CN106104248A - 对象存在和状态检测 - Google Patents
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Abstract
在对象的存在和状态检测的各实施例中,发射光(108),所述光在半透明对象(106)的第一边缘(110)处被定向为通过所述半透明对象,诸如透镜。在邻近半透明对象的相对的第二边缘(112)处检测光的强度。随后,可以基于所检测到的通过所述对象的光的强度来确定所述半透明对象的存在和/或状态。半透明对象可以被实现为多透镜阵列,并且用激光器将激光定向通过所述多透镜阵列的光学表面。多透镜阵列的存在和状态可以连续被确定为被定向通过该多透镜阵列的激光的安全性合规。
Description
背景
诸如游戏系统或设备之类的消费者电子产品可以使用高功率激光器,并且通过使用各种透镜和/或半透明材料减少了所述激光的强度,使得所述激光在照射到人(诸如照射到人的脸上以用于检测和识别实现)时是安全的。如果所述透镜或半透明材料丢失、在其上有洞或破损或以其它方式被损坏,激光可能不能被适当地散射且所述光的强度可能对设备的用户造成眼损伤。在各种系统和设备中,实现了安全性合规特征以验证透镜的存在和状态,从而避免产生眼损伤的激光器,这可以仅仅在几毫秒内发生。然而,传统的而技术不直接测量透镜的存在或状态,而是检测代理组件并推断透镜的状态。这可能会导致错误的推断,因为代理不保证甚至首先透镜被安装或当它被安装时其免受损坏。
概述
本发明内容介绍对象存在和状态检测的特征和概念,并在下面具体实施方式中进一步描述和/或在附图中示出这些特征和概念。本概述不应被认为描述了所要求保护的主题的必要特征,也不用于确定或限制所要求保护的主题的范围。
描述了对象存在和状态检测在实施例中,发射光,所述光在半透明对象(例如透镜)的第一边缘处被定向为通过所述半透明对象。在邻近半透明对象的相对的第二边缘处检测光的强度。随后,可以基于所检测到的通过所述对象的光的强度来确定所述半透明对象的存在和/或状态。半透明对象可以被实现为多透镜阵列,并且用激光器将激光定向通过所述多透镜阵列的光学表面。多透镜阵列的存在和状态可以连续被确定为被定向通过该多透镜阵列的激光的安全性合规。
在实现中,被检测到的通过半透明对象的光的强度是相对的,并且可以基于光的较高的强度指示对象的存在,或基于光的较低的强度指示对象的不存在。另外,被检测到的通过半透明对象的光的强度可以指示对象的受损状态,例如当被检测到的光的强度大约为光的较低的强度时。对象检测应用可以被实现为包括光发射器、半透明对象和光检测器的系统的部分。对象检测应用可以从光检测器接收电压信号,其中所述电压信号是可变的并对应于被检测到的通过半透明对象的光的强度。对象检测应用随后可以基于所接收的电压信号确定半透明对象的存在和/或状态。电压信号可以是在电压比较阈值之上或之下中的一个,或可以是可与半透明对象的光发射特征(signature)相比较的。
附图简述
参考下面的附图描述了对象存在和状态检测的实施例。可在全文中对附图中所示的类似特征和组件的标记使用相同的编号:
图1示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统。
图2示出了根据一个或多个实施例的对象存在和状态检测的示例方法。
图3示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统的实现。
图4示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统的实现。
图5示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统。
图6示出了根据一个或多个实施例的对象存在和状态检测的示例方法。
图7示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统的实现。
图8示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统的实现。
图9示出了具有可实现对象存在和状态检测的各实施例的示例设备的示例系统。
详细描述
描述了对象存在和状态检测的各实施例并且实施例可被实现为连续且实时地检测半透明对象(诸如透镜)的存在和/或状态。在实现中,光发射器将在半透明对象的边缘处的光定向通过所述对象。由在半透明对象的相对的边缘处的光检测器来检测光的强度,并且随后可以基于所检测到的通过所述半透明对象的光的强度来确定所述对象的存在和/或状态。
