CN106238836A - 电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法 - Google Patents

Abstract

一种电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法，特征是：在同一放电停歇期间内，先用脉冲电压幅值较低的第一探测脉冲，定时施加到放电间隙，定时检测放电间隙两端的瞬时电压来初步判断放电间隙状态好坏，如果不好则控制下一个加工脉冲不进行放电加工；如果好则再用脉冲电压幅值较高的第二探测脉冲，定时施加到放电间隙，定时检测放电间隙所在放电回路的瞬时电流来最终判断放电间隙好坏，如果不好则控制下一个加工脉冲不进行放电加工；如果好则控制下一个加工脉冲进行放电加工。在电火花加工中，加工效率、表面粗糙度及电极损耗三者是一个矛盾体系，本发明可以根据实际需要，通过实时检测和微观控制来优化三者关系，实现三者的动态平衡。

Description

电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法

技术领域

本发明涉及电火花加工技术领域，具体涉及电火花数字化脉冲电源的一种加工脉冲微观控制方法。该方法是在电火花加工过程中，利用放电间歇对每个放电脉冲进行实时检测，根据检测判断的放电状态对电火花数字化脉冲电源的加工脉冲输出进行自动控制，从而实现高效、稳定和持续的加工效果。本发明适用于电火花加工中的线切割加工、成形加工和小孔加工。

背景技术

电火花加工是利用电极与工件两极间脉冲放电时产生的电蚀作用蚀除工件材料的特种加工方法，又称放电加工或电蚀加工，英文简称EDM。在电火花加工领域中，加工效率、表面粗糙度及电极损耗三者是衡量加工效果主要技术指标。通常情况下，三者在加工中相互制约并形成一矛盾体系，而电火花脉冲电源的性能是直接影响加工技术指标的关键。

电火花脉冲电源主要有控制及功率放大两部分组成。现有电火花脉冲电源控制部分的控制模式大致可分为两类：一类是由小规模数字集成电路组成的固定逻辑控制模式；另一类是由计算机和小规模数字集成电路组成的数字式控制模式。研究表明，在电火花加工过程中，只有确保放电间隙状态良好，才能使加工稳定、持续，并获得较高的加工效率。相反，如果受间隙状态的不确定性、排屑效果的好坏等因素影响，就难以保证施加到间隙两端的每一个放电脉冲都能形成有效放电，当有效放电脉冲的比例小到一定程度，放电就难以稳定，进而使放电间隙出现积碳，时间一长就会引起烧弧，损坏工件和电极，最终导致加工无法进行。由于上述两种控制模式没有对单个脉冲进行检测，不具备微观适应控制功能，故而难以避免积碳、烧弧现象的出现，尤其在精密微细、深窄槽等形状的加工中难以实现持续稳定加工，获得较好的加工效果。于是，如何克服上述不足便成为本发明的研究课题。

发明内容

本发明提供一种电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法，其目的是为了在电火花加工过程中进一步优化加工效率、表面粗糙度及电极损耗三者的技术指标，保证高效、稳定和持续加工，获得最佳的加工效果。

为了达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法，其创新在于：在电火花加工过程中，针对每个加工脉冲，均利用放电间歇对放电间隙的状态进行实时检测，并将检测结果进行反馈，用来控制下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工的有效性；

具体检测及控制方式如下：

第一步，放电间隙电压检测

在加工脉冲的放电停歇期间内，定时向放电间隙两端施加一个第一探测脉冲，该第一探测脉冲为矩形波电压信号，脉冲电压幅值小于或等于所述脉冲电源的低压电源电压值，脉冲宽度落在同一所述放电停歇期间内；第一探测脉冲发出后，并且在同一所述放电停歇期间内，定时检测放电间隙两端的瞬时电压，得到一个对应该瞬时电压的第一探测值；

接着转入第二步；

第二步，放电间隙状态初步判断

将所述第一探测值与预先设定的衡量放电间隙状态的第一阈值进行比较，从而初步判断此放电间隙目前所处的消电离状态，当第一探测值落在预先设定为较好的区间内时，则认为此时放电间隙的消电离状态较好，相反，则认为此时放电间隙的消电离状态不好；

