信号和固有基本信号（数字、视频和射频等响应信号），检测热台内FPGA芯片的总线控制器按照一定的数据格式向上位机上报测试结果。最后系统测试程序结合虚拟单元的功能性能测试结果，通过分析判断，确认SRU故障。

检测台的软件包括一个计算机的主控软件（内含测试程序）和一个接口控制器的FPGA软件。具体工作时，计算机接收ATE的测试命令，生成被测件需要的电平激励，传给接口控制器，接口控制器根据计算机的访问地址译码，传送给被测SRU需要的片选信号，控制其对应测试管脚到正确的状态，并把参数写入对应的被测件，设置各SRU的工作模式，同时由计算机向ATE上报被测SRU的测试结果。

具体实施方式:

一种基于检测热台的SRU故障确认方法，SRU自检功能测试包括：

步骤1：将需要确认故障的SRU插入检测热台；

步骤2：ATE通过串口发送对应的命令7e 0D 0B 01…… 00 00 00 7e；

步骤3：计算机板接收ATE发送的串口命令进行解析，发送给总线控制器；

步骤4：采样电路采集ATE发送的固有基本信号，发送给开关信号寄存器存储；

步骤5：总线控制器根据计算机板指令读取开关信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，同时根据计算机板对外部存储空间的操作产生SRU模块的地址译码使能控制信号和指示灯控制信号用于启动SRU正常工作，产生SRU开关控制信号用于选择SRU不同自检通道，产生SRU自检控制信号给SRU控制寄存器用于触发SRU自检，同时读取SRU状态寄存器中SRU自检状态信号，回传给计算机板存储处理。

步骤51：总线控制器根据计算机对外部存储空间的操作产生各个SRU的地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关信号和SRU自检控制信号，并发送给SRU控制寄存器；

步骤52：总线控制器根据计算机的控制信号读取开关控制信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，并根据BIT开关信号和方向开关信号产生被测SRU所需要的SRU自检控制信号到SRU控制寄存器；

步骤53：当BIT开关使能信号使能后，在n路BIT开关信号作用下，采集时钟信号的上升沿输出各SRU通道的设定的视频脉冲，n路BIT开关信号关闭后，相应通道的自检控制信号停止输出；当BIT开关使能信号无效后，所有通道自检控制信号波形输出停止，保持为某一固定电平，该电平可由ATE输出的不同测试命令设置为高或低。

步骤6：SRU控制寄存器接收并存储总线控制器的信号后发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，完成大部分输入输出功能。输入输出接口特性见表1，其中SRU使能控制信号控制检测热台中各个SRU正常工作，提供被测SRU所需交联信号，开启自检控制信号对被测SRU进行状态自检；

实施例二: 一种基于检测热台的SRU故障确认方法， SRU功能性能测试，其特征在于包括：

步骤1：将需要确认故障的SRU插入检测热台；

步骤2：ATE通过串口发送测试命令7e 0D 0B 02…… 00 00 00 7e；

步骤3：计算机板接收ATE发送的串口命令进行解析，发送给总线控制器；

步骤4：采样电路采集ATE发送的固有基本信号，发送给开关信号寄存器存储，发送给触发信号产生单元用于外触发产生SRU测试所需波形信号；

步骤5：总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生SRU模块的使能信号和控制信号给SRU控制寄存器，同时从开关寄存器读取样式开关信号和方向开关信号，结合计算机板下发的测试命令产生波形参数数据存入控制数据存储器，同时控制触发信号产生单元生成触发信号给波形产生单元，控制波形产生单元生成SRU测试所需的波形信号。方向开关信号时序打开被测SRU不同通道，在检测码使能信号时序触发下总线控制器读取SRU状态寄存器中的检测码回传给计算机板存储处理；

步骤5.1：总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生各个SRU模块的指示灯信号、SRU使能控制信号、开关信号使能给SRU控制寄存器，用于启动SRU处于正常工作模式；