在系统中,半透明对象可以被实现为多透镜阵列,并且用激光器将激光定向通过所述多透镜阵列的光学表面。光发射器在与多透镜阵列的光学表面的轴垂直的方向上将通过多透镜阵列的发射的光从一边缘定向到另一边缘。发射的光对多透镜阵列的功能是非侵入性的,并且不干扰激光的投射。当使用被定向通过多透镜阵列的光学表面的激光时,可以将多透镜阵列的存在和状态连续确定作为安全性合规特征。
尽管对象的存在和状态检测的特征和概念能够在任何数量的不同设备、系统、网络、环境和/或配置中实现,但对象的存在和状态检测的各实施例在以下各示例设备、系统和方法的上下文中描述。
图1示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统100。系统100包括光发射器102、光检测器104以及半透明对象106。光发射器102可以被实现为发射光108的任何类型的光源,诸如发光二极管(LED),所述光在半透明对象的第一边缘110处被定向。光发射器102可以被实现为一个或多个LED或在可见光谱中的或在红外(IR)光谱中的其它类型的光。发射的光108被定向通过半透明对象106并且光检测器104检测邻近半透明对象的相对的第二边缘112的光的强度。随后,可以基于所检测到的通过所述对象的光的强度来确定所述半透明对象106的存在和/或状态。在行进通过半透明对象106之后的光的强度,如由光检测器104所测量的,将取决于对象的存在和状态而不同,并且可变的检测器输出可以连续实时地提供存在和状态信息。
光检测器104可以被实现为光电晶体管、光学检测器或对由光发射器所生成的波长具有敏感性并将光强度转换成另一信号形式(诸如以生成对应于检测到的通过半透明对象的光108的强度的电压信号114)的任何类型的换能器。半透明对象106的存在和/或状态可以基于电压信号,该电压信号可被确定为在电压比较阈值之上或之下,或可以是可与半透明对象的光发射特征相比较的。
通常,半透明对象106可以是允许光通过的透明的或半透明的任何类型的对象,很像波导,并可以被实现为任何类型的光学透镜、透镜系统或具有任何形状、颜色和/或配置的其它对象。半透明对象106用作波导,并集中光发射器的发散光束,这可以在光检测器104处产生比在半透明对象106在系统中不存在的情况下以其它方式将产生的更高强度的光。对半透明对象的任何损坏,诸如洞、破裂、或其它类型的损坏将减少通过光对对象的穿过并因而减少光检测器接收到的光的强度。因此,为了在光检测器104处检测到足够高的光强度以信令表示(signal)可接受的状态,一定存在半透明对象106(例如,以供光108通过),并且不是损坏的,这减少了可被检测到的光的强度。在替换实现中,发射定向光的光发射器102可被使用并且如果不存在半透明对象106则由光检测器104检测到较高强度的光。当半透明对象106存在时,由于当光通过所述对象时的光的消散,检测到的光的强度则可以较低。
在各种实现中,半透明对象106可以被实现为如参照图3所述的多透镜阵列。半透明对象106还可被实现为参考图4所描述的光学透镜。半透明对象106还可被实现为参考图7和8所描述的对象的组合。在透镜实现中,光发射器102和光检测器104与透镜的宽度(例如厚度)对齐,而不是与透镜的功能方向对齐。例如,光发射器102在与透镜的光学表面的轴垂直的方向上将通过透镜的发射的光108从一边缘定向到另一边缘,并且发射的光对透镜的功能是非侵入性的。在其它实现中,示例系统100的技术可以被实现用于任何数量的场景,诸如用在检查某个组件未被移除的防篡改设备中,用在检查透镜未被移除或已经被安装的相机系统中,或用在取代机械开关或用于其它自动防故障组件检查的任何类型的系统或设备。
根据对象存在和状态检测的的一个或多个实施例,参考相应的图2和6来描述示例方法200和600。一般来说,本文描述的组件、模块、方法以及操作中的任一个都可使用软件、固件、硬件(例如,固定逻辑电路)、手动处理或其任意组合来实现。示例方法的一些操作可在存储在计算机可读存储存储器上的可执行指令的通用上下文中来描述,该计算机可读存储存储器是计算机处理系统本地和/或远程的,并且各实施方式可包括软件应用、程序、功能等。
图2示出对象存在和状态检测的示例方法200,并且一般参考图1中示出的示例系统100来描述。描述方法的次序并不旨在解释为限制,并且任何数量的所述方法操作都可以按任何次序组合以实现本方法或实现替换方法。
在202,光被发射并被定向通过半透明对象,并且所述光在半透明对象的第一边缘处被定向。例如,光发射器102发射光108,所述光在半透明对象106的第一边缘110处被定向通过所述对象。在204,在邻近半透明对象的相对的第二边缘处检测光的强度。例如,在邻近半透明对象106的相对的第二边缘112处检测光的强度。
