CN106324400B - 一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法和系统。该方法包括：启动插拔寿命测试仪以使吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；在预定插拔次数的充电操作过程中，由待测电子设备检测待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到充电电流的成功充电次数；根据预定插拔次数和成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性。通过上述方式，本发明能够以相对简单的方式实现对吸附式充电器的充电稳定性的测试，进而可以优化吸附式充电器的性能。

Description

一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法和系统

技术领域

本发明涉及测试领域，特别是涉及一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法和系统。

背景技术

随着科学技术的发展，吸附式充电器的应用越来越广泛。但是，吸附式充电器与传统充电器相比，存在充电不稳定的问题，也即充电器吸附上时不能充电，微动充电器又能恢复充电的问题。而目前对吸附式充电器的检测与传统充电器的检测相同，主要是进行插拔寿命测试，而没有进行充电稳定性的测试。

因此，如何实现对吸附式充电器的充电稳定性的测试，进而优化吸附式充电器的充电稳定性的性能成为一个亟待解决的问题。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法及系统，能够实现对吸附式充电器的充电稳定性的测试。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法，该测试方法基于待测电子设备、吸附式充电器和插拔寿命测试仪，其中，吸附式充电器固定在插拔寿命测试仪上，吸附式充电器在插拔寿命测试仪的插拔过程中与待测电子设备接通或断开以对待测电子设备进行充电或停止充电，该方法包括：启动插拔寿命测试仪以使吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；在预定插拔次数的充电操作过程中，由待测电子设备检测待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到充电电流的未成功充电次数；根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性。

其中，根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性的步骤包括：获取未成功充电次数和预定插拔次数的比值；判断比值是否小于等于预定比值；若比值小于等于预定比值，则判定吸附式充电器的充电稳定性为达标；若比值大于预定比值，则判定吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

其中于，启动插拔寿命测试仪的步骤之前，该测试方法进一步包括：设置插拔寿命测试仪的工作参数，工作参数包括预定插拔次数、预定插拔频率以及预定插拔力度。

其中，该测试方法进一步包括：在预定插拔次数的充电操作过程中，在预定时刻检测吸附式充电器的可靠性参数并判断可靠性参数是否达标，其中，可靠性参数包括结构参数、外观参数和电性能参数中的至少一项；其中，当可靠性参数不达标时，则判定吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

其中，所述待测电子设备为手机、平板、笔记本或一体机。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种吸附式充电器的充电稳定性的测试系统，该测试系统包括待测电子设备、吸附式充电器和插拔寿命测试仪，其中吸附式充电器固定在插拔寿命测试仪上，插拔寿命测试仪启动并进行插拔的过程中驱动吸附式充电器与待测电子设备接通或断开以对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；在预定插拔次数的充电操作过程中，待测电子设备检测待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到充电电流的未成功充电次数；待测电子设备根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性。

其中，待测电子设备根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性的操作具体为：待测电子设备获取未成功充电次数和预定插拔次数的比值；判断比值是否小于等于预定比值；若比值小于等于预定比值，则判定吸附式充电器的充电稳定性为达标；若比值大于预定比值，则判定吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

其中，测试系统进一步包括控制装置，控制装置用于插拔寿命测试仪启动之前，设置插拔寿命测试仪的工作参数，工作参数包括预定插拔次数、预定插拔频率以及预定插拔力度。

其中，在预定插拔次数的充电操作过程中，控制装置用于在预定时刻检测吸附式充电器的可靠性参数并判断可靠性参数是否达标，其中，可靠性参数包括结构参数、外观参数和电性能参数中的至少一项；其中，当可靠性参数不达标时，则判定吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

其中，待测电子设备为手机、平板、笔记本或一体机。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的吸附式充电器的充电稳定性的测试方法和系统通过启动插拔寿命测试仪以使吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；在预定插拔次数的充电操作过程中，由待测电子设备检测待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到充电电流的未成功充电次数；根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性。通过上述方式，本发明能够以相对简单的方式实现对吸附式充电器的充电稳定性的测试，进而可以优化吸附式充电器的性能。

附图说明

图1是本发明实施例的吸附式充电器的充电稳定性的测试方法的流程图；

图2是本发明实施例的吸附式充电器的充电稳定性的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的组件。所属领域中的技术人员应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同样的组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的基准。下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。

图1是本发明实施例的吸附式充电器的充电稳定性的测试方法的流程图。需注意的是，若有实质上相同的结果，本发明的方法并不以图1所示的流程顺序为限。如图1所示，该方法包括步骤：

