CN104699580A - 一种sas存储板卡的环回测试方法及装置 - Google Patents

一种sas存储板卡的环回测试方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104699580A
CN104699580A CN201510125069.1A CN201510125069A CN104699580A CN 104699580 A CN104699580 A CN 104699580A CN 201510125069 A CN201510125069 A CN 201510125069A CN 104699580 A CN104699580 A CN 104699580A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sas
passage
signal
receiving end
signal receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510125069.1A
Other languages
English (en)
Inventor
王献飞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Inspur Group Co Ltd
Original Assignee
Inspur Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inspur Group Co Ltd filed Critical Inspur Group Co Ltd
Priority to CN201510125069.1A priority Critical patent/CN104699580A/zh
Publication of CN104699580A publication Critical patent/CN104699580A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

本发明公开了一种SAS存储板卡的环回测试方法,所述测试方法将SAS存储板卡的SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,通过对比接收到的信号与发送的信号的差异来判断通道的质量。本发明还公开了一种SAS存储板卡的环回测试装置,所述测试装置包括SAS通道的信号接收端和发送端,其中SAS通道的信号接收端与信号发送端相连,构成环回SAS通道本发明公开的环回测试方法和装置可以大幅度缩减存储板卡生产检测的成本,缩短检测时间,提高检测质量。

Description

一种SAS存储板卡的环回测试方法及装置
技术领域
本发明涉及存储技术领域,具体涉及一种SAS存储板卡的环回测试方法及装置。
背景技术
在SAS存储板卡的生产检测中,有一个环节是对SAS通道的检测,即检测SAS通道的稳定性。
当前的检测一般是通过连接硬盘进行读写测试来判断SAS通道的质量。这种测试方法的弊端是:需要准备较多的硬盘,测试时间长,硬盘本身也是一种不稳定的因素,而且测试结果并不能准确衡量SAS通道的质量。随着SAS板卡的SAS通道越来越多,SAS通道的检测工艺需要耗费较大的时间与成本。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种测试方法及装置,以解决目前SAS板卡生产检测中效率低,成本大的问题。
本发明所采用的技术方案为:
一种SAS存储板卡的环回测试方法,所述测试方法将SAS存储板卡的SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,通过对比接收到的信号与发送的信号的差异来判断通道的质量。
所述SAS通道的信号发送端与信号接收端相连方式如下:将SAS通道的Tx+信号线与自身的Rx+信号线相连,Tx-信号线与自身的Rx-信号线相连。
SAS通道的信号发送端(Transmitter)以固定的数据序列发送数据;这样SAS通道的信号接收端(Receiver)可以收到自己发送给自己的数据;SAS通道的信号接收端(Receiver)根据信号发送端(Transmitter)发送的固定的数据序列检查收到的数据,并计算出现错误数据的错误率是否符合标准。
所述测试方法包括步骤如下:
步骤21,SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,使SAS通道构成一个环回链路;
步骤22,SAS通道的信号发送端以固定的数据序列发送数据;
步骤23,SAS通道的信号接收端接收到发送端传输来的数据;
步骤24,SAS通道的信号接收端将收到的错误数据计数存放在特定的寄存器中;
步骤25,SAS存储板卡的中央处理器读取SAS通道的信号接收端的错误计数寄存器以计算单位时间内的传输错误率,依此判断SAS通道是否符合质量要求。
一种SAS存储板卡的环回测试装置,所述测试装置包括SAS通道的信号接收端和发送端,其中SAS通道的信号接收端与信号发送端相连,构成环回SAS通道,以达到使连接于此装置的SAS通道的信号发送端与信号接收端组成环回的目的。
测试时,环回测试装置的SAS通道的信号接收端连接要测试的存储板卡的SAS通道的信号发送端,以接受存储板卡的SAS通道发送的数据;环回测试装置的SAS通道的信号发送端连接要测试的存储板卡的SAS通道的信号接收端,以转发环回测试装置的SAS通道的信号接收端所接受到的数据。 
所述测试装置包括若干个环回SAS通道。
本发明的有益效果为:本发明公开的环回测试方法和装置可以大幅度缩减存储板卡生产检测的成本,缩短检测时间,提高检测质量。
附图说明
图1 为本发明中SAS通道示意图;
图2 为本发明中SAS通道环回示意图;
图3 为本发明中SAS通道环回测试装置示意图;
图4 为本发明中SAS通道环回测试示意图。
具体实施方式
下面参照附图所示,通过具体实施方式对本发明进一步说明:
一种SAS存储板卡的环回测试方法,SAS存储板卡包括一到多个SAS通道,如图1所示,SAS通道包括信号发送端和信号接收端,信号发送端负责向目标通道传输数据,信号接收端负责接收来自目标通道的数据,如图2所示,所述测试方法将SAS存储板卡的SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,通过对比接收到的信号与发送的信号的差异来判断通道的质量。 
所述SAS通道的信号发送端与信号接收端相连方式如下:将SAS通道的Tx+信号线与自身的Rx+信号线相连,Tx-信号线与自身的Rx-信号线相连。
SAS通道的信号发送端(Transmitter)以固定的数据序列发送数据;这样SAS通道的信号接收端(Receiver)可以收到自己发送给自己的数据;SAS通道的信号接收端(Receiver)根据信号发送端(Transmitter)发送的固定的数据序列检查收到的数据,并计算出现错误数据的错误率是否符合标准。
所述测试方法包括步骤如下:
步骤21,SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,使SAS通道构成一个环回链路;
步骤22,SAS通道的信号发送端以固定的数据序列发送数据;
步骤23,SAS通道的信号接收端接收到发送端传输来的数据;
步骤24,SAS通道的信号接收端将收到的错误数据计数存放在特定的寄存器中;
步骤25,SAS存储板卡的中央处理器读取SAS通道的信号接收端的错误计数寄存器以计算单位时间内的传输错误率,依此判断SAS通道是否符合质量要求。
如图3所示,一种SAS存储板卡的环回测试装置,所述测试装置包括SAS通道的信号接收端和发送端,其中SAS通道的信号接收端与信号发送端相连,构成环回SAS通道,以达到使连接于此装置的SAS通道的信号发送端与信号接收端组成环回的目的。
如图4所示,测试时,环回测试装置的SAS通道的信号接收端连接要测试的存储板卡的SAS通道的信号发送端,以接受存储板卡的SAS通道发送的数据;环回测试装置的SAS通道的信号发送端连接要测试的存储板卡的SAS通道的信号接收端,以转发环回测试装置的SAS通道的信号接收端所接受到的数据。
所述测试装置包括若干个环回SAS通道。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (5)

