CN106093631A - 一种具备位置识别的电子设备测试系统及ip设定方法 - Google Patents

一种具备位置识别的电子设备测试系统及ip设定方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106093631A
CN106093631A CN201610392542.7A CN201610392542A CN106093631A CN 106093631 A CN106093631 A CN 106093631A CN 201610392542 A CN201610392542 A CN 201610392542A CN 106093631 A CN106093631 A CN 106093631A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electronic equipment
measured
test cabinet
test
host computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610392542.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106093631B (zh
Inventor
彭志辉
李凯
张健
刘文文
朱德华
钟蓉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wenzhou University
Original Assignee
Wenzhou University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wenzhou University filed Critical Wenzhou University
Priority to CN201610392542.7A priority Critical patent/CN106093631B/zh
Publication of CN106093631A publication Critical patent/CN106093631A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106093631B publication Critical patent/CN106093631B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L61/00—Network arrangements, protocols or services for addressing or naming
    • H04L61/50—Address allocation
    • H04L61/5007—Internet protocol [IP] addresses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明涉及一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法，包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，通过控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，从而分别获得当前装入待测电子设备的位置编号，采用本发明所述的具备位置识别的电子设备测试系统IP设定方法具有结构简单、可靠性高，实用性强等特点；可有快速、有效解决IP与位置编号不一致的问题，为设备组网地址分配领域提供了一种新的方案。