步骤S101：设置插拔寿命测试仪的工作参数，工作参数包括预定插拔次数、预定插拔频率以及预定插拔力度。

在步骤S101中，插拔寿命测试仪的工作参数由待测电子设备和吸附式充电器的类型决定。优选地，预定插拔次数为3000次，预定插拔频率为6次/min，预定插拔力度插拔力1.5kg±0.2kg。

步骤S102：启动插拔寿命测试仪以使吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作。

在步骤S102中，吸附式充电器固定在插拔寿命测试仪上，待测电子设备固定在实验台上，吸附式充电器在插拔寿命测试仪的插拔过程中与待测电子设备接通或断开以对待测电子设备进行充电或停止充电。

其中，在插拔寿命测试仪启动后，插拔寿命测试仪按照预定的工作参数进行插拔操作。其中，待测电子设备为手机、平板、笔记本或一体机。

步骤S103:在预定插拔次数的充电操作过程中，由待测电子设备检测待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到充电电流的未成功充电次数。

在步骤S103中，优选地，在本实施例中，待测电子设备中安装有充电次数计数Android安装包(Android Package，APK)，将待测电子设备开机后，启动充电次数计数APK并在该APK中输入预定插拔次数例如3000次。其中，吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作过程中，待测电子设备中的充电次数计数APK就会记录待测电子设备中电池有充电电流的次数也即成功充电次数，从而可以得到未成功充电次数。

其中，充电次数计数APK的工作原理是：

当待测电子设备中电池的充电状态也即充电电流发生改变时，待测电子设备的BatteryManage会发一个广播。该APK在Androidmanifest.xml中注册广播接收器也即：action：ACTION_POWER_CONNECTED和ACTION_POWER_DISCONNECTED。在关联的广播接收器中，该APK可以获取当前的电池的充电状态，并根据当前的电池的充电状态记录成功充电次数，从而可以得到未成功充电次数。

步骤S104，在预定时刻检测吸附式充电器的可靠性参数并判断可靠性参数是否达标，当可靠性参数达标时，执行步骤S105，否则执行步骤S107。

在步骤S104中，可靠性参数包括结构参数、外观参数和电性能参数中的至少一项。在本实施例中，预定时刻优选为预定插拔次数的20％、40％、60％、80％和100％处，也即完成第600次、1200次、1800次、2400次和3000次插拔时，进行可靠性参数检测。

本领域的技术人员可以理解，对可靠性参数的检测是穿插在成功充电次数的获取过程中的。其中，若某个预定时刻的可靠性参数检测不达标，则停止插拔寿命测试仪的插拔操作也即停止吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作，并执行步骤S107。若某个预定时刻的可靠性参数检测达标，则继续进行插拔寿命测试仪的插拔操作，直至完成最后一个预定时刻的可靠性参数检测并检测达标后，执行步骤S105。

步骤S105：获取未成功充电次数和预定插拔次数的比值并判断该比值是否小于等于预定比值，若该比值小于等于预定比值，则执行步骤S106，否则执行步骤S107。

在步骤S105中，预定比值可以根据实际情况进行设定。在本实施例中，预定比值优选为0.1％。

步骤S106：判定吸附式充电器的充电稳定性为达标。

在步骤S106中，当步骤S105判断未成功充电次数和预定插拔次数的比值小于等于0.1％时，则判定吸附式充电器的充电稳定性为达标。

步骤S107：判定吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

在步骤S107中，当步骤S104判断可靠性参数不达标或者步骤S105判断未成功充电次数和预定插拔次数的比值大于0.1％时，判定吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

图2是本发明实施例的吸附式充电器的充电稳定性的测试系统的结构示意图。如图2所示，该测试系统包括：待测电子设备20、吸附式充电器21和插拔寿命测试仪22。

吸附式充电器21分别与插拔寿命测试仪22和待测电子设备20连接。具体来说，吸附式充电器21固定在插拔寿命测试仪22上，插拔寿命测试仪22启动并进行插拔的过程中驱动吸附式充电器21与待测电子设备20接通或断开以对待测电子设备20进行预定次数的充电操作。

在预定插拔次数的充电操作过程中，待测电子设备20检测待测电子设备20中电池的充电电流并记录检测到充电电流的未成功充电次数。接着，待测电子设备20根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器21的充电稳定性。

其中，待测电子设备20根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器21的充电稳定性的操作具体为：待测电子设备20获取未未成功充电次数和预定插拔次数的比值；判断比值是否小于等于预定比值；若比值小于等于预定比值，则判定吸附式充电器21的充电稳定性为达标；若比值大于预定比值，则判定吸附式充电器21的充电稳定性为不达标。