1.一种SAS存储板卡的环回测试方法,其特征在于:所述测试方法将SAS存储板卡的SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,通过对比接收到的信号与发送的信号的差异来判断通道的质量。
2.根据权利要求1所述的一种SAS存储板卡的环回测试方法,其特征在于,所述SAS通道的信号发送端与信号接收端相连方式如下:将SAS通道的Tx+信号线与自身的Rx+信号线相连,Tx-信号线与自身的Rx-信号线相连。
3.根据权利要求1所述的一种SAS存储板卡的环回测试方法,其特征在于,所述测试方法,包括步骤如下:
步骤21,SAS通道的信号发送端与信号接收端相连,使SAS通道构成一个环回链路;
步骤22,SAS通道的信号发送端以固定的数据序列发送数据;
步骤23,SAS通道的信号接收端接收到发送端传输来的数据;
步骤24,SAS通道的信号接收端将收到的错误数据计数存放在特定的寄存器中;
步骤25,SAS存储板卡的中央处理器读取SAS通道的信号接收端的错误计数寄存器以计算单位时间内的传输错误率,依此判断SAS通道是否符合质量要求。
4.一种SAS存储板卡的环回测试装置,其特征在于:所述测试装置包括SAS通道的信号接收端和发送端,其中SAS通道的信号接收端与信号发送端相连,构成环回SAS通道。
5.根据权利要求3所述的一种SAS存储板卡的环回测试装置,其特征在于:所述测试装置包括若干个环回SAS通道。
CN201510125069.1A 2015-03-20 2015-03-20 一种sas存储板卡的环回测试方法及装置 Pending CN104699580A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510125069.1A CN104699580A (zh) 2015-03-20 2015-03-20 一种sas存储板卡的环回测试方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510125069.1A CN104699580A (zh) 2015-03-20 2015-03-20 一种sas存储板卡的环回测试方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104699580A true CN104699580A (zh) 2015-06-10

