CN106485006A - 仿真方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种仿真方法及装置。其中，该方法将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值，根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。本发明解决了测试电路的效率低的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及电路测试领域，具体而言，涉及一种仿真方法及装置。
背景技术
在各种电路设计的设备方面，由于各高校、各单位的工作人员数量较多，而实验室的仪器设备数量又有限，设备供应存在一定的困难，不仅如此，所有设备器件都存在老化、损坏、保养、更新等问题，成本高，同时通过实际元器件进行连接，工作量大，极易造成人为的操作失误。
针对上述测试电路的效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种仿真方法及装置，以至少解决测试电路的效率低的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面，提供了一种仿真方法，包括：将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，其中，电路为单端反激励变换器，单端反激励变换器中通过开关的周期接通使单端反激励变换器产生输出；通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值；通过输入控件输入开关的多个导通比；在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点；依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数；根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。进一步地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压。
进一步地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压。
进一步地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，第三参数检查点用于检测电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
进一步地，在方法还包括：使用图像化展示参数检查点输出的参数；根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常包括：将图像化的参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的参数与预先配置的图形的差别确定电路工作是否正常。
本发明实施例的另一个方面，提供了一种仿真装置，包括：连接单元，用于将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，其中，电路为单端反激励变换器，单端反激励变换器中通过开关的周期性地通断使单端反激励变换器产生输出；配置单元，用于通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值；输入单元，用于通过输入控件输入开关的多个导通比；设置单元，用于在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点；触发单元，用于依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数；确定单元，用于根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。
进一步地，设置单元包括：第一设置模块，用于在电路的一次绕组设置第一参数检查点，第二设置模块，用于在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压。进一步地，设置还单元包括：第三设置模块，用于在电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，第三参数检查点用于检测电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
进一步地，装置还包括：展示单元，用于使用图像化展示参数检查点输出的参数，在上述的确定单元具体用于：将图像化的参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的参数与预先配置的图形的差别确定电路工作是否正常。
在本发明实施例中，采用仿真的方式，通过将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值，在输入控件中输入开关的多个导通比在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点，然后依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数，最后根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常的方式，达到了验证其原理的正确性，从而证明此电路图设计的正确性的目的，进而解决了测试电路的效率低的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是根据本发明实施例的单端反励变换器的原理图；
图2是根据本发明实施例的一种可选的仿真方法的流程图；
图3是根据本发明实施例的单端反励变换器的PSPice电路设计图；
