CN106461557B

CN106461557B - 一种用于检测样本井所含的样本的设备和方法

Info

Publication number: CN106461557B
Application number: CN201580034943.9A
Authority: CN
Inventors: 维莱·彼得里·莱塔拉
Original assignee: Wallac Oy
Current assignee: Wallac Oy
Priority date: 2014-06-27
Filing date: 2015-06-15
Publication date: 2019-09-03
Anticipated expiration: 2035-06-15
Also published as: US10222330B2; AU2015279009A1; EP3161456A1; CN106461557A; US20170153183A1; BR112016030430A2; CA2952544A1; WO2015197912A1; EP3161456B1; AU2015279009B2; CA2952544C; BR112016030430B1

Abstract

提出了一种用于检测样本井(352)是否含有样本的设备。样本井含有对于样本的光学分析所需的一种或多种荧光物质。设备包括控制器(312)，所述控制器被构造成基于从样本井(352)测得的光(例如，荧光)发射信号来计算指示所测量的光发射信号的衰减时间的指示值。控制器(312)被构造成将指示值与参考值进行比较，并且根据比较来设定检测结果以表达样本井(352)含有样本或样本井(352)不含有样本。

Description

一种用于检测样本井所含的样本的设备和方法

技术领域

本文的公开内容总体上涉及管理待分析的样本。更具体地，本公开涉及一种用于检测样本井是否含有样本的设备。该设备能够例如是但非必要地是光学测量仪器的一部分。此外，本公开涉及用于检测样本井是否含有样本的方法和计算机程序。此外，本公开涉及一种光学测量仪器。

背景技术

一种常规做法是将一滴或多滴待分析的流体样本浸渍到固体样本载体上，对浸渍有流体的固体样本载体进行干燥，并且接着将固体样本载体送至实验室进行分析。待分析的流体能够是例如新生儿的血液，并且固体样本载体能够是例如一张滤纸或能够承载待分析流体的某些其它合适的材料。在实验室中，从固体样本载体切下含有待分析的干燥流体的一片或多片，并且将已切下的该一片或多片输送至例如微量滴定板或某些其它样本井元件的一个或多个样本井进行进一步分析。每片能够例如用冲头和设置有用于冲头的通道的模具来从固体样本载体切下，其中冲头布置成利用穿过固体样本载体的单个冲程来切下该片。还能够使用能够在固体样本载体上产生局部的点状切口的切割器械并且使由切割器械产生的点状切割冲击沿每片的外周缘移动，以便将该片从固体样本载体分离。另一常规做法是以液体形式处理待分析的样本，使得样本混合或溶解在样本载液中。在这种情况下，将含有样本的一滴或多滴样本载液分配到一个或多个样本井中进行进一步分析。

样本井所含的样本的分析能够基于例如标记的分析物专用的示踪剂分子，其中样本中的一种或多种分析物的浓度能够基于可从样本井测得的光(例如荧光)发射信号上发生的变化来检测。上述类型的分析方法例如是基于荧光共振能量转移“FRET”的方法。关于例示基于FRET的分析方法的细节可以例如从公开文件US20060147954和V.莱特拉(V.Laitala)等人的“对单步骤形式的同质性核酸分析的时间分辨的检测探讨，分析生物化学361(2007)126-131(Time-resolved detection probe for homogeneous nucleic acidanalyses in one-step format，Analytical Biochemistry 361(2007)126-131)”中找到。

在进行上述种类的分析之前，重要的是，确保样本存在于样本井中。样本的不存在可导致错误的阴性或阳性结果。用于检测样本井是否含有样本的已知方法是基于由一片固体样本载体或从该片中溶解到样本井中的试剂的物质引起的吸光度。基于吸光度的方法的固有限制性是需要使用透明的微滴定板或其它样本井元件。然而，在很多情况下，需要使用或可能有利的是使用不透光的微量滴定板或其它样本井元件。在这些情况下，上述方法不适用或至少一些优势失去。用于检测样本井是否含有样本的另一种已知方法是基于发光强度，发光强度取决于样本和/或一片固体样本载体和/或从该片中溶解到样本井中的试剂的物质的存在。结合一些分析方法，基于发光强度的方法的使用可能是有挑战性的，这是因为样本和/或样本载体对发光强度的影响可能是案例特异性的和/或非确定性的。

