CN108957164A - 一种扣板的测试装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种扣板的测试装置及测试方法，涉及通信技术领域。所述测试装置包括依次相连的测试终端、测试底板和测试转接板；测试转接板用于连接被测扣板；测试终端依次通过测试底板和测试转接板与被测扣板相连，用于向被测扣板下发测试命令并接收被测扣板上报的测试结果；测试底板用于提供被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路所需的测试电路模块。本发明将扣板测试和单盘测试分离，降低测试人员对测试结果的判断难度，便于测试人员对多个被测扣板同时进行测试，提高测试效率，解决随单盘测试而造成的扣板测试不完全的问题，排除扣板故障对单盘测试的干扰，提高单盘一次通过率。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域，具体是涉及一种扣板的测试装置及测试方法。
背景技术
目前通信设备单盘的CPU多以扣板的形式插装在单盘上，每个扣板用来实现本盘的控制和管理功能。现有的扣板测试通常都采用随发货单盘间接测试的模式，没有对扣板进行单独的测试，此方式弊端如下：(1)对测试人员要求较高。测试人员需要通过测试终端PC机监控单盘测试过程，对单盘的测试结果进行人工分析，从而确定单盘硬件电路问题和扣板硬件电路问题，不仅人机交互较多，而且对测试人员专业素质要求较高。(2)扣板测试不完全。大部分单盘不需要使用扣板的所有硬件电路及功能，扣板随单盘测试无法对被测单盘没有使用的扣板硬件电路进行有效测试，导致扣板硬件电路测试不完全。(3)测试效率低。单盘测试设备占用场地面积较大，不易于在同一工位实施多台设备并行操作。而且单盘测试平台搭建复杂，连线较多，工序准备时间长。(4)单盘一次通过率较低。扣板随单盘进行测试不仅导致单盘测试工序环境复杂，干扰因素增多，而且由于扣板的故障，导致单盘的一次通过率较低。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种扣板的测试装置及测试方法，将扣板测试和单盘测试分离，降低测试人员对测试结果的判断难度，便于测试人员对多个被测扣板同时进行测试，提高测试效率，解决随单盘测试而造成的扣板测试不完全的问题，排除扣板故障对单盘测试的干扰，提高单盘一次通过率。
本发明提供一种扣板的测试装置，所述测试装置包括依次相连的测试终端、测试底板和测试转接板；
测试转接板用于连接被测扣板；
测试终端依次通过测试底板和测试转接板与被测扣板相连，用于向被测扣板下发测试命令并接收被测扣板上报的测试结果；
测试底板用于提供被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路所需的测试电路模块。
在上述技术方案的基础上，所述测试电路模块的数量为多个，每个所述测试电路模块通过被测扣板的对应接口与所述待测硬件电路相连。
在上述技术方案的基础上，所述测试电路模块包括CPLD、至少一个SPI模块、至少一个I2C模块、至少一个SD卡模块、至少一个USB模块以及至少一个高速差分信号模拟模块，CPLD、SPI模块、I2C模块、SD卡模块和USB模块均存有供被测扣板读取的特征参数，高速差分信号模拟模块用于返回被测扣板所发出的测试数据包。
在上述技术方案的基础上，所述CPLD连接被测扣板的本地总线Local bus、GPIO接口、中断信号电路和时钟信号电路。
在上述技术方案的基础上，所述高速差分信号模拟模块包括高速模拟开关模块、至少一个PCIe模块和至少一个XFP模块，高速模拟开关模块分别连接PCIe模块和XFP模块，高速模拟开关模块连接至少一路SGMII接口，PCIe模块包括至少一路PCIe接口，XFP模块包括至少一路XFP接口，在每路PCIe接口、SGMII接口和XFP接口中，发送端和接收端均用光纤环回。
在上述技术方案的基础上，所述高速模拟开关模块连接5路SGMII接口，所述PCIe模块包括4路PCIe接口，所述XFP模块包括一路XFP接口。
在上述技术方案的基础上，所述测试底板上设有串口模块以及至少一个网口模块，所述测试终端通过串口模块向所述测试底板下发初始化命令，所述测试终端依次通过网口模块和所述测试转接板与被测扣板的网口相连。