步骤5.2：总线控制器从开关寄存器读取方向开关信号，根据不同的测试项目产生控制码到SRU控制寄存器，用于输出SRU开关控制信号，打开SRU的被测通道；（当方向开关使能信号使能后，在n路方向开关信号作用下，采集时钟信号的上升沿输出各SRU通道的设定的视频脉冲，n路方向开关信号关闭后，相应通道的SRU控制信号停止输出；当方向开关使能信号无效后，所有通道SRU控制信号波形输出停止，保持为某一固定电平，该电平可由ATE输出的不同测试命令设置为高或低。）

步骤5.3：总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号，结合计算机板下发的测试命令生成波形参数到控制数据存储器，控制数据存储器用于存储波形数据空间，地址分配见表2；

表2

步骤5.4：总线控制器控制波形产生单元产生不同波形信号的控制码到SRU控制寄存器；总线控制器控制触发信号产生单元工作在两种工作模式：内部自动触发方式和外部信号触发方式；内部自动触发方式具体为：当ATE测试命令需要内部自动触发模式，触发信号产生单元读取SRU控制寄存器的内触发信号，发送给波形产生单元，总线控制器控制波形产生单元在内触发信号作用下输出控制码使能信号，控制码使能信号有效后，时钟的上升沿波形产生单元将读取控制数据寄存器内的波形数据产生控制码，存储至SRU控制寄存器；外部信号触发方式具体为：触发信号产生单元采集采样电路发送的外部触发信号，将其发送给波形产生单元，外部触发信号的触发沿根据ATE测试命令不同设置；总线控制器解析计算机的触发模式指令输出使能信号给波形产生单元，当触发模式指令输出使能信号有效后，波形产生单元在时钟的上升沿捕捉外触发信号的上升沿或下降沿，根据ATE测试命令的上升沿或下降沿触发要求，产生SRU控制码信号，并存储至SRU控制寄存器；

步骤5.5：总线控制器在SRU检测码使能信号时序触发下读取SRU状态寄存器中的SRU检测码回传给计算机板存储处理；

步骤6：SRU控制寄存器接收并存储总线控制器的信号后发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，给SRU发送所需的控制码信号，译码单元生成SRU开关控制信号时序打开被测SRU不同通道，把控制码发送给SRU，输入输出接口特性见表1；

步骤7：SRU工作正常时，SRU将检测码回传给译码器，译码器将信号值进行译码处理后发送给SRU状态寄存器；

步骤8：SRU状态寄存器接收译码单元回传的检测码使能信号和检测码信号值后，通过总线控制器回传给计算机板，计算机板通过通信协议打包后发送给ATE，最终由ATE对SRU检测码进行分析判断得到结论。

本发明并不局限于前述的具体实施方式。本发明扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。

Claims (8)

1.一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于包括：

步骤1：将需要确认故障的SRU插入检测热台；执行步骤2；

步骤2：ATE发送测试信号给计算机板；当计算机板解析ATE发送的测试信号为自检功能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储，执行步骤3；否则，当解析测试信号为功能性能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储，执行步骤5；其中固有基本信号包括样式开关信号、外部触发信号、BIT开关信号和方向开关信号；

步骤3：总线控制器根据计算机板发送的控制信号读取开关信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，同时根据计算机板对外部存储空间的操作产生用于启动SRU正常工作的地址译码使能控制信号和指示灯控制信号，产生用于选择SRU不同自检通道的SRU开关控制信号，产生用于触发SRU自检的SRU自检控制信号，并将地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关控制信号以及SRU自检控制信号发送至SRU控制寄存器；执行步骤4；

步骤4：SRU控制寄存器接收并存储总线控制器发送的信号后，将其发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理，输出至被测试SRU；ATE通过返回的被检测SRU自检状态信号判定对应SRU板卡自检功能测试是否正常；其中SRU使能控制信号控制检测热台中各个SRU正常工作，提供被测SRU所需交联信号，开启自检控制信号对被测SRU进行状态自检；

