CN106338624A - 一种旋转测试针及破阻的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子信息领域集成电路封装测试探针，尤其涉及一种旋转测试针及破阻的方法。包含旋转针针头，所述旋转针针头包含旋转针针头基础部分，还包含旋转针针管，所述旋转针针管内部套有一个旋转针弹簧，所述弹簧端部容纳旋转针针头基础部位，旋转针针头穿出旋转针针管上的孔，旋转针针管能容纳旋转针针头基础部位，所述旋转针针管上包含一个旋转控制点位，旋转针针头基础部位上包含曲面，所述旋转控制点位为朝内的凸起且该凸起挤压旋转针针头基础部位的曲面，当旋转针针头基础部位朝下运动的时候会被凸起挤压导向而旋转。有益效果：本发明提供了一种全新的探针结构，增加了针头的穿透力，使其可以刺穿表面阻碍层。

Description

一种旋转测试针及破阻的方法

技术领域

本发明涉及电子信息领域集成电路封装测试探针，尤其涉及一种旋转测试针及破阻的方法。

背景技术

现有PCB板经过有机涂覆（OPS）工艺，或者被严重污染时，测试用普通测试针无法保证良好的接触，会经常导致测试失败。

发明内容

发明的目的：为了提供一种效果更好的旋转测试针及破阻的方法，具体目的见具体实施部分的多个实质技术效果。

为了达到如上目的，本发明采取如下技术方案：

方案一：

一种旋转测试针，其特征在于，包含旋转针针头，所述旋转针针头包含旋转针针头基础部分，还包含旋转针针管，所述旋转针针管内部套有一个旋转针弹簧，所述弹簧端部容纳旋转针针头基础部位，旋转针针头穿出旋转针针管上的孔，旋转针针管能容纳旋转针针头基础部位，所述旋转针针管上包含一个旋转控制点位，旋转针针头基础部位上包含曲面，所述旋转控制点位为朝内的凸起且该凸起挤压旋转针针头基础部位的曲面，当旋转针针头基础部位朝下运动的时候会被凸起挤压导向而旋转。

本发明进一步技术方案在于，所述旋转针针头基础部分包含一个切面，旋转枕针头基础部分插入旋转针弹簧中。

本发明进一步技术方案在于，所述凸起在侧口中能旋转0-90度。

方案二：

一种旋转测试针破阻的方法， 其特征在于，采用如下结构：包含旋转针针头，所述旋转针针头包含旋转针针头基础部分，还包含旋转针针管，所述旋转针针管内部套有一个旋转针弹簧，所述弹簧端部容纳旋转针针头基础部位，旋转针针头穿出旋转针针管上的孔，旋转针针管能容纳旋转针针头基础部位，所述旋转针针管上包含一个旋转控制点位，旋转针针头基础部位上包含曲面，所述旋转控制点位为朝内的凸起且该凸起挤压旋转针针头基础部位的曲面，当旋转针针头基础部位朝下运动的时候会被凸起挤压导向而旋转；

包含如下过程：在穿透的过程内针头会旋转90度，旋转的针头会增加测试针的穿透力，刺穿被测板材表面的涂覆层或表面氧化层，达到内部线路表面，完成测试。

采用如上技术方案的本发明，相对于现有技术有如下有益效果：本专利提供了一种全新的探针结构，增加了针头的穿透力，使其可以刺穿表面阻碍层。

附图说明

为了进一步说明本发明，下面结合附图进一步进行说明：

图1为发明结构示意图；

图2为发明外管图；

图3为针头部分结构示意图；

1.旋转针针头基础部位；2.旋转控制点位;3.旋转针针头;4.旋转针弹簧；5.旋转针针管。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的实施例进行说明，实施例不构成对本发明的限制：

现有普通测试针使用时针头只做沿针管方向的轴向运动，并不旋转，当遇到电路板表面有较厚的阻碍层（OPS涂层或污染后的PCB板）时，主要靠增加测试针弹力来增加穿透力。在仅增加弹力的情况下，针头穿透力非常有限。使用一段时间后会造成针头污染，严重污染，无法保证测试时测试针与被测件良好的接触。减小测试针的使用寿命，增加企业使用成本。

针对普通测试针无法满足对有机涂覆（OPS）工艺，或者被严重污染时产品测试，现在设计出新型测试针，保证在额定行程内针头会旋转90度，旋转的针头会在很大程度上增加测试针的穿透力，刺穿被测板材表面的涂覆层或表面氧化层，达到内部线路表面，完成测试。旋转控制点位与针头旋转控制部分配合完成旋转控制。由于使用旋转针头设计，测试针本身的穿透力大大增加，因此可以在较小的弹力（100N）下完成普通测试针在大弹力（300N）下无法完成的测试任务。且小弹力可以减小测试针使用时的磨损，增加测试针使用寿命，降低企业使用成本。本专利经济效益好，能有效降低误判率。

开创性地，以上各个效果独立存在，还能用一套结构完成上述结果的结合。图中未示出部分细节。

需要说明的是，本专利提供的多个方案包含本身的基本方案，相互独立，并不相互制约，但是其也可以在不冲突的情况下相互组合，达到多个效果共同实现。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本领域的技术人员应该了解本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的范围内。

Claims (4)

1.一种旋转测试针，其特征在于，包含旋转针针头，所述旋转针针头包含旋转针针头基础部分，还包含旋转针针管，所述旋转针针管内部套有一个旋转针弹簧，所述弹簧端部容纳旋转针针头基础部位，旋转针针头穿出旋转针针管上的孔，旋转针针管能容纳旋转针针头基础部位，所述旋转针针管上包含一个旋转控制点位，旋转针针头基础部位上包含曲面，所述旋转控制点位为朝内的凸起且该凸起挤压旋转针针头基础部位的曲面，当旋转针针头基础部位朝下运动的时候会被凸起挤压导向而旋转。

2.如权利要求1所述的一种旋转测试针，其特征在于，旋转枕针头基础部分插入旋转针弹簧中。

3.如权利要求1所述的一种旋转测试针，其特征在于，所述凸起在侧口中能旋转0-90度。

4.一种旋转测试针破阻的方法， 其特征在于，采用如下结构：包含旋转针针头，所述旋转针针头包含旋转针针头基础部分，还包含旋转针针管，所述旋转针针管内部套有一个旋转针弹簧，所述弹簧端部容纳旋转针针头基础部位，旋转针针头穿出旋转针针管上的孔，旋转针针管能容纳旋转针针头基础部位，所述旋转针针管上包含一个旋转控制点位，旋转针针头基础部位上包含曲面，所述旋转控制点位为朝内的凸起且该凸起挤压旋转针针头基础部位的曲面，当旋转针针头基础部位朝下运动的时候会被凸起挤压导向而旋转；

包含如下过程：在穿透的过程内针头会旋转90度，旋转的针头会增加测试针的穿透力，刺穿被测板材表面的涂覆层或表面氧化层，达到内部线路表面，完成测试。