在上述技术方案的基础上，所述测试底板上还设有工作指示灯和结果指示灯，用于监控被测扣板的测试过程。
在上述技术方案的基础上，所述测试底板与测试转接板之间通过一对第一信号连接器相连，所述测试转接板与被测扣板之间通过一对第二信号连接器相连，所述测试转接板的第一信号连接器和第二信号连接器的对应接口相连；
所述测试底板上还设有总电源模块，总电源模块分别连接所述测试电路模块和外部电源，被测扣板连接扣板电源模块。
本发明还提供一种使用上述扣板的测试装置的测试方法，所述方法包括以下步骤：
所述测试装置上电初始化后，连接被测扣板；
所述测试终端通过网口向被测扣板下发测试命令；
被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路，并向测试终端上报测试结果。
与现有技术相比，本发明的优点如下：
(1)将扣板测试和单盘测试分离，降低测试人员对测试结果的判断难度，便于测试人员对多个被测扣板同时进行测试，提高测试效率，解决随单盘测试而造成的扣板测试不完全的问题，排除扣板故障对单盘测试的干扰，提高单盘一次通过率。
(2)对扣板测试技术进行整合，适用于各种类型的扣板，测试覆盖率高，可以全面覆盖扣板的所有待测硬件电路，通用性好。
(3)高速差分信号都在收发端口处收发环回，有效解决连线过多过复杂的问题。
(4)测试装置上还设有工作指示灯和结果指示灯，用于监控被测扣板的测试过程，可进行测试结果自动化判断，从而实现了对测试程序的控制，有效解决人工干预过多的问题。
(5)通过开发的自动化测试脚本，实现测试程序的自动控制，减少了测试人员的人工干预。
(6)测试转接板的数量可以为多个，用于适配不同类型的扣板，另外，还可以通过插拔方式更换测试转接板上的第二信号连接器XS2来适配不同类型的被测扣板，实现对多种不同类型扣板的测试。
附图说明
图1是本发明第一实施例扣板的测试装置的应用示意图；
图2是本发明第六实施例扣板的测试方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
本发明第一实施例提供一种扣板的测试装置，测试装置包括依次相连的测试终端、测试底板和测试转接板，其中，测试转接板用于连接被测扣板；测试终端依次通过测试底板和测试转接板与被测扣板的网口相连，用于向被测扣板下发测试命令并接收被测扣板上报的测试结果；测试底板用于提供被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路所需的测试电路模块。具体的，测试命令可以是自动化测试脚本，实现测试程序的自动控制，减少了测试人员的人工干预。
图1为第一实施例扣板的测试装置的应用示意图，测试底板与测试转接板之间通过一对第一信号连接器XS1相连，测试转接板与被测扣板之间通过一对第二信号连接器XS2相连，测试转接板的第一信号连接器XS1和第二信号连接器XS2的对应接口相连，实现测试底板与被测扣板的信号连通及测试。测试转接板的数量可以为多个，用于适配不同类型的扣板，另外，还可以通过插拔方式更换测试转接板上的第二信号连接器XS2来适配不同类型的被测扣板，实现对多种不同类型扣板的测试。
具体的，本测试装置由上至下的连接结构为被测扣板、测试转接板和测试底板，被测扣板与测试电路模块之间通过硬件电路将所有待测接口一一对应相连，通过串口和网口实现测试功能。测试时，测试转接板与测试底板的连接相对稳定，只需要更换测试转接板上面的被测扣板，因此测试转接板还可避免因频繁插拔被测扣板导致第一信号连接器XS1和第二信号连接器XS2损坏而更换测试底板，减少不必要的成本浪费。
测试底板上还设有总电源模块，总电源模块分别连接测试电路模块和外部电源，总电源模块外接-48电源，被测扣板连接扣板电源模块。实现被测扣板的单独上电，可在测试底板不断电的情况下更换被测扣板。
测试底板上还设有工作指示灯LED1(ACT)和结果指示灯LED2(RES)，其中，测试底板上电时工作状态双色灯绿灯由常亮到慢闪，测试正常，测试底板点亮结果指示双色灯绿灯；测试失败，测试底板点亮结果指示双色灯红灯。用于监控被测扣板的测试过程，可进行测试结果自动化判断，从而实现了对测试程序的控制，有效解决人工干预过多的问题。
