CN106226496A - 一种微观孔道测试模型及其使用方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种微观孔道测试模型及其使用方法,所述微观孔道测试模型包括:透明芯片,所述透明芯片上设有若干个依次排列的适于嵌入相应仿岩心薄片样本的凹部,且各凹部之间通过相应的流道依次相连,其中在第一凹部的进液口连接有进液池,最后凹部的出液口连接有排液池;位于透明芯片的上端面密封有透明上盖,以及透明芯片的下端面设有薄膜式光源OLED层;本发明的微观孔道测试模型及其使用方法能够通过依次排列的适于嵌入相应仿岩心薄片样本构成相应测试通道,仿岩心薄片样本可以根据仿岩心薄片样本中微观孔道的疏密程度进行相应排序,以构成不同的测试方式,进而满足多种类型岩心薄片测试。

Description

一种微观孔道测试模型及其使用方法
技术领域
本发明涉及一种微观孔道测试模型透明芯片。
背景技术
目前我国对石油能源的需求日益增长,石油勘探的难度不断增加,研究如何进一步提高原油采出率已成为一个摆在科研工作者面前亟待解决的问题。
中国专利文献授权公告号CN 103207257 B提供了一种仿岩心结构的玻璃介质模型,其提供了一种透明模型,并且加入微气泡生成模块、微气泡分裂模块,可以在较低压力下在模型内部原位生成泡沫,不仅可以满足实验要求,且大大降低了模型的制作成本。
但是该技术方案的防岩心结构的微观孔道固定在玻璃基片上,不可替换,无法满足大量样本测试要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种微观孔道测试模型及其使用方法,以适于完成多仿岩心薄片样本测试,并且能够清晰观察仿岩心薄片样本中相应微观孔道内多相流体的分布和流动状况。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种微观孔道测试模型,包括:透明芯片,所述透明芯片上设有若干个依次排列的适于嵌入相应仿岩心薄片样本的凹部,且各凹部之间通过相应的流道依次相连,其中在第一凹部的进液口连接有进液池,最后凹部的出液口连接有排液池;位于透明芯片的上端面密封有透明上盖,以及透明芯片的下端面设有薄膜式光源OLED层。
进一步,所述进液池旁还设有进气口,且进液池和进气口与第一凹部的进液口之间依次刻蚀有微气泡生成模块、微气泡分裂模块。
进一步,所述透明上盖的上端面设有热源装置,所述薄膜式光源OLED层的下端面设有冷源装置;以及各凹部的进液口高于该凹部的出液口。
进一步,所述热源装置和冷源装置包括若干上、下对称设置的半导体致冷片;所述热源装置中的半导体致冷片的热端贴于位于凹部正上方的透明上盖的上端面处,所述冷源装置的半导体致冷片的冷端贴于位于凹部正下方的薄膜式光源OLED层的下端面处;以及所述半导体致冷片的覆盖面积小于凹部面积。
又一方面,本发明还提供了一种微观孔道测试模型的使用方法,向微观孔道测试模型内注入测试溶液,以观测微观孔道测试模型内各仿岩心薄片样本中相应微观孔道内多相流体的分布和流动状况。
进一步,在热源装置、冷源装置通电后,在仿岩心薄片样本的上、下侧形成温差,以促使仿岩心薄片样本中测试溶液从上向下渗透;当所述薄膜式光源OLED层点亮后,从透明芯片的一侧观察仿岩心薄片样本中测试溶液从上向下渗透状况。
进一步,所述测试溶液适于从上一仿岩心薄片样本完成从上向下渗透后,进入下一仿岩心薄片样本;以及当测试溶液进入下一仿岩心薄片样本后,开启该仿岩心薄片样本对应的上、下半导体致冷片。
本发明的有益效果是,本发明的微观孔道测试模型及其使用方法能够通过依次排列的适于嵌入相应仿岩心薄片样本构成相应测试通道,仿岩心薄片样本可以根据仿岩心薄片样本中微观孔道的疏密程度进行相应排序,以构成不同的测试方式,进而满足多种类型岩心薄片测试。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的微观孔道测试模型的侧面结构示图;
图2是本发明的微观孔道测试模型的俯视结构示图。
图中:
透明芯片1、仿岩心薄片样本101、流道102、进液池103、排液池104、进气口105、微气泡生成模块106、微气泡分裂模块107;
透明上盖2;
薄膜式光源OLED层3、单个OLED光源301;
热源装置41、冷源装置42、半导体致冷片400。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
实施例1
如图1和图2所示,本发明提供了一种微观孔道测试模型,包括:透明芯片1,所述透明芯片1上设有若干个依次排列的适于嵌入相应仿岩心薄片样本101的凹部,且各凹部之间通过相应的流道102依次相连,其中在第一凹部的进液口连接有进液池103,最后凹部的出液口连接有排液池104;位于透明芯片1的上端面密封有透明上盖2,以及透明芯片1的下端面设有薄膜式光源OLED层3,所述薄膜式光源OLED层3呈阵列分布有若干单个OLED光源301。
在测试时,先将各仿岩心薄片样本分别放入相应凹部中,可以根据仿岩心薄片样本中微观孔道(微流道)的疏密程度进行排序,测试溶液可以从位于第一凹部的仿岩心薄片样本起依次流经其余各凹部的仿岩心薄片样本;同时,薄膜式光源OLED层亮起,可以在适当的亮度下观测测试溶液在各仿岩心薄片样本中相应微观孔道内多相流体的分布和流动状况,也可在仿岩心结构的微观孔道饱和原油的情况下进行泡沫驱油实验。
优选的,所述流道102的长为5毫米,宽度为1毫米,深度为10微米。
进一步,所述进液池103旁还设有进气口105,且进液池103和进气口105与第一凹部的进液口之间依次刻蚀有微气泡生成模块106、微气泡分裂模块107。
具体的,从将气体从进气口注入,同时将一定浓度的表面活性剂溶液(测试溶液)从第一进液口注入仿岩心薄片样本中,气液两相在微气泡生成模块及微气泡分裂模块中发生切割分裂产生微观泡沫,然后注入到仿岩心薄片样本中的微观孔道内。
可选的,所述进液池103、排液池104、进气口105均刻蚀于透明上盖2。
可选的,所述透明芯片采用玻璃介质材料,透明上盖采用石英玻璃薄片。
所述透明上盖的上端面设有热源装置,所述薄膜式光源OLED层的下端面设有冷源装置;以及各凹部的进液口高于该凹部的出液口。
所述热源装置和冷源装置包括若干上、下对称设置的半导体致冷片;所述热源装置中的半导体致冷片的热端贴于位于凹部正上方的透明上盖的上端面处,所述冷源装置的半导体致冷片的冷端贴于位于凹部正下方的薄膜式光源OLED层的下端面处;以及所述半导体致冷片的覆盖面积小于凹部面积。
实施例2
在实施例1基础上,本实施例2还提供了一种微观孔道测试模型的使用方法。
所述使用方法包括:向微观孔道测试模型内注入测试溶液,以观测微观孔道测试模型内各仿岩心薄片样本中相应微观孔道内多相流体的分布和流动状况。
所述微观孔道测试模型适于采用实施例1所述的微观孔道测试模型。
具体的,在热源装置、冷源装置通电后,在仿岩心薄片样本的上、下侧形成温差,以模拟地下岩层的温度环境,分析流体在地下岩层中的渗透情况(流体分布和流动状况),以促使仿岩心薄片样本中测试溶液从上向下渗透;当所述薄膜式光源OLED层点亮后,从透明芯片的一侧观察仿岩心薄片样本中测试溶液从上向下渗透状况;可以配合CCD图像传感器进行观测。
进一步,所述测试溶液适于从上一仿岩心薄片样本完成从上向下渗透后,进入下一仿岩心薄片样本;以及当测试溶液进入下一仿岩心薄片样本后,开启该仿岩心薄片样本对应的上、下半导体致冷片。具体的,可以根据仿岩心薄片样本中微观孔道的疏密程度进行排序,并且各半导体致冷片均可以采用独立控制,以使各类型仿岩心薄片样本分别获得相应不同温度,以丰富实验数据。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (8)

