CN106501632A - 一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统 - Google Patents

一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统,该方法包括:获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数;根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。本申请提供的针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统,能够通过数字消息信号值变化来仿真磁场变化,便于精细控制及分析,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化的情况都能够进行模拟。

Description

一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统
技术领域
本发明属于自动化测试技术领域,特别是涉及一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统。
背景技术
霍尔传感器是根据霍尔效应制作的一种磁场传感器,通过感应磁场变化来感知位移等其他变化。霍尔传感器可以测量任意波形的电流和电压,霍尔器件具有许多优点:结构牢固,体积小,重量轻,寿命长,安装方便,功耗小,频率高(可达1MHZ),耐震动,不怕灰尘、油污、水汽及盐雾等的污染或腐蚀。霍尔线性器件的精度高、线性度好;霍尔开关器件无触点、无磨损、输出波形清晰、无抖动、无回跳、位置重复精度高(可达μm级);取用了各种补偿和保护措施的霍尔器件的工作温度范围宽,可达-55℃~150℃。正因为霍尔传感器有诸多优点,所以越来越多的产品会选择应用霍尔传感器。
然而,因为霍尔传感器是根据霍尔效应制作的一种磁场感应器,所以对于测试人员来说,要对霍尔传感器做故障注入等方面的测试就需要改变磁场,但是对于直接精细量化改变磁场却相当困难,这需要大量的后台设备支持以及丰富的电磁场经验。正因为测试霍尔传感器的要求如此之高,因此并没有一种较好的现有技术来对其进行测试。具体而言,通过直接更改磁场强度和方向的方式来测试应用霍尔传感器产品的软件功能逻辑需要精细的调节,对一般的测试人员和设备很难办到;另外一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化等情况,就没办法通过真实的磁场进行模拟。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统,能够通过数字消息信号值变化来仿真磁场变化,便于精细控制及分析,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化的情况都能够进行模拟。
本发明提供的一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,包括:
获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;
获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;
获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数;
根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试方法中,所述判断所述待测产品的状况之后,还包括:
获取改变电压的控制信号,对所述待测产品的电压进行改变,并判断在不同的电压下的待测产品的状况。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试方法中,获取改变仿真霍尔信号的控制指令,并为所述待测产品提供改变之后的所述仿真霍尔信号,并判断在不同的仿真霍尔信号下的待测产品的状况。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试方法中,所述为待测产品提供所述仿真霍尔信号之后,还包括:
监控所发送的仿真霍尔信号是否及时被所述待测产品所接收。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试方法中,在所述判断在不同的电压下的待测产品的状况之后,还包括:
对所述不同的电压下的待测产品的状况进行记录,并生成测试报告。
本发明提供的一种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,包括:
控制装置,用于输出控制信号和控制指令;
可控电源,用于获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;
仿真霍尔信号发射装置,用于获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;
所述控制装置还用于获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数,并根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试系统中,所述可控电源还用于获取改变电压的控制信号,对所述待测产品的电压进行改变;
所述控制装置还用于判断在不同的电压下的待测产品的状况。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试系统中,所述仿真霍尔信号发射装置还用于获取改变仿真霍尔信号的控制指令,并为所述待测产品提供改变之后的所述仿真霍尔信号;
所述控制装置还用于判断在不同的仿真霍尔信号下的待测产品的状况。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试系统中,还包括:
监控装置,用于监控所发送的仿真霍尔信号是否及时被所述待测产品所接收。
优选的,在上述针对应用霍尔传感器的产品的测试系统中,还包括:
记录装置,用于对所述不同的电压下的待测产品的状况进行记录,并生成测试报告。