在本文的上下文中，术语“固体”是指所考虑的材料不在以下相中：气相、等离子体相和液相。

在本文的上下文中，术语“固体”不排除多孔性和被液体浸渍的其它种类的能力。因此，在本文的上下文中，固体材料能够是多孔的或者能够被液体浸渍的。此外，术语“固体”不排除所考虑的材料的可塑性、弹性和柔性。再者，术语“固体”不排除所考虑的物体的镶嵌结构。

在本文的上下文中，术语“固体样本载体”是指能够承载样本材料的由固体材料制成的载体，例如一张滤纸，并且术语“样本载液”是指能够承载样本材料的液体。

发明内容

下文给出了简单概述，以提供对各种示例性实施例的某些方面的基本理解。概述不是本文的公开内容的广泛性概述。它既不旨在标识示例性实施例的关键或重要元件，也不旨在描绘保护范围。以下概述仅以简化形式提出作为对示例性实施例的更详细描述的序言的一些概念。

结合本发明，令人惊讶地注意到下述现象的可用性。在很多基于光(例如荧光)的分析布置结构中，当样本以及可能还有样本载体的部分(例如，固体样本载体的小片)存在于样本井中时，能够从样本井测得的光发射信号的衰减时间比当样本以及样本载体的部分不存在时更短或更长(这取决于该分析布置结构)。当在样本井中没有样本和样本载体的部分时，衰减时间是不同的，因为在这种情况下，在样本井中的物质中发生的发光不受样本和样本载体的可能部分的影响。

根据本公开，提供了一种用于检测样本井是否含有样本的新设备。该设备可以例如是但非必要地是光学测量仪器的一部分。该设备包括控制器，该控制器被构造成：

-基于从样本井测得的光(例如，荧光)发射信号计算指示所测得的光发射信号的衰减时间的指示值，

-将该指示值与参考值进行比较，并且

-根据指示值与参考照值之间的比较来设定检测结果以表达下列之一：(i)样本井含有样本，(ii)样本不存在于样本井中。

上述参考值能够是例如预定固定值或者是基于从不含任何样本和样本载体的部分，但含有分析所需的其他物质的一个或多个参考样本井测得的一个或多个光发射信号的值。

值得注意的是，上述指示值不一定必须直接指示衰减时间，但是指示值还能够是例如衰减速率或一些其它量或间接地指示衰减时间的无量纲值的估计值。

根据本公开，还提供了一种新的光学测量仪器，其包括：

-光检测器，其用于从样本井测量光(例如，荧光)发射信号，以及

-控制系统，其用于控制所述光检测器的操作。

控制系统被构造成构成根据本公开的用于检测样本井是否含有样本的设备。

根据本公开，还提供了一种用于检测样本井是否含有样本的新方法。所述方法包括：

-基于从样本井测得的光(例如，荧光)发射信号来计算指示所测得的光发射信号的衰减时间的指示值，

-将该指示值与参考值进行比较，并且

-根据指示值与参考值之间的比较来设定检测结果以表达下列之一：(i)样本井含有样本，(ii)样本不存在于样本井中。

根据本公开，还提供了一种用于检测样本井是否含有样本的新计算机程序。该计算机程序包括计算机可执行指令，该计算机可执行指令用于控制可编程处理系统以：

-将该指示值与参考值进行比较，并且

根据本公开，还提供了一种新的计算机程序产品。该计算机程序产品包括用根据本公开的计算机程序编码的非易失性计算机可读介质，例如，光盘“CD”。

在所附从属权利要求中描述了多个示例性且非限制性的实施例。

当结合附图阅读时，从以下具体的示例性且非限制性的实施例的描述中将最好地理解不仅关于结构而且还关于操作方法的各种示例性且非限制性的实施例及其另外的目的和优势。

动词“包括”和“包含”在本文中用作既不排除也不要求存在未记载的特征的开放限制。在所附从属权利要求中记载的特征可以相互自由地组合，除非另有明确说明。此外，应当理解，在整个文档中使用“一”或“一个”，即单数形式，不排除多个。