当初步判断结果为放电间隙的消电离状态较好时，转入第三步；当初步判断结果为放电间隙的消电离状态不好时，跳转至第五步；

第三步，放电间隙击穿电流检测

在同一所述放电停歇期间内，定时向放电间隙两端施加一个第二探测脉冲，该第二探测脉冲为矩形波电压信号，脉冲电压幅值大于第一探测脉冲的脉冲电压幅值，同时小于或等于所述脉冲电源的高压电源电压值，脉冲宽度落在同一所述放电停歇期间内；第二探测脉冲发出后，并且在同一所述放电停歇期间内，定时检测放电间隙两端所在放电回路的瞬时电流，得到一个对应该瞬时电流的第二探测值；

接着转入第四步；

第四步，放电间隙状态最终判断

将所述第二探测值与预先设定的衡量放电间隙状态的第二阈值进行比较，从而最终判断此放电间隙目前所处的消电离状态，当第二探测值落在预先设定为好的区间内时，则认为此时放电间隙的消电离状态好，相反，则认为此时放电间隙的消电离状态不好；

当最终判断结果为放电间隙的消电离状态好时，跳转至第六步；当最终判断结果为放电间隙的消电离状态不好时，转入第五步；

第五步，无效放电加工控制

如果放电间隙状态判断结果为消电离状态不好，则通过控制使得下一个加工脉冲不对放电间隙进行放电加工；

接着跳转至第七步；

第六步，有效放电加工控制

如果放电间隙状态判断结果为消电离状态好，则通过控制使得下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工；

接着转入第七步；

第七步，结束

结束此轮检测及控制，在下一个放电停歇期间内，重复此轮检测及控制，以此循环往复，最终对每个加工脉冲均进行实时检测，同时实施放电加工有效性的微观控制。

上述方案中的有关内容和变化解释如下：

1．上述方案中，所述“加工脉冲”是指电火花加工中，对放电间隙进行放电加工的脉冲，亦称放电脉冲。所述“放电间歇”是指加工脉冲波形中两个相邻脉冲之间的时间间歇，亦为“放电停歇期间”。所述“放电间隙”是指电火花加工中，工件与电极之间的间隙。

2．上述方案中，所述“放电加工的有效性”是指针对放电间隙进行有效放电加工还是无效放电加工。有效放电加工是指正常的放电蚀除加工，而无效放电加工是指未进行放电蚀除加工。

3．上述方案中，所述“定时”是指规定时间的含意，是以某一时刻为基准而规定的时间。

4．上述方案中，所述“同一所述放电停歇期间内”是指与第一步放电间隙电压检测中，首次出现放电停歇期间内相同的时间区间。换句话说是指同一个放电间歇内。本发明中，针对一个加工脉冲的检测及控制均在同一个放电间歇内完成。

5．目前在电火花加工的脉冲电源中，通常具有双电源结构，即具有两个电源，一个是低压电源，另一个是高压电源。低压电源的电压值也不是一个固定值，一般落在60-120伏范围内，高压电源的电压值也不是一个固定值，一般落在150-300伏范围内。本发明上述方案中，所述“脉冲电源的低压电源电压值”所指的就是双电源结构中低压电源的电压值。所述“脉冲电源的高压电源电压值”所指的就是双电源结构中高压电源的电压值。

本发明设计原理和效果如下：

本发明为了进一步优化加工效率、表面粗糙度及电极损耗三者的技术指标，保证高效、稳定和持续加工，获得最佳的加工效果，采用的设计构思和策略是：针对每个加工脉冲，均利用放电间歇对放电间隙的状态进行实时检测，并将检测结果进行反馈，用来控制下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工的有效性。为了更好的实现这一策略，采用的技术措施是：在同一放电停歇期间内，先利用一个脉冲电压幅值较低的第一探测脉冲，并定时施加到放电间隙，然后通过定时检测放电间隙两端的瞬时电压来初步判断此时放电间隙的消电离状态恢复的好坏，如果结果不好则通过控制使得下一个加工脉冲不对放电间隙进行放电加工；如果结果好则再利用一个脉冲电压幅值较高的第二探测脉冲，并定时施加到放电间隙，然后通过定时检测放电间隙两端所在放电回路的瞬时电流来最终判断此时放电间隙的消电离状态的好坏，如果结果不好则通过控制使得下一个加工脉冲不对放电间隙进行放电加工；如果结果好则通过控制使得下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工。