通过上述描述可知,本发明提供的上述针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统,由于先获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;然后获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;再获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数;最后根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况,因此能够通过数字消息信号值变化来仿真磁场变化,便于精细控制及分析,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化的情况都能够进行模拟。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法的示意图;
图2为本申请实施例提供的第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统的示意图;
图3为一种针对应用霍尔传感器的产品的自动化测试平台的示意图;
图4为针对应用霍尔传感器的产品的自动化测试平台的一种具体实施方案的示意图。
具体实施方式
本发明的核心思想在于提供一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法和系统,能够通过数字消息信号值变化来仿真磁场变化,便于精细控制及分析,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化放入情况都能够进行模拟。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本申请实施例提供的第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法如图1所示,图1为本申请实施例提供的第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法的示意图。该方法包括如下步骤:
S1:获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;
具体的,可以利用测试计算机运行自动化测试程序,通过VT测试系统的通信板卡与应用霍尔传感器的待测产品进行消息通信,测试计算机将控制指令传输给应用霍尔传感器的待测产品,控制VT测试系统的电源板卡给应用霍尔传感器的待测产品供电,所供给的电压可以通过测试程序进行调节,并通过VT系统实时读取所供给的电压和电流值,同时实时分析应用霍尔传感器的待测产品所传输的通信消息。
S2:获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;
具体的,可以利用测试计算机控制VT测试系统的模拟/数字采集输出板卡将模拟/数字控制信号发送给应用霍尔传感器的待测产品,测试计算机通过VT测试系统的通信板卡与霍尔传感器仿真模块进行消息通信,测试计算机将控制指令传输给霍尔传感器仿真模块,霍尔传感器仿真模块将收到的控制指令转换为霍尔消息再传输给应用霍尔传感器的待测产品,对真实的霍尔传感器进行替代仿真,以便模拟外部磁场精密调节或者大幅突变情况下霍尔传感器的真实表现,从而对软件算法逻辑经行验证。
S3:获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数;
具体的,可以通过VT测试系统的模拟/数字采集输出板卡采集应用霍尔传感器的待测产品所输出的模拟/数字信号,然后将其传输给测试计算机。
S4:根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。
具体的,可以利用测试计算机对收集的消息与信号进行分析处理并与出口准则进行比照,判断所述待测产品的状况。
该方案中,因为磁场变化是通过数字消息信号值变化控制的,因此,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化的情况也可以轻松实现,可以模拟仿真多种情况的下霍尔传感器的反应来验证软件算法,又可以做到实时监控霍尔传感器仿真模块与被测产品间的通信状况。
通过上述描述可知,本申请实施例提供的上述针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,由于先获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;然后获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;再获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数;最后根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况,因此能够通过数字消息信号值变化来仿真磁场变化,便于精细控制及分析,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化的情况都能够进行模拟。
本申请实施例提供的第二种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,是在上述第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法的基础上,还包括如下技术特征:
所述判断所述待测产品的状况之后,还包括:
获取改变电压的控制信号,对所述待测产品的电压进行改变,并判断在不同的电压下的待测产品的状况。
在这种情况下,就能够获得产品在不同电压下的状况,有助于更全面的了解待测产品的性能。
本申请实施例提供的第三种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,是在上述第二种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法的基础上,还包括如下技术特征:
获取改变仿真霍尔信号的控制指令,并为所述待测产品提供改变之后的所述仿真霍尔信号,并判断在不同的仿真霍尔信号下的待测产品的状况。
在这种情况下,仿真霍尔信号可以通过CAN进行控制,通过改变所述仿真霍尔信号继续测试,以获取在不同的场景下的待测产品的状况。