在206,基于所检测到的通过所述半透明对象的光的强度来确定所述半透明对象的存在。例如,光检测器104将检测到的光108的强度转换成电压信号114,从该电压信号可以确定所述半透明对象106的存在。在实现中,被检测到的光的强度是相对的,并且基于光的较高的强度指示了半透明对象的存在,或基于光的较低的强度指示了半透明对象的不存在。例如,半透明对象106用作波导并集中光,该光在光检测器104处被检测为较高强度的光,导致较低的电压信号。如果半透明对象106在系统中不存在,那么该光在光检测器104处被检测为较低强度的光,导致较高的电压信号。或者,可以实现所述系统使得被检测到的光的强度基于光的较低强度(例如和/或较低电压信号)指示了半透明对象的存在,或基于光的较高强度(例如和/或较高电压信号)指示了半透明对象不存在。
在208,可以基于所检测到的通过所述半透明对象的光的强度来确定所述半透明对象的状态。例如,光检测器104将检测到的光108的强度转换成电压信号114,从该电压信号可以确定所述半透明对象106的状态。对半透明对象的任何损坏,例如洞、破裂、或其它类型的损坏将减少光对对象的穿过并因而减少光检测器104接收到的光的强度。如果半透明对象被损坏或以其它方式不在可操作状态中,那么该光在光检测器104处被检测为较低强度,导致较高的电压信号,类似于当半透明对象不存在系统中。
图3示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的示例系统300。系统300包括如参考图1所述的光发射器102和光检测器104。系统300还包括多透镜阵列302,其是半透明对象示例,通过所述多透镜阵列光发射器102发射光108,所述光在多透镜阵列的第一边缘304处被定向。发射的光108被定向通过多透镜阵列302并且光检测器104检测邻近多透镜阵列的相对的第二边缘306的光的强度。光发射器102和光检测器104与多透镜阵列302的宽度(例如厚度)对齐,而不是与多透镜阵列的功能方向对齐。
示例系统300还包括将激光310定向通过多透镜阵列302的光学表面312的激光器308。光发射器102在与多透镜阵列的光学表面312的轴314垂直的方向上将通过多透镜阵列的光从第一边缘304定向到第二边缘306。发射的光108对多透镜阵列302的功能是非侵入性的,并且不干扰激光的投射。当使用被定向通过多透镜阵列的光学表面的激光时,可以基于检测到的通过所述多透镜阵列的光的强度连续确定所述多透镜阵列的存在和状态,并作为安全性合规特征。
光检测器104将检测到的光强度转换成另一种信号形式(例如电压信号114),该信号形式对应于检测到的通过多透镜阵列的光108的强度。指示所述多透镜阵列302的存在和/或状态的电压信号114可以被输入到紧急切断开关316,如果多透镜阵列被确定为不存在于系统中、被损坏、或处于某种其它不可操作状态中,紧急切断开关就关闭激光器308。示例系统300具有快速响应时间(例如在微秒量级上)来检测和信令通知(signal)紧急切断开关316,并防止可能由激光引起的潜在损害。所述系统是可应用的,并且可以被实现用于可要求类似的安全性合规特征的任何消费者设备。
图4示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的实施例的示例系统400。系统400包括如参考图1所述的光发射器102和光检测器104。系统400还包括光学透镜402,其是半透明对象的示例,通过所述光学透镜,光发射器102发射光108,所述光在透镜的第一边缘404处被定向。发射的光108被定向通过透镜402并且光检测器104检测邻近透镜的相对的第二边缘406的光的强度。光发射器102和光检测器104与透镜402的宽度(例如厚度)对齐,而不是与透镜的功能方向对齐。光发射器102在与透镜的光学表面的轴410垂直的方向上将通过透镜的光108从第一边缘404沿透镜的直径408定向到第二边缘406。
示例系统400还可包括将光414定向通过透镜的和/或通过透镜接收光414的任何类型的成像和/或照明组件412。发射的光108对光学透镜402的功能是非侵入性的,并且不干扰被定向通过透镜的光学表面和/或通过透镜的光学表面接收的光414。可以基于所检测到的通过所述透镜402的光的强度来连续确定所述透镜的存在和/或状态。光检测器104将检测到的光强度转换成另一种信号形式(例如电压信号114),该信号形式对应于检测到的通过透镜的光108的强度。指示所述透镜402的存在和/或状态的电压信号114可以被输入到信号比较器416,信号比较器基于所述透镜是否被确定为存在或不存在于系统中、是否被损坏、或是否处于某种其它不可操作状态中来控制成像和/或照明组件412。示例系统400是可应用的,并可以被实现用于诸如检测透镜在可互换透镜系统中的存在、不仅检测半透明对象已被安装还检测该对象已被正确安装的任何消费者设备和/或用于任何其它用户可操作性验证和/或安全检查。
