CN106323354A - 超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置 - Google Patents

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张华�
李利
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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Abstract

本发明公开了超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，待测产品上的信号控制点接入至测量通道切换单元，模块化数字万用表与测量通道切换单元的采集端相连，数据采集模块的IO信号端与测量通道切换单元的控制端相连，数据采集模块与步进电机控制连接，限位检测单元与步进电机的检测信号端口相连，限位检测单元与测量通道切换单元反馈连接，JTAG Cable烧录模块通过探针与待测产品进行连接；直流电源与测量通道切换单元相连，数据采集模块、模块化数字万用表和JTAG Cable烧录模块均与测试计算机通信连接。采用自动一体化的检测装置，有效提高了生产线的测试效率。

Description

超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置
技术领域
本发明涉及一种超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置。
背景技术
目前PCBA(电路板)测试时，操作人员需要用测试仪器手动逐个去检测电路板上各个测试点是否满足要求，需要人工手动进行JTAG烧录和U盘数据测试，这种操作方式极不方便、效率低下，且容易出现测量的误差，导致工作效率低，劳动成本增加。
发明内容
本发明的目的是克服现有手动测试效率低下且容易出错的问题，提供一种超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置。
本发明的目的通过以下技术方案来实现：
超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，特点是：包括用于放置待测产品的测试治具、数据采集模块、模块化数字万用表、JTAG Cable烧录模块和测量通道切换单元，所述待测产品上的信号控制点接入至测量通道切换单元，模块化数字万用表与测量通道切换单元的采集端相连，数据采集模块的IO信号端与测量通道切换单元的控制端相连，数据采集模块与步进电机控制连接，限位检测单元与步进电机的检测信号端口相连，限位检测单元与测量通道切换单元反馈连接，JTAG Cable烧录模块通过探针与待测产品进行连接；直流电源与测量通道切换单元相连，数据采集模块、模块化数字万用表和JTAG Cable烧录模块均与测试计算机通信连接。
进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述待测产品的所有测试点通过探针全部连接到测量通道切换单元。
更进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述数据采集模块为PCIe-6509DIO模块。
更进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述数据采集模块是具有12组共96个DIO TTL标准通道的DIO模块。
更进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述模块化数字万用表为Keysight 34461万用表。
再进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述测试治具包含壳体以及位于其上的载板，壳体上设有支撑块，压板旋转自如地支撑于支撑块上，压板上设有探针。
再进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述载板和压板的材质为防静电材料。
再进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述测试计算机上连接一LCD显示模组。
再进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述LCD显示模组为6英寸彩色液晶显示屏。
再进一步地，上述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其中，所述直流电源为5V直流输出电源。
本发明技术方案突出的实质性特点和显著的进步主要体现在：
采用自动一体化的检测装置，有效提高了生产线的测试效率，节约了人工成本；且测试数据集中化存储和管理，可以有效控制产品品质。测试过程无需人工干预，所有信号测量和状态设定全部由测试程序自动完成。测试时间大幅度减少，操作简单，无需浪费大量时间进行操作人员培训。生产效率大幅度提高，且测试过程稳定易于管控，测试数据统一管理。
附图说明
图1：本发明的结构示意图。
图中各附图标记的含义见下表：
具体实施方式
如图1所示，超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，包括用于放置待测产品的测试治具、数据采集模块2、模块化数字万用表5、JTAG Cable烧录模块7和测量通道切换单元8，待测产品9上所有测试点通过探针全部连接到测量通道切换单元8，模块化数字万用表5与测量通道切换单元8的采集端相连，数据采集模块2的IO信号端与测量通道切换单元8的控制端相连，数据采集模块2与步进电机3控制连接，限位检测单元4与步进电机3的检测信号端口相连，限位检测单元4与测量通道切换单元8反馈连接，JTAG Cable烧录模块7通过探针与待测产品9进行连接；直流电源6与测量通道切换单元8相连，数据采集模块2、模块化数字万用表5和JTAG Cable烧录模块7均与测试计算机1通信连接。
其中，数据采集模块2是具有12组共96个DIO TTL标准通道的PCIe-6509DIO模块。模块化数字万用表5为Keysight 34461万用表。直流电源6为5V直流输出电源。测试计算机1连接一LCD显示模组，采用6英寸彩色液晶显示屏。
测试治具包含壳体以及位于其上的载板，壳体上设有支撑块，压板旋转自如地支撑于支撑块上，压板上设有探针。载板和压板的材质为防静电材料。
待测产品9固定到测试治具上，夹具下方通过针板的形式将待测产品上的信号控制点引到测量通道切换单元8，经由数据采集模块2的IO信号来控制测量通道的切换，把待测量信号引到模块化数字万用表5上进行测量；同时数据采集模块2的IO信号控制产品上控制部分IO信号的状态来控制步进电机的正反转，通过夹具上的限位检测单元4来自动检测步进电机是否符合预期工作正常。
待测产品所有待测量信号全部连接到测量通道切换单元8，通过PCIe-6509DIO卡控制测量通道切换单元8的切换动作，最后把需要测量的信号连接到Keysight 34461万用表上进行测量；电机的正反转则通过PCIe-6509DIO卡的电平序列来控制，然后通过限位检测单元4来检测电机是否已经按照预定的设定来工作。
产品扣压在测试治具上，JTAG Cable烧录模块7通过上部探针与其进行连接，所有测试点和马达控制信号则通过探针全部连接到测量通道切换单元8上，对产品进行自动烧录。
测试开始前需要操作员工扫描进工号，之后扫入产品序列号后，程序自动开始运行，测试完成后测试程序自动判断测试结果，并保存和生产相应的测试报告，有利于后续的产品测试数据跟踪。
综上所述，测试过程无需人工干预，测试结果自动判断，测试报告自动生成。被测产品的电压电阻测试点经测量通道切换单元路由到Keysight34461万用表进行采集，数据采集模块2的IO信号控制测量通道的切换和待测产品上逻辑电平的高低。数据采集模块2有12组共计96个DIO TTL标准通道，其丰富的资源可能同时控制板子上的电平组合以及测量通道的切换。
采用自动一体化的检测装置，有效提高了生产线的测试效率，节约了人工成本；且测试数据集中化存储和管理，可以有效控制产品品质。测试过程无需人工干预，所有信号测量和状态设定全部由测试程序自动完成。测试时间大幅度减少，操作简单，无需浪费大量时间进行操作人员培训。生产效率大幅度提高，且测试过程稳定易于管控，测试数据统一管理。
需要说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施方式，并非用以限定本发明的权利范围；同时以上的描述，对于相关技术领域的专门人士应可明了及实施，因此其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在申请专利范围中。

