CN106525391A - 用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法。其中，该方法包括：控温台或温箱，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；温度控制器，用于在预设时间段内控制控温台上或温箱中的环境温度，使环境温度满足预定温度条件。本发明解决了相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题。

Description

用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法

技术领域

本发明涉及光学领域，具体而言，涉及一种用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法。

背景技术

在光学产品的全寿命周期中，光学产品中的光学元件会由于老化导致光效降低、光谱偏离以及寿命缩短。

以大功率白光LED封装为例，它是由一系列部件所构成的复杂产品，包括：半导体芯片，焊线，引线框架、散热板以及光学元件。LED封装老化的机理与芯片，焊接材料，光学材料等因素相关。其中，LED封装的光效降低的一个重要原因是，在使用过程中，半导体芯片产生的热以及光辐射导致LED封装中的光学元件不断老化。

最新研究显示，密封材料及光学材料的老化程度与光效密切相关。在与之相关的各种老化机理中，光学材料的变色和黄化直接导致光学元件的透明度降低，进而使LED封装的光效降低。而光学材料老化的主要受温度、短波段光照辐射，以及荧光粉与光学材料的相互作用的影响。

LED封装内部会由于结温和环境温度升高，以及散热条件不好而形成高温环境，同时，荧光粉以及反射层中的能量转换会进一步导致环境温度升高。高温环境又会直接影响光学材料的老化程度及进程。研究表明，在达到150摄氏度时，光学部件的透明度就会受到显著影响。

对于光学产品(如LED封装)而言，光效的重要性十分显著。在测试标准中已明确提出，当某一批次中LED的光效低到一定值时，即表示产品不合格。由于光效测试针对的是老化的光学产品，因此，加速光学元件老化的重要性也越来越显著。

目前，在光效测试时，并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同测试环境的影响严重。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法，以至少解决相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种用于光学元件的加速老化系统，包括：控温台或温箱，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；温度控制器，用于在预设时间段内控制上述控温台上或上述温箱中的环境温度，使上述环境温度满足上述预定温度条件。

进一步地，上述加速老化系统还包括：光源，用于产生光照，为老化过程中的上述待老化光学元件提供满足预定辐射照度条件的光照环境；辐射照度控制器，用于在上述预设时间段内控制上述光源照射到上述待老化光学元件上的辐射照度，使上述辐射照度满足上述预定辐射照度条件。

进一步地，上述加速老化系统还包括：平行光控制器，用于控制上述光源产生的光照能够平行照射到上述待老化光学元件上。

进一步地，上述加速老化系统还包括：光学透镜，安装在上述平行光控制器上，用于进一步控制上述光源产生的光照能够平行照射到上述待老化光学元件上。

进一步地，上述辐射照度控制器通过以下方式调节照射到上述待老化光学元件上的辐射照度：上述辐射照度控制器检测照射到上述待老化光学元件上的辐射照度是否满足上述预定辐射照度条件；若不满足，则校正上述光源以调节照射到上述待老化光学元件上的辐射照度。

进一步地，上述平行光控制器内设置有第一测试点和第二测试点，上述辐射照度控制器通过以下方式确定透过上述待老化光学元件的辐射照度：上述辐射照度控制器检测照射到上述第一测试点上的辐射照度，得到第一辐射照度检测值；上述辐射照度控制器检测照射到上述第二测试点上的辐射照度，得到第二辐射照度检测值；上述辐射照度控制器根据上述第一辐射照度检测值和上述第二辐射照度检测值确定上述待老化光学元件的透光度。

进一步地，上述加速老化系统还包括：位置控制器，用于调节上述待老化光学元件的位置和/或上述待老化光学元件与上述光源之间的距离。

进一步地，在应用上述温箱时，上述加速老化系统还包括：夹具，用于固定上述待老化光学元件。

进一步地，上述控温台上或上述温箱内具有多个区域，上述温度控制器包括多个区域温度控制器，每个区域温度控制器用于控制上述多个区域中的一个区域的环境温度，使上述多个区域中每个区域的环境温度满足各自的预定温度条件；和/或上述辐射照度控制器包括多个区域辐射照度控制器，每个区域辐射照度控制器用于控制光源照射到上述多个区域中的一个区域内的待老化光学元件上的辐射照度，使照射到上述多个区域中每个区域内的待老化光学元件上的辐射照度满足各自的预定辐射照度条件。