Family

ID=53346738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510125069.1A Pending CN104699580A (zh) 2015-03-20 2015-03-20 一种sas存储板卡的环回测试方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104699580A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108280004A (zh) * 2018-01-22 2018-07-13 郑州云海信息技术有限公司 一种sxm2 gpu链路测试板卡及测试方法
CN109921959A (zh) * 2019-03-22 2019-06-21 维沃移动通信有限公司 一种参数调整方法及通信设备
CN112261673A (zh) * 2020-09-27 2021-01-22 比科奇微电子(杭州)有限公司 环回测试的方法及装置
CN114264996A (zh) * 2021-11-30 2022-04-01 上海御渡半导体科技有限公司 一种ate设备dc校准有效性的检测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047393A (en) * 1997-06-13 2000-04-04 Advantest Corporation Memory testing apparatus
JP2003057308A (ja) * 2001-08-16 2003-02-26 Hitachi Ltd 電子装置及び電子装置の良否の検査方法
CN101359307A (zh) * 2007-08-03 2009-02-04 英业达股份有限公司 Sas信道的测试装置及其测试方法
CN101377754A (zh) * 2007-08-30 2009-03-04 英业达股份有限公司 桥接sas信道测试系统及其测试方法
CN101930393A (zh) * 2009-06-26 2010-12-29 英业达股份有限公司 Sas背板的测试装置
CN103970636A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 昆达电脑科技(昆山)有限公司 Sas通道检测系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047393A (en) * 1997-06-13 2000-04-04 Advantest Corporation Memory testing apparatus
JP2003057308A (ja) * 2001-08-16 2003-02-26 Hitachi Ltd 電子装置及び電子装置の良否の検査方法
CN101359307A (zh) * 2007-08-03 2009-02-04 英业达股份有限公司 Sas信道的测试装置及其测试方法
CN101377754A (zh) * 2007-08-30 2009-03-04 英业达股份有限公司 桥接sas信道测试系统及其测试方法
CN101930393A (zh) * 2009-06-26 2010-12-29 英业达股份有限公司 Sas背板的测试装置
CN103970636A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 昆达电脑科技(昆山)有限公司 Sas通道检测系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈昀 等: ""第三代SAS信号完整性测试分析"", 《江西通信科技》 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108280004A (zh) * 2018-01-22 2018-07-13 郑州云海信息技术有限公司 一种sxm2 gpu链路测试板卡及测试方法
CN108280004B (zh) * 2018-01-22 2021-10-29 郑州云海信息技术有限公司 一种sxm2 gpu链路测试板卡及测试方法
CN109921959A (zh) * 2019-03-22 2019-06-21 维沃移动通信有限公司 一种参数调整方法及通信设备
CN112261673A (zh) * 2020-09-27 2021-01-22 比科奇微电子(杭州)有限公司 环回测试的方法及装置
CN112261673B (zh) * 2020-09-27 2023-04-25 比科奇微电子(杭州)有限公司 环回测试的方法及装置
CN114264996A (zh) * 2021-11-30 2022-04-01 上海御渡半导体科技有限公司 一种ate设备dc校准有效性的检测方法
CN114264996B (zh) * 2021-11-30 2024-05-03 上海御渡半导体科技有限公司 一种ate设备dc校准有效性的检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8811194B2 (en) Method for testing wireless devices using predefined test segments initiated by over-the-air signal characteristics
TWI608704B (zh) 用於測試資料封包信號收發器的系統及方法
CN109075742B (zh) 波特率校准电路及串口芯片
CN104699580A (zh) 一种sas存储板卡的环回测试方法及装置
JP6473747B2 (ja) データパケット信号送受信器の試験中の動的な信号干渉検出のためのシステムと方法
CN108111367A (zh) 性能测试方法及装置
US9319298B2 (en) System and method for data packet transceiver testing after signal calibration and power settling to minimize test time
TWI704452B (zh) 用於使用內隱同步化測試射頻(rf)資料封包信號收發器之方法
TWI623206B (zh) 用於測試資料封包信號收發器的系統及方法
CN103220370A (zh) 一种实现swp接口的方法和装置以及swp系统
CN102123422B (zh) 通信通道的故障检测方法和设备
CN103338131A (zh) 检测日志传输丢失率的方法和设备
CN103647688A (zh) 基于ads-b的分析检测系统
CN104869580A (zh) 一种射频自动化测试系统及方法
CN111460745B (zh) 一种设备芯片间连通性检测方法
CN107508729B (zh) 数据发送测试方法和数据接收测试方法
WO2016127758A1 (zh) 确定设备端口与用户线对应关系的方法及装置
US20200120524A1 (en) Method for Controlling Block Error Rate (BLER) Testing of a Cellular Communication Device for a System Having a Fixed Number of BLER Data Packets
CN107769868B (zh) 射频拉远单元及其检测方法
JP6195020B2 (ja) 信号解読装置および信号解読方法
US20200119862A1 (en) Method for Controlling Block Error Rate (BLER) Testing of a Cellular Communication Device For a System Having a Fixed Number of BLER Data Packets
CN112838892A (zh) 以太网mac数据通信光模块的测试装置和方法
CN114665990A (zh) 一种无线中继器测试方法、装置、电子设备及介质
KR101659313B1 (ko) 신호 송수신 시스템 및 신호 송수신 방법
KR20230009679A (ko) 지터 발생 위치 식별 장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20150610

RJ01 Rejection of invention patent application after publication