Claims (10)

1.超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：包括用于放置待测产品的测试治具、数据采集模块、模块化数字万用表、JTAG Cable烧录模块和测量通道切换单元，所述待测产品上的信号控制点接入至测量通道切换单元，模块化数字万用表与测量通道切换单元的采集端相连，数据采集模块的IO信号端与测量通道切换单元的控制端相连，数据采集模块与步进电机控制连接，限位检测单元与步进电机的检测信号端口相连，限位检测单元与测量通道切换单元反馈连接，JTAG Cable烧录模块通过探针与待测产品进行连接；直流电源与测量通道切换单元相连，数据采集模块、模块化数字万用表和JTAG Cable烧录模块均与测试计算机通信连接。
2.根据权利要求1所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述待测产品的所有测试点通过探针全部连接到测量通道切换单元。
3.根据权利要求1所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述数据采集模块为PCIe-6509 DIO模块。
4.根据权利要求3所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述数据采集模块是具有12组共96个DIO TTL标准通道的DIO模块。
5.根据权利要求1所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述模块化数字万用表为Keysight 34461万用表。
6.根据权利要求1所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述测试治具包含壳体以及位于其上的载板，壳体上设有支撑块，压板旋转自如地支撑于支撑块上，压板上设有探针。
7.根据权利要求6所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述载板和压板的材质为防静电材料。
8.根据权利要求1所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述测试计算机上连接一LCD显示模组。
9.根据权利要求8所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述LCD显示模组为6英寸彩色液晶显示屏。
10.根据权利要求1所述的超高质彩色成像扫描仪的自动测试装置，其特征在于：所述直流电源为5V直流输出电源。
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