进一步地，上述控温台上或上述温箱包括多个，上述温度控制器包括多个，每个上述温度控制器用于控制一个上述控温台上或上述温箱中的环境温度，使每个上述控温台上或上述温箱中的环境温度满足各自的预定温度条件；和/或上述辐射照度控制器包括多个，每个上述辐射照度控制器用于控制光源照射到每个上述控温台上或上述温箱内的待老化光学元件上的辐射照度，使照射到每个上述控温台上或上述温箱内的待老化光学元件上的辐射照度满足各自的预定辐射照度条件。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种用于光学元件的透光度测试方法，包括：获取光学元件老化后的透光度，其中，上述光学元件通过使用任一项上述的用于光学元件的加速老化系统进行老化处理；获取上述光学元件老化前的透光度；根据获取的老化后的透光度和老化前的透光度测试上述光学元件的属性参数。

在本发明实施例中，采用控温台或温箱为光学元件营造一个不受外部环境因素影响的老化环境的方式，通过使用控温台或温箱，在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；并使用温度控制器，在预设时间段内控制控温台上或温箱中的环境温度，使环境温度满足预定温度条件，达到了将老化环境与外界环境相隔离的目的，从而实现了降低光效测试结果受不同老化环境的影响的技术效果，进而解决了相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题；同时该设备能够在老化过程中实时监测待测元件的透光度，解决了相关技术中无法实现老化进程中测试的困难。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1(a)是根据本发明实施例的一种可选的控温台系统的第一视图；

图1(b)是根据本发明实施例的一种可选的控温台系统的第二视图；

图2是根据本发明实施例的一种可选的温箱系统的结构示意图；

图3是根据本发明实施例的一种可选的辐射照度控制器的控制流程的示意图；

图4是根据本发明实施例的一种可选的使用温箱系统测试辐射照度的示意图；

图5(a)是根据本发明实施例的一种可选的同一个温箱中包含多个区域的示意图；

图5(b)是根据本发明实施例的一种可选的同一个老化系统中包含多个温箱的示意图；

图6(a)是根据本发明实施例的一种可选的温箱系统中光源与样品的示意图；

图6(b)是根据本发明实施例的一种可选的温箱系统中样品与夹具的示意图；

图6(c)是根据本发明实施例的一种可选的温箱系统中光源的示意图；

图6(d)是根据本发明实施例的一种可选的温箱系统中平行光控制筒的示意图；

图7是根据本发明实施例的一种可选的用于光学元件的透光度测试方法的流程图；以及

图8是根据本发明实施例的另一种可选的用于光学元件的透光度测试方法的流程图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

根据本发明实施例，提供了一种用于光学元件的加速老化系统的装置实施例。

该加速老化系统可以包括：控温台102(如图1(a)和(b)所示)或温箱202(如图2所示)。控温台102或温箱202，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件(以下简称为样品A)提供满足预定温度条件的温度环境；温度控制器(图1(a)、图1(b)和图2中未示出)，用于在预设时间段内控制控温台102上或温箱202中的环境温度，使环境温度满足预定温度条件。

由于控温台102和温箱202能够为放置在其中的样品A提供一个相对密闭的环境，使用时，从而可以防止外界环境因素影响老化时所需要的环境温度，提高老化系统的控制精度。另外，上述温度控制器可以由计算机中的控制器充当。例如，根据实验需求，假设需要将样品A持续3000小时放置在30摄氏度的环境中进行老化处理。此时，温度控制器可以连续3000小时控制控温台102或温箱202的温度为30摄氏度，以满足加速老化对温度和时间的需求。

