CN106209492B - 一种背板的误码测试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种误码率测试方法及系统，用以解决现有技术中存在的误码测试时间较长的问题。方法包括：初始化测试参数，测试参数包括采样点的相位偏转范围、至少两个误码率等级；相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位，至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级；根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果；其中，测试结果包括至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，误码余量为在采样点的相位偏转范围内进行测量得到的相位偏转值的最大值与最小值构成的范围，在误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率均小于预设的误码率阈值。

Description

一种背板的误码测试方法及系统

技术领域

本申请实施例涉及通信技术领域，尤其设计一种背板的误码测试方法及系统。

背景技术

随着100Gbps标准的不断演进，出于对设备之间互连密度和功耗的考虑，单通道信号的速率也逐渐从10Gbps演变为更高的速率。由于单通道信号速率提升，背板的印制电路板(英文：Printed Circuit Board，简称：PCB)的设计和制作难度大幅攀升，加工物理参数包括整体层偏、介质厚度、钻孔孔径、背钻(STUB)等都将对SI性能及系统余量造成影响，因此急需一种有效的生产测试手段检测高速背板SI性能。

现有的测试高速背板SI性能通过测试误码率来实现，误码率测试是在误码等级下有效的检测被测背板的传输性能。现有技术中针对各个信号速率的信号在1e-15误码等级下误码测试时间如表1所示。从表1中可以看出最高速率的25Gbps信号在1e-15误码等级下误码测试时间还大概需要3000分钟，约合50小时，因此这种测试速度无法满足生产制造的要求。

表1

发明内容

本申请实施例提供了一种误码率测试方法及系统，用以解决现有技术中存在的误码测试时间较长的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种背板的误码测试方法，包括：

初始化测试参数，所述测试参数包括采样点的相位偏转范围、至少两个误码率等级；所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位，所述至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级；然后根据输入的测试信号以及所述测试参数进行误码率测试，得到测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，所述误码余量为在所述采样点的相位偏转范围内进行测量得到的相位偏转值的最大值与最小值构成的范围，在所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率均小于预设的误码率阈值。

本申请实施例中通过在所述至少两个误码率等级中的每个误码率等级下，测试不同的相位偏转值下的误码率从而得到所测得到的误码率小于误码率阈值的相位偏转的最大值和最小值构成的范围，即误码余量。其中，在最大值到最小值构成的范围中的每个相位偏转值测到的误码率均小于误码率阈值。从而根据该至少两个误码率等级对应的误码余量，可以推断出误码率等级与误码余量的对应关系，从而可以推断出更高误码率等级(大于等于预设的误码率等级)对应的误码余量。由于测试误码率等级低的误码率消耗的时间比测试误码率等级高的消耗的时间短，从而节省了测试时间。另外通过本申请提出的方案，能够获得该待测试的背板的误码余量，因此可以通过误码余量来分析背板所存在的信号完整性。

可选地，所述误码率阈值为所述背板能够承受的误码率的最大值。或者所述误码率阈值可以为零。

在其中一种可能的设计中，所述测试参数中还包括待确定的误码率等级，所述待确定的误码率等级高于所述至少两个误码率等级中的任意一个；所述方法还可以包括：根据所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，得到误码率等级与误码余量的对应关系；根据所述误码率等级与误码余量的对应关系，估计所述待确定的误码率等级对应的误码余量。

由于误码率等级与误码余量之间的对应关系遵循浴盆曲线，因此上述设计中，设备可以直接根据该至少两个误码率等级对应的误码余量，确定出误码率等级与误码余量的对应关系，即浴盆曲线，从而确定出更高误码率等级对应的误码余量。由于测试误码率等级低的误码率消耗的时间比测试误码率等级高的消耗的时间短，从而节省了测试时间。另外通过本申请提出的方案，能够获得该待测试的背板的误码余量，因此可以通过误码余量来分析背板所存在的信号完整性。

在一种可能的设计中，在估计到的所述待确定的误码率等级对应的误码余量小于预设的误码余量时，确定所述背板存在故障；其中，所述预设的误码余量是预先在所述待确定的误码率等级下针对标准背板测试得到的。

