CN106501704A - 仿真方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种仿真方法和装置。其中，该方法根据单端正励变换器的原理图实现Pspice仿真，通过改变开关的导通比并观察其变化规律，验证其原理的正确性，从而证明此电路图设计的正确性。通过对单端正励变换器的仿真，解决了实际元器件进行连接，工作效率低的技术问题。

Description

仿真方法和装置
技术领域
本发明涉及电路测试领域，具体而言，涉及一种仿真方法和装置。
背景技术
现有相关技术中，主要根据电路设计图，进行实际元器件的连接，测试连接好的电路。
然而目前各高校、各单位的工作人员数量较多，而实验室的仪器设备数量又有限，设备供应存在一定的困难。而且，所有设备器件都存在老化、损坏、保养、更新等问题，元器件更换和维护的成本很高。现有技术中，利用实际元器件进行连接，工作量大，极易造成人为的操作失误。
针对所述的对实际元器件进行连接，工作效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种仿真方法和装置，以至少解决实际元器件进行连接，工作效率低的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面，提供了一种仿真方法，包括：将设计完成的电路图按照上述电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在上述仿真软件中构成待测试电路，其中，上述电路为单端正激励变换器，上述单端正激励变换器中通过开关的周期性地通断使上述单端正激励变换器产生输出；通过输入控件为上述仿真软件中的元器件配置参数值；通过上述输入控件输入上述开关的多个导通比；在上述仿真软件的上述电路对应的位置设置参数检查点；依次根据上述多个导通比中的每一个导通比触发上述仿真软件中的上述待测试电路工作，并记录上述每一个导通比下的参数检查点输出的参数；根据上述参数检查点输出的参数确定上述电路工作是否正常。
进一步地，在上述仿真软件的上述电路对应的位置设置参数检查点包括：在上述电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，上述第一参数检查点用于检测上述电路的一次绕组电压。
进一步地，在上述仿真软件的上述电路对应的位置设置参数检查点包括：在上述电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，上述第二参数检查点用于检测上述电路的二次绕组电压。
进一步地，在上述仿真软件的上述电路对应的位置设置参数检查点包括：在上述电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，上述第三参数检查点用于检测上述电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
进一步地，上述方法还包括：使用图像化展示上述参数检查点输出的参数；根据上述参数检查点输出的参数确定上述电路工作是否正常包括：将图像化的上述参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的上述参数与上述预先配置的图形的差别确定上述电路工作是否正常。
根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种仿真装置，包括：连接单元，用于将设计完成的电路图按照上述电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在上述仿真软件中构成待测试电路，其中，上述电路为单端正激励变换器，上述单端正激励变换器中包括开关的周期接通使上述单端正激励变换器产生输出；配置单元，用于通过输入控件为上述仿真软件中的元器件配置参数值；输入单元，用于通过上述输入控件输入上述开关的多个导通比；设置单元，用于在上述仿真软件的上述电路对应的位置设置参数检查点；触发单元，用于依次根据上述多个导通比中的每一个导通比触发上述仿真软件中的上述待测试电路工作，并记录上述每一个导通比下的参数检查点输出的参数；确定单元，用于根据上述参数检查点输出的参数确定上述电路工作是否正常。
进一步地，上述设置单元包括：第一设置模块，用于在上述电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，上述第一参数检查点用于检测上述电路的一次绕组电压。
进一步地，上述设置单元包括：第二设置模块，用于在上述电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，上述第二参数检查点用于检测上述电路的二次绕组电压。
进一步地，上述设置单元包括：第三设置模块，用于在上述电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，上述第三参数检查点用于检测上述电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
进一步地，上述装置还包括：展示单元，用于使用图像化展示上述参数检查点输出的参数；上述确定单元具体用于：将图像化的上述参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的上述参数与上述预先配置的图形的差别确定上述电路工作是否正常。
在本发明实施例中，根据单端正励变换器的原理图实现Pspice仿真，通过改变开关的导通比并观察其变化规律，验证其原理的正确性，从而证明此电路图设计的正确性。与此同时本方法还能够轻而易举地观测单端正励变换器中各个点的电压或电流的完整波形图，不仅克服了手工操作中的人为失误，而且便于对其原理进行分析和理解。进而解决了实际元器件进行连接，工作效率低的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是根据本发明实施例的单端正励变换器的工作原理图；