本发明针对每个加工脉冲，均进行检测及控制的积极效果是充分体现了实时和精确的控制策略。而本发明中采用第一探测脉冲和第二探测脉冲的二次检测措施则充分展示了其不同于以往现有技术的创造性。具体理由如下：

第一，第一次检测作为初步判断，可以直接判别并排除放电间隙处于较坏的情况，比如放电间隙尚未恢复绝缘状态（消电离状态），间隙积炭较重，此时不适合再进行放电加工；而第二次检测作为最终判断，可以用于进一步区分消电离状态恢复的程度，比如判断此时放电间隙的消电离状态是否完全恢复，间隙绝缘状态是否恢复好，最终确定下一个加工脉冲是否对放电间隙进行放电加工。这种设计的巧妙之处在于：第一次检测排除了最坏的情况，而第二次检测用于区分程度，这样可以通过调整第二阈值来有效掌控电火花加工的实际应用情况，具有一定的灵活度，也更加合理、实用和灵活，比如此次加工对表面粗糙度要求很高，那么就要提高消电离状态恢复程度，相应多牺牲一些加工效率；相反，可以降低一些消电离状态恢复程度，相应提高了一些加工效率。在电火花加工中，加工效率、表面粗糙度及电极损耗三者是一个矛盾体系，本发明可以根据实际需要，通过调整第一阈值和第二阈值来优化三者关系。

第二，第一次检测是利用脉冲电压幅值较低的第一探测脉冲，来检测放电间隙两端的瞬时电压，而第二次检测是利用脉冲电压幅值较高的第二探测脉冲，来检测放电间隙两端所在放电回路的瞬时电流，由此可见，两者检测手段不同。第一次采用间隙电压的检测方式可以容易判别出间隙状态最差的情况，即如果检测发现瞬时电压跌下来了，则说明此时间隙绝缘状态恢复不好，或者间隙积炭程度较重。第二次采用间隙击穿电流的检测方式能够更好的衡量和区分间隙状态好坏，即通过观察放电回路中是否有电流来判断此时间隙是否被击穿，从而衡量间隙消电离状态是否完全恢复，间隙绝缘是否恢复好。如果第一次检测结果不好，则直接通过控制使得下一个加工脉冲不对放电间隙进行放电加工，而不会再进行第二次检测，只有当第一次检测结果好时，才接着进行第二次检测，以便进一步区分放电间隙状态趋于好的程度。另外，需要说明第一探测脉冲和第二探测脉冲是检测脉冲，尽管同样施加到放电间隙但由于有限流而且脉宽窄，所以能量较小，不形成放电加工。这与加工脉冲在放电间隙形成有效放电加工完全不同。

第三，在针对每个加工脉冲的检测及控制过程中，第一探测脉冲和第二探测脉冲所形成的检测及控制都应落在同一放电停歇期间内，而且第一探测脉冲时间上在前，第二探测脉冲时间上在后。第一探测脉冲相对放电停歇起始点定时（规定时间）发送，接着定时（规定时间）检测放电间隙两端的瞬时电压。第二探测脉冲相对放电停歇起始点定时（规定时间）发送，接着定时（规定时间）检测放电间隙两端所在放电回路的瞬时电流。这些时序上的安排也是本发明的重要特征之一。这种设计构思从检测及控制角度来看有利于精确对比，准确判断。从第一，第二，两次检测措施来看，在同一放电停歇期间内，时间与消电离状态恢复的好坏有关，通常时间长恢复的好，时间短恢复的不好，所以第一次检测时间在前，并作为初步判断，而第二次检测时间在后，并作为最终判断，是科学而合理的设计。

总之，在电火花加工中，加工效率、表面粗糙度及电极损耗三者是一个矛盾体系，本发明可以根据实际需要，通过实时检测和微观控制来优化三者关系，实现三者的动态平衡。

附图说明

附图1为本发明放电间隙状态检测电路框图；

附图2为本发明第一探测脉冲的产生与传送电路图；

附图3为本发明第一探测脉冲施加到放电间隙两端电路图；

附图4为本发明第一探测脉冲期间放电间隙状态反馈给CPLD电路图；

附图5为本发明第二探测脉冲的产生与传送电路图；

附图6为本发明第二探测脉冲施加到放电间隙两端电路图；

附图7为本发明第二探测脉冲期间放电间隙状态反馈给CPLD电路图；

附图8为本发明基准脉冲CLK、加工脉冲T、第一探测脉冲Tr和第二探测脉冲Ti时序对照图；

附图9为本发明探测脉冲及探测反馈脉冲第一种情况波形时序逻辑图；

附图10为本发明探测脉冲及探测反馈脉冲第二种情况波形时序逻辑图；

附图11为本发明探测脉冲及探测反馈脉冲第三种情况波形时序逻辑图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述：