本申请实施例提供的第四种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,是在上述第三种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法的基础上,还包括如下技术特征:
所述为待测产品提供所述仿真霍尔信号之后,还包括:
监控所发送的仿真霍尔信号是否及时被所述待测产品所接收。
在这种情况下,就能够更精确的对测试过程进行控制,验证待测产品接收到仿真霍尔信号时,就能够证明其处于所要求的场景中,从而进行更有针对性的测试。
本申请实施例提供的第五种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,是在上述第四种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法的基础上,还包括如下技术特征:
在所述判断在不同的电压下的待测产品的状况之后,还包括:
对所述不同的电压下的待测产品的状况进行记录,并生成测试报告。
具体的,可以利用测试计算机进行自动化测试程序的运行,以及测试状态的监控,生成最后的测试报告。
本申请实施例提供的第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统如图2所示,图2为本申请实施例提供的第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统的示意图,该系统包括:
控制装置201,用于输出控制信号和控制指令,具体的,可以是测试计算机,用于运行CANoe、LabView、Matlab等程序,来控制电流电压的输入以及信号的传输控制,进行自动化测试;
可控电源202,用于获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压,接收所述的测试计算机的控制指令,相应地对输出电流/电压进行调节;
仿真霍尔信号发射装置203,用于获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号,其与所述的应用霍尔传感器的待测产品相连,用以取代所述的应用霍尔传感器的待测产品上的霍尔传感器并向其发送霍尔信号;
所述控制装置201还用于获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数,并根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。
本申请实施例提供的第二种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,是在上述第一种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统的基础上,还包括如下技术特征:
所述可控电源还用于获取改变电压的控制信号,对所述待测产品的电压进行改变;
所述控制装置还用于判断在不同的电压下的待测产品的状况。
在这种情况下,就能够获得待测产品在不同电压下的状况,有助于更全面的了解待测产品的性能。
本申请实施例提供的第三种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,是在上述第二种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统的基础上,还包括如下技术特征:
所述仿真霍尔信号发射装置还用于获取改变仿真霍尔信号的控制指令,并为所述待测产品提供改变之后的所述仿真霍尔信号;
所述控制装置还用于判断在不同的仿真霍尔信号下的待测产品的状况。
在这种情况下,仿真霍尔信号可以通过CAN进行控制,通过改变所述仿真霍尔信号继续测试,以获取在不同的场景下的待测产品的状况。
本申请实施例提供的第四种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,是在上述第三种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统的基础上,还包括如下技术特征:
监控装置,用于监控所发送的仿真霍尔信号是否及时被所述待测产品所接收。
在这种情况下,就能够更精确的对测试过程进行控制,验证待测产品接收到仿真霍尔信号时,就能够证明其处于所要求的场景中,从而进行更有针对性的测试。
本申请实施例提供的第五种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,是在上述第四种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统的基础上,还包括如下技术特征:
记录装置,用于对所述不同的电压下的待测产品的状况进行记录,并生成测试报告。
具体的,可以利用测试计算机进行自动化测试程序的运行,以及测试状态的监控,生成最后的测试报告。
下面以一个具体的例子对上述装置进行说明,如图3所示,图3为一种针对应用霍尔传感器的产品的自动化测试平台的示意图。该平台包括:测试计算机301,数据输入/输出模块302,可控电源303,通信模块304,应用霍尔传感器的待测产品305,霍尔传感器仿真模块306。
该测试计算机301用于运行测试程序,收集处理所述的数据输入/输出模块302所采集的信息;通过所述的数据输入/输出模块302对应用霍尔传感器的待测产品305输出控制信号;调节所述的可控电源303的输出电压/电流;通过所述的通信模块304与所述的应用霍尔传感器的待测产品305进行消息交互;通过所述的通信模块304与所述的霍尔传感器仿真模块306进行消息交互;所述的测试计算机301还负责运行自动化测试程序,以及实时监控测试状态,生成最后的测试报告。
所述的数据输入/输出模块302,与所述的测试计算机301、所述的可控电源303以及应用霍尔传感器的待测产品305相连接。数据输入/输出模块302可以采集可控电源303的电流/电压输出、所述的应用霍尔传感器的待测产品305的输出信号,并可以将所述的测试计算机301的控制指令转化成相应的控制信号来对所述的应用霍尔传感器的待测产品305进行控制。
所述的可控电源303与所述的测试计算机301和所述的应用霍尔传感器的待测产品305相连。所述可控电源303接受所述的测试计算机301的控制指令,对输出电流/电压进行调节。所述的可控电源303用于给所述的应用霍尔传感器的待测产品305供电,数据输入/输出模块302对可控电源303输出的电流/电压进行采集,并将采集到的信息实时传输给测试计算机301。