上述设计中，能够直接确定背板是否存在故障，使得测试人员能够更直观的确定测试结果。

在一种可能的设计中，所述测试结果中还包括每个误码率等级下的输出信号的最大幅值与最小幅值；所述方法还包括：根据测试结果构建数字眼图，所述数字眼图的横坐标表示相位偏转值，所述数字眼图的纵坐标表示输出信号的幅值；所述数字眼图中眼宽指示每个误码率等级下的误码余量，所述数字眼图中的眼高指示每个误码率等级下的输出信号的幅值最大值与最小值的差。

上述设计中，数字眼图与眼图仪或者示波器绘制的眼图不同。眼图仪或者示波器绘制的眼图是通过对接收端信号实时采样，获得N个周期后的信号波形合成眼图。采样间隔为1符号间隔(英文：Unit Interval，简称：UI)。数字眼图本质是BER概率分布，通过移动误码测试判决点，即更改误码测试判决点的相位，获取在1UI内的不同相位和幅值的BER的概率分布，从而实现数字眼图的绘制。

在一种可能的设计中，在根据测试结果构建数字眼图后，所述方法还可以包括：将构建的所述数字眼图显示；所述数字眼图中还包括预设的误码余量以及待确定的误码率等级对应的误码余量，显示的数字眼图中，在待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线完全位于所述预设的误码余量对应的曲线外时，表明所述背板正常，否则表明所述背板存在故障。

上述设计中，通过数字眼图显示待确定的误码率等级对应的误码余量以及预设的误码余量，能够更直观的显示出背板的误码余量以及SI性能，并降低了生产过程中的SI风险，同时降低了测试时间。

在一种可能的设计中，所述相位偏转范围包括[-A，A]以及步进长度b；根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果，可以通过如下方式实现：

按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，在测试的误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值，再按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，在误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值；或者，

按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值，再按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值。

通过上述设计，按照逐渐增大相位偏转值的方式进行误码率测试，当确定误码率大于预设的误码率阈值时即时停止测试，节省了测试时间。

第二方面，本申请实施例提供了一种背板的误码率测试装置，该装置包括：控制单元，以及测试单元；测试单元在所述控制单元的控制下执行第一方面或第一方面的任意一种设计所述的方法。测试单元可以由测试线卡实现，控制单元由处理器实现。

第三方面，本申请实施例提供了一种背板的误码测试系统，包括待测试的背板，测试线卡，控制器；

所述控制器，用于获取预配置的测试参数，所述测试参数包括采样点相位偏转范围、至少两个误码率等级；所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位，所述至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级；并向所述测试线卡发送测试指令，所述测试指令携带所述测试参数；

所述测试线卡，用于在接收到所述控制器发送的所述测试指令后，初始化所述测试参数，并向所述待测试的背板发送测试信号；接收所述待测试的背板在接收到所述测试信号后发回的输出信号；基于发送的所述测试信号以及收到的所述输出信号进行误码率测试，得到测试结果；

其中，所述测试结果包括所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，所述误码余量为在所述采样点的相位偏转范围内测量得到的相位偏转值的最大值与最小值构成的范围，在所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率小于预设的误码率阈值。

可选地，所述误码率阈值为针对所述待测试的背板能够承受的误码率的最大值。或者所述误码率阈值为零。

在一种可能的设计中，所述测试线卡支持相位调节控制PRC、或者支持增益控制ACC、或者支持动态数据调节DDC。

在一种可能的设计中，所述测试参数中还包括待确定的误码率等级，所述待确定的误码率等级高于所述至少两个误码率等级中的任意一个，所述测试线卡还用于：根据所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量得到误码率等级与误码余量的对应关系；根据所述误码率等级与误码余量的对应关系得到所述待确定的误码率等级对应的误码余量。

在一种可能的设计中，所述测试线卡还用于：在确定所述待确定的误码率等级对应的误码余量小于预设的误码余量时，确定所述背板存在故障，所述误码余量是预先在所述待确定的误码率等级下针对标准背板测试得到的。

在一种可能的设计中，所述测试结果中还包括每个误码率等级下的输出信号的最大幅值与最小幅值；所述测试线卡还用于：根据测试结果构建数字眼图，所述数字眼图的横坐标表示相位偏转值，所述数字眼图的纵坐标表示输出信号的幅值；所述数字眼图中眼宽指示所述每个误码率等级下的误码余量，所述数字眼图中的眼高指示所述每个误码率等级下的输出信号的幅值最大值与最小值的差。