实施例：一种电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法

本发明的设计构思和策略是：在电火花加工过程中，针对每个加工脉冲，均利用放电间歇对放电间隙的状态进行实时检测，并将检测结果进行反馈，用来控制下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工的有效性。

本发明具体检测及控制方式如下：

第一步，放电间隙电压检测

在加工脉冲的放电停歇期间内，定时向放电间隙两端施加一个第一探测脉冲，该第一探测脉冲为矩形波电压信号，脉冲电压幅值小于或等于所述脉冲电源的低压电源电压值（低压电源电压值一般在60-120伏范围，本实施例采用80伏），脉冲宽度落在同一所述放电停歇期间内；第一探测脉冲发出后，并且在同一所述放电停歇期间内，定时检测放电间隙两端的瞬时电压，得到一个对应该瞬时电压的第一探测值。

接着转入第二步。

第二步，放电间隙状态初步判断

将所述第一探测值与预先设定的衡量放电间隙状态的第一阈值（本实施例定为50伏）进行比较，从而初步判断此放电间隙目前所处的消电离状态，当第一探测值落在预先设定为较好的区间内时，则认为此时放电间隙的消电离状态较好，相反，则认为此时放电间隙的消电离状态不好。

当初步判断结果为放电间隙的消电离状态较好时，转入第三步；当初步判断结果为放电间隙的消电离状态不好时，跳转至第五步。

第三步，放电间隙击穿电流检测

在同一所述放电停歇期间内，定时向放电间隙两端施加一个第二探测脉冲，该第二探测脉冲为矩形波电压信号，脉冲电压幅值大于第一探测脉冲的脉冲电压幅值，同时小于或等于所述脉冲电源的高压电源电压值（高压电源电压值一般在150-300伏范围，本实施例采用150伏或180伏），脉冲宽度落在同一所述放电停歇期间内；第二探测脉冲发出后，并且在同一所述放电停歇期间内，定时检测放电间隙两端所在放电回路的瞬时电流，得到一个对应该瞬时电流的第二探测值。

接着转入第四步。

第四步，放电间隙状态最终判断

将所述第二探测值与预先设定的衡量放电间隙状态的第二阈值进行比较，从而最终判断此放电间隙目前所处的消电离状态，当第二探测值落在预先设定为好的区间内时，则认为此时放电间隙的消电离状态好，相反，则认为此时放电间隙的消电离状态不好。

当最终判断结果为放电间隙的消电离状态好时，跳转至第六步；当最终判断结果为放电间隙的消电离状态不好时，转入第五步。

第五步，无效放电加工控制

如果放电间隙状态判断结果为消电离状态不好，则通过控制使得下一个加工脉冲不对放电间隙进行放电加工。

接着跳转至第七步。

第六步，有效放电加工控制

如果放电间隙状态判断结果为消电离状态好，则通过控制使得下一个加工脉冲（本实施例加工脉冲的电压幅值为180伏）对放电间隙进行放电加工。

接着转入第七步。

第七步，结束

结束此轮检测及控制，在下一个放电停歇期间内，重复此轮检测及控制，以此循环往复，最终对每个加工脉冲均进行实时检测，同时实施放电加工有效性的微观控制。

本发明中，第五步无效放电加工控制能够通过以下两种方式来实现：

第一种，通过停止向所述脉冲电源的驱动电路发送加工脉冲的方式来实现无效放电加工；

第二种，通过门电路控制不向所述脉冲电源的驱动电路发送加工脉冲的方式来实现无效放电加工。

下面结合硬件电路实现，对本发明作进一步说明：

1．放电间隙状态检测

本发明的主振电路之所以能够产生准确有序的适应控制的脉冲波形，重要的依据来至于放电间隙状态检测电路。图1所示为放电间隙状态检测电路框图。

参见图1所示，放电间隙状态检测电路采用高速器件检测加工间隙的放电状态，并将放电状态信号及时传送至主振电路和计算机，供主振电路产生正确有序的适应控制的脉冲波形。为了降低检测信号传输过程中的干扰，采用长线驱动和双绞屏蔽线传输。