所述通信模块304与所述的应用霍尔传感器的待测产品305、所述的测试计算机301以及所述的霍尔传感器仿真模块306相连,用于实现所述的测试计算机301与所述的应用霍尔传感器的待测产品305间的通信,以及实现所述的测试计算机301与所述的霍尔传感器仿真模块306间的消息通信。
所述的应用霍尔传感器的待测产品305与所述的数据输入/输出模块302相连,将产品的一些关键参数传输到所述的数据输入/输出模块302;与所述的可控电源303相连以获得工作电压;与所述的通信模块304相连以实现与所述的测试计算机301间的通信;与所述的霍尔传感器仿真模块306相连以获取霍尔仿真信号。
所述的霍尔传感器仿真模块306与所述的应用霍尔传感器的待测产品305相连,用以取代所述的应用霍尔传感器的待测产品305上的霍尔传感器向所述的应用霍尔传感器的待测产品305发送霍尔信号,同时监控所发送的霍尔信号是否及时被所述的应用霍尔传感器的待测产品305所接收;与所述的通信模块304相连,将自身的工作状态通过所述的通信模块304实时传送给所述的测试计算机301,同时又实时将通过所述的通信模块304所传输过来的所述的测试计算机控制指令转化为模拟霍尔信号传输给所述的应用霍尔传感器的待测产品305。
上述针对应用霍尔传感器的产品的自动化测试平台,针对应用霍尔传感器类产品,用霍尔传感器仿真模块替代原本的霍尔传感器,将原本测试时需要的实际磁场变化转化为数字消息信号值的变化,便于精细控制及分析。可以通过测试计算机模拟仿真多种情况的下霍尔传感器的反应来验证软件算法,又可以做到实时监控霍尔传感器仿真模块与被测产品间的通信状况。
其次,因为磁场变化是通过数字消息信号值变化控制的,对于一些故障注入的测试,如磁场突然发生大幅度变化等情况也可以轻松实现。
另外,该测试平台可以在无人值守的情况下自动运行测试程序,实时与待测产品进行消息通信,调节供电电源的输出电流/电压,实时监控待测产品输出记录测试数据,并按照预先设定的测试出口准则自动生成测试报告。而且,由于本测试平台对待测产品的供电电压/电流可调,待测产品放入温箱后的工作环境温度也可以调节,所以可以模拟测试待测产品在不同供电电压/电流及环境温度下的表现特性。
上述平台的一种具体的实施方案如图4所示,图4为针对应用霍尔传感器的产品的自动化测试平台的一种具体实施方案的示意图。
测试计算机401运行测试程序,与VT测试系统402进行消息通信,调节VT系统402输出电压,传输控制指令并分析处理VT测试系统402所采集到的产品信息,自动生成测试报告。VT系统402由供电板卡、数字信号采集输出板卡、模拟信号采集仿真板卡以及通信板卡组成,负责给应用霍尔传感器的待测产品404提供工作电压,采集其输出的数字、模拟信号,以及实现测试计算机401与待测产品404和霍尔传感器仿真模块403的消息交互。霍尔传感器仿真模块403用来代替待测产品上的真实的霍尔传感器,并将从VT测试系统402获取的仿真命令转换成为霍尔信号传送给待测产品404的微处理器。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,其特征在于,包括:
获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;
获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;
获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数;
根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。
2.根据权利要求1所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,其特征在于,所述判断所述待测产品的状况之后,还包括:
获取改变电压的控制信号,对所述待测产品的电压进行改变,并判断在不同的电压下的待测产品的状况。
3.根据权利要求2所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,其特征在于,还包括:
获取改变仿真霍尔信号的控制指令,并为所述待测产品提供改变之后的所述仿真霍尔信号,并判断在不同的仿真霍尔信号下的待测产品的状况。
4.根据权利要求3所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,其特征在于,所述为待测产品提供所述仿真霍尔信号之后,还包括:
监控所发送的仿真霍尔信号是否及时被所述待测产品所接收。
5.根据权利要求4所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试方法,其特征在于,在所述判断在不同的电压下的待测产品的状况之后,还包括:
对所述不同的电压下的待测产品的状况进行记录,并生成测试报告。
6.一种针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,其特征在于,包括:
控制装置,用于输出控制信号和控制指令;
可控电源,用于获取控制信号,并根据所述控制信号为待测产品提供电流和电压;
仿真霍尔信号发射装置,用于获取控制指令,并将所述控制指令转换为仿真霍尔信号,为待测产品提供所述仿真霍尔信号;
所述控制装置还用于获取所述待测产品在当前的仿真霍尔信号下的输出参数,并根据所述输出参数,判断所述待测产品的状况。
7.根据权利要求6所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,其特征在于,所述可控电源还用于获取改变电压的控制信号,对所述待测产品的电压进行改变;
所述控制装置还用于判断在不同的电压下的待测产品的状况。
8.根据权利要求7所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,其特征在于,
所述仿真霍尔信号发射装置还用于获取改变仿真霍尔信号的控制指令,并为所述待测产品提供改变之后的所述仿真霍尔信号;
所述控制装置还用于判断在不同的仿真霍尔信号下的待测产品的状况。
9.根据权利要求8所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,其特征在于,还包括:
监控装置,用于监控所发送的仿真霍尔信号是否及时被所述待测产品所接收。
10.根据权利要求9所述的针对应用霍尔传感器的产品的测试系统,其特征在于,还包括:
记录装置,用于对所述不同的电压下的待测产品的状况进行记录,并生成测试报告。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108827366A (zh) * 2018-09-12 2018-11-16 山东省计算中心(国家超级计算济南中心) 一种针对霍尔传感器质量的专用检测装置及检测方法
CN112485735A (zh) * 2020-10-16 2021-03-12 无锡力芯微电子股份有限公司 霍尔器件测试系统和测试方法
CN114371391A (zh) * 2022-03-22 2022-04-19 南京中旭电子科技有限公司 多参数霍尔集成电路高低温测试方法、装置及存储介质
CN116736104A (zh) * 2023-08-14 2023-09-12 天津普智芯网络测控技术有限公司 一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间的方法和系统
CN118376823A (zh) * 2024-06-24 2024-07-23 杭州沃镭智能科技股份有限公司 一种霍尔式轮速传感器信号模拟系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4901025A (en) * 1987-08-13 1990-02-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Fault diagnosis system for electronic devices on automobiles
CN101216520A (zh) * 2008-01-16 2008-07-09 谢步明 牵引逆变器控制板专用测试电路
CN201126462Y (zh) * 2007-12-06 2008-10-01 谢步明 牵引逆变器控制板专用测试装置
CN101344561A (zh) * 2008-08-07 2009-01-14 江苏宗申三轮摩托车制造有限公司 电动车电气系统综合检测台
CN102520713A (zh) * 2011-12-09 2012-06-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种步进电机控制及驱动电路的闭环测试装置
CN103645433A (zh) * 2013-11-12 2014-03-19 陕西国力信息技术有限公司 一种基于amt的节气门驱动板检测方法
CN105093041A (zh) * 2015-09-10 2015-11-25 蒋培利 一种电脑板综合检测仪及检测方法
CN105515457A (zh) * 2014-10-14 2016-04-20 北京谊安医疗系统股份有限公司 一种无刷直流电机驱动电路自检方法及装置
CN105548717A (zh) * 2015-12-11 2016-05-04 湖北三江航天万峰科技发展有限公司 一种基于虚拟仪器技术的电气参数测试装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4901025A (en) * 1987-08-13 1990-02-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Fault diagnosis system for electronic devices on automobiles
CN201126462Y (zh) * 2007-12-06 2008-10-01 谢步明 牵引逆变器控制板专用测试装置
CN101216520A (zh) * 2008-01-16 2008-07-09 谢步明 牵引逆变器控制板专用测试电路
CN101344561A (zh) * 2008-08-07 2009-01-14 江苏宗申三轮摩托车制造有限公司 电动车电气系统综合检测台
CN102520713A (zh) * 2011-12-09 2012-06-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种步进电机控制及驱动电路的闭环测试装置
CN103645433A (zh) * 2013-11-12 2014-03-19 陕西国力信息技术有限公司 一种基于amt的节气门驱动板检测方法
CN105515457A (zh) * 2014-10-14 2016-04-20 北京谊安医疗系统股份有限公司 一种无刷直流电机驱动电路自检方法及装置
CN105093041A (zh) * 2015-09-10 2015-11-25 蒋培利 一种电脑板综合检测仪及检测方法
CN105548717A (zh) * 2015-12-11 2016-05-04 湖北三江航天万峰科技发展有限公司 一种基于虚拟仪器技术的电气参数测试装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108827366A (zh) * 2018-09-12 2018-11-16 山东省计算中心(国家超级计算济南中心) 一种针对霍尔传感器质量的专用检测装置及检测方法
CN108827366B (zh) * 2018-09-12 2019-11-05 山东省计算中心(国家超级计算济南中心) 一种针对霍尔传感器质量的专用检测装置及检测方法
CN112485735A (zh) * 2020-10-16 2021-03-12 无锡力芯微电子股份有限公司 霍尔器件测试系统和测试方法
CN114371391A (zh) * 2022-03-22 2022-04-19 南京中旭电子科技有限公司 多参数霍尔集成电路高低温测试方法、装置及存储介质
CN116736104A (zh) * 2023-08-14 2023-09-12 天津普智芯网络测控技术有限公司 一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间的方法和系统
CN116736104B (zh) * 2023-08-14 2023-12-08 天津普智芯网络测控技术有限公司 一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间的方法和系统
CN118376823A (zh) * 2024-06-24 2024-07-23 杭州沃镭智能科技股份有限公司 一种霍尔式轮速传感器信号模拟系统

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