通过本发明实施例，采用控温台或温箱为光学元件营造一个不受外部环境因素影响的老化环境的方式，通过使用控温台或温箱，在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；并使用温度控制器，在预设时间段内控制控温台上或温箱中的环境温度，使所述环境温度满足所述预定温度条件，达到了将老化环境与外界环境相隔离的目的，从而实现了降低光效测试结果受不同老化环境的影响的技术效果，进而解决了相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题。另外，该系统还具有结构简单、系统稳定的特点。

可选地，如图1(a)和图2所示，上述加速老化系统还包括：光源104，用于产生光照，为老化过程中的待老化光学元件提供满足预定辐射照度条件的光照环境；辐射照度控制器(上述图中并未示出)，用于在预设时间段内控制光源104照射到待老化光学元件上的辐射照度，使辐射照度满足预定辐射照度条件。

由于光学元件的自然老化过程同通常受温度和光照共同作用的影响，因此，在加速老化过程中，除了使环境温度满足预定温度条件之外，还需要使控温台上或者温箱中的辐射照度满足预定辐射照度条件，此时，可以更准确的模拟实际的老化环境。

进一步可选地，上述加速老化系统还包括：平行光控制器(如平行光控制筒等)，用于控制光源产生的光照能够平行照射到待老化光学元件上。更进一步地，可以控制光照垂直照射到待老化光学元件上。平行光控制器能够确保光源产生的光照能够完全平行甚至垂直照射到样品上，同时根据光反馈回路构成辐射照度控制器，可以确保照射在样品上的辐射照度能够保持在可控制范围内，避免样品温度受环境的影响而波动，确保样品温度恒定。这克服了相关技术中的老化系统结构复杂、光源开放，无有效的平行光设计等缺陷。

进一步可选地，上述加速老化系统还包括：光学透镜，安装在平行光控制器上，用于进一步控制光源产生的光照能够平行照射到待老化光学元件上。光学透镜可以包括凸透镜和凹透镜等。

可选地，辐射照度控制器可以通过以下方式调节照射到待老化光学元件上的辐射照度：

S2，辐射照度控制器检测照射到待老化光学元件上的辐射照度是否满足预定辐射照度条件；

S4，若不满足，则校正光源以调节照射到待老化光学元件上的辐射照度。

在实际应用中，光源控制系统(包括辐射照度控制器)的控制原理如图3所示。实施时，由计算机实时控制温控设备以及辐射照度控制设备，保证光源温度输出。具体流程如下：3.1点亮光源；3.2，对控温台上或温箱中的温度进行控制；3.3，在执行3.2的同时，对控温台上或温箱中的辐射照度进行测试及控制；3.4，判断光源的输出是否达到标准；3.5，若是，则使光源稳定输出；3.6，若否，则对光源进行校正调节。

通过本发明实施例，通过控制光源，达到了使照射到样品上的光照具有可控性的效果。

可选地，平行光控制器内设置有第一测试点和第二测试点，光源位于待老化光学元件的前方，第一测试点位于待老化光学元件的旁边，用于检测照射到待老化光学元件的辐射照度；第二测试点位于待老化光学元件的后方，用于检测透过待老化光学元件的辐射照度，相应的，辐射照度控制器可以通过以下方式确定透过待老化光学元件的辐射照度：

S6，辐射照度控制器检测照射到第一测试点上的辐射照度，得到第一辐射照度检测值；

S8，辐射照度控制器检测照射到第二测试点上的辐射照度，得到第二辐射照度检测值；

S10，辐射照度控制器根据第一辐射照度检测值和第二辐射照度检测值确定待老化光学元件的透光度，进而确定其老化程度。

其中，一个平行光控制器(如平行光控制筒)内可以设置一个或者多个第一测试点。以一个第一测试点的系统为例，待老化光学元件的透光度可以由第二辐射照度检测值与第一辐射照度检测值的比值得到；以多个第一测试点的系统为例，可以通过计算照射在多个第一测试点上的辐射照度的平均值确定照射在待老化光学元件上的辐射照度，进而将该平均值与第二辐射照度检测值做除法得到待老化光学元件的透光度。其中，设置多个第一测试点可以减小误差对测试结果的影响。