放电间隙状态的正确检测是保证加工高效、稳定、持续进行的基础。本设计第一次检测采用间隙电压检测，第二次检测采用间隙击穿电流检测，这两次检测均用于印板内微观自适应控制。

上述两种检测方法的实现都是基于可编程的CPLD（大规模可编程逻辑控制电路）芯片及外围电路实现的。本设计选用了Altera公司MAX7000系列的器件EPM7128S芯片，该系列的产品基于电檫除可编程只读存储器（EEPROM），引脚间传输延时最小5ns，最高计数频率可达175.4MHz，宏单元内的寄存器具有单独的时钟和复位信号，器件支持多种电压接口。芯片内部有128个宏单元、8个逻辑阵列、2500个门电路。

（1）放电间隙电压检测

参见图2所示，在脉冲停歇期间，CPLD（大规模可编程逻辑控制电路）自动对脉冲停歇计时，到脉冲停歇的1/2之前自动发出第一探测脉冲，经高速光耦隔离、长线驱动芯片驱动，第一探测脉冲信号送到功率电源板，再由功率电源板上的高速光耦接收。

参见图3所示，功率电源板上的高速光耦接收后，经功率驱动电路驱动放大，去推动VMOS场效应功率管的开通、关断，将放大后的第一探测脉冲施加到放电间隙两端。

参见图4所示，放电间隙的电压信号经间隙检测电路处理后再反馈给CPLD芯片。与CPLD内部的第一阈值基准信号比较，如果放电间隙状态不好，那么下一个加工脉冲宽度期间就停止发送加工电流，等待下一个脉冲停歇期间重新进行下一个第一探测脉冲的检测，直到第一探测脉冲检测到认为放电间隙好为止。如果放电间隙状态好，就进入下一步放电间隙击穿电流检测。

（2）放电间隙击穿电流检测

在第一探测脉冲检测到放电间隙状态良好后，需进一步对放电间隙进行击穿电流检测，以确保放电间隙消电离后，再发送正常的加工脉冲进行有效放电加工。其检测过程如下：

参见图5所示，在同一脉冲停歇期间，CPLD自动对脉冲停歇计时。在第一探测脉冲结束到脉冲停歇3/4期间自动发出第二探测脉冲，经高速光耦隔离、长线驱动芯片驱动第二探测脉冲信号到功率电源板，再由功率电源板上的高速光耦接收。

参见图6所示，功率电源板上的高速光耦接收后，经功率驱动电路驱动VMOS功率管的开关，将放大后的第二探测脉冲施加到放电间隙两端。

参见图7所示，放电间隙的电流信号经间隙检测电路处理后再反馈给CPLD芯片，与CPLD内部的第二阈值基准信号比较，如果放电间隙状态不好，那么下一个加工脉冲宽度期间就停止发送加工电流，等待下一个加工脉冲停歇期间重新进行第一探测脉冲的检测；如果放电间隙状态好，那么就发送正常的加工脉冲进行有效放电加工。

上述的两种检测是在加工脉冲停歇期间进行的，用于印板内部的硬件级自适应控制，它们决定了在什么情况下加工脉冲对放电间隙进行放电加工的有效性。

（3）自适应控制的硬件时序逻辑关系及控制

参见图8所示，CPLD根据计算机送来的脉冲宽度和脉冲停歇数值，经基准脉冲CLK同步内部产生脉冲宽度可变的加工脉冲T，同时在脉冲停歇期间先后发出第一探测脉冲Tr和第二探测脉冲Ti经检测电路加载到放电间隙。

放电间隙的状态经检测电路反馈到CPLD，获得第一探测反馈脉冲Trk和第二探测反馈脉冲Tik波形时序逻辑图，下面针对三种不同情况进行说明，这三种情况分别见图9、图10和图11。

第一种情况，参见图9所示，第一探测反馈脉冲Trk和第二探测反馈脉冲Tik波形时序逻辑图与第一探测脉冲Tr和第二探测脉冲Ti比较，除电路传输延迟△1、Δ2外波形一致，说明本次检测到的放电间隙良好。