图4是根据本发明实施例的测输出电压的电压示意图；
图5是根据本发明实施例的测输出电压时设置不同数值的导通比的界面图；
图6是根据本发明实施例的不同导通比状态下对应的输出电压波形图；
图7是根据本发明实施例的测一次绕组电压示意图；
图8是根据本发明实施例的测二次绕组电压示意图；
图9是根据本发明实施例的测一次绕组电流示意图；
图10是根据本发明实施例的测二次绕组电流示意图；
图11是根据本发明实施例的测场效应管电流示意图；
图12是根据本发明实施例的一次绕组电压测量结果波形图；
图13是根据本发明实施例的二次绕组电压测量结果波形图；
图14是根据本发明实施例的一次绕组电流测量结果波形图；
图15是根据本发明实施例的二次绕组电流测量结果波形图；
图16是根据本发明实施例的场效应管电流测量结果波形图；
图17是根据本发明实施例的一种可选的仿真装置的结构图；
图18是根据本发明实施例的一种可选的仿真装置的设置单元的结构图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
根据本发明实施例，提供了一种仿真的方法和装置的实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
直流-直流变换器是将一种直流电压变换成另一种符合负载要求的直流电压的电力电子装置，其工作原理是利用电力电子器件的高速的开关性能将直流电首先变换成脉冲列，然后经滤波器电路得到满足负载要求的直流电，所以又叫斩波器(copper)，根据变压器的磁芯磁复位方法的不同，正激电路包含多种不同的拓扑结构。
图1是根据本发明实施例的单端反励变换器的原理图，如图1所示，单端反励变换器包含直流电源、隔离变压器铁芯、二极管、电感、电容、电阻、开关、导线等元器件。变压器两个绕组的电感分别为L1、L2，开关T按周期性地通断。
在开关T导通的Ton＝DTS期间，电源电压Vs加至N1绕组，一次绕组电流i1直线上升，磁通增加，一次绕组的电感L1储能增加，二次绕组N2的感应电动势由所标的绕组同名端可知eBF<0，二极管D截止，负载电流由电容C提供，电容C放电；在开关T阻断的Toff＝(1-D)TS期间，一次绕组N1的电流转移到二次绕组N2，电源停止对变压器供电，二次绕组电流i2和磁通Φ从最大值减小，感应电动势eBF>0(反向为正)，使二极管导电，将二次绕组电流i2所代表的变压器电感的磁能变为电能向负载供电并使电容C充电。该变换器在开关管(或称之为开关)T导通时，并未将电源能量直送负载，仅在开关T阻断的Toff期间，才将变压器磁能变为电能送至负载，故称之为反励变换器。此外，变压器磁通也只在单方向变化，故该电路被称为单端反励DC/DC变换器。
在开关T导通的Ton＝DTS期间：
一次绕组电流i1、磁通量Φ均线性增大，若一次绕组电流i1的初值为i10、增量为△i1，Φ的初值为Φ0,增量为△Φ，则：
在开关T导电结束时，
开关T阻断后的最初瞬间，一次绕组电流i1＝0，但磁场储能不能突变，因此一次绕组N1的磁能转为N2绕组的磁能i20为N2绕组电流初值。由于且故得到I1maxN1＝i20N2，即N1绕组电感L1电流I1max转到二次绕组N2的电感L2的电流i20的突变前后安匝相等。
故二次绕组N2的初值电流为
在开关T阻断的(1-D)TS期间，二极管D导通时：
i2、Ф均线性地减小，若在Toff＝(1-D)TS期间，i2从i20线性减小到I2min。则：
磁通减小量：
在开关管T阻断期结束，开关管T再次开始导通的瞬间，N2绕组的电流从I2min转到N1绕组的电流初值为i10。由突变前后安匝相等原理可知：i10＝I2min(N2/N1)
稳态运行时，在一个周期TS中增加的磁通量△Φ应等于减少的磁通量△Φ'，因此：
输出直流电压平均值变压比
根据本发明实施例的一个方面，提供了一种仿真方法的实施例，图2是根据本发明一种可选的仿真方法的流程图，如图2所示，该方法包括如下步骤：
步骤S202，将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，其中，电路为单端反激励变换器，单端反激励变换器中通过开关的周期接通使单端反激励变换器产生输出；
步骤S204，通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值；
步骤S206，通过输入控件输入开关的多个导通比；
步骤S208，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点；
步骤S210，依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数；
步骤S212，根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。
本发明的实施例中，通过将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值，然后通过输入控件输入开关的多个导通比，之后在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点，然后根据多个导通比中的每一个导通比依次触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数，最后根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常，得出电路设计是否正确。
通过上述实施例，将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，无需人工连接，减少了出错率，并且无需实物连接，成本低，通过上述实施例解决了现有技术中测试电路效率低的问题，实现了提高电路测试效率的效果。