另外，如图4所示，可以通过如下方式确定样品所吸收的辐射照度：4.1，检测照射在样品上的辐射照度；4.2，检测透过样品的辐射照度；4.3，由照射在样品上的辐射照度减去透过样品的辐射照度即为样品所吸收的辐射照度。同时应用两个辐射照度测试点，一个控制进入样品的辐射照度，一个测试通过样品的辐射照度，经过比对测试可以直接预测样品老化程度，不需要将样品置于其他的设备中来测量其透光率。例如，在平行光控制筒内，设置多个辐射照度测试点，能够测试照射到样品上的辐射照度以及透过样品的辐射照度。这样根据合理的数据比对及校正，可以在不使用其他光学测试仪器的情况下执行光效测试任务。

可选地，上述加速老化系统还包括：位置控制器，用于调节待老化光学元件的位置和/或待老化光学元件与光源之间的距离。例如，可以通过调节光源的位置，和/或样品距光源的距离来调节样品接收到的辐射总量。

可选地，在应用温箱时，上述加速老化系统还包括：夹具，用于固定待老化光学元件。应用温箱时，所设计的夹具能够让样品上的温度均匀并使得样品接受的光照均匀，并完全避免了从样品下方反射到该样品上，进而能够更有效的控制辐射总量。

可选地，控温台上或温箱内具有多个区域，相应的，温度控制器包括多个区域温度控制器，每个区域温度控制器用于控制多个区域中的一个区域的环境温度，使多个区域中每个区域的环境温度满足各自的预定温度条件；和/或辐射照度控制器包括多个区域辐射照度控制器，每个区域辐射照度控制器用于控制光源照射到多个区域中的一个区域内的待老化光学元件上的辐射照度，使照射到多个区域中每个区域内的待老化光学元件上的辐射照度满足各自的预定辐射照度条件。

例如，可以把同一个温箱区分为多个区域，可以将每一个区域中的辐射照度控制为与其它区域中的值，实现同时进行不同辐射照度下的老化测试。如图5(a)所示，在一个温箱内，可以设置4个区域，分别为：区域1、区域2、区域3、区域4，其中，控制系统可以对上述区域各自进行不同光源控制，但对其进行统一的温度控制，此时，可以实现相同温度下不同光源的批量测试。

可选地，控温台上或温箱包括多个，相应的，温度控制器包括多个，每个温度控制器用于控制一个控温台上或温箱中的环境温度，使每个控温台上或温箱中的环境温度满足各自的预定温度条件；和/或辐射照度控制器包括多个，每个辐射照度控制器用于控制光源照射到每个控温台上或温箱内的待老化光学元件上的辐射照度，使照射到每个控温台上或温箱内的待老化光学元件上的辐射照度满足各自的预定辐射照度条件。

例如，可以在一个老化系统中设置多个温箱，可以将每一个温箱中的辐射照度和温度控制为与其它温箱中的值不同，实现同时进行不同辐射照度下且不同温度下的老化测试。如图5(b)所示，在一个系统中，可以设置3个温箱，分别为：温箱1、温箱2、温箱3，控制系统可以通过辐射照度控制器对4个光源，分别为：光源1、光源2、光源3、光源4，进行综合控制，此时，可以实现不同温度下不同光源的批量测试。

以下基于具体实施例详细阐述本发明：

如图1(a)和图1(b)所示，在控温台老化系统中，样品A置于控温台102上，以蓝光光源为例，蓝光辐射照度测试点106位于样品平面上，以计算样品A所吸收的蓝光辐射总量。为了根据需要调节样品A所吸收的辐射总量，还可以将前述计算结果反馈到蓝光辐射照度控制器。蓝光光源面板置于控温台102上方，为了减少通过样品A对蓝光的反射量，可以在控温台102与光源之间设置一层光吸收材料。同时，为了控制光照均匀地照射到样品A上，还可以应用平行光控制筒(可加装平行光透镜)或类似结构。蓝光光源可以由计算机控制区分为不同的区域，还可以使用不同的蓝光光源或者不同的蓝光辐射照度同时对多个样品进行老化测试。