图2是根据本发明实施例的仿真方法的流程图；
图3是根据本发明实施例的单端正励变换器在仿真软件中连接成的待测电路设计图；
图4是根据本发明实施例的测输出电压时设置不同数值的导通比的设置图；
图5(a)是根据本发明实施例的测输出端电压电路示意图；
图5(b)是根据本发明实施例的测一次绕组电压示意图；
图5(c)是根据本发明实施例的测二次绕组电压示意图；
图5(d)是根据本发明实施例的测一次绕组电流示意图；
图5(e)是根据本发明实施例的测二次绕组电流示意图；
图5(f)是根据本发明实施例的测场效应管电流示意图；
图5(g)是根据本发明实施例的测输出电流示意图；
图6(a)是根据本发明实施例的不同导通比状态下对应的输出电压波形图；
图6(b)是根据本发明实施例的一次绕组电压测量结果波形图；
图6(c)是根据本发明实施例的二次绕组电压测量结果波形图；
图6(d)是根据本发明实施例的一次绕组电流测量结果波形图；
图6(e)是根据本发明实施例的二次绕组电流测量结果波形图；
图6(f)是根据本发明实施例的场效应管电流测量结果波形图；
图6(g)是根据本发明实施例的输出电流测量结果波形图；
图7是根据本发明实施例的仿真装置的示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
图1是根据本发明实施例的单端正励变换器的工作原理图，如图1所示，该单端正励变换器包含直流电源、隔离变压器铁芯、二极管、电感、电容、电阻、开关、以及导线等元器件。其中，隔离变压器铁芯上存在3个绕组：一次绕组N1、二次绕组N2和磁通复位绕组N3。图1中的星号*表示三个绕组感应电动势的同名端。对开关T进行周期性的接通和断开控制，以使上述单端正激励变换器产生输出。周期内开关导通时间Ton与全周期Ts的比值称为导通比或占空比，用D表示。
在开关T导通的Ton＝DTS期间，电源电压Vs作用在一次绕组N1上，一次绕组电流i1线性增加，铁芯的磁通Φ线性增加。这是由于开关T导通，一次绕组N1的感应电动势eA0＝N1·dΦ/dt＝VS,二次绕组N2的感应电动势eDF＝N2(dΦ/dt)＝(N2/N1)VS>0,这样第二二极管D2导电，第一二极管D1截止，电感电流iL＝i2(二次绕组电流)向负载供电。同时，磁通复位绕组N3的感应电动势eOC＝N3(dΦ/dt)>0,使第三二极管D3截止。
在开关T和第二二极管D2导通，第一二极管D1和第三二极管D3截止的期间Ton，Ton＝DTS，Vs＝N1·dΦ/dt，其磁通增量：△Φ＝(VS/N1)Ton＝(VS/N1)DTS，输出电压为：vo＝VS(N2/N1)。
在开关阻断Toff＝(1-D)TS期间，开关T阻断，电流i1＝0，磁通Φ减小，这时三个绕组的感应电动势均反向。二次绕组N2的感应电动势eDF<0,第二二极管D2处于截止状态。电感电流iL经第一二极管D1续流，第一二极管D1导通。磁通复位绕组N3的感应电动势eOC<0,eCO>0，使第三二极管D3导电，从而使eCO＝VS＝-N3(dΦ/dt)，磁通复位绕组电流i3将变压器励磁电流对应的磁能回送给电源Vs，磁通复位绕组电流i3减小，磁通Φ减小。在Toff期间，如果磁通复位绕组电流i3并未衰减到0，即在整个Toff期间D3一直导电，磁通复位绕组N3两端电压恒为Vs，则磁通的减少量有最大值：
△Φ'＝VSToff/N3＝VS(1-D)TS/N3
在Toff＝(1-D)TS期间，只要电感电流iL不衰减到0，第一二极管D1一直导电，则输出电压v0≡0。
通过以上关于开关T导通和断开期间的分析，得到单端正励变换器输出的直流电压平均值VO为：这里的是变压比。
根据本发明实施例，提供了一种仿真方法实施例，该方法实施例通过单端正励变换器实现仿真，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
图2是根据本发明实施例的仿真方法的流程图，如图2所示，该方法包括如下步骤：
步骤S201，将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，其中，电路为单端正激励变换器，单端正激励变换器中通过开关的周期性地通断使单端正激励变换器产生输出。
图3是根据本发明实施例的单端正励变换器在仿真软件中连接成的待测电路设计图。待测电路设计图是根据单端正励变换器(Forward Converter)的工作原理，采用Pspice仿真软件，对其原理和分析过程进行仿真模拟而形成的。
其中，Pspice仿真软件是电路原理设计图软件，可以生成各类模拟电路、数字电路和模数混合电路的原理图。利用该仿真软件采用合适的数学模型和仿真算法,利用计算机存储和图像处理的高效性,可以完成具体电路的仿真。该仿真软件无需任何实际元器件,用预先设计出的各种功能的应用程序取代了大量的设备仪器。电路设计工作者也可以通过这些应用程序进行各种分析、计算和仿真,完成所需特殊电路的设计工作。
如图3所示的电路包括：直流电源V1、一次绕组的电感L1、二次绕组的电感L2、磁通复位绕组的电感L3、电感L4、第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、场效应管M1、电容C1、电阻R1、以及波形采集器V2。
步骤S202，通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值。
在图3所示仿真模拟电路设计图的基础上，通过Pspice仿真软件的菜单和功能键配置仿真电路中各个元器件参数，为仿真电路的实现提供基础。
步骤S203，通过输入控件输入开关的多个导通比。