优选地，测试系统进一步包括控制装置23，控制装置23分别与吸附式充电器21和插拔寿命测试仪22连接。其中，控制装置23用于插拔寿命测试仪22启动之前，设置插拔寿命测试仪22的工作参数，其中，工作参数包括预定插拔次数、预定插拔频率以及预定插拔力度。

另外，在预定插拔次数的充电操作过程中，控制装置23还用于在预定时刻检测吸附式充电器21的可靠性参数并判断可靠性参数是否达标，其中，可靠性参数包括结构参数、外观参数或电性能参数中的至少一项；其中，当可靠性参数不达标时，则判定吸附式充电器21的充电稳定性为不达标。

优选地，待测电子设备20为手机、平板、笔记本或一体机。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的吸附式充电器的充电稳定性的测试方法和系统通过启动插拔寿命测试仪以使吸附式充电器对待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；在预定插拔次数的充电操作过程中，由待测电子设备检测待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到充电电流的未成功充电次数；根据预定插拔次数和未成功充电次数判断吸附式充电器的充电稳定性。通过上述方式，本发明能够以相对简单的方式实现对吸附式充电器的充电稳定性的测试，进而可以优化吸附式充电器的性能。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种吸附式充电器的充电稳定性的测试方法，其特征在于，所述测试方法基于待测电子设备、吸附式充电器和插拔寿命测试仪，其中，所述吸附式充电器固定在所述插拔寿命测试仪上，所述吸附式充电器在所述插拔寿命测试仪的插拔过程中与所述待测电子设备接通或断开以对所述待测电子设备进行充电或停止充电，所述方法包括：

启动所述插拔寿命测试仪以使所述吸附式充电器对所述待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；

在所述预定插拔次数的充电操作过程中，由所述待测电子设备检测所述待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到所述充电电流的未成功充电次数；

根据所述预定插拔次数和所述未成功充电次数判断所述吸附式充电器的充电稳定性。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述预定插拔次数和所述未成功充电次数判断所述吸附式充电器的充电稳定性的步骤包括：

获取所述未成功充电次数和所述预定插拔次数的比值；

判断所述比值是否小于等于预定比值；

若所述比值小于等于所述预定比值，则判定所述吸附式充电器的充电稳定性为达标；

若所述比值大于所述预定比值，则判定所述吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述启动所述插拔寿命测试仪的步骤之前，所述测试方法进一步包括：

设置所述插拔寿命测试仪的工作参数，所述工作参数包括预定插拔次数、预定插拔频率以及预定插拔力度。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法进一步包括：

在所述预定插拔次数的充电操作过程中，在预定时刻检测所述吸附式充电器的可靠性参数并判断所述可靠性参数是否达标，其中，所述可靠性参数包括结构参数、外观参数和电性能参数中的至少一项；

其中，当所述可靠性参数不达标时，则判定所述吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述待测电子设备为手机、平板、笔记本或一体机。

6.一种吸附式充电器的充电稳定性的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括待测电子设备、吸附式充电器和插拔寿命测试仪，其中所述吸附式充电器固定在所述插拔寿命测试仪上，所述插拔寿命测试仪启动并进行插拔的过程中驱动所述吸附式充电器与所述待测电子设备接通或断开以对所述待测电子设备进行预定插拔次数的充电操作；

在所述预定插拔次数的充电操作过程中，所述待测电子设备检测所述待测电子设备中电池的充电电流并记录检测到所述充电电流的未成功充电次数；

所述待测电子设备根据所述预定插拔次数和所述未成功充电次数判断所述吸附式充电器的充电稳定性。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述待测电子设备根据所述预定插拔次数和所述未成功充电次数判断所述吸附式充电器的充电稳定性的操作具体为：

所述待测电子设备获取所述未成功充电次数和所述预定插拔次数的比值；判断所述比值是否小于等于预定比值；若所述比值小于等于所述预定比值，则判定所述吸附式充电器的充电稳定性为达标；若所述比值大于所述预定比值，则判定所述吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

8.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统进一步包括控制装置，所述控制装置用于所述插拔寿命测试仪启动之前，设置所述插拔寿命测试仪的工作参数，所述工作参数包括预定插拔次数、预定插拔频率以及预定插拔力度。

9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，在所述预定插拔次数的充电操作过程中，所述控制装置还用于在预定时刻检测所述吸附式充电器的可靠性参数并判断所述可靠性参数是否达标，其中，所述可靠性参数包括结构参数、外观参数和电性能参数中的至少一项；

其中，当所述可靠性参数不达标时，则判定所述吸附式充电器的充电稳定性为不达标。

10.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述待测电子设备为手机、平板、笔记本或一体机。