附图说明

下面在示例的意义上并参考附图更详细地解释示例性且非限制性的实施例及其优势，其中：

图1示出了根据示例性且非限制性的实施例的用于检测样本井是否含有样本的方法的流程图，

图2示出了在根据示例性且非限制性实施例的方法能够应用的不同示例性情况下能够从样本井测得的光发射信号的衰减曲线，并且

图3a和3b示出了根据示例性且非限制性的实施例的光学测量仪器。

具体实施方式

图1示出了根据示例性且非限制性的实施例的用于检测样本井是否含有样本和可能还含有样本载体的部分的方法的流程图。样本载体能够是例如一张滤纸或某些其它合适的固体材料。样本载体还能够是样本载液。在不限制一般性的情况下，假设样本井含有一种或多种能够在被激发辐射激发之后发射荧光信号的物质。样本井可以例如但非必要地含有基于荧光共振能量转移“FRET”的一个或多个探头群体，即探头组，其中，每个探头可以例如但非必要地包括至少一个供体、至少一个受体以及至少一个反应区域，该反应区域能够与样本所含的且能够用所考虑的探头检测到的分析物相互作用。反应区域能够与分析物相互作用，使得探头的荧光发射取决于上述分析物的浓度。

图1所示的方法包括：基于从样本井测得的荧光发射信号来计算指示值D。在图1中，这由动作框101示意。指示值D直接或间接地指示所测得的荧光发射信号的衰减时间。值得注意的是，有很多计算指示值的可能方法。下面参照图2描述计算指示值的一些示例性方式，图2示出了在不同情况下的荧光发射信号的衰减曲线。实线曲线220表示在样本井含有样本和样本载体的可能部分的情况下的衰减曲线，并且虚线曲线221表示在样本井不含有样本和样本载体的可能部分的另一情况下的衰减曲线。

在根据示例性且非限制性实施例的方法中，假设衰减曲线在样本井含有样本和样本载体的可能部分的情况下以及在样本井不含样本和样本载体的可能部分的情况下都具有衰减指数函数的形状。衰减指数函数可以表示为以下表达式：

Ce^-t/τ,

其中C是常数，e是欧拉数≈2.718，t是时间，并且τ是衰减时间常数，其能够用作指示值D，所述指示值D指示所测得的荧光发射信号的衰减时间。衰减时间常数τ的估计值能够根据以下公式计算：

其中ΔT是图2所示并具有相等的时间长度的两个测量时间窗口222和223的起始点之间的时移，“ln”表示自然对数，C₁是与当在测量时间窗口222期间测量来自样本井的荧光发射信号时在光检测器处接收到的信号的强度成比例的值，并且C₂是与当在测量时间窗口223期间测量来自样本井的荧光发射信号时在光检测器处接收到的信号的强度成比例的值。上述光检测器能够是例如光电倍增管“PMT”，并且值C₁和C₂能够是指示分别在测量时间窗口222和223期间检测到的光子量的计数值。如从图2能够看出的，与样本井含有样本和样本载体的可能部分的情况对应的曲线220的利用公式(1)获得的衰减时间常数τ的估计值比与样本井不含有样本和样本载体的可能部分的情况对应的曲线221的利用公式(1)获得的衰减时间常数τ的估计值小。

在根据示例性且非限制性的实施例的方法中，根据公式(1)针对相互不同的时间窗口对计算初始指示值。接着基于初始指示值计算指示值D。指标值能够例如是初始指标值的算术平均值。该计算方法提高了指示值的精度，特别是在荧光发射信号具有许多具有相互不同的衰减时间常数的分量的情况下。