1.一种微观孔道测试模型,其特征在于,包括:透明芯片,所述透明芯片上设有若干个依次排列的适于嵌入相应仿岩心薄片样本的凹部,且各凹部之间通过相应的流道依次相连,其中
在第一凹部的进液口连接有进液池,最后凹部的出液口连接有排液池;
位于透明芯片的上端面密封有透明上盖,以及透明芯片的下端面设有薄膜式光源OLED层。
2.根据权利要求1所述的微观孔道测试模型,其特征在于,所述进液池旁还设有进气口,且进液池和进气口与第一凹部的进液口之间依次刻蚀有微气泡生成模块、微气泡分裂模块。
3.根据权利要求2所述的微观孔道测试模型,其特征在于,所述透明上盖的上端面设有热源装置,所述薄膜式光源OLED层的下端面设有冷源装置;以及
各凹部的进液口高于该凹部的出液口。
4.根据权利要求3所述的微观孔道测试模型,其特征在于,所述热源装置和冷源装置包括若干上、下对称设置的半导体致冷片;
所述热源装置中的半导体致冷片的热端贴于位于凹部正上方的透明上盖的上端面处,所述冷源装置的半导体致冷片的冷端贴于位于凹部正下方的薄膜式光源OLED层的下端面处;以及
所述半导体致冷片的覆盖面积小于凹部面积。
5.一种微观孔道测试模型的使用方法,其特征在于,
向微观孔道测试模型内注入测试溶液,以观测微观孔道测试模型内各仿岩心薄片样本中相应微观孔道内多相流体的分布和流动状况。
6.根据权利要求5所述的使用方法,其特征在于,其特征在于,所述微观孔道测试模型适于采用如权利要求4所述的微观孔道测试模型。
7.根据权利要求6所述的使用方法,其特征在于,
在热源装置、冷源装置通电后,在仿岩心薄片样本的上、下侧形成温差,以促使仿岩心薄片样本中测试溶液从上向下渗透;
当所述薄膜式光源OLED层点亮后,从透明芯片的一侧观察仿岩心薄片样本中测试溶液从上向下渗透状况。
8.根据权利要求7所述的使用方法,其特征在于,其特征在于,
所述测试溶液适于从上一仿岩心薄片样本完成从上向下渗透后,进入下一仿岩心薄片样本;以及
当测试溶液进入下一仿岩心薄片样本后,开启该仿岩心薄片样本对应的上、下半导体致冷片。
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