在一种可能的设计中，所述系统还可以包括显示器；所述测试线卡将所述数字眼图通过所述显示器显示，其中，显示的数字眼图中还包括预设的误码余量以及待确定的误码率等级对应的误码余量，显示的所述数字眼图中，在待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线位于所述预设的误码余量对应的曲线外时，表明所述背板正常，否则表明所述背板存在故障。

在一种可能的设计中，所述相位偏转范围包括[-A，A]以及步进长度b；所述测试线卡在根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果时，具体用于按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，在测试的误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值，再按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，在误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值；或者，按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值，再按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值。

附图说明

图1为本发明实施例提供的误码测试系统示意图；

图2为本发明实施例提供背板的误码测试系统示意图；

图3A～图3B为本发明实施例提供的误码率对应的浴盆曲线示意图；

图4为本发明实施例提供的误码余量对应的浴盆曲线示意图；

图5为本发明实施例提供的误码余量对应的数字眼图示意图；

图6为本发明实施例提供的另一种误码测试系统测试示意图；

图7为本发明实施例提供的数字眼图测试方法流程图；

图8A本发明实施例提供的误码率测试通过时的眼图示意图；

图8B为本发明实施例提供的误码率测试失败时的眼图示意图；

图9为本发明实施例提供的误码率测试方法流程图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

本申请实施例提供一种背板的误码测试方法及系统，用以解决现有技术中存在的误码测试时间较长的问题。其中，方法和装置是基于同一发明构思的，由于方法及装置解决问题的原理相似，因此装置与方法的实施可以相互参见，重复之处不再赘述。

如图1，现有的误码测试系统一般包括误码仪、发送设备、接收设备以及传输信道。

发送设备用于将测试信号变换成适合传输信道的传输特性的信号。传输信道为测试信号从发送到接收中间要经过的通道，传输信道又称传输媒质。不同的传输信道有不同的传输特性。如电缆、光缆、无线电波、背板等等。本申请中针对背板进行误码测试。接收设备使用接收传送过来的信号，并进行处理，来恢复发送端发送的信号。

误码仪的发送端会以连续或者突发的模式产生序列数据作为测试信号。接收端产生同频、同相、同码型的数据流。误码仪将接收到的数据流以及本身产生的数据逐比特进行比较，并进行误码统计。

本申请实施例中针对高速背板测试提供了一种误码测试系统，通过该误码测试系统测试背板误码率能够节省测试时间，并且能够获得该背板的误码余量，因此可以通过误码余量来分析背板所存在的信号完整性(英文：Signal Integrity，简称：SI)的风险。

参见图2为本申请实施例提供的背板的误码测试系统，该误码测试系统包括：控制器201，测试线卡202，待测试的背板203。

控制器201中可以包括处理模块201a、存储模块201b以及通信接口201c。其中处理模块201a、存储模块201b以及通信接口201c三者相互连接。本申请实施例中不限定上述通信接口201c、处理模块201a以及存储模块201b之间的具体连接介质。本申请实施例在图2中以存储模块201b、处理模块201a以及通信接口201c之间通过总线连接，总线在图2中以粗线表示，其它部件之间的连接方式，仅是进行示意性说明，并不引以为限。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图2中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

本申请实施例中处理模块201a可以由中央处理单元(英文：Central ProcessingUnit，简称：CPU)或者现场可编程逻辑门阵列(英文：Field Programmable Gate Array，简称：FPGA)等实现。

存储模块201b可以由易失性存储器(英文：volatile memory)实现，例如随机存取存储器(英文：random-access memory，缩写：RAM)；也可以由非易失性存储器(英文：non-volatile memory)实现，例如只读存储器(英文：read-only memory，缩写：ROM)，快闪存储器(英文：flash memory)，硬盘(英文：hard disk drive，缩写：HDD)或固态硬盘(英文：solid-state drive，缩写：SSD)、或者存储模块201b是能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。存储模块201b还可以是上述存储器的组合。

控制器201支持高速总线信号完整性测试技术。其中，控制器201中的处理模块可以通过通信接口与测试线卡202建立连接，来向测试线卡202下发测试指令来启动测试线卡202的内嵌的高速SI测试。测试线卡202的通信协议在控制器201对应的测试执行平台(ATE)可以封装为标准接口，然后通过预配置在测试线卡202中的测试脚本来执行测试。因此控制器201用于通过发送测试指令来控制测试线卡202收发测试数据、参数配置、环境监控、以及上报和处理测试得到的数据。