步骤5：采样电路给触发信号产生单元发送用于外触发产生SRU测试所需的外部触发信号；总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生SRU模块的使能信号和控制信号给SRU控制寄存器，同时总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号和方向开关信号，结合计算机板下发的测试命令产生波形参数数据存入控制数据存储器；同时总线控制器控制触发信号产生单元生成触发信号给波形产生单元，波形产生单元生成SRU测试所需的波形信号；执行步骤6；

步骤6：SRU控制寄存器接收并存储总线控制器的信号后发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，给SRU发送所需的控制码信号，译码器生成SRU开关控制信号时序打开被测SRU不同通道，把控制码发送给SRU；ATE通过被检测SRU返回的检测码判断SRU板卡功能性能测试是否正常。

2.根据权利要求1所述的一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于所述步骤3具体包括：

步骤31：总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生各个SRU的地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关信号和SRU自检控制信号，并发送给SRU控制寄存器；

步骤32：总线控制器根据计算机板的控制信号读取开关控制信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，并根据BIT开关信号和方向开关信号产生被测SRU所需要的SRU自检控制信号到SRU控制寄存器；

步骤33：当BIT开关使能信号使能后，在n路BIT开关信号作用下，采集时钟信号的上升沿输出各SRU通道的设定的视频脉冲，n路BIT开关信号关闭后，相应通道的自检控制信号停止输出；当BIT开关使能信号无效后，所有通道自检控制信号波形输出停止，保持为某一固定电平，该电平可由ATE输出的不同测试命令设置为高或低。

3.根据权利要求1所述的一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于所述步骤4中通过返回的被检测SRU自检状态信号判定对应SRU板卡自检功能测试是否正常具体过程是；当SRU板卡正常时，SRU板卡将SRU自检状态信号回传给译码器，译码器将SRU自检状态信号值进行译码处理后发送给SRU状态寄存器；当SRU板卡不能正常工作时，则SRU板卡回传错误电平信号给译码器；SRU状态寄存器接收译码器回发的SRU自检状态信号值后，通过总线控制器回传给计算机板，计算机板通过通信协议打包后发送给ATE，由ATE对测试结果进行分析判断，判定该SRU板卡自检功能是否正常。

4.根据权利要求1所述的一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于所述步骤5具体包括：

步骤51：总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生各个SRU的指示灯控制信号、SRU使能控制信号、SRU开关信号使能给SRU控制寄存器；

步骤52：总线控制器从开关寄存器读取方向开关信号，根据不同的测试项目产生控制码到SRU控制寄存器，用于输出SRU开关控制信号，打开SRU的被测通道；

步骤53：总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号，结合计算机板下发的测试命令生成波形参数到控制数据存储器，控制数据存储器用于存储波形数据空间；

步骤54：总线控制器通过触发信号产生单元控制波形产生单元产生不同波形信号的控制码到SRU控制寄存器。

5.根据权利要求1所述的一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于所述总线控制器控制触发信号产生单元工作在两种工作模式：内部自动触发方式和外部信号触发方式；内部自动触发方式具体为：当ATE测试命令需要内部自动触发模式，触发信号产生单元读取SRU控制寄存器的内触发信号，发送给波形产生单元，总线控制器控制波形产生单元在内触发信号作用下输出控制码使能信号，控制码使能信号有效后，时钟的上升沿波形产生单元将读取控制数据寄存器内的波形数据产生控制码，存储至SRU控制寄存器；外部信号触发方式具体为：触发信号产生单元采集采样电路发送的外部触发信号，将其发送给波形产生单元，外部触发信号的触发沿根据ATE测试命令不同设置；总线控制器解析计算机板的触发模式指令输出使能信号给波形产生单元，当触发模式指令输出使能信号有效后，波形产生单元在时钟的上升沿捕捉外触发信号的上升沿或下降沿，根据ATE测试命令的上升沿或下降沿触发要求，产生SRU控制码信号，并存储至SRU控制寄存器。

6.根据权利要求1所述的一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于所述步骤6中通过被检测SRU返回的检测码判断SRU板卡功能性能测试是否正常具体过程是：当SRU板卡工作正常时，SRU板卡将检测码回传给译码器，译码器将信号值进行译码处理后发送给SRU状态寄存器；SRU状态寄存器接收译码单元回传的检测码使能信号和检测码信号值后，通过总线控制器回传给计算机板，计算机板通过通信协议打包后发送给ATE，最终由ATE对SRU检测码进行分析判断该SRU板卡功能性能测试是否正常。

