CN101359307A - Sas信道的测试装置及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

一种SAS信道的测试装置及其测试方法，应用于SAS背板所包括的数对SAS接口，侦测所选择的该对SAS信道于传输数据时是否正常运作。测试装置包括有：控制端、PCI－E微处理器、PCI－E对SAS转接板、信号回送模块。控制端用以选择SAS信道及发送控制命令。PCI－E微处理器用以接收控制命令，并根据控制命令发出测试信号至PCI－E信道。PCI－E对SAS转接板用以转换PCI－E信道与SAS信道之间的传输信号。信号回送模块连接SAS背板中的第一SAS接口与第二SAS接口。PCI－E微处理器比对发送至第一SAS信道的测试信号与接收自第二SAS接口的测试信号是否一致。

Description

SAS信道的测试装置及其测试方法
技术领域
一种SAS信道的测试装置及其测试方法，尤指一种使用PCI-E信道测试SAS信道的桥接装置及其测试方法。
背景技术
SAS(Serial Attached SCSI)接口是新一代的SCSI(Small Computer SmallInterface，SCSI)接口。SAS是由并行SCSI接口(Parallel SCSI)之后所开发出的全新接口。因此SAS接口可以提供多点介接、并且数据可以6Gb/s速度双向传输。此外，SAS接口通过缩小连接线的设计，而有减少系统内部空间的优点，而且SAS接口还可向下兼容，例如SATA(Serial ATA)硬盘。
SAS信道是利用低电压差分信号(Low Voltage Difference Signal，LVDS)进行数据传输，根据SAS的规范每对差分线路分别具有TX+、TX-、RX+与RX-。在每对差分线路上可以采用1.5Gbps和3.0Gbps的数据传输速率。其中，SAS信道所使用的传接收电压分别TX为800～1600mV、RX为275～1600mV。
请参考图1a所示，其为现有的服务器与SAS硬盘连结示意图。现有的SAS信道测试方法是将控制端110通过SAS背板120与SAS硬盘130相连结，检测程序对SAS硬盘130存取操作，通过对SAS硬盘130的读写，以测试SAS信道是否可以正常存取。其中，SAS背板120上分别具有数对SAS接口121，分别将SAS硬盘130连结至SAS接口121。请参考图1b所示，其为现有SAS信道的检测流程图。首先，将测试用SAS硬盘安装至SAS背板(步骤S110)。接下来，激活系统的测试程序(步骤S120)。测试程序对SAS硬盘进行存取操作(步骤S130)。待测系统接收SAS硬盘的存取测试报告(步骤S140)。
但由于SAS背板120中可以具有8～16个SAS接口121，其中步骤S110需要用人工操作的方式来更换SAS背板120和SAS硬盘130，所以在拆/装等量的SAS硬盘130就得耗费许多时间。此外，系统重新激活的话也需要额外的时间，如此一来整体的测试时间就会随之拉长，使得测试效率低落。
发明内容
鉴于以上的问题，本发明的主要目的在于提供一种SAS信道的测试装置，应用于SAS背板所包括的数对SAS接口，侦测所选择的该对SAS信道于传输数据时是否发送及接收到的信号是否一致。
为达上述目的，本发明所揭露的SAS信道的测试装置，其包括有：控制端、PCI-E微处理器、PCI-E对SAS转接板、信号回送模块。控制端用以选择SAS信道及发送控制命令。PCI-E微处理器电性连接于控制端与PCI-E信道，PCI-E微处理器用以接收控制端的控制命令，PCI-E微处理器根据控制命令发出测试信号至PCI-E信道。PCI-E对SAS转接板电性连结于PCI-E信道与SAS背板，PCI-E对SAS转接板用以转换PCI-E信道与SAS信道之间的传输信号。SAS背板中更包括数对的SAS接口，每对的SAS接口各分别电性连接一个信号回送模块。
将SAS背板中的第一SAS接口与第二SAS接口通过信号回送模块电性连结，使得第一SAS接口将接收到的测试信号输出至第二SAS接口，第二SAS接口将所接收到的测试信号在回传至PCI-E微处理器。
从本发明的另一观点，本发明提出一种SAS信道的测试方法，其包括下列步骤：提供PCI-E对SAS转接板，用以连接PCI-E信道与SAS背板。提供信号回送模块，电性连接于SAS背板，信号回送模块用以连结SAS背板中的第一SAS接口与第二SAS接口。PCI-E微处理器发送测试信号，测试信号分别经由PCI-E信道、PCI-E对SAS转接板传送至第一SAS接口。第一SAS接口将测试信号输出至第二SAS接口，第二SAS接口将测试信号经在由PCI-E对SAS转接板、PCI-E信道回传至PCI-E微处理器。PCI-E微处理器比对发送至第一SAS信道的测试信号与接收自第二SAS接口的测试信号是否一致。