测试线卡202可以是支持相位调节控制(英文：Phase Rotator Control，简称：PRC)、或者支持增益控制(英文：Amplitude Center Control，简称：ACC)、或者支持动态数据调节(英文：Dynamic Data Center，简称：DDC)等控制技术的芯片。如果待测试的背板203要求25Gbps传输速率，则该测试线卡202为支持25Gbps速率的芯片，且所述测试线卡中包括相位调节电路以及幅值调节电路。测试线卡202与待测量的背板203建立测试通路。

本申请实施例中配置的测试参数包括：采样点的相位偏转范围、至少两个误码率等级。其中，所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位。所述至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级，即至少两个误码率等级均是低等级的。

控制器201向测试线卡202发送测试指令中携带了上述测试参数。

本申请实施例中通过调节测试线卡的相位调节电路来移动测试判定点，更改测试判决点的相位。还可以调节测试线卡的幅值调节电路移动测试判决点，更改测试判决点的幅值。从而获得1UI内不同相位和幅值的采样点下的误码率分布。

所述测试线卡202，用于在接收到控制器201发送的测试指令后，初始化所述测试参数，并向所述待测试的背板203发送测试信号。

然后测试线卡202接收待测试的背板203在接收到所述测试信号后发回的输出信号；基于发送的测试信号以及收到的输出信号进行误码率测试，得到测试结果。

其中，所述测试结果包括所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，所述误码余量为测量得到的相位偏转的最大值与最小值构成的范围，所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率小于预设的误码率阈值。

其中，所述误码率阈值可以为针对所述待测试的背板能够承受的误码率的最大值，或者误码率阈值可以设置为零，即无误码。

本申请实施例中通过在所述至少两个误码率等级中的每个误码率等级下，测试不同的相位偏转值下的误码率从而得到所测得到的误码率小于误码率阈值的相位偏转的最大值和最小值构成的范围，即误码余量。其中，在所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率均小于误码率阈值。从而根据该至少两个误码率等级对应的误码余量，可以推断出误码率等级与误码余量的对应关系，从而可以推断出更高误码率等级对应的误码余量。由于测试误码率等级低的误码率消耗的时间比测试误码率等级高的消耗的时间短，从而节省了测试时间。另外通过本申请提出的方案，能够获得该待测试的背板的误码余量，因此可以通过误码余量来分析背板所存在的信号完整性。

可选地，可以通过系统直接完成获取高误码率等级对应的误码余量。在所述测试参数中包括待确定的误码率等级，所述待确定的误码率等级高于所述至少两个误码率等级中的任意一个，所述测试线卡202还用于：

根据所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量确定误码率等级与误码余量的对应关系；

根据所述误码率等级与误码余量的对应关系确定所述待确定的误码率等级对应的误码余量。

误码率是时间t的函数，误码率与时间t函数曲线呈现浴盆曲线。浴盆曲线是(误码率)BER与时间t的函数，即BER(t)。浴盆曲线是在相对于参考始终给定的额定取样时间的不同时间t上测得的BER，如图3A和3B所示。

申请人在对本申请的发明过程中，确定误码率等级与误码余量之间的函数曲线，也呈现浴盆曲线。因此通过所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量能够确定误码率等级与误码余量的对应关系，即浴盆曲线。从而通过浴盆曲线能够外推待测量的高等级的误码率等级对应的误码余量。从而不需要花费更长的时间来测量误码率，降低了测试时间。误码率等级与误码余量对应的浴盆曲线如图4所示。纵坐标表示误码率等级，横坐标表示相位偏移值。

可选地，所述测试线卡202还用于：在确定所述待确定的误码率等级对应的误码余量小于预设的误码余量时，确定所述背板存在故障，所述预设的误码余量是预先在所述待确定的误码率等级下针对标准背板测试得到的。

本申请实施例中测试线卡中内嵌高速总线SI测试的核心在于能够获取误码余量，并且还能够准确绘制被测的背板的数字眼图。本申请实施例中的数字眼图与眼图仪或者示波器绘制的眼图不同。眼图仪或者示波器绘制的眼图是通过对接收端信号实时采样，获得N个周期后的信号波形合成眼图。采样间隔为1符号间隔(英文：Unit Interval，简称：UI)。本申请实施例中提及的数字眼图本质是BER概率分布，通过移动误码测试判决点，即更改误码测试判决点的相位，获取在1UI内的不同相位和幅值的BER的概率分布，从而实现数字眼图的绘制。