图5示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的各实施例的示例系统500。系统500包括示例计算设备502,它可以是有线或无线设备中的任一个或组合,如移动电话、平板、计算设备、通信设备、娱乐设备、游戏设备、媒体回放设备、桌面计算机和/或被实现为计算设备的其他类型的设备。例如,计算设备502可以是游戏设备或游戏设备的组件,并且包括如在图3所示并参考图3所描述的示例系统300。计算设备502可以包括为诸如光发射器102、光检测器104、多透镜阵列302以及生成激光310的激光器308之类的组件供电的有线和/或电池电源504。可以用各种组件,诸如处理系统和存储器以及如参考图9所示的示例设备进一步描述的任意数量和组合的不同组件来实现在此所述的任何设备,诸如计算设备502。
计算设备502包括能被实现为存储在计算机可读存储存储器(诸如任意合适的存储器设备或电子数据存储)上的软件应用(例如,可执行指令)的对象检测应用506。可以通过如参考图9中所示的示例设备所述的计算机可读存储存储器来实现计算设备502。另外,计算设备可以通过处理系统来执行以实现本文中所述的对象存在和状态检测的各实施例。
在各实施例中,对象检测应用506被实现为从光检测器104接收电压信号114,对象检测应用可从该电压信号确定(例如多透镜阵列302的)透镜存在508和/或透镜状态510。光检测器104将检测到的光强度转换成电压信号114,该电压信号对应于检测到的通过多透镜阵列302的光108的强度。当使用被定向通过多透镜阵列的光学表面的激光时,可以由对象检测应用506连续确定多透镜阵列的存在508和/或状态510作为安全性合规特征。
在各实施例中,对象检测应用506被实现为将可变电压信号114与电压比较阈值512比较以确定多透镜阵列302的透镜存在508和/或透镜状态510。示例514示出基于来自光检测器104的电压输出516(例如电压信号)的电压比较阈值512。在该示例中,在518,在系统中存在的未损坏的透镜(例如多透镜阵列302)导致低于电压比较阈值512的较低电压输出,这在520处指示了透镜的工作状态是可接受的。如早先参考示例系统所述的,多透镜阵列302可以用作波导并集中发射的光108,该光在光检测器104处被检测为较高强度的光,导致指示多透镜阵列的工作状态是可接受的较低的电压输出。
在522,示例514还示出系统中缺少了透镜(例如无透镜)导致高于电压比较阈值512的较高电压输出,这在524处指示了透镜的工作状态是不可接受的。如前所述,如果多透镜阵列302不存在于系统中,那么发射的光108在光检测器104处被检测为较低强度的光,导致指示多透镜阵列的工作状态是不可接受的较高的电压输出。基于不可接受的工作状态的确定,对象检测应用506可以诸如通过信令通知切断开关316来发起激光器308的关闭。
类似地,示例514示出了对多透镜阵列302的损坏导致高于电压比较阈值512的较高电压示出,例如如果在526处多透镜阵列在其内有孔或在528以其它方式被损坏(例如碎裂或开裂)。高于电压比较阈值512的较高电压输出指示多透镜阵列的工作状态是不可接受的。在该实现中,任何不可接受的工作状态以与高于电压比较阈值512的电压输出相同的方向驱动电压输出516,这样使得对象检测应用506将电压信号114与比较阈值512进行比较并将不可接受工作状态与可接受工作状态区分开来变得容易。
尽管电压比较阈值512是作为单个电压输出电平被示出和描述,但电压比较阈值512也可以被实现为电压比较范围530,诸如在示例514中所示。可以基于表征数百类似的透镜或半透明对象并确定从光检测器104输出的电压信号114的典型电压范围来建立电压比较阈值512和/或电压比较范围530。在类似的实现中,对象检测应用506可以基于与当多透镜阵列从系统中丢失时类似的电压信号检测状态,在所述状态中在系统中存在多透镜阵列302并且未损坏但被颠倒安装。
在其它系统和实现中,多透镜阵列302的存在和/或状态可以基于电压信号114与多透镜阵列的光发射特征532的比较。例如,可以基于对象的唯一几何结构和/或配置来检测通过半透明对象的发射的光108,并且由光检测器104所检测到的光是特定对象的唯一的光发射特征532。在计算设备502中,示例系统300的多透镜阵列302可以被初始校准以确定其光发射特征532。随后,对象检测应用506可以基于光发射特征532与从光检测器104接收到的电压信号114的比较来连续且实时地确定多透镜阵列302的存在和/或状态。