在根据示例性且非限制性的实施例的方法中，衰减曲线用在从测量时间窗口222的起始点到测量时间窗口223的终点的时间间隔上的直线来近似。在这种情况下，指示值D能够是直线的角系数或角系数的倒数。例如，角系数的倒数可以根据以下公式计算：

在根据示例性且非限制性的实施例的方法中，指示值D根据以下公式计算：

指示值D还能够用基于激发辐射的调制的方法来获得。激发辐射能够例如用正弦调制来调制，并且在这种情况下，能够借助于荧光的替代分量的振幅和/或相位来计算指示信号。还能够对测量结果进行曲线拟合。

将所计算的指示值D与参考值D_ref进行比较，以便检测衰减时间是短于还是长于极限衰减时间。在图1中，这用动作框102示出。

在实际实施方式中，能够假定上述ΔT在所有测量中都是相同的，ΔT是在两个测量时间窗口的起始点之间的时移。在这种情况下，例如公式(3)所示的指示值D能够用无量纲值C₂/C₁替换。相应地，参考值D_ref能够用对应的无量纲值D_ref/ΔT替换。然而，同样在这种情况下，C₂/C₁和D_ref/ΔT之间的比较也指示衰减时间是短于还是长于极限衰减时间。

在衰减时间由于样本和样本载体的可能部分的存在而减少的示例性情况下，极限衰减时间是这样的，使得当衰减时间短于极限衰减时间时，样本井被认为是含有样本和样本载体的可能部分，否则样本井不被认为是含有样本和样本载体的可能部分。在指示值D是衰减时间的估计值的情况下，上述参考值D_ref能够是极限衰减时间。在指示值D不是衰减时间的估计值，而是间接地(例如通过指示衰减速率)指示衰减时间的情况下，极限衰减时间和参考值D_ref彼此对应，但它们不必具有相同的值。值得注意的是，在这种情况下，不需要知道极限衰减时间的值，这是因为比较是在指示值D和参考值D_ref之间进行的。

在衰减时间由于样本和样本载体的可能部分的存在而增加的示例性情况下，极限衰减时间是这样的，使得当衰减时间长于极限衰减时间时，样本井被认为是含有样本和样本载体的可能部分，否则样本井不被认为是含有样本和样本载体的可能部分。

在根据示例性且非限制性的实施例的方法中，上述参考值D_ref是能够从存储器读取的预定固定值。

根据另一个示例性且非限制性的实施例的方法包括：计算参考指示值RD，参考指示值RD直接或间接地指示从参考样本井测得的荧光发射信号的衰减时间。参考样本井不含任何样本和样本载体的可能部分，而仅含有分析所需的其它物质。参考指示值RD有利地以与在检测操作下的样本井有关的指示值D相同的方式计算。接着，基于参考指示值RD来计算参考值D_ref。参考值D_ref能够是例如加上或减去适当余量m的参考指示值RD，即D_ref＝RD+m或RD-m，或者是乘以适当系数c的参考指示值，即D_ref＝c×RD。例如，在指示值D是衰减时间的估计值并且衰减时间由于样本和样本载体的可能部分的存在而减小的情况下，参考值D_ref能够是RD-m，其中m是正的并且被选择成使得仅在为样本井估计的衰减时间以足够余量短于为参考样本井估计的对应的衰减时间的情况下，正的检测结果才是足够可靠的，即，样本井被认为是含有样本和样本载体的可能部分。再例如，在指示值D是衰减速率的估计值并且衰减时间由于样本和样本载体的可能部分的存在而减小的情况下，参考值D_ref能够是RD+m，其中m是正的并且被选择成使得仅在为样本井估计的衰减速率以足够余量大于为参考样本井估计的对应的衰减速率的情况下，正的检测结果才是足够可靠的，即，样本井被认为是含有样本和样本载体的可能部分。