所述测试结果中还可以包括每个误码率等级下的输出信号的最大幅值与最小幅值；所述测试线卡202还用于：根据测试结果构建数字眼图，所述数字眼图的横坐标表示相位偏转值，所述数字眼图的纵坐标表示输出信号的幅值；所述数字眼图中眼宽指示每个误码率等级下的误码余量，所述数字眼图中的眼高指示每个误码率等级下的输出信号的幅值最大值与最小值的差。

本发明实施例提供的误码测试系统还可以包括显示器204，用于显示所述测试线卡构建的所述数字眼图。其中，显示的数字眼图中还可以包括预设的误码余量以及待确定的误码率等级对应的误码余量。

显示的所述数字眼图中，在待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线位于所述预设的误码余量对应的曲线(图5所示的接收模板)外时，表明所述背板正常，否则，表明所述背板存在故障，即待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线部分或者全部位于所述预设的误码余量对应的曲线内或者曲线上，均表明所述背板存在故障。

本申请实施例中，通过数字眼图显示待确定的误码率等级对应的误码余量以及预设的误码余量，能够更直观的显示出背板的误码余量以及SI性能，并降低了生产过程中的SI风险，同时降低了测试时间。

可选地，本申请实施例中相位偏转范围包括[-A，A]以及步进长度为b，那么所述测试线卡202在根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果时，可以通过如下方式实现：

第一种实现方式：按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，在测试的误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值，再按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，在误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值。

第二种实现方式：

按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值，再按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值。

本申请实施例中设置的相位偏转范围可以根据测试线卡所能支持测试的相位范围而定。

下面结合具体应用场景对本申请实施例作具体说明。

如图6所示，待测试的背板为25Gbps高速电缆(Cable)背板。测试线卡支持高速总线SI测试技术，并且能够实现高速串行解串行通信(英文：High Speed SerDes，简称：HSS)。测试线卡采用支持PRC/ACC/DDC等内嵌控制技术的25Gbps芯片。测试线卡与被测Cable背板建立测试通路。控制器通过网络与测试线卡建立连接，来下发控制指令，启动测试。测试线卡的通信协议在控制器测试平台中封装为标准接口，可以通过预配置测试脚本自动执行误码率测试得到测试结果。测试线卡以及Cable背板支持多种测试信号，比如高速serdes信号、电阻测试信号、低速通断信号等。

控制器预先配置有测试参数包括相位偏转范围为[-16，16]、误码率等级为10E-3，10E-4以及10E-5。其中，所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位。控制器201向测试线卡202发送测试指令中携带了上述测试参数。

控制器向测试线卡发送测试指令，并在测试指令中携带测试参数。

测试线卡在接收到测试参数后执行数字眼图测试，如图7所示。

S701，初始化发送端(TX)参数以及接收端(RX)参数。具体初始化设置根据实际业务预先配置。

S702，初始化数字眼图测试的BER等级(BER＝10E-M，M＝-3，M-1)。

S703，初始化相位偏转值(PR＝N，N＝0，N+1或N-1)。

S704，启动TX端发送伪随机二进制序列(PRSB)，并设定线速为25Gbps。本申请中以PRSB31为例。

S705，RX端对接收到的数据进行锁定，测试线卡中的误码寄存器启动对接收到的序列比特数进行计数，在接收达到当前设定误码率等级所需的比特数的数据后计算BER。计算后还可以将BER保存。

S706，确定测得到的BER值是否小于预设的误码阈值，若是执行S707，若否，执行S708。

S707，将PR值加1或者PR值减1，并将BER值清零，并确定PR绝对值是否小于等于16，若是，执行S705，若否，执行S708。

其中，确定PR绝对值不小于等于16时或者确定测得到的BER值不小于预设的误码阈值时，则在误码率等级下测试结束，可以获取该误码率等级下的误码余量，也就是眼宽以及眼高。每个误码率等级均测试结束后，可以完成绘制数字眼图。