图6示出对象存在和状态检测的示例方法600,并且一般参考图5中示出的示例系统500来描述。描述方法的次序并不旨在解释为限制,并且任何数量的所述方法操作都可以按任何次序组合以实现本方法或实现替换方法。
在602,通过激光器将激光定向通过透镜的光学表面。例如,在计算设备502(图5)中实现的激光器308生成被定向通过多透镜阵列302的光学表面312(图3)的激光310。在604,光被发射并被定向通过透镜,并且所述光在透镜的第一边缘处被定向。例如,光发射器102发射光108,所述光在多透镜阵列302的第一边缘304处被定向通过所述多透镜阵列。
在606,在邻近透镜的相对的第二边缘处检测光的强度。例如,光检测器104在邻近多透镜阵列302的相对的第二边缘306处检测光108的强度。在示例系统中,透镜被实现为如图3和5中所示的多透镜阵列302或如图4所示的光学透镜402,并且光108被发射且定向沿光学透镜的直径408且垂直于透镜的轴410通过。被检测到的通过任何半透明对象的光的强度是相对的,并且可以基于光的较高的强度指示对象的存在,或基于光的较低的强度指示对象的不存在。或者,系统可以被实现为基于所述光的较低强度确定所述半透明对象的存在,或基于所述光的较高强度确定所述半透明对象的不存在。
在608,接收到对应于被检测到的通过所述透镜的光的强度的电压信号。例如,通过计算设备502实现的对象检测应用506接收电压信号114,并且对象检测应用可以基于对应于检测到的光的强度的电压信号确定多透镜阵列302的存在和/或状态。
在610,可以基于所检测到的通过所述透镜的光的强度来做出所述透镜是否存在的确定。例如,对象检测应用506基于电压信号114是在电压比较阈值512之上或之下来确定多透镜阵列302在系统中的存在,或者对象检测应用506将电压信号114与多透镜阵列的光发射特征532进行比较。
如果透镜不存在,诸如已被移除或破损(即从610的“否”),那么在612,激光器被关闭。例如,对象检测应用506诸如通过信令通知切断开关316来发起激光器308的关闭。如果所述透镜存在(即从610的“是”),那么在614,基于检测到的通过透镜的光的强度做出透镜是否在可操作状态中的确定。例如,对象检测应用506基于对应于检测到的光的强度的电压信号114确定多透镜阵列302是否在可操作状态中,如果检测到的强度大致为光的较低强度,这指示了多透镜阵列的受损状态。
如果透镜不在可操作状态中,诸如已碎裂或以其它方式损坏(即从614“否”),那么在612,激光器被关闭。例如,对象检测应用506诸如通过信令通知切断开关316来发起激光器308的关闭。如果所述透镜在可操作状态中(即从614的“是”),那么在616,当激光被定向通过透镜时将透镜的存在和状态连续实时确定为安全性合规。因此,方法继续基于检测到的通过透镜的光的强度在610确定透镜(例如多透镜阵列302)是否存在并在614确定透镜是否在可操作状态中。
图7示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的示例系统700。系统700包括如参考图1所述的光发射器102和光检测器104。所述系统700还包括堆叠配置702中的多个半透明对象106,光发射器102通过其发射光108。发射的光108被定向通过半透明对象106并且光检测器104检测通过半透明对象的堆叠配置702的光的整体强度。示例系统700示出一组光发射器102和光检测器104组件可被实现用于多个半透明对象。
图8示出了在其中可以实现对象存在和状态检测的实施例的示例系统800。系统800包括如参考图1所述的半透明对象106的类似的堆叠配置802。示例系统800示出对于多个半透明对象,每个半透明对象通过相关联的一组光发射器102和光检测器104组件被实现。每个光发射器102发射被定向到各半透明对象106的特定一个半透明对象的光108,并且对应的光检测器104检测通过该特定的相关联的半透明对象的光的强度。
图9示出了包括可实现对象存在和状态检测的各实施例的示例设备902的示例系统900。示例设备902可被实现为参考以上附图1-8所述的任何计算设备,诸如任何类型的客户端设备、移动电话、平板设备、计算设备、通信设备、娱乐设备、游戏设备、媒体回放设备,和/或其他类型的设备。例如,图5中显示的计算设备502可被实现为示例设备902。