根据示例性且非限制性的实施例的方法包括：计算很多参考指示值RD₁、RD₂……RD_N，每个参考指示值直接或间接地指示从N个参考样本井中的一个测得的荧光发射信号的衰减时间。每个参考指示值有利地以与在检测操作下的样本井有关的指示值D相同的方式来计算。接着，基于参考指示值RD₁,RD₂,……RD_N计算参考值D_ref。参考值D_ref能够例如是加上或减去适当余量或乘以适当系数的参考指示值的算术平均值。

该方法的输出信息是检测结果，所述检测结果被设成根据指示值D和参考值D_ref之间的比较来表达以下之一：(i)样本井含有样本和样本载体的可能部分，或(ii)样本井不含有样本和样本载体的可能部分。在图1中，这由选择框103及动作框104和105示意。

根据示例性且非限制性的实施例的计算机程序包括计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于控制可编程处理系统以执行根据上述示例性且非限制性的实施例中的任一个的方法。计算机可执行指令能够用合适的编程语言来生成。

根据示例性且非限制性的实施例的计算机程序产品包括用根据实施例的计算机程序编码的非易失性计算机可读介质，例如光盘“CD”。

根据示例性且非限制性的实施例的信号被编码成携带限定根据实施例的计算机程序的信息。

图3a示出了根据示例性且非限制性的实施例的光学测量仪器的示意图。图3b示出了从图3a中所示的线A-A向下看的视图的示意图。光学测量仪器包括布置成支撑样本板308的机械支撑元件，样本板308能够是例如微量滴定板。样本板308包括样本井351、352、353、354、355、356和357。在图3a所示的示例性情况下，样本井351-357中的每一个含有一种或多种能够在用激发辐射激发后发射荧光信号的物质，并且样本井351、352、353和354中的每一个含有待分析材料(例如血液)的样本，以及可能的样本载体的部分。在该示例性情况下，样本载体的每个部分是从滤纸或从某些其它合适的固体材料切下的片。在图3a中，片中的一个用附图标记360标示。然而，样本也能够借助于样本载液带到样本井。

布置成支撑样本板308的机械支撑元件包括图3b中所示的支撑轨306和引导元件309。借助于引导元件309以这样的方式相对于光学测量仪器的本体支撑支撑轨306，即，使得支撑轨306能够在图3b所示的双头箭头310的方向上移动。机械支撑元件包括能够接纳样本板308的滑架307。滑架以这样的方式连接到支撑轨306，使得滑架能够沿支撑轨在支撑轨的纵向方向上滑动，即，滑架能够在图3b所示的双头箭头311的方向上相对于支撑轨306移动。因此，样本板308能够在由坐标系399限定的xy平面中移动。由于样本井能够在xy平面中移动的事实，所以能够以时间上连续的方式测量不同样本井的内含物，使得每个样本井轮流地是其内含物正被测量的样本井。

光学测量仪器包括图3a所示的激发辐射源303以及用于将激发辐射依次导引到样本井中的一个样本井的光导304。在图3a所示的示例性情况下，样本井352被定位成能够接收来自光导304的激发辐射。光学测量设备包括用于依次从样本井中的一个样本井测量荧光发射信号的光检测器302。光检测器302能够是基于例如光电二极管或光电倍增管的。光学测量仪器包括用于控制激发辐射源303和光检测器302的操作的控制系统301。激发辐射源303、光检测器302和/或光导304能够是光学测量仪器的一体的或可更换的部件。控制系统301能够用一个或多个可编程处理器电路、一个或多个诸如专用集成电路“ASIC”的专用硬件电路、一个或多个诸如现场可编程门阵列“FPGA”的现场可编程逻辑电路或这些的组合来实现。此外，光学测量仪器可以包括例如滤光设备，借助于该滤光设备能够为每次测量选择合适的波长带。