S708，将误码率等级更新(M-1)，确定M是否小于-5，若否，执行S703，若是执行S709。

S709，TX端以及RX端复位，测试结束。

测试线卡在对所有的待测试的误码率等级均测试完成后，完成绘制数字眼图以及浴盆曲线。

通过数字眼图测试，可以确定不同链路性能的数字眼图变化，根据标准接收模板确定背板是否可以符合要求。

标准接收模板(预设的误码余量)基于经验值的建立，需要筛选标准高速背板，通过对标准高速背板的测试获取眼高、眼宽等参数。在标准接收模板建立完成后，作为标准测试参数传递给测试线卡作为判定条件。在测试通过的情况下(背板符合要求的情况)，数字眼图在标准接收模板之外，当发生缺陷时(背板不符合要求，发生故障)，数字眼图与标准接收模板重叠，测试失败。如图8A为测试通过的情况下数字眼图。图8B所示为测试失败情况下的数字眼图。

本申请实施例还提供了一种背板的误码测试方法，如图9所示，该方法包括：

S901，初始化测试参数，所述测试参数包括相位偏转范围、至少两个误码率等级；所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位，所述至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级。

S902，根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果。

其中，所述测试结果包括所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，所述误码余量为测量得到的相位偏转值的最大值与最小值构成的范围，在所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率小于预设的误码率阈值。

可选地，所述误码率阈值可以设置为针对所述背板能够承受的误码率的最大值，或者，所述误码率阈值设置为零。

可选地，所述测试参数中还包括待确定的误码率等级，所述待确定的误码率等级高于所述至少两个误码率等级中的任意一个。在步骤S902后，所述方法还可以包括：

S903，根据所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量得到误码率等级与误码余量的对应关系。

S904，根据所述误码率等级与误码余量的关系得到所述待确定的误码率等级对应的误码余量。

可选地，在步骤S904后，所述方法还可以包括：

S905，在确定所述待确定的误码率等级对应的误码余量小于预设的误码余量时，确定所述背板存在故障，所述预设的误码余量是预先在所述待确定的误码率等级下针对标准背板测试得到的。

可选地，所述测试结果中还包括每个误码率等级下的输出信号的最大幅值与最小幅值；所述方法还可以包括：

根据测试结果构建数字眼图，所述数字眼图的横坐标表示相位偏转值，所述数字眼图的纵坐标表示输出信号的幅值；所述数字眼图中眼宽指示每个误码率等级下的误码余量，所述数字眼图中的眼高指示每个误码率等级下的输出信号的幅值最大值与最小值的差。

在根据测试结果构建数字眼图后，所述方法还可以包括：将构建的所述数字眼图显示；所述数字眼图中还可以包括预设的误码余量以及待确定的误码率等级对应的误码余量，显示的所述数字眼图中，在待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线完全位于所述预设的误码余量对应的曲线外时，表明所述背板正常，否则表面所述背板存在故障。

所述相位偏转范围包括[-A，A]以及步进长度为b，根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果，可以通过如下方式实现：

第一种实现方式，按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，在测试的误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值，再按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，在误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值。

第二种实现方式，按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值，再按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值。

本申请实施例还提供了一种背板的误码测试装置，该装置包括控制单元以及测试单元，其中测试单元在控制单元的控制下执行上述图9对应的实施例所述的方法。具体的，测试单元可以由测试线卡实现，控制单元可以由控制器实现，具体可以参照图9对应的实施例实施，本申请在此不再赘述。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (15)

1.一种背板的误码测试方法，其特征在于，包括：

初始化测试参数，所述测试参数包括采样点的相位偏转范围、至少两个误码率等级；所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位，所述至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级；

根据输入的测试信号以及所述测试参数进行误码率测试，得到测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，所述误码余量为在所述采样点的相位偏转范围内进行测量得到的相位偏转值的最大值与最小值构成的范围，在所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率均小于预设的误码率阈值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述误码率阈值为所述背板能够承受的误码率的最大值。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述测试参数中还包括待确定的误码率等级，所述待确定的误码率等级高于所述至少两个误码率等级中的任意一个；

所述方法还包括：

根据所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，得到误码率等级与误码余量的对应关系；

根据所述误码率等级与误码余量的对应关系，估计所述待确定的误码率等级对应的误码余量。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：

在估计到的所述待确定的误码率等级对应的误码余量小于预设的误码余量时，确定所述背板存在故障；

其中，所述预设的误码余量是预先在所述待确定的误码率等级下针对标准背板测试得到的。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述测试结果中还包括每个误码率等级下的输出信号的最大幅值与最小幅值；