以Orcad/Pspice软件为例，根据本发明的实施方式，在设计完成电路图后，将设计好的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在Pspice软件连接，通过Pspice软件的输入控件为仿真软件中的元器件配置相应的参数值，再根据如图3所示的单端反励变换器的Pspice电路设计图，并根据输入开关的多个导通比，在上述步骤S208设置的检查点检测参数，在图5所示的界面中设置不同数值的导通比，然后在Pspice软件中对应的位置设置参数检查点(图4中示出的是测试输出端参数的检查点)，根据多个导通比的每一个导通比依次触发仿真软件中的待测试电路工作，最后记录下Pspice软件中每一个导通比下的参数检查点输出的参数，然后根据参数检查点输出的参数确定该设计完成的电路是否正确。
如图3所示，单端反励变换器仿真的电路中包括：直流电源V1、一次绕组的电感L1、二次绕组的电感L2、二极管D1、电容C1、电阻R1、场效应管M1、和波形输出器V2。
其中，参数配置界面中包括文件(file)、编辑(edit)、视图(view)等菜单，该界面中还可以包括电压探头和电流探头的图标。
如图4所示，可以利用电压探头检测输出端的电压，利用电流探头检测输出端的电流。具体地，在电路的一次绕组设置第一参数检查点，在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压。在本发明实施例中设置的参数检查点用来检查参数输出点输出的参数是否正确，在参数检查点中的一次绕组设置第一参数检查点可以得到第一次参数输出点输出的参数，在参数检查点中二次绕组设置第二参数检查点可以得到第二次参数输出点输出的参数。
进一步地，在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点包括：在电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，第三参数检查点用于检测电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。对于本发明实施例，第三绕组设置对一次绕组和二次绕组的电流进行检查，得到一次绕组电流测量结果波形图和二次绕组电流测量结果波形图，最后可以通过这两张图与原电路设计图的应该得出的电流测量结果进行对比，得出电流变化，用于最后验证电路设计图是否正确。
本实施例还包括：使用图像化展示参数检查点输出的参数，根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常包括：将图像化的参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的参数与预先配置的图形的差别确定电路工作是否正常。
在本发明的方法实施例中，用图像化的方式展示出参数检查点输出的参数，更直观的显示出输出的参数变化方式，将图像化显示的参数输出和预先设计好的配置图形进行比对，最后根据参数检查点输出的参数得出一个结论，确定电路工作是否正常。
下面以一个具体实施例为例对本发明做一个说明,如下所述：
该实施例采用Pspice仿真软件，对其原理和分析过程进行仿真模拟，通过观察电路中各点的电压和电流波形图，以验证此电路设计的正确性。单端反励变换器的Pspice电路设计图正是依据原理图，在Pspice仿真软件下进行实物连接而形成的。开关的导通和断开是通过场效应管(Mosfet)M1实现的，其导通比通过参数(PARAMETERS)进行设定。在测试时，将电压探头放置于高电位端即可得到其电压波形图，详见图4和图6；如果测量电压的低电位端不为零，则将正负两个探头分别放置于高低电位，就能测其两端电压，详见图7；如果测量某条线路的电流，点击图标，将电流探头放置于对应的电路即可，详见图9至图12。
如图5所示，可以设置导通比的值，例如，设置初始值为0.1，最终值为0.6，步长为0.1，在设置好导通比之后，对电路进行测试时，则分别采用0.1、0.2、0.3、0.4、0.5和0.6进行测试。
利用电压探头在图4所示的检查点检查输出电压，依次采用上述的六个导通比测量电压，得到如图6所示的六个波形，在图6所示的波形图中，每个波形对应一个导通比。
利用电压探头在图7所示的检查点检查一次绕组电压，利用电压探头在图8所示的检查点检查二次绕组电压，利用电流探头在图9所示的检查点检查一次绕组电流；利用电流探头在图10所示的检查点检查二次绕组电流，利用电流探头在图11所示的检查点检查场效应管的电流。
具体地，图7是测量绕组一次端电压的示意图。由于不同于测量输出电压，绕组一次端的低电位端尚未接地，使用2个电压探头，分别放置于电路的高低电位两端，就能得到最终的测量电压值，即v+-v-。
图8示出了测量二次绕组电压的检测点，其原理与图7所示的测输出端电压的原理相同，在此不再赘述。图9、图10、以及图11分别示出了测量一次绕组电流的检测点、二次绕组电流的检测点、导通开关电流的检测点，可选地，将电流探头放置于对应线路位置，即可实现此功能。
图12-图16分别示出了测得的一次绕组电压、二次绕组电压、一次绕组电流、二次绕组电流、以及导通开关(场效应管)电流的波形图。为了便于观察波形图，可以将原Pspice软件中显示的图像进行加粗处理，并且将横轴坐标放大，即可清晰地观察其图像曲线。
在获取到图7至图11所示的检查点检测到的参数之后，可以将其进行图形化的展示，将在图7所示的检查点检查出的一次绕组电压进行图形化展示可以得到图12所示的波形图，将在图8所示的检查点检查出的二次绕组电压进行图形化展示可以得到图13所示的波形图，将在图9所示的检查点检查出的一次绕组电流进行图形化展示可以得到图14所示的波形图，将在图10所示的检查点检查出的二次绕组电流进行图形化展示可以得到图15所示的波形图，将在图11所示的检查点检查出的场效应管电流进行图形化展示可以得到图16所示的波形图。