光学测量仪器包括根据示例性且非限制性的实施例的用于检测样本井，例如样本井352，是否含有样本以及样本载体的可能部分的设备。该设备包括：

-用于基于从样本井测得的荧光发射信号来计算指示所测得的荧光发射信号的衰减时间的指示值的装置，

-用于将该指示值与参考值进行比较的装置，以及

-用于根据指示值与参考值的比较来设定检测结果以表达下列中的一个的装置：(i)样本井含有样本和样本载体的可能部分，或(ii)样本井不含有样本和样本载体的可能部分。

在图3a和3b所示的光学测量仪器中，控制系统301包括控制器312，控制器312被构造成构成用于检测样本井是否含有样本和样本载体的可能部分的上述设备。控制器312能够例如借助于软件工具并且通过使用用于实现光学测量仪器的其它功能的至少一部分的相同硬件来实现。还能够的是，控制器312或其一部分具有其自己的硬件。表示所考虑的样本井是否含有样本和样本载体的可能部分的检测结果能够被用作光学测量仪器的一个或多个其它功能的输入信号。例如，当应当含有样本和样本载体的可能部分的样本井被检测为没有样本时，可以生成报警信号并传送给用户。

在根据示例性且非限制性的实施例的设备中，控制器312构造成从存储器313读取与指示衰减时间的指示值进行比较的上述参考值。

在根据另一个示例性且非限制性的实施例的设备中，控制器312被构造成：

-基于从没有样本的参考样本井测得的荧光发射信号来计算指示从该参考样本井测得的荧光发射信号的衰减时间的参考指示值，并且

-基于参考指示值来计算参考值。

例如，在图3a所示的情况下，不含有样本和样本载体的部分的样本井357能够是上述参考样本井。

在根据示例性且非限制性的实施例的设备中，控制器312被构造成：

-针对没有样本的参考样本井中的每个参考样本井，基于从参考样本井测得的荧光发射信号来计算指示从所考虑的参考样本井测得的荧光发射信号的衰减时间的参考指示值，

-基于针对参考样本井计算的参考指示值来计算参考值。

例如，在图3a所示的情况下，不含由样本和样本载体的可能部分的样本井354、356和357能够是上述参考样本井。

在根据示例性且非限制性的实施例的设备中，控制器312被构造成根据以下公式来计算指示值：

其中ΔT是具有相等时间长度的两个测量时间窗口的起始点之间的时移，C₁是与当在测量时间窗口中的较早的一个测量时间窗口期间测量来自样本井的荧光发射信号时在光检测器302处接收到的信号的强度成比例的值，并且C₂是与当在测量时间窗口中的较晚的一个测量时间窗口期间测量来自样本井的荧光发射信号时在光检测器处接收到的信号的强度成比例的值。

在根据示例性且非限制性的实施例的设备中，控制器312被构造成针对相互不同的测量时间窗口对计算初始指示值，并且基于初始指示值来计算指示值。

在根据示例性且非限制性的实施例的设备中，控制器312被构造成根据以下公式计算指示值：

在上面给出的描述中提供的具体示例不应被解释为限制性。因此，保护范围不只限于上述示例性实施例。

Claims

1.一种用于检测样本的设备，其特征在于，所述设备包括控制器(312)，所述控制器包括：

装置，用于基于从样本井测量到的光发射信号，计算指示测量到的光发射信号的衰减时间的指示值，其中，当所述样本存在于所述样本井中时测量到的光发射信号的衰减时间与当所述样本不存在于所述样本井中时测量到的光发射信号的衰减时间相比是不同的，