本发明除了利用PCI-E作为桥接SAS信道外，另外也通过信号回送模块将经过第一SAS接口的测试信号传送至第二SAS接口。接着，第二SAS接口将测试信号回传至PCI-E微处理器。由PCI-E微处理器比对发送至第一SAS信道的测试信号与接收自第二SAS接口的测试信号是否一致。使得本发明中无须采用SAS硬盘，可以节省拆装SAS硬盘的时间，而且可以依序检测不同SAS信道。此外，PCI-E的信道频宽最高可以为10GB，可以完全支持SAS信道频宽。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1a为现有的服务器与SAS硬盘连结示意图；
图1b为现有SAS信道的检测流程图；
图2为本发明的SAS信道的检测装置示意图；
图3为本发明的SAS信道的检测流程图；
图4为本发明的SAS信道的检测装置运作流程图。
其中，附图标记
110            服务器
120            SAS背板
121            SAS接口
130            SAS硬盘
200            SAS信道的测试装置
210            控制端
220            PCI-E微处理器
230            PCI-E信道
240            PCI-E对SAS转接板
250            SAS背板
251            第一SAS接口
252            第二SAS接口
260            信号回送模块
具体实施方式
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：
本发明将PCI-E(Peripheral Component Interconnect Express，以下简称PCI-E)信道桥接至SAS信道，控制端利用收发数据至PCI-E装置用以测试SAS信道是否正常。PCI-E的连接是建立在一个双向序列的(1-bit)点对点连接基础之上，此称之为传输信道(Lane)。PCI-E在传送及接收数据会使用不同的传输信道，两个PCI-E设备之间的连接成为连结(Link)，这形成了1组或更多的传输信道。各个设备最少支持1个传输信道的连结，PCI-E也可以有2，4，8，16，32个信道的连结。
举例来说，PCI-E为16信道，换句话说就是有16个低电压差分信号组，在每一组中皆有TX+/-与RX+/-传输数据线，所以故共有64条双向传输数据线。就以16信道的PCI-E信道可以提供16组SAS接口用以连接SAS硬盘。PCI-E若使用32各信道时最大可以提供10GB的频宽，而SAS信道支持的频宽最大可支持6GB。如此一来PCI-E可以更好的提供双向兼容性。
请参考图2所示，其为本发明的SAS信道的检测装置示意图。本发明的SAS信道的测试装置，其包括有：控制端210、PCI-E微处理器220、PCI-E信道230、PCI-E对SAS转接板240、信号回送模块260。
控制端210用以选择SAS信道及发送控制命令。控制端210可以根据不同场合应用于不同的计算器设备。例如，控制端210可以是但不限于是个人计算机(PC)或服务器(Server)。PCI-E微处理器220电性连接于控制端210与PCI-E信道230，PCI-E微处理器220用以接收控制端210的控制命令，PCI-E微处理器220根据控制命令发出测试信号至PCI-E信道230。
PCI-E对SAS转接板240电性连结于PCI-E信道230与SAS背板250，PCI-E对SAS转接板240用以转换PCI-E信道230与SAS信道之间的传输信号。SAS背板250中更包括数对的SAS接口，每对的SAS接口各分别电性连接一信号回送模块260。信号回送模块260可以是但不限于利用积体集成电路或跳线线路所组成。此外，在本实施例中仅列举SAS背板250中的第一SAS接口251与第二SAS接口252为例，并非仅只有一对SAS接口。
将信号回送模块260将SAS背板250中的第一SAS接口251与第二SAS接口252相互电性连接。使得第一SAS接口251将接收到的测试信号可以输出至第二SAS接口252。第二SAS接口252再将测试信号经由PCI-E对SAS转接板240、PCI-E信道230回传至PCI-E微处理器220。
请参考图3所示，其为本发明的SAS信道的检测流程图。SAS信道的检测方法，包括下列步骤：提供PCI-E对SAS转接板240，用以连接PCI-E信道230与SAS背板250(步骤S310)。提供信号回送模块260，电性连接于SAS背板250，信号回送模块260用以连结SAS背板250中的第一SAS接口251与第二SAS接口252(步骤S320)。PCI-E微处理器220发送测试信号，测试信号分别经由PCI-E信道230、PCI-E对SAS转接板240传送至第一SAS接口251(步骤S330)。第一SAS接口251将测试信号输出至第二SAS接口252，第二SAS接口252将测试信号经在由PCI-E对SAS转接板240、PCI-E信道230回传至PCI-E微处理器220(步骤S340)。PCI-E微处理器220比对发送至第一SAS信道的测试信号与接收自第二SAS接口252的测试信号是否一致(步骤S350)。