将扣板测试和单盘测试分离，显著降低测试人员对测试结果的判断难度，便于测试人员对多个被测扣板同时进行测试，提高测试效率，解决随单盘测试而造成的扣板测试不完全的问题，排除扣板故障对单盘测试的干扰，提高单盘一次通过率。
本测试装置可以为1U(长*宽*高＝40CM*20CM*4.5CM)的盒式装置，由外壳、测试底板、测试转接板组成，具备体积小、测试环境简洁、成本低、可重复利用率高以及使用灵活方便的优点。
本测试装置解决了生产环节中测试环境复杂、干扰因素增加以及人工干预较多错判率高的问题。实现了将扣板硬件测试与单盘硬件测试分离，解决了扣板硬件电路随单盘测试不完全的问题，有效地提高了生产质量。同时扣板独立测试，解决了单盘一次通过率较低的问题，可由一名测试员工控制多台测试装置，对多个被测扣板同时进行测试，在节约了人力的同时，也节约了设备、场地的投入，测试效率提高50％以上，减少了误判的概率，降低了生产线成本。
本发明第二实施例提供一种扣板的测试装置，在本发明第一实施例的基础上，测试电路模块的数量为多个，每个测试电路模块通过被测扣板的对应接口与待测硬件电路相连。
具体的，测试电路模块包括复杂可编程逻辑器件(Complex ProgrammableLogical Device，CPLD)，参见图1所示，CPLD通过连接测试底板和测试转接板的一对第一信号连接器XS1与被测扣板相连，具体的，CPLD连接被测扣板的本地总线Local bus、通用输入输出(General Purpose Input Output，GPIO)接口、中断信号电路和时钟信号电路。例如，CPLD与测试底板的第一信号连接器XS1之间可以通过mreset、D<0:15>、A<16:31>、LOE POER/W GTA、CS2/3/4/5、Poreset/hreset、IRQ和GPIO接口等相连。
CPLD存有供被测扣板读取的特征参数，例如CPLD的版本信息，用于实现Local bus总线测试、GPIO接口测试、中断信号测试和时钟信号测试。被测扣板根据测试命令，分别通过Local bus总线、GPIO接口、中断信号电路IRQ和时钟信号电路读取CPLD的特征参数，如果成功读取CPLD的特征参数，则表示被测扣板的待测硬件电路正常。
本发明第三实施例提供一种扣板的测试装置，在本发明第二实施例的基础上，测试电路模块包括至少一个串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)模块、至少一个内部整合电路(Inter－Integrated Circuit，I2C)模块、至少一个安全数据(SecurityData，SD)卡模块和至少一个通用串行总线(Universal Serial Bus Stick，USB)模块，均通过连接测试底板和测试转接板的一对第一信号连接器XS1与被测扣板相连。参见图1所示，具体的，SPI模块可以是SPI芯片，I2C模块可以是I2C芯片，SD卡模块可以是SD卡，USB模块可以是U盘。
SPI模块、I2C模块、SD卡模块和USB模块的数量均按照扣板上相应待测硬件电路的最大数量来设计，以兼容所有不同类型的扣板。对扣板测试技术进行整合，适用于各种类型的扣板，测试覆盖率高，可以全面覆盖扣板的所有相应的待测硬件电路，通用性好。
SPI模块、I2C模块、SD卡模块和USB模块均存有供被测扣板读取的特征参数，特征参数可以是SPI芯片和I2C芯片里固定寄存器值，SD卡和U盘里提前烧写的文件等。被测扣板根据测试命令，分别读取SPI模块、I2C模块、SD卡模块和USB模块的特征参数，如果成功读取SPI模块、I2C模块、SD卡模块和USB模块的特征参数，则表示被测扣板的待测硬件电路正常。
USB模块的数量根据被测扣板上的USB数量确定，在本实施例中，测试电路模块包括2个USB模块：USB0和USB1，可以用于测试具有一个或者二个USB的被测扣板。
本发明第四实施例提供一种扣板的测试装置，在本发明第三实施例的基础上，测试电路模块还包括至少一个高速差分信号模拟模块，高速差分信号模拟模块用于返回被测扣板所发出的测试数据包。