如图6(a)、6(b)、6(c)、6(d)所示，在温箱老化系统中，由于温箱202的密闭性相对较好，因此它能够使样品A受热更加均匀，并极大地减少光照通过样品A后再反射回样品A的光辐射量，使样品A所吸收的光照更加均匀。

在温箱以及控温台测试系统中，要求蓝光辐射照度在平面上尽可能的一致，使得样品A均匀吸光。蓝光光源需要配置散热设备以保证蓝光能够在稳定的温度工作。同时可以辅助夹具602，使得样品A测试位置固定；并且在蓝光辐射照度测试点c测试计算样品A所吸收的光辐射量。为了使蓝光光源平行照射到所测样品A上，可应用平行光控制筒604(并可以加装平行光透镜608)。该蓝光光源面板上可以应用不同结构不同种类的蓝光光源，并通过平行光控制筒604区分以实现在同一温箱内不同蓝光辐射照度情况下对多个样品的加速测试。

实施例2

根据本发明实施例，提供了一种用于光学元件的透光度测试方法的方法实施例。需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图7是根据本发明实施例的一种可选的用于光学元件的透光度测试方法的流程图，如图7所示，该方法包括如下步骤：

步骤S702，获取光学元件老化后的透光度，其中，光学元件通过使用实施例1中任一个优选实施方式的用于光学元件的加速老化系统进行老化处理；

步骤S704，获取光学元件老化前的透光度；

步骤S706，根据获取的老化后的透光度和老化前的透光度测试光学元件的属性参数。

实施时，可以测量未经老化的光学部件样品，包括：测量其透光度，以及在定标的光源下的光谱，色温(CCT)和色坐标(x，y，z)。并且，设置温箱内或者控温台上的温度以及的辐射照度。持续3000小时的老化测试之后，测量老化后样品的透光度，以及在定标的光源下的光谱，色温(CCT)和色坐标(x，y，z)。最终，根据测试结果，预测计算LED光学部件的可靠性以及使用寿命。

通过上述步骤，可以达到了将老化环境与外界环境相隔离的目的，从而实现降低光效测试结果受不同老化环境的影响的技术效果。

如图8所示，在实际应用中可以实现标准化的计算机预测分析样品可靠性，并由计算机实时控制温控设备以及辐射照度控制设备，保证光源稳定输出。具体流程如下：8.1点亮光源；8.2，对控温台上或温箱中的温度进行控制；8.3，在执行8.2的同时，对控温台上或温箱中的辐射照度进行测试及控制；8.4，判断光源的输出是否达到标准；8.5，若是，则使光源向样本稳定输出光照；8.6，若否，则对光源进行校正调节；8.7，将测试的结果与数据库内的数据进行对比分析判断样品为何种材料；8.8，选取该种材料在数据库内的相对应模型，并开始进行老化测试；8.9对老化中的样本进行实时的透光度测试，并给出相关可靠性的预测报告。

具体地，使用时，可以根据测试样品预估材料特性，选择合适的模型输入；设备自动根据预测材料指示光源，并调节光源到相应辐射照度；同时设备自动控制温度；根据测量的结果估计材料的透光度，并与数据库内预存数据进行匹配；根据匹配结果自动分析材料，并给出合理预测模型；初步预测材料的可靠性。需要说明的是，在数据分析及可靠性预测时，其具体实现过程需要增加辐射照度测试，如图4所示，(1)需要测试照射到样品上的辐射照度；(2)需要测试透过样品之后的辐射照度，最终通过对比两次的测试结果计算样品的透光度，并通过实时监测样品在老化过程中的透光度对样品进行评估。

通过本发明实施例，建立稳定的测试环境，实现光热加速老化测试，以研究光学部件的老化机理并预测其使用寿命。同时致力于建立一系列光热加速测试设备，有效地促进了光热加速测试的标准化，避免了在各种不同测试的环境中的测量结果而导致的预测结果的差异。同时建立自动化测试系统以及快速预测评估体系，实现了LED光学部件的光热老化加速测试的标准化、可用性以及系统化。并且样品在经过老化后，无需再使用积分球或者分光测色计进行相应测试，简化了测试系统及测试流程。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种用于光学元件的加速老化系统，其特征在于，包括：