上述的单端正励变换器输出的直流电压值与开关的导通比成正比。如图3所示仿真模拟电路设计图，其开关的导通和断开是通过场效应管(Mosfet)M1实现的，其导通比通过参数(PARAMETERS)进行设定在此电路设置中。如图4所示，其参数设定是通过仿真软件菜单Pspice下的编辑仿真参数(Edit simulation Profile)导通比，因此在参数(parameter)列中输入。而导通比的初始值设置为0.1，最终值设置为0.4，间隔值设置为0.1。
步骤S204，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点。
进一步地，根据图5(a)至图5(g)所示的位置设置检查点，通过不同的检查点可以检测一次绕组、二次绕组、导电开关和输出端的各项参数，具体地可以利用电压探头检测检查点的电压，利用电流探头检测检测点的电流。如果测量电压的低电位端接地(为零)，将电压探头放置于高电位端即可得到其电压波形图；如果测量电压的低电位端不为零，则将正负两个探头分别放置于高低电位，就能测量其两端电压；如果测量某条线路的电流，将电流探头放置于对应的电路即可。
如图5(a)所示，可以在输出端的非接地设置检查点a，利用电压探头检测检查点a的电压。
如图5(b)所示，可以在一次绕组的两端设置检查点b1、b2,利用电压探头检测检查点b1、b2的电压。
如图5(c)所示，可以在二次绕组的非接地端设置检查点c，利用电压探头检测检查点c的电压。
如图5(d)所示，可以在一次绕组的一端设置检查点d，利用电流探头检测检查点d的电流
如图5(e)所示，可以在二次绕组的一端设置检查点e，利用电压探头检测检查点e的电压。
如图5(f)所示，可以在场效应管的一端设置检查点f，利用电压探头检测检查点f的电压。
如图5(g)所示，可以在输出端设置检查点g，利用电压探头检测检查点g的电流。
步骤S205，依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数。
通过步骤S203设置的多个导通比，通过步骤S204设置检查点，每设置一个导通比，在步骤S204设置的检测点执行检测操作，得到该导通比下的参数检查点输出的参数，依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，以测出每个导通比下上述元器件的各项参数。
步骤S206，根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。
通过对不同参数不同检查点的测试结果做出测量结果的波形图，再通过波形图所显示的结果得出是电路的工作是否正常。
如图6(a)所示，图6(a)中示出了不同导通比下测得的输出电压的波形，具体地，图6(a)中示出在导通比分别为：0.1、0.2、0.3和0.4的情况下，测得的输出电压波形。进一步地，图6(a)中的每个波形均是利用电压探头在图5(a)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
如图6(b)所示，图6(b)中示出了一次绕组电压测得的输出电压的波形。进一步地，图6(b)中的波形是利用电压探头在图5(b)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
如图6(c)所示，图6(c)中示出了二次绕组电压测得的输出电压的波形。进一步地，图6(c)中的波形是利用电压探头在图5(c)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
如图6(d)所示，图6(d)中示出了一次绕组电流测得的输出电流的波形。进一步地，图6(d)中的波形是利用电流探头在图5(d)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
如图6(e)所示，图6(e)中示出了二次绕组电流测得的输出电流的波形。进一步地，图6(e)中的波形是利用电流探头在图5(e)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
如图6(f)所示，图6(f)中示出了场效应管电流测得的输出电流的波形。进一步地，图6(f)中的波形是利用电流探头在图5(f)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
如图6(g)所示，图6(g)中示出了输出端测得的输出电流的波形。进一步地，图6(g)中的波形是导通比在D＝0.4状态下得到的利用电流探头在图5(g)所示的检查点检测得到的参数形成的波形。
图6(b)-图6(f)显示的是一次绕组电压、二次绕组电压、一次绕组电流、二次绕组电流、导通开关(场效应管)电流。为了便于观察波形图，将原Pspice软件中显示的图像进行加粗处理，并且将横轴坐标放大，即可清晰地观察其图像曲线。
本发明方案中，以理想的电力电子变换器进行分析，理想条件是：
1)开关管和二极管从导通变为阻断，或从阻断变为导通的过渡时间均为0。
2)开关器件的电阻阻值为0，电压下降也为0；断态的电阻阻值为0，其漏电流为0。
3)电路中的电感和电容均为无损耗的理想储能元件。
4)线路的阻抗为0，电源的输出功率等于变换器的输出功率。
由上述实施例可知，此方法通过针对一款带隔离变压器的直流/直流变换器-单端正励变换器(Forward Converter)进行仿真模拟。根据单端正励变换器的原理图实现Pspice仿真，通过改变开关的导通比并观察其变化规律，验证其原理的正确性，从而证明此电路图设计的正确性。与此同时本方法还能够轻而易举地观测单端正励变换器中各个点的电压或电流的完整波形图，不仅克服了手工操作中的人为失误，而且便于对其原理进行分析和理解。
具体地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压。
具体地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压。