进一步的，高速差分信号模拟模块包括高速模拟开关模块、至少一个高速外围组件互连(Peripheral Component Interconnect express，PCIe)模块和至少一个10G小型可插拔光收发模块(10Gigabit SmallForm Factor Pluggable Module，XFP)，高速模拟开关模块分别连接PCIe模块和XFP模块，高速模拟开关模块连接至少一路串行千兆媒体独立(Serial Gigabit Media Independent Interface，SGMII)接口，PCIe模块包括至少一路PCIe接口，XFP模块包括至少一路XFP接口。
高速模拟开关模块、PCIe模块和XFP模块的数量均按照扣板上相应待测硬件电路的最大数量来设计，以兼容所有不同类型的扣板。对扣板测试技术进行整合，适用于各种类型的扣板，测试覆盖率高，可以全面覆盖扣板的所有相应的待测硬件电路，通用性好。
参见图1所示，在本实施例中，高速模拟开关模块通过SD2-SD7和SD10-SD13连接测试底板的第一信号连接器XS1，SD为串行器解串器(SERializer/DESerializer，SERDES)，其中，高速模拟开关模块通过SD2-SD5连接PCIe模块(4路PCIe物理层(PHYSICAL，PHY)，图1中的4xPCIE PHY)，高速模拟开关模块通过SD13连接XFP模块(1*XFP PHY)，高速模拟开关模块通过SD6-SD7和SD10-SD12连接5路SGMII接口。具体的，PCIe模块可以是4xRTL8168芯片，具有4路RJ45接口，可以用于小型可拔插模块(Small Form-Factor Pluggable，SFP)4*SFP的测试，XFP模块可以是BCM8705芯片。
在一种实施方式中，被测扣板的最大10路高速差分信号通过高速模拟开关选路后分别连到4路PCIe物理层(PHYSICAL，PHY)、5路SGMII接口和1路XFP PHY，用于测试不同的硬件功能，其中4路PCIE PHY、5路SGMII、1路XFP的收、发端口都用光纤环回，被测扣板分别分时对各路发送数据包，通过将接收到的数据包与发送的数据包进行比对，当接收到的数据包与发送的数据包相同时，被测扣板的高速差分信号测试正常。
在每个PCIe接口、SGMII接口和XFP接口中，发送端和接收端均用光纤环回。高速差分信号都在收发端口处收发环回，有效解决连线过多过复杂的问题。
本发明第五实施例提供一种扣板的测试装置，在本发明第四实施例的基础上，测试底板上设有串口模块以及至少一个网口模块，测试终端通过串口模块向测试底板下发初始化命令，测试终端依次通过网口模块和测试转接板与被测扣板的网口相连。
在本实施例中，在测试底板上电时，测试终端通过串口模块PHY(RS232以及RJ45接口)向测试底板下发初始化命令。测试底板上设有2个网口模块：网口1PHY(RS232以及RJ45接口)和网口2PHY(RS232以及RJ45接口)，例如，测试终端依次通过网口1PHY(RS232以及RJ45接口)和测试转接板与被测扣板的网口相连。
参见图2所示，本发明第六实施例提供一种使用上述扣板的测试装置的测试方法，本测试方法包括以下步骤：
S1.测试装置上电初始化后，连接被测扣板。
将测试转接板插接到测试底板的第一信号连接器XS1上，测试底板上电，测试底板上的工作状态双色指示灯绿灯常亮，测试终端通过串口模块向测试底板下发初始化命令，测试平台开始工作，测试底板工作正常后，通过测试底板的IO口控制工作状态双色灯绿灯由常亮到慢闪。
将被测扣板插接到测试转接板的第二信号连接器XS2上，打开被测扣板的电源控制开关，被测扣板上电。
S2.测试终端通过网口向被测扣板下发测试命令。
测试终端通过测试底板检测到被测扣板完成上电后，测试终端通过网口向被测扣板下发测试命令，被测扣板根据测试命令自动开始测试，测试底板上点亮工作状态双色灯红灯慢闪。
S3.被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路，并向测试终端上报测试结果。
测试过程中，通过网口与被测扣板网口相连，实现与被测扣板的信息交互，监控测试进程，测试包括：
(1)SD卡控制器测试；
(2)USB控制信号测试；
(3)SPI接口测试；
(4)I2C接口测试；
(5)GPIO接口测试；
(6)中断信号测试；
(7)网口、串口测试；
(8)时钟信号测试；
