CN106154059A - 一种多探头球面近场测量系统 - Google Patents

一种多探头球面近场测量系统 Download PDF

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阳安源
谯凡
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10Radiation diagrams of antennas

Abstract

本发明公开了一种多探头球面近场测量系统,包括底座、经支架固定在底座上的金属拱环,所述金属拱环的内侧设置有天线探针,所述支架上还设置有直线运动测试架,所述直线运动测试架横穿在金属拱环内,所述支架上设置有驱动金属拱环沿其圆心转动的驱动装置,其结构简单。

Description

一种多探头球面近场测量系统
技术领域
本发明涉及天线测试装置领域,具体地,涉及一种多探头球面近场测量系统。
背景技术
通讯的迅猛发展推动了天线的研发工作,因而出现了一些年产天线达到几万台、品种达数百种的企业。天线测量的速度现如今已经成为企业研发工作的瓶颈。远场测量法,虽然可以直接测出方向图,但常常要求较大的测试距离,测试速度太慢,每次仅能测立体方向的一个切面,信息量太少,有可能遗漏一些重要的信息。近场测量技术代表着天线测量技术的发展方向。这样技术的优点在于:所需要的场地小,可以在微波暗室内进行高精度的测量,免去了建造大型微波暗室的困难。近场测量技术测试场受周围环境的影响小,保证全天候都能顺利进行天线的测量工作。现有的天线测量装置,其结构复杂。
发明内容
本发明为了解决上述技术问题提供一种多探头球面近场测量系统,其结构简单。
本发明解决上述问题所采用的技术方案是:
一种多探头球面近场测量系统,包括底座、经支架固定在底座上的金属拱环,所述金属拱环的内侧设置有天线探针,所述支架上还设置有直线运动测试架,所述直线运动测试架横穿在金属拱环内,所述支架上设置有驱动金属拱环沿其圆心转动的驱动装置。
作为优选,所述金属拱环的外侧沿其圆周设置有一圈齿,所述驱动装置包括与齿相啮合的齿轮和用于驱动齿轮转动的电机。
作为优选,所述金属拱环的内侧还设置有吸波件。
作为优选,所述底座上设置有与金属拱环相匹配的凹槽,所述金属拱环设置在凹槽内。
综上,本发明的有益效果是:
本发明的金属拱环对天线探针进行固定且可在驱动装置的带动下转动,直线运动测试架带动被测天线移动,其结构简单。
具体实施方式
下面结合实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1:
一种多探头球面近场测量系统,包括底座、经支架固定在底座上的金属拱环,所述金属拱环的内侧设置有天线探针,所述支架上还设置有直线运动测试架,所述直线运动测试架横穿在金属拱环内,所述支架上设置有驱动金属拱环沿其圆心转动的驱动装置。
实施例2:
本实施例在上述实施例的基础上做了细化,即所述金属拱环的外侧沿其圆周设置有一圈齿,所述驱动装置包括与齿相啮合的齿轮和用于驱动齿轮转动的电机。利用齿和齿轮的啮合带动金属拱环转动,其结构简单,易于实现。
所述金属拱环的内侧还设置有吸波件。
为了实现金属拱环的转动平稳,所述底座上设置有与金属拱环相匹配的凹槽,所述金属拱环设置在凹槽内。
如上所述,可较好的实现本发明。

Claims (4)

1.一种多探头球面近场测量系统,其特征在于:包括底座、经支架固定在底座上的金属拱环,所述金属拱环的内侧设置有天线探针,所述支架上还设置有直线运动测试架,所述直线运动测试架横穿在金属拱环内,所述支架上设置有驱动金属拱环沿其圆心转动的驱动装置。
2.根据权利要求1所述的一种多探头球面近场测量系统,其特征在于:所述金属拱环的外侧沿其圆周设置有一圈齿,所述驱动装置包括与齿相啮合的齿轮和用于驱动齿轮转动的电机。
3.根据权利要求1所述的一种多探头球面近场测量系统,其特征在于:所述金属拱环的内侧还设置有吸波件。
4.根据权利要求1所述的一种多探头球面近场测量系统,其特征在于:所述底座上设置有与金属拱环相匹配的凹槽,所述金属拱环设置在凹槽内。
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