具体地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，第三参数检查点用于检测电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
具体地，方法还包括：使用图像化展示参数检查点输出的参数；根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常包括：将图像化的参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的参数与预先配置的图形的差别确定电路工作是否正常。
图7是根据本发明实施例的仿真装置的示意图，如图7所示，包括：
连接单元71，用于将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，其中，电路为单端正激励变换器，单端正激励变换器中包括开关的周期接通使单端正激励变换器产生输出；配置单元72，用于通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值；输入单元73，用于通过输入控件输入开关的多个导通比；设置单元74，用于在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点；触发单元75，用于依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数；确定单元76，用于根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。
具体地，设置单元包括：第一设置模块，用于在电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压。
具体地，设置单元包括：第二设置模块，用于在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压。
具体地，设置单元包括：第三设置模块，用于在电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，第三参数检查点用于检测电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
具体地，其特征在于，装置还包括：展示单元，用于使用图像化展示参数检查点输出的参数；确定单元具体用于：将图像化的参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的参数与预先配置的图形的差别确定电路工作是否正常。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如上述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例上述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上上述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种仿真方法，其特征在于，包括：
将设计完成的电路图按照所述电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在所述仿真软件中构成待测试电路，其中，所述电路为单端正激励变换器，
所述单端正激励变换器中通过开关的周期性地通断使所述单端正激励变换器产生输出；
通过输入控件为所述仿真软件中的元器件配置参数值；
通过所述输入控件输入所述开关的多个导通比；
在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点；
依次根据所述多个导通比中的每一个导通比触发所述仿真软件中的所述待测试电路工作，并记录所述每一个导通比下的参数检查点输出的参数；
根据所述参数检查点输出的参数确定所述电路工作是否正常。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点包括：
在所述电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，所述第一参数检查点用于检测所述电路的一次绕组电压。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点包括：
在所述电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，所述第二参数检查点用于检测所述电路的二次绕组电压。
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点包括：
在所述电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，所述第三参数检查点用于检测所述电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，
所述方法还包括：使用图像化展示所述参数检查点输出的参数；
根据所述参数检查点输出的参数确定所述电路工作是否正常包括：将图像化的所述参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的所述参数与所述预先配置的图形的差别确定所述电路工作是否正常。
6.一种仿真装置，其特征在于，包括：
连接单元，用于将设计完成的电路图按照所述电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在所述仿真软件中构成待测试电路，其中，所述电路为单端正激励变换器，所述单端正激励变换器中包括开关的周期接通使所述单端正激励变换器产生输出；