7.根据权利要求2或3所述的一种基于检测热台的SRU故障确认方法，其特征在于所述检测热台是带有电源、电源指示板、计算机板、FPGA芯片和外围电路及一个通风口的封闭空间，检测热台一侧面设置能固定多个SRU、FPGA芯片固定接口，另一侧面留有信号转接端口与ATE进行信号交互，其余端面是通风架构成的带有一个通风口的封闭空间；采样电路、总线控制器、开关信号寄存器、控制数据存储器、触发信号产生单元、波形产生单元、SRU控制寄存器、译码器以及SRU状态寄存器都通过FPGA编程实现。

8.一种基于检测热台的SRU故障确认装置，其特征在于包括：

ATE，用于提供电源、发送固有基本信号给采样电路；发送测试信号给计算机板；并通过计算机板接收总线控制器回传的SRU自检状态信号，判断SRU板卡自检功能测试是否正常；通过计算机板接收总线控制器回传的SRU检测码，判断SRU板卡功能性能测试是否正常；

采样电路，用于接收ATE发送的固有基本信号，然后存入开关信号寄存器中；

总线控制器，用于当计算机板解析ATE发送的测试信号为自检功能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储；总线控制器根据计算机板发送的控制信号读取开关信号寄存器中的BIT开关信号和方向开关信号，同时根据计算机板对外部存储空间的操作产生用于启动SRU正常工作的地址译码使能控制信号和指示灯控制信号，产生用于选择SRU不同自检通道的SRU开关控制信号，产生用于触发SRU自检的SRU自检控制信号，并将地址译码使能控制信号、指示灯控制信号、SRU开关控制信号以及SRU自检控制信号发送至SRU控制寄存器；SRU控制寄存器接收并存储总线控制器发送的信号后，将其发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理，输出至被测试SRU；ATE通过返回的被检测SRU自检状态信号判定对应SRU板卡自检功能测试是否正常；其中SRU使能控制信号控制检测热台中各个SRU正常工作，提供被测SRU所需交联信号，开启自检控制信号对被测SRU进行状态自检；当解析测试信号为功能性能测试信号时，采样电路采集ATE发送的固有基本信号，并发送给开关信号寄存器存储；采样电路给触发信号产生单元发送用于外触发产生SRU测试所需的外部触发信号；总线控制器根据计算机板对外部存储空间的操作产生SRU模块的使能信号和控制信号给SRU控制寄存器，同时总线控制器从开关寄存器读取样式开关信号和方向开关信号，结合计算机板下发的测试命令产生波形参数数据存入控制数据存储器；同时总线控制器控制触发信号产生单元生成触发信号给波形产生单元，波形产生单元生成SRU测试所需的波形信号；SRU控制寄存器接收并存储总线控制器的信号后发送给译码器；译码器将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，给SRU发送所需的控制码信号，译码器生成SRU开关控制信号时序打开被测SRU不同通道，把控制码发送给SRU；ATE通过被检测SRU返回的检测码判断SRU板卡功能性能测试是否正常；

开关信号寄存器，用于存储采样电路发送来的固有基本信号；

控制数据存储器，用于存储总线控制器产生的波形数据；

触发信号产生单元，用于产生外部触发信号或内部触发信号；

波形产生单元，用于产生SRU所需复杂信号时序；

SRU控制寄存器，用于接收并存储总线控制器信号和波形产生单元生成的波形信号发送给译码器，同时根据ATE的测试命令发送内触发信号给触发信号产生单元；

译码器，用于将SRU控制寄存器输出的信号进行译码处理后，根据SRU控制寄存器的指令产生当前测试所需信号时序，对检测热台中被测SRU进行功能性能测试；

SRU状态寄存器，用于接收译码器读回的SRU状态信号值，发送给总线控制器。