装置，用于将所述指示值与参考值进行比较，和

装置，用于根据所述指示值和所述参考值之间的比较，设定检测结果以表达下列之一：(i)所述样本井含有所述样本，(ii)所述样本不存在于所述样本井中。

2.如权利要求1所述的设备，其中，所述控制器包括：

装置，用于从存储器读取所述参考值。

3.如权利要求1所述的设备，其中，所述控制器包括：

装置，用于基于从没有样本的参考样本井测量到的光发射信号，计算参考指示值，所述参考指示值指示从所述参考样本井测量到的所述光发射信号的衰减时间，和

装置，用于基于所述参考指示值，计算所述参考值。

4.如权利要求1所述的设备，其中，所述控制器包括：

装置，用于针对没有样本的参考样本井中的每一个参考样本井，基于从所述参考样本井测量到的光发射信号，计算参考指示值，所述参考指示值指示从所考虑的所述参考样本井测量到的所述光发射信号的衰减时间，和

装置，用于基于针对所述参考样本井计算出的所述参考指示值，计算所述参考值。

5.如权利要求1至4中的任一项所述的设备，其中，所述控制器包括装置，用于根据以下公式来计算所述指示值：

其中，ln表示自然对数，

ΔT是具有相等时间长度的两个测量时间窗口的起始点之间的时移，

C₁是与当在所述测量时间窗口中的较早的一个测量时间窗口期间从所述样本井测量所述光发射信号时在光检测器处接收到的信号的强度成比例的值，并且

C₂是与当在所述测量时间窗口中的较晚的一个测量时间窗口期间从所述样本井测量所述光发射信号时在所述光检测器处接收到的信号的强度成比例的值。

6.如权利要求5所述的设备，其中，所述控制器包括：

装置，用于针对相互不同的测量时间窗口对计算初始指示值，和装置，用于基于所述初始指示值计算所述指示值。

7.如权利要求1至4中的任一项所述的设备，其中，所述控制器包括装置，用于根据以下公式来计算所述指示值：

其中，ΔT是具有相等时间长度的两个测量时间窗口的起始点之间的时移，

8.如权利要求1至4中的任一项所述的设备，其中，所述控制器包括装置，用于根据以下公式来计算所述指示值：

9.一种光学测量仪器，包括：

光检测器(302)，用于测量来自样本井的光发射信号，以及

控制系统(301)，用于控制所述光检测器的操作，

其中，所述控制系统被构造为构成如权利要求1至4中的任一项所述的设备，用于检测所述样本井是否含有样本。

10.一种用于检测样本的方法，其特征在于，所述方法包括：

基于从样本井测量到的光发射信号，计算(101)指示测量到的光发射信号的衰减时间的指示值，其中，当所述样本存在于所述样本井中时测量到的光发射信号的衰减时间与当所述样本不存在于所述样本井中时测量到的光发射信号的衰减时间相比是不同的，

将所述指示值与参考值进行比较(102)，并且

根据所述指示值与所述参考值之间的比较，设定(103、104、105)检测结果以表达下列之一：(i)所述样本井含有所述样本，(ii)所述样本不存在于所述样本井中。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述方法包括从存储器读取所述参考值。

12.如权利要求10所述的方法，其中，所述方法包括：

基于从没有样本的参考样本井测量到的光发射信号，计算参考指示值，所述参考指示值指示从所述参考样本井测量到的所述光发射信号的衰减时间，以及

基于所述参考指示值，计算所述参考值。

13.如权利要求10所述的方法，其中，所述方法包括：

针对没有样本的参考样本井中的每一个参考样本井，基于从所述参考样本井测量到的光发射信号，计算参考指示值，所述参考指示值指示从所考虑的所述参考样本井测量到的所述光发射信号的衰减时间，

基于针对所述参考样本井计算出的所述参考指示值，计算所述参考值。

14.如权利要求10至13中的任一项所述的方法，其中，所述方法包括根据以下公式来计算所述指示值：

其中，ln表示自然对数，

15.如权利要求14所述的方法，其中，所述方法包括针对相互不同的测量时间窗口对计算初始指示值，并且基于所述初始指示值来计算所述指示值。

16.如权利要求10至13中的任一项所述的方法，其中，所述方法包括根据以下公式来计算所述指示值：

17.如权利要求10至13中的任一项所述的方法，其中，所述方法包括根据以下公式来计算所述指示值：