设备902包括启用设备数据906(诸如对象的存在和状态确定信息、电压比较阈值和各种半透明对象、透镜和多透镜阵列的光发射特征)的有线和/或无线通信的通信设备904。另外,设备数据可以包括任何类型的音频、视频和/或图像数据。通信设备904还可包括用于蜂窝电话通信和用于网络数据通信的收发机。
设备902还包括输入输出(I/O)接口908,诸如在设备、数据网络以及其他设备之间提供连接和/或通信链路的数据网络接口。I/O接口可被用来将该设备耦合到任何类型的组件、外围设备和/或附件设备。I/O接口还包括数据输入端口,经由该数据输入端口可以接收任何类型的数据、媒体内容和/或输入,诸如用户对设备的输入以及从任何内容和/或数据源接收的任何类型的音频、视频和/或图像数据。
设备902包括可至少部分地在硬件中如用处理可执行指令的任何类型的微处理器、控制器等实现的处理系统910。处理系统可包括集成电路组件、可编程逻辑器件、使用一个或多个半导体来形成的逻辑器件、以及硅和/或硬件的其他实现,如实现为片上系统(SoC)的处理器和存储器系统。另选地或补充地,设备可以用软件、硬件、固件或可以用处理和控制电路来实现的固定逻辑电路中的任何一个或其组合来实现。设备902还可包括将设备中的各组件相耦合的任何类型的系统总线或其他数据和命令传输系统。系统总线可包括不同总线结构和架构以及控制和数据线中的任何一个或组合。
设备902还包括计算机可读存储存储器912,如可由计算设备访问并且提供数据和可执行指令(例如,软件应用、程序、函数等)的持久存储的数据存储设备。计算机可读存储存储器912的示例包括易失性存储器和非易失性存储器、固定和可移动媒体设备,以及维护数据以供计算设备访问的任何合适的存储器设备或电子数据存储。计算机可读存储存储器可包括各种存储器设备配置中的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、闪存,以及其他类型的存储介质的各种实现。
计算机可读存储存储器912提供对设备数据906和各个设备应用914的存储,诸如被用计算机可读存储存储器维护成软件应用并由处理系统910执行的操作系统。在这一示例中,设备应用包括实现对象的存在和状态检测的各实施例的对象检测应用916,诸如在示例设备902被实现为图5所示的计算设备502时。对象检测应用916的一个示例是如参考图5和6所述的由计算设备502所实现的对象检测应用506。
设备902还包括为音频设备920生成音频数据和/或为显示设备922生成显示数据的音频和/或视频处理系统918。音频设备和/或显示设备包括处理、显示、和/或以其他方式呈现音频、视频、显示和/或图像数据的任何设备。在各实现中,音频设备和/或显示设备是示例设备902的集成组件。替代地,音频设备和/或显示设备是示例设备的外部、周边组件。
在各实施例中,针对对象的存在和状态检测所述的技术中的至少一部分可被实现在诸如平台926中的“云”924上的分布式系统中。云924包括和/或表示用于服务928和/或资源930的平台926。例如,服务928和/或资源930可以包括对象检测应用以及各种对象的存在和检测数据。
平台926对诸如服务器设备(例如,包括在服务928中)等硬件和/或软件资源(例如,包括在资源930中)的底层功能进行抽象,并将示例设备902与其他设备、服务器等相连接。资源930还可包括可在计算机处理在示例设备902远程的服务器上执行时使用的应用和/或数据。另外,服务928和/或资源930可以便于订户网络服务,如通过因特网、蜂窝网络或Wi-Fi网络。平台926还可用于抽象和缩放资源来对经由该平台实现的资源930的需求进行服务,如在具有遍及系统900分布的功能的互连设备实施例中。例如,该功能可部分地在示例设备902中以及经由抽象云924的功能的平台926来实现。
尽管已经用特征和/或方法专用的语言描述了对象的存在和状态检测的各实施例,但是所附权利要求的主题不必限于所述的具体特征或方法。相反,这些具体特征和方法是作为对象的存在和状态检测的示例实现来公开的。
Claims (15)
1.一种方法,包括:
发射被定向通过半透明对象的光,所述光在所述半透明对象的第一边缘处被定向;
在邻近所述半透明对象的相对的第二边缘处检测所述光的强度;以及
基于检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度来确定所述半透明对象的存在。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
