CN106160890A - 一种射频集成电路测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及测试设备，具体涉及射频集成电路测试设备。一种射频集成电路测试设备，包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台，所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；接口模块用于和接口系统连接；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；测试仪器通过器件安装台读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。本发明所述的射频集成电路测试设备的有益效果是：本发明兼容多种接口、多种协议，可实现多功能、多项目的复用，由于设置有传输线校准模块，保证了测试精度。

Description

一种射频集成电路测试设备

技术领域

本发明涉及测试设备，具体涉及射频集成电路测试设备。

背景技术

随着集成电路的发展，越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能模块对模拟部分进行控制，因此对于集成电路的测试分析，首先需要验证数字功能模块部分，以达到通过数字功能模块控制模拟部分的正常工作。由于不同的电路内部集成的数字功能模块并不一样，其中包括I2C通信协议、SPI串行通信协议、逻辑电平控制等。而对于射频集成电路，根据接收通道、发射通道与频综等不同的单元，其参数指标差异性较大。

因此对于不同的电路，需要对测试系统的硬件部分单独制作，耗费时间多。

目前，现有技术中的测试系统控制组合主要由开关、保护装置、连接器及相应的附属机械结构构成。在设计上，这些组合普遍采用专用化设计架构，每种测试系统型号的研制往往都需要对其加电控制组合进行定制，导致作为自动测试系统配套设备的加电控制组合耗费大量不必要的人力和物力，完全不能适应测试领域系统研制周期短的生产要求。

发明内容

本发明的目的是提供射频集成电路测试设备，为了实现本发明的目的，采用的技术方案是：

一种射频集成电路测试设备，包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台，所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；接口模块用于和接口系统连接；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对测试仪器进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；所述上位机、交换机、PXI机箱通过接口系统连接；待测射频集成电路安装在器件安装台上，待测射频集成电路通过器件安装台和接口系统与上位机进行通讯，并且，待测射频集成电路通过器件安装台输出信号到测试仪器或者接收测试仪器输出的信号；测试仪器接收上位机的参数测试模块输出的信号，通过器件安装台读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。通过网络接口系统，将测试器件安装台和上位机连接在一起，器件安装台可以实现对待测试的主板的数据进行读取，然后把数据传输给上位机。

进一步地，电路功能设置模块还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；并把数据传输到中央处理器模块与器件安装台对应的总线接口读取，进行处理后通过接口系统发送至上位机。

进一步地，所述接口模块包括串口模块和并口模块，所述并口模块通过转换电路和器件安装台对待测射频集成电路进行读写控制；所述转换电路将上位机的并口模块输出的电平信号进行转换后通过器件安装台输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过器件安装台输出的数据进行转换后输出到上位机。

进一步地，所述上位机中还设置有传输线校准模块；传输线校准模块用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试模块。

进一步地，所述器件安装台包括有供电连接器，所述供电连接器包括供电输入连接器、供电输出连接器和供电控制连接器。

进一步地，所述器件安装台还包括有紧急停止按钮。通过在器件安装台上设置紧急停止按钮，作为主板测试过程中发生异常的紧急措施。

进一步地，所述接口系统包括LAN、RS485、MXI-4。

本发明所述的射频集成电路测试设备的有益效果是：本发明兼容多种接口、多种协议，可实现多功能、多项目的复用，由于设置有传输线校准模块，保证了测试精度；本发明使用方便，功能多、效率高，能实现自动化测试，可广泛应用于射频收发通道、频综、调制器与解调器等射频电路的控制与测试分析，具有良好的应用前景。

附图说明

图1是本发明所述的射频集成电路测试系统的原理框图。

图2是本发明所述的射频集成电路测试系统的结构图。

具体实施方式

参见图1，射频集成电路测试系统由种射频集成电路测试设备，由上位机1、交换机2、PXI机箱3和接口系统4、测试仪器5及器件安装台6，构成；其中：在上位机1中设置有接口模块12、电路功能设置模块13、参数测试模块15、并口模块11和传输线校准模块14，其中：串口模块121用于上位机1与中央处理器11进行通信；电路功能设置模块13用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；包括用于对测试系统的总线工作模式进行设置；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通的选择；电路功能设置模块(13)还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；参数测试模块15用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供通用接口总线的调用；提供自动化测试的函数调用；对测试仪器5进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；对测试结果进行显示和存储；传输线校准模块14用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试模块。

并口模块122通过转换电路和器件安装台6对待测射频集成电路进行读写控制；所述转换电路将上位机1的并口模块122输出的电平信号进行转换后通过测试器件安装台6输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过器件安装台6输出的数据进行转换后输出到上位机1。

待测射频集成电路安装在器件安装台6上，待测射频集成电路通过器件安装台6与上位机1进行通讯，并且，待测射频集成电路通过器件安装台6输出信号到测试仪器5或者接收测试仪器5输出的信号；测试仪器5接收上位机1的参数测试模块15输出的信号，通过器件安装台6读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机1。

上面对本发明的具体实施方式进行了描最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明而并非限制本发明所描述的技术方案；因此，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本发明已进行了详细的说明，但是，本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本发明进行修改或等同替换；而一切不脱离本发明的精神和范围的技术方案及其改进，其均应涵盖在本发明的权利要求范围中。

Claims (7)

1.一种射频集成电路测试设备，包括上位机(1)、交换机(2)、PXI机箱(3)和接口系统(4)、测试仪器(5)、器件安装台(6)及中央处理器(7)，其特征在于：所述上位机(1)中设置有中央处理器模块(11)、接口模块(12)、电路功能设置模块(13)和参数测试模块(15)；接口模块(12)用于和接口系统(4)连接；电路功能设置模块(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块(15)用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对测试仪器(5)进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；所述上位机(1)、交换机(2)、PXI机箱(3)通过接口系统(4)连接；待测射频集成电路安装在器件安装台(6)上，待测射频集成电路通过器件安装台(6)和接口系统(2)与上位机(1)进行通讯，并且，待测射频集成电路通过器件安装台(6)输出信号到测试仪器(5)或者接收测试仪器(5)输出的信号；测试仪器(5)接收上位机(1)的参数测试模块输出的信号，通过器件安装台(6)读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机(1)。

2.根据权利要求1所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：电路功能设置模块(13)还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；并把数据传输到中央处理器模块(7)与器件安装台(6)对应的总线接口读取，进行处理后通过接口系统(4)发送至上位机(1)。

3.根据权利要求1或2所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述接口模块(12)包括串口模块(121)和并口模块(122)，所述并口模块(122)通过转换电路和器件安装台(6)对待测射频集成电路进行读写控制；所述转换电路将上位机(1)的并口模块(122)输出的电平信号进行转换后通过器件安装台(6)输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过器件安装台(6)输出的数据进行转换后输出到上位机(1)。

4.根据权利要求3所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述上位机(1)中还设置有传输线校准模块(14)；传输线校准模块(14)用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试模块(15)。

5.根据权利要求1所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述器件安装台(6)包括有供电连接器(61)，所述供电连接器(61)包括供电输入连接器、供电输出连接器和供电控制连接器。

6.根据权利要求1所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述器件安装台(6)还包括有紧急停止按钮。

7.根据权利要求1所述的射频集成电路测试设备，其特征在于：所述接口系统(4)包括LAN、RS485、MXI-4。