基于图1所示的原理图进行原理分析，可以得到：单端反励变换器输出的直流电压平均值由此可见，输出电压值随着开关的导通比D的增加而单调递增，在不同的导通比下，在图4所示的检查点检查得到的波形图(如图6所示)也印证了这一点。具体地，为了得到不同导通比状态下的输出电压波形图，需要点击仿真软件菜单Pspice下的编辑仿真参数(Edit simulation Profile)，这样就能够调出图5所示窗口。在此窗口中设置不同数值的导通比。在此电路设置中，导通比由d表示，因此在参数(parameter)列中输入d。而d的初始值设置为0.1，最终值设置为0.6，间隔值设置为0.1，因此次仿真模型可以同时得到导通比为0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6这6条输出电压波形曲线，如图6所示。而且通过曲线图我们能够清晰地观测到，待波形图的振动幅度趋于稳定(1.0ms之后)时，输出电压值与导通比的关系，因此证明了此电路设计的正确性。
通过上述实施例，可以以理想的电力电子变换器进行分析，其中，理想条件是：
1)开关管和二极管从导通变为阻断，或从阻断变为导通的过渡时间均为0。
2)开关器件的电阻阻值为0，电压下降也为0；断态的电阻阻值为0，其漏电流为0。
3)电路中的电感和电容均为无损耗的理想储能元件。
4)线路的阻抗为0，电源的输出功率等于变换器的输出功率。
本发明根据上述仿真方法提供了另一种实施例，提供了一种仿真装置，图17为可选的仿真装置的结构框图，如图17所示，该装置包括：
连接单元11，用于将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，其中，电路为单端反激励变换器，单端反激励变换器中通过开关的周期性地通断使单端反激励变换器产生输出；
配置单元12，用于通过输入控件为仿真软件中的元器件配置参数值；
输入单元13，用于通过输入控件输入开关的多个导通比；
设置单元14，用于在仿真软件的电路对应的位置设置参数检查点；
触发单元15，用于依次根据多个导通比中的每一个导通比触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数；
确定单元16，用于根据参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常。
本发明实施例的通过将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接单元11连接在仿真软件中连接，通过输入控件为仿真软件中的元器件的配置单元12配置参数值，然后通过输入单元13输入开关的多个导通比，之后在仿真软件设置单元14的电路对应的位置设置参数检查点，然后根据多个导通比中的触发单元15为每一个导通比依次触发仿真软件中的待测试电路工作，并记录每一个导通比下的参数检查点输出的参数，最后根据确定单元16确定参数检查点输出的参数确定电路工作是否正常，得出电路设计是否正确。
通过上述实施例，将设计完成的电路图按照电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在仿真软件中构成待测试电路，无需人工连接，减少了出错率，并且无需实物连接，成本低，通过上述实施例解决了现有技术中测试电路效率低的问题，实现了提高电路测试效率的效果。
根据本发明的实施方式，以Orcad/Pspice软件为例，在设计完电路图后，连接单元11利用Pspice软件将设计好的电路图仿真出来，配置单元12(如，Pspice软件的输入控件)为仿真软件中的元器件配置相应的参数值，根据设计完成的仿真装置电路设计图，之后再根据输入单元13输入开关的多个导通比，然后在设置单元14对应的位置设置参数检查点，根据多个导通比的每一个导通比依次触发仿真软件中的待测试电路工作，最后记录下Pspice软件中每一个导通比下的参数检查点输出的参数，然后根据参数检查点输出的参数确定该设计完成的电路是否正确。
具体地，在仿真软件的电路对应的位置通过设置单元14设置参数检查点包括在电路的一次绕组设置第一参数检查点，在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压，在本发明实施例中设置的参数检查点用来检查参数输出单元输出的参数是否正确，在参数检查点中的一次绕组设置第一参数检查点可以得到第一次参数输出点输出的参数，在参数检查点中二次绕组设置第二参数检查点可以得到第二次参数输出点输出的参数。
图18是根据本发明实施例的一种可选的仿真装置的设置单元的结构图，如图18所示，该设置单元可以包括：第一设置模块21，用于在电路的一次绕组设置第一参数检查点，第二设置模块22，用于在电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，第一参数检查点用于检测电路的一次绕组电压，第二参数检查点用于检测电路的二次绕组电压。对于本发明实施例，通过第一设置模块21和第二设置模块22设置参数检查点，参数检查点检查参数输出点输出的参数是否正确，在参数检查点中的一次绕组通过第一设置模块21设置第一参数检查点可以得到第一次参数输出点输出的参数，在参数检查点中二次绕组通过第二设置模块22设置第二参数检查点可以得到第二次参数输出点输出的参数。
进一步地，本发明实施例的设置模块还设置了第三设置模块，用于在电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，第三参数检查点用于检测电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。对于本发明实施例，第三设置模块对一次绕组和二次绕组的的电流进行检查，得到一次绕组电流测量结果波形图和二次绕组电流测量结果波形图，最后通过这两张图与原电路设计图的应该得出的电流测量结果进行对比，得出电流变化，用于最后验证电路设计图是否正确。