基于检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度来确定所述半透明对象的状态。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度是相对的并且指示下述项之一:
基于所述光的较高强度的所述半透明对象的存在;或
基于所述光的较低强度所述半透明对象不存在。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述透镜是多透镜阵列,并且所述发射在所述多透镜阵列的第一边缘处被定向通过到多透镜阵列的相对的第二边缘的所述光。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述透镜是光学透镜,并且所述发射被定向沿所述光学透镜的直径且垂直于所述光学透镜的轴通过的所述光。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中检测到的通过所述透镜的所述光的强度是相对的并且指示下述项之一:
基于所述光的较高强度的所述透镜的存在;或
基于所述光的较低强度所述透镜不存在。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,其中检测到的光强度指示所述透镜的损坏状态,所检测到的强度大致为所述光的较低强度。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
从检测通过所述透镜的所述光的强度的光检测器接收电压信号,并且基于对应于检测到的所述光的强度的所述电压信号所述确定所述透镜的存在。
9.一种系统,包括:
被配置为发射被定向通过半透明对象的光的光发射器,所述光在所述半透明对象的第一边缘处被定向;以及
光检测器,被配置为检测邻近所述半透明对象的相对的第二边缘处的所述光的强度,基于检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度能确定所述半透明对象的存在。
10.如权利要求9所述的系统,其特征在于,还包括:
用于实现对象检测应用的存储器和处理系统,所述对象检测应用被配置为:
从所述光检测器接收电压信号,所述电压信号对应于被检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度,以及下述项中的至少一者:
基于接收到的电压信号确定所述半透明对象的存在;和
基于接收到的电压信号确定所述半透明对象的状态。
11.如权利要求10所述的系统,其特征在于,所述对象检测应用被配置为基于所述电压信号为以下项来确定所述半透明对象的存在:
高于或低于电压比较阈值之一;或
与所述半透明对象的光发射特征是可比较的。
12.如权利要求10所述的系统,其特征在于,还包括:
被配置为定向激光通过被实现为透镜的所述半透明对象的光学表面的激光器;并且其中:
所述对象检测应用被配置为连续确定所述透镜的存在和状态作为被定向通过所述透镜的所述激光的安全性合规。
13.如权利要求9所述的系统,其特征在于,所述半透明对象是多透镜阵列,并且所述光在所述多透镜阵列的第一边缘处被定向通过到多透镜阵列的相对的第二边缘。
14.如权利要求9所述的系统,其特征在于,其中检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度是相对的并且指示下述项之一:
基于所述光的较高强度的所述半透明对象的存在;或
基于所述光的较低强度所述半透明对象不存在。
15.如权利要求14所述的系统,其特征在于,其中检测到的通过所述半透明对象的所述光的强度指示所述半透明对象的损坏状态,所检测到的强度大致为所述光的较低强度。
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US20220397483A1 (en) * | 2021-06-11 | 2022-12-15 | Apple Inc. | Methodology and application of acoustic detection of optical integrity |
US12025565B2 (en) | 2022-03-07 | 2024-07-02 | The Boeing Company | Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5982184A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-12 | Hitachi Ltd | レ−ザ加工装置 |