控温台或温箱，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；

温度控制器，用于在预设时间段内控制所述控温台上或所述温箱中的环境温度，使所述环境温度满足所述预定温度条件。

2.根据权利要求1所述的加速老化系统，其特征在于，所述加速老化系统还包括：

光源，用于产生光照，为老化过程中的所述待老化光学元件提供满足预定辐射照度条件的光照环境；

辐射照度控制器，用于在所述预设时间段内控制所述光源照射到所述待老化光学元件上的辐射照度，使所述辐射照度满足所述预定辐射照度条件。

3.根据权利要求2所述的加速老化系统，其特征在于，所述加速老化系统还包括：

平行光控制器，用于控制所述光源产生的光照能够平行照射到所述待老化光学元件上。

4.根据权利要求3所述的加速老化系统，其特征在于，所述加速老化系统还包括：

光学透镜，安装在所述平行光控制器上，用于进一步控制所述光源产生的光照能够平行照射到所述待老化光学元件上。

5.根据权利要求3所述的加速老化系统，其特征在于，所述辐射照度控制器通过以下方式调节照射到所述待老化光学元件上的辐射照度：

所述辐射照度控制器检测照射到所述待老化光学元件上的辐射照度是否满足所述预定辐射照度条件；

若不满足，则校正所述光源以调节照射到所述待老化光学元件上的辐射照度。

6.根据权利要求3所述的加速老化系统，其特征在于，所述平行光控制器内设置有第一测试点和第二测试点，所述辐射照度控制器通过以下方式确定透过所述待老化光学元件的辐射照度：

所述辐射照度控制器检测照射到所述第一测试点上的辐射照度，得到第一辐射照度检测值；

所述辐射照度控制器检测照射到所述第二测试点上的辐射照度，得到第二辐射照度检测值；

所述辐射照度控制器根据所述第一辐射照度检测值和所述第二辐射照度检测值确定所述待老化光学元件的透光度。

7.根据权利要求2所述的加速老化系统，其特征在于，所述加速老化系统还包括：

位置控制器，用于调节所述待老化光学元件的位置和/或所述待老化光学元件与所述光源之间的距离。

8.根据权利要求1所述的加速老化系统，其特征在于，在应用所述温箱时，所述加速老化系统还包括：

夹具，用于固定所述待老化光学元件。

9.根据权利要求1所述的加速老化系统，其特征在于，

所述控温台上或所述温箱内具有多个区域，

所述温度控制器包括多个区域温度控制器，每个区域温度控制器用于控制所述多个区域中的一个区域的环境温度，使所述多个区域中每个区域的环境温度满足各自的预定温度条件；和/或

所述辐射照度控制器包括多个区域辐射照度控制器，每个区域辐射照度控制器用于控制光源照射到所述多个区域中的一个区域内的待老化光学元件上的辐射照度，使照射到所述多个区域中每个区域内的待老化光学元件上的辐射照度满足各自的预定辐射照度条件。

10.根据权利要求1所述的加速老化系统，其特征在于，所述控温台上或所述温箱包括多个，

所述温度控制器包括多个，每个所述温度控制器用于控制一个所述控温台上或所述温箱中的环境温度，使每个所述控温台上或所述温箱中的环境温度满足各自的预定温度条件；和/或

所述辐射照度控制器包括多个，每个所述辐射照度控制器用于控制光源照射到每个所述控温台上或所述温箱内的待老化光学元件上的辐射照度，使照射到每个所述控温台上或所述温箱内的待老化光学元件上的辐射照度满足各自的预定辐射照度条件。

11.一种用于光学元件的透光度测试方法，其特征在于，包括：

获取光学元件老化后的透光度，其中，所述光学元件通过使用权利要求1至10中任一项所述的用于光学元件的加速老化系统进行老化处理；

获取所述光学元件老化前的透光度；

根据获取的老化后的透光度和老化前的透光度测试所述光学元件的属性参数。