(9)Local bus总线测试；
(10)高速差分信号测试。
测试正常，测试底板点亮结果指示双色灯绿灯；测试失败，测试底板点亮结果指示双色灯红灯；同时通过网口1向测试终端PC机上报测试结果。
测试完成后，关掉测试底板上被测扣板的电源控制开关，本次测试完成，更换被测扣板。
本发明不局限于上述实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围之内。本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (10)
1.一种扣板的测试装置，其特征在于：所述测试装置包括依次相连的测试终端、测试底板和测试转接板；
测试转接板用于连接被测扣板；
测试终端依次通过测试底板和测试转接板与被测扣板相连，用于向被测扣板下发测试命令并接收被测扣板上报的测试结果；
测试底板用于提供被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路所需的测试电路模块。
2.如权利要求1所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述测试电路模块的数量为多个，每个所述测试电路模块通过被测扣板的对应接口与所述待测硬件电路相连。
3.如权利要求2所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述测试电路模块包括CPLD、至少一个SPI模块、至少一个I2C模块、至少一个SD卡模块、至少一个USB模块以及至少一个高速差分信号模拟模块，CPLD、SPI模块、I2C模块、SD卡模块和USB模块均存有供被测扣板读取的特征参数，高速差分信号模拟模块用于返回被测扣板所发出的测试数据包。
4.如权利要求3所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述CPLD连接被测扣板的本地总线Local bus、GPIO接口、中断信号电路和时钟信号电路。
5.如权利要求3所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述高速差分信号模拟模块包括高速模拟开关模块、至少一个PCIe模块和至少一个XFP模块，高速模拟开关模块分别连接PCIe模块和XFP模块，高速模拟开关模块连接至少一路SGMII接口，PCIe模块包括至少一路PCIe接口，XFP模块包括至少一路XFP接口，在每路PCIe接口、SGMII接口和XFP接口中，发送端和接收端均用光纤环回。
6.如权利要求5所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述高速模拟开关模块连接5路SGMII接口，所述PCIe模块包括4路PCIe接口，所述XFP模块包括一路XFP接口。
7.如权利要求1所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述测试底板上设有串口模块以及至少一个网口模块，所述测试终端通过串口模块向所述测试底板下发初始化命令，所述测试终端依次通过网口模块和所述测试转接板与被测扣板的网口相连。
8.如权利要求1所述的扣板的测试装置，其特征在于：所述测试底板上还设有工作指示灯和结果指示灯，用于监控被测扣板的测试过程。
9.如权利要求1所述的扣板的测试装置，其特征在于：
所述测试底板与测试转接板之间通过一对第一信号连接器相连，所述测试转接板与被测扣板之间通过一对第二信号连接器相连，所述测试转接板的第一信号连接器和第二信号连接器的对应接口相连；
所述测试底板上还设有总电源模块，总电源模块分别连接所述测试电路模块和外部电源，被测扣板连接扣板电源模块。
10.一种使用权利要求1至9任一项所述的扣板的测试装置的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
所述测试装置上电初始化后，连接被测扣板；
所述测试终端通过网口向被测扣板下发测试命令；
被测扣板根据测试命令测试待测硬件电路，并向测试终端上报测试结果。
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