本发明实施例还包括展示单元，用于使用图像化展示参数检查点输出的参数，确定单元具体用于将图像化的参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的参数与预先配置的图形的差别确定电路工作是否正常。在本发明实施例中通过展示单元将参数检查点输出的参数用图像化的方式展示，以PSPice软件对单端反励变换器进行仿真时，最后通过图形的方式将结果展示，最后与设置好的电路设计图作对比，得出电路设计是否正确的结论，如果正确，则电路设计图不用修改，如果不正确，需要对电路设计图重新修改，最后在PSPice软件上重新使用本发明验证电路设计图的正确性。
本发明利用计算机存储和图像处理的高效性,完成单端反励变换器的仿真模拟。它克服了实验室的仪器设备数量供应不足的问题，无需任何实际元器件,且不必考虑元器件的老化、损坏、保养、更新等因素，只需要在个人电脑上安装Orcad/Pspice仿真软件，就能够取代相应的设备仪器，实现所有功能，成本几乎为零。
另外，此方法通过仿真软件实现单端反励变换器的相关功能，电路设计工作者可以通过这些应用程序进行各种分析、计算和仿真,完成所需特殊电路的设计工作。不仅功能强大，而且克服了实物连接造成的工作量大的问题，也克服的实际操作中的人为失误，操作极其简易便捷。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种仿真方法，其特征在于，包括：
将设计完成的电路图按照所述电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在所述仿真软件中构成待测试电路，其中，所述电路为单端反激励变换器，所述单端反激励变换器中通过开关的周期接通使所述单端反激励变换器产生输出；
通过输入控件为所述仿真软件中的元器件配置参数值；
通过所述输入控件输入所述开关的多个导通比；
在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点；
依次根据所述多个导通比中的每一个导通比触发所述仿真软件中的所述待测试电路工作，并记录所述每一个导通比下的参数检查点输出的参数；
根据所述参数检查点输出的参数确定所述电路工作是否正常。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点包括：
在所述电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，所述第一参数检查点用于检测所述电路的一次绕组电压。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点包括：
在所述电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，所述第二参数检查点用于检测所述电路的二次绕组电压。
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点包括：
在所述电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，所述第三参数检查点用于检测所述电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，
所述方法还包括：使用图像化展示所述参数检查点输出的参数；
根据所述参数检查点输出的参数确定所述电路工作是否正常包括：将图像化的所述参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的所述参数与所述预先配置的图形的差别确定所述电路工作是否正常。
6.一种仿真装置，其特征在于，包括：
连接单元，用于将设计完成的电路图按照所述电路图中的元器件的连接关系在仿真软件中连接，以在所述仿真软件中构成待测试电路，其中，所述电路为单端反激励变换器，所述单端反激励变换器中通过开关的周期性地通断使所述单端反激励变换器产生输出；
配置单元，用于通过输入控件为所述仿真软件中的元器件配置参数值；
输入单元，用于通过所述输入控件输入所述开关的多个导通比；
设置单元，用于在所述仿真软件的所述电路对应的位置设置参数检查点；
触发单元，用于依次根据所述多个导通比中的每一个导通比触发所述仿真软件中的所述待测试电路工作，并记录所述每一个导通比下的参数检查点输出的参数；
确定单元，用于根据所述参数检查点输出的参数确定所述电路工作是否正常。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置单元包括：
第一设置模块，用于在所述电路的一次绕组设置第一参数检查点，其中，所述第一参数检查点用于检测所述电路的一次绕组电压。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置单元包括：
第二设置模块，用于在所述电路的二次绕组设置第二参数检查点，其中，所述第二参数检查点用于检测所述电路的二次绕组电压。
9.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述设置单元包括：
第三设置模块，用于在所述电路的一次绕组和/或二次绕组设置第三参数检查点，其中，所述第三参数检查点用于检测所述电路的一次绕组和/或二次绕组的电流。
10.根据权利要求6至8中任一项所述的装置，其特征在于，
所述装置还包括：展示单元，用于使用图像化展示所述参数检查点输出的参数；
所述确定单元具体用于：将图像化的所述参数与预先配置的图形进行比对，根据图像化的所述参数与所述预先配置的图形的差别确定所述电路工作是否正常。
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| WO2023035695A1 (zh) * | 2021-09-13 | 2023-03-16 | 苏州贝克微电子股份有限公司 | 高效率、高精准度的芯片电路仿真验证方法、系统、装置和存储介质 |
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2016
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