配置单元，用于通过输入控件为所述仿真软件中的元器件配置参数值；
输入单元，用于通过所述输入控件输入所述开关的多个导通比；
设置单元，用于在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点；
触发单元，用于依次根据所述多个导通比中的每一个导通比触发所述仿真软件中的所述待测试电路工作，并记录所述每一个导通比下的参数检查点输出的参数；
确定单元，用于根据所述参数检查点输出的参数确定所述电路工作是否正常。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置单元包括：
第一设置模块，用于在所述电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，所述第一参数检查点用于检测所述电路的一次绕组电压。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置单元包括：
第二设置模块，用于在所述电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，所述第二参数检查点用于检测所述电路的二次绕组电压。
9.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述设置单元包括：
第三设置模块，用于在所述电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，所述第三参数检查点用于检测所述电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
10.根据权利要求6至8中任一项所述的装置，其特征在于，
所述装置还包括：展示单元，用于使用图像化展示所述参数检查点输出的参数；
所述确定单元具体用于：将图像化的所述参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的所述参数与所述预先配置的图形的差别确定所述电路工作是否正常。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107681894A (zh) * 2017-09-07 2018-02-09 国网北京市电力公司 组合式降压变换器及其参数确定方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1159674A (zh) * 1995-10-31 1997-09-17 日本电气株式会社 逆变装置
US20090091958A1 (en) * 2007-10-03 2009-04-09 Kao Hung-Hsiang Device for simulating rectified constant impedance load and method thereof
CN101472373A (zh) * 2007-12-26 2009-07-01 林清华 混合桥式电子镇流器
CN102412606A (zh) * 2011-11-18 2012-04-11 中国电力科学研究院 一种充电控制器及其控制方法
CN104220967A (zh) * 2012-02-10 2014-12-17 奥特瑞克斯有限公司 数字转换器
CN104636188A (zh) * 2015-02-25 2015-05-20 北京润科通用技术有限公司 一种仿真方法及系统
CN106160693A (zh) * 2016-07-12 2016-11-23 佛山市艾佛光通科技有限公司 一种基于Mason模型的FBAR滤波器优化方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1159674A (zh) * 1995-10-31 1997-09-17 日本电气株式会社 逆变装置
US20090091958A1 (en) * 2007-10-03 2009-04-09 Kao Hung-Hsiang Device for simulating rectified constant impedance load and method thereof
CN101472373A (zh) * 2007-12-26 2009-07-01 林清华 混合桥式电子镇流器
CN102412606A (zh) * 2011-11-18 2012-04-11 中国电力科学研究院 一种充电控制器及其控制方法
CN104220967A (zh) * 2012-02-10 2014-12-17 奥特瑞克斯有限公司 数字转换器
CN104636188A (zh) * 2015-02-25 2015-05-20 北京润科通用技术有限公司 一种仿真方法及系统
CN106160693A (zh) * 2016-07-12 2016-11-23 佛山市艾佛光通科技有限公司 一种基于Mason模型的FBAR滤波器优化方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
丁宁: ""一种单端正激式变换电路的研究与仿真"", 《研究与设计》 *
刘文山: ""新型RCD 箝位单端正激式变换器仿真研究"", 《电源技术》 *
吴岳芬: ""基于MATLAB的单端反激式DC/DC变换器的仿真研究"", 《电子技术》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107681894A (zh) * 2017-09-07 2018-02-09 国网北京市电力公司 组合式降压变换器及其参数确定方法

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