所述方法还包括：

根据测试结果构建数字眼图，所述数字眼图的横坐标表示相位偏转值，所述数字眼图的纵坐标表示输出信号的幅值；所述数字眼图中眼宽指示每个误码率等级下的误码余量，所述数字眼图中的眼高指示每个误码率等级下的输出信号的幅值最大值与最小值的差。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，在根据测试结果构建数字眼图后，所述方法还包括：

将构建的所述数字眼图显示；所述数字眼图中还包括预设的误码余量以及待确定的误码率等级对应的误码余量，显示的数字眼图中，在待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线完全位于所述预设的误码余量对应的曲线外时，表明所述背板正常，否则表明所述背板存在故障。

7.如权利要求1或2所述方法，其特征在于，所述相位偏转范围包括[-A，A]以及步进长度b；

根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果，包括：

按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，在测试的误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值，再按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，在误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值；或者，

按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值，再按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值。

8.一种背板的误码测试系统，其特征在于，包括待测试的背板，测试线卡，控制器，其中；

所述控制器，用于获取预配置的测试参数，所述测试参数包括采样点相位偏转范围、至少两个误码率等级；所述相位偏转范围中每个相位偏转值用于表明误码测试判决点的相位，所述至少两个误码率等级中每一误码率等级均小于预设的误码率等级；并向所述测试线卡发送测试指令，所述测试指令携带所述测试参数；

所述测试线卡，用于在接收到所述控制器发送的所述测试指令后，初始化所述测试参数，并向所述待测试的背板发送测试信号；接收所述待测试的背板在接收到所述测试信号后发回的输出信号；基于发送的所述测试信号以及收到的所述输出信号进行误码率测试，得到测试结果；

其中，所述测试结果包括所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量，所述误码余量为在所述采样点的相位偏转范围内测量得到的相位偏转值的最大值与最小值构成的范围，在所述误码余量中的每个相位偏转值测到的误码率小于预设的误码率阈值。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述误码率阈值为针对所述待测试的背板能够承受的误码率的最大值。

10.如权利要求8或9所述的系统，其特征在于，所述测试线卡支持相位调节控制PRC、或者支持增益控制ACC、或者支持动态数据调节DDC。

11.如权利要求8或9所述的系统，其特征在于，所述测试参数中还包括待确定的误码率等级，所述待确定的误码率等级高于所述至少两个误码率等级中的任意一个，所述测试线卡还用于：

根据所述至少两个误码率等级中每个误码率等级下的误码余量得到误码率等级与误码余量的对应关系；

根据所述误码率等级与误码余量的对应关系得到所述待确定的误码率等级对应的误码余量。

12.如权利要求11所述的系统，其特征在于，所述测试线卡还用于：在确定所述待确定的误码率等级对应的误码余量小于预设的误码余量时，确定所述背板存在故障，所述误码余量是预先在所述待确定的误码率等级下针对标准背板测试得到的。

13.如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述测试结果中还包括每个误码率等级下的输出信号的最大幅值与最小幅值；

所述测试线卡还用于：

根据测试结果构建数字眼图，所述数字眼图的横坐标表示相位偏转值，所述数字眼图的纵坐标表示输出信号的幅值；所述数字眼图中眼宽指示所述每个误码率等级下的误码余量，所述数字眼图中的眼高指示所述每个误码率等级下的输出信号的幅值最大值与最小值的差。

14.如权利要求13所述的系统，其特征在于，还包括显示器；

所述测试线卡将所述数字眼图通过所述显示器显示，其中，显示的数字眼图中还包括预设的误码余量以及待确定的误码率等级对应的误码余量，显示的所述数字眼图中，在待确定的误码率等级对应的误码余量对应曲线位于所述预设的误码余量对应的曲线外时，表明所述背板正常，否则表明所述背板存在故障。

15.如权利要求8或9所述系统，其特征在于，所述相位偏转范围包括[-A，A]以及步进长度b；

所述测试线卡在根据输入的测试信号以及测试参数进行误码率测试，得到测试结果时，具体用于：

按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，在测试的误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值，再按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，在误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值；或者，

按照由0至-A顺序，每次相位偏转值步进长度为-b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到-A时，记录当前的相位偏转值作为误码余量的最小值，再按照由0至A顺序，每次相位偏转值步进长度为b的规则进行误码率测试，确定误码率大于预设的误码率阈值或者相位偏转值步进到A时停止测试，并记录当前的相位偏转值作为误码余量的最大值。