第二种情况，参见图10所示，第一探测反馈脉冲Trk波形时序逻辑图与第一探测脉冲Tr比较，波形明显不一致，第一探测脉冲Tr加载到间隙两端后马上就击穿了（电平变低），说明本次检测到的放电间隙不良，CPLD自动停发下一个加工脉冲，到下一个放电停歇期间再进行下一轮检测。

第三种情况，参见图11所示，第二探测反馈脉冲Tik波形时序逻辑图与第二探测脉冲Ti比较，波形明显不一致，第二探测脉冲Ti加载到间隙两端马上就导通了，说明本次检测到的放电间隙不良，CPLD自动停发下一个加工脉冲，到下一个放电停歇期间再进行下一轮检测。

从以上分析中可以看出，只有第一种情况（见图9）出现的时序逻辑图，才能保证当前放电间隙处于良好状态，才能允许加工脉冲的给出，同时在加工间隙上加载加工电流，开始进行有效放电加工。

上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种电火花数字化脉冲电源的加工脉冲微观控制方法，其特征在于：在电火花加工过程中，针对每个加工脉冲，均利用放电间歇对放电间隙的状态进行实时检测，并将检测结果进行反馈，用来控制下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工的有效性；

具体检测及控制方式如下：

第一步，放电间隙电压检测

在加工脉冲的放电停歇期间内，定时向放电间隙两端施加一个第一探测脉冲，该第一探测脉冲为矩形波电压信号，脉冲电压幅值小于或等于所述脉冲电源的低压电源电压值，脉冲宽度落在同一所述放电停歇期间内；第一探测脉冲发出后，并且在同一所述放电停歇期间内，定时检测放电间隙两端的瞬时电压，得到一个对应该瞬时电压的第一探测值；

接着转入第二步；

第二步，放电间隙状态初步判断

将所述第一探测值与预先设定的衡量放电间隙状态的第一阈值进行比较，从而初步判断此放电间隙目前所处的消电离状态，当第一探测值落在预先设定为较好的区间内时，则认为此时放电间隙的消电离状态较好，相反，则认为此时放电间隙的消电离状态不好；

当初步判断结果为放电间隙的消电离状态较好时，转入第三步；当初步判断结果为放电间隙的消电离状态不好时，跳转至第五步；

第三步，放电间隙击穿电流检测

在同一所述放电停歇期间内，定时向放电间隙两端施加一个第二探测脉冲，该第二探测脉冲为矩形波电压信号，脉冲电压幅值大于第一探测脉冲的脉冲电压幅值，同时小于或等于所述脉冲电源的高压电源电压值，脉冲宽度落在同一所述放电停歇期间内；第二探测脉冲发出后，并且在同一所述放电停歇期间内，定时检测放电间隙两端所在放电回路的瞬时电流，得到一个对应该瞬时电流的第二探测值；

接着转入第四步；

第四步，放电间隙状态最终判断

将所述第二探测值与预先设定的衡量放电间隙状态的第二阈值进行比较，从而最终判断此放电间隙目前所处的消电离状态，当第二探测值落在预先设定为好的区间内时，则认为此时放电间隙的消电离状态好，相反，则认为此时放电间隙的消电离状态不好；

当最终判断结果为放电间隙的消电离状态好时，跳转至第六步；当最终判断结果为放电间隙的消电离状态不好时，转入第五步；

第五步，无效放电加工控制

如果放电间隙状态判断结果为消电离状态不好，则通过控制使得下一个加工脉冲不对放电间隙进行放电加工；

接着跳转至第七步；

第六步，有效放电加工控制

如果放电间隙状态判断结果为消电离状态好，则通过控制使得下一个加工脉冲对放电间隙进行放电加工；

接着转入第七步；

第七步，结束

结束此轮检测及控制，在下一个放电停歇期间内，重复此轮检测及控制，以此循环往复，最终对每个加工脉冲均进行实时检测，同时实施放电加工有效性的微观控制。

2.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于：第五步，无效放电加工控制能够通过以下两种方式来实现：

第一种，通过停止向所述脉冲电源的驱动电路发送加工脉冲的方式来实现无效放电加工；

第二种，通过门电路控制不向所述脉冲电源的驱动电路发送加工脉冲的方式来实现无效放电加工。

3.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于：所述脉冲电源的低压电源电压值落在60-120伏范围；所述脉冲电源的高压电源电压值落在150-300伏范围。