为能清楚说明本发明的检测装置的使用方法，在此试以本发明的测试装置的详细操作流程进行说明。请参考图4所示，其为本发明的SAS信道的检测装置运作流程图。首先，控制端210发送控制命令至PCI-E微处理器(步骤S410)。PCI-E微处理器根据控制命令发送测试信号至PCI-E对SAS转接板240(步骤S420)。PCI-E对SAS转接板240将测试信号转换并传送至SAS背板250的第一SAS接口251(步骤S430，步骤S410~S430分别对应至步骤S330)。
第一SAS接口251接收PCI-E对SAS转接板240的测试信号，并传送至第二SAS接口252(步骤S440)。第二SAS接口252接收来自于第一SAS接口251的测试信号，第二SAS接口252回传测试信号至PCI-E对SAS转接板240(步骤S450)。PCI-E对SAS转接板240转换信号至PCI-E微处理器(步骤S460，步骤S440～S460分别对应步骤S340)。PCI-E微处理器比对传送前的测试信号与接收回传的测试信号(步骤S470，对应步骤S350)。控制端210接收比对结果并生成纪录报告(步骤S480)。接下来，控制端210选择下一对测试的SAS接口，并重复步骤S410至步骤S480直至所有SAS背板240上的每一对的SAS接口都被测试完为止。
本发明除了利用PCI-E作为桥接SAS信道外，另外也通过信号回送模块260将经过第一SAS接口251的测试信号传送至第二SA接口。接着，第二SAS接口252将测试信号回传至PCI-E微处理器220。由PCI-E微处理器220比对发送至第一SAS信道的测试信号与接收自第二SAS接口252的测试信号是否一致。使得本发明中无须采用SAS硬盘，可以节省拆装SAS硬盘的时间，而且可以依序检测不同SAS信道。因为PCI-E的信道频宽最高可以为10GB，所以可以完全支持SAS信道频宽。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1、一种SAS信道的测试装置，应用于一SAS背板所包括的数对SAS接口，侦测所选择的该对SAS信道于传输数据时是否正常运作，其特征在于，该测试装置包括有：
一控制端，用以选择SAS信道及发送控制命令；
一PCI-E微处理器，电性连接于该控制端与一PCI-E信道，该PCI-E微处理器用以接收该控制端的控制命令，该PCI-E微处理器根据控制命令发出测试信号至该PCI-E信道；
一PCI-E对SAS转接板，电性连结于该PCI-E信道与该SAS背板，该PCI-E对SAS转接板用以转换该PCI-E信道与SAS信道之间的传输信号；以及
一信号回送模块，电性连结于该SAS背板，将该SAS背板中的一第一SAS接口、一第二SAS接口与该信号回送模块电性连结，使得该第一SAS接口将接收到的测试信号输出至该第二SAS接口，该第二SAS接口将所接收到的测试信号在回传至该PCI-E微处理器。
2、根据权利要求1所述的SAS信道的测试装置，其特征在于，该控制端为一个人计算机或一服务器。
3、根据权利要求1所述的SAS信道的测试装置，其特征在于，该SAS背板中的该些SAS接口数量决定于该PCI-E信道的数个信道数量。
4、根据权利要求1所述的SAS信道的测试装置，其特征在于，该PCI-E对SAS转接板为一积体集成电路。
5、根据权利要求1所述的SAS信道的测试装置，其特征在于，该信号回送模块为一积体集成电路或一跳线电路。
6、一种SAS信道的测试方法，应用于一SAS背板所包括的数对SAS接口，侦测所选择的该对SAS信道于传输数据时是否正常运作，其特征在于，该测试方法包括：
提供一PCI-E对SAS转接板，用以连接一PCI-E信道与该SAS背板；
提供一信号回送模块，电性连接于该SAS背板，该信号回送模块用以连结该SAS背板中的一第一SAS接口与一第二SAS接口；
利用PCI-E微处理器发送数个测试信号将其传送至该第一SAS接口，该些测试信号再经由该第二SAS接口回传至该PCI-E微处理器；以及
该PCI-E微处理器比对发送至该第一SAS信道的该些测试信号与接收自该第二SAS接口的测试信号是否一致。
7、根据权利要求6所述的SAS信道的测试方法，其特征在于，该方法更包括该控制端接收该PCI-E微处理器的比对结果生成一纪录报告。
8、根据权利要求6所述的SAS信道的测试方法，其特征在于，发送该些测试信号至该第一SAS接口更包括下列步骤：PCI-E微处理器发送数个测试信号，该些测试信号分别经由该PCI-E信道、该PCI-E对SAS转接板传送至该第一SAS接口。
9、根据权利要求6所述的SAS信道的测试方法，其特征在于，由该第二SAS接口回传该些测试信号至该PCI-E接口更包括下列步骤：该第一SAS接口将该些测试信号输出至该第二SAS接口，该第二SAS接口将该些测试信号经在由该PCI-E对SAS转接板、该PCI-E信道回传至该PCI-E微处理器。
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