US5159402A (en) * | 1990-03-26 | 1992-10-27 | General Electric Company | Optical sensor safety system for monitoring laser crystals and optical components |
CN101065699A (zh) * | 2004-10-02 | 2007-10-31 | 通快机床两合公司 | 包括光学元件和将其保持在激光处理机上的保持器的系统 |
WO2007130313A2 (en) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | Telesis Technologies, Inc. | Laser safety system |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6066226A (ja) | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザ加工装置のレンズ汚れ検出装置 |
US5175594A (en) * | 1990-04-16 | 1992-12-29 | Allergan Humphrey | Lensmeter with correction for refractive index and spherical aberration |
JPH06100555B2 (ja) | 1990-12-19 | 1994-12-12 | 東洋ガラス株式会社 | 透明物体の欠陥検査方法とその装置 |
US6201600B1 (en) | 1997-12-19 | 2001-03-13 | Northrop Grumman Corporation | Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive objects having a lens portion |
US6618136B1 (en) * | 1998-09-07 | 2003-09-09 | Minolta Co., Ltd. | Method and apparatus for visually inspecting transparent body and translucent body |
US6246062B1 (en) * | 1998-11-05 | 2001-06-12 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Missing lens detection system and method |
US6586740B1 (en) * | 1999-12-15 | 2003-07-01 | Bausch & Lomb Incorporated | Method and apparatus for detecting lenses in package |
US7969566B2 (en) | 2008-06-05 | 2011-06-28 | The Boeing Company | Apparatus and method for detection of a film on a surface |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5982184A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-12 | Hitachi Ltd | レ−ザ加工装置 |
US5159402A (en) * | 1990-03-26 | 1992-10-27 | General Electric Company | Optical sensor safety system for monitoring laser crystals and optical components |
CN101065699A (zh) * | 2004-10-02 | 2007-10-31 | 通快机床两合公司 | 包括光学元件和将其保持在激光处理机上的保持器的系统 |
WO2007130313A2 (en) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | Telesis Technologies, Inc. | Laser safety system |
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