Description

一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法
技术领域
本发明涉及一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法，用于分配测试系统中被测电子设备的IP，该方法适用于各类电子设备，诸如开关电源、变频器、LED控制器，电机控制器等测试系统的IP设定。
背景技术
电子设备测试系统是针对被测电子设备各种功能、性能和安规认证进行综合测试的平台，其稳定可靠性直接关系到被测电子设备产品缺陷的检测，是电子设备出厂前的最后一道质量关，其重要性不言而喻。电子设备测试系统主要包括上位机(PC机)，测试柜控制器、功能测试模拟设备、倒T型DA转换电路和被测电子设备等组成。一方面，上位机通过控制功能测试模拟设备调节测试流程(比如，电压测试、电流测试、高温老化测试、安规测试、负载输出动静态调节测试及故障处理测试等)和对应的测试参数(比如，电压参数、电流参数、工况温湿度参数、安规参数等)并将实时测试流程和对应的参数下发给测试柜控制器。另一方面，测试柜控制器将接收到的测试流程及对应的设定参数转发给被测电子设备；同时，测试柜控制器将测试柜中所有被测电子设备测试结果参数和工作状态通过通信总线上报给上位机。上位机将接收到的具有唯一IP地址的被测电子设备的实际工作参数与设定参数和功能进行数据分析，并得出每台被测电子设备对应的测试报告，从而便于技术人员进行数据分析和技术改进，确定不合格电子设备的IP地址和声光电报警该IP地址位置编号(被测电子设备的IP地址与该设备放置的位置编号一致)，实现了测试系统的自动化和智能化，提高了测试效率和测试可靠性。上述测试功能的实现，涉及到电子设备放置位置的识别和测试系统IP地址的分配方法。
现有技术中对测试系统IP地址设定方法，主要有静态IP地址设定方法和动态IP地址设定方法。静态IP地址设定方法，主要是有以下几种方式：①拨码设定方式；即通过拨码的方式分配控制器的IP地址；②无线遥控器设定：即通过一个专用的无线遥控装置分配设备的IP地址；③程序烧录方式：即在源代码中分配设备的IP地址，并固化到芯片中；上述几种主要静态IP设定其主要共同点为据需要人为设定，并且一旦设定，只要不重新设置，该IP地址就保持不变。动态IP地址分配方法主要依据芯片中唯一SN序列号设置，是通过获取设备控制器芯片的序列号，进行排序或者其他IP地址产生算法得到唯一的IP地址。一 旦有其他设备插入测试系统，则该设备会发出请求分配地址要求。测试柜控制器收到该要求之后，按照前面的IP地址分配方法重新分配设备的IP地址。上述两种IP地址分配方法在测试系统中存在以下问题：如何保证放在测试系统中特定编号处的被测设备的IP地址与放置编号保持一致。这主要是由于如果IP地址与测试系统放置编号不一致，则上位机基于IP地址测试得到的数据如何快速定位到该设备？因为测试结果信息是上位机依据被测设备的IP地址进行识别的，只有将被测设备的位置编号信息与IP地址信息保持一致，则操作人员就可以依据IP地址快速准确定位编号，避免故障缺陷产品流出。为实现上述目标，现有上述静态IP地址设定方法和动态IP地址设定方法均存在局限性。就静态IP地址分配方法而言，需要操作人员找出与放置位置编号相同IP地址的被测电子设备，并放置在该位置。这样一方面增加了工作强度；另一方面，其可靠性太低，一旦电子设备IP地址与放置位置编号不一致，则有可能出现将没有问题的产品误认为有故障，而有缺陷的产品反而流入市场。就上述动态IP地址设定方法而言，要保证IP地址与放置位置编号一致，则很难实现。因而需要一种具备能快速可靠识别电子设备在测试系统中的位置编号及IP地址设定方法，解决上述静态IP设定和动态IP设定方法的缺陷，提高电子设备测试的速度和测试可靠性。
发明内容
本发明的目的在于克服上述不足之处，提出一种具备位置识别的电子设备测试系统及IP设定方法。
本发明的技术方案是：一种具备位置识别的电子设备测试系统，其包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，待测电子设备通过倒T型DA转换电路与测试柜控制器连接，所述待测电子设备与测试柜控制器通信连接，所述测试柜控制器与上位机连接，所述倒T型DA转换电路包括正负输入端，所述正负输入端之间对应待测电子设备的位置设置切换开关，通过切换开关的闭合闸将待测电子设备接入倒T型DA转换电路，通过控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，从而分别获得当前装入待测电子设备的位置编号。
一种基于上述具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其包括以下步骤：
(a)依次将待测电子设备放入测试柜，并正确接好连线，直至所有待测电子设备均放入测试柜；
(b)测试柜控制器通过顺序控制控制电路对待测电子设备的供电，对DA转换电路输出电 压V0进行采样，依次对放入测试柜的待测电子设备进行位置号识别和标记，并将依据识别地址得到的IP＝j+i发送给待测电子设备，并确认IP设定成功，其中j为高字节表示排号，i为低字节表示列位置编号；
(c)所有待测电子设备放置完毕之后，运行上位机测试程序；
(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取电子设备IP；
(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP命令之后，依据以获得的测试柜中待测电子设备放置的位置编号，按照排号从小到大，列位置编号从小到大的原则设定待测电子设备的IP；
(f)测试柜控制器将所有待测电子设备的IP＝j+i发送给上位机；
(g)上位机依据获取的IP建立待测电子设备的测试数据库，地址设定流程结束。
所述步骤e的步骤为：①初始化排号j＝1；列位置编号i＝1；②控制第j排第i位置编号的电子设备通电；②测试柜控制器将IP＝j+i发送到通信总线上；③在规定的时间内接收地址回复确认信息，并对该位置IP进行确认标记；④逐次增加列位置编号i和排号j的值，重复步骤②～④直至所有的待测电子设备IP设定完成。
步骤b包括以下步骤：
一、启动AD对N路AD通道进行采样，依次获取j通道的采样数字量为：其中K为测试柜一排能放置待测电子设备的数量最大值；
二、判断采样数据Dataj的第i-1位是否为1；结果是1置数组元素value[j][i]＝1，结果不是1则置数组元素value[j][i]＝0；
三、上传IP地址至上位机；
四、重新初始化排号j＝1，初始化列位置编号i＝1；通过上传的IP地址与数组元素的判断，即判断Ip[j][i]＝＝value[j][i]，其结果为是，则继续下一个IP检测，直至所有待测电子设备的IP均设定；其结果为否，则判断value[j][i]＝＝0，该结果为是，则确定IP＝j+i的设备断线并发送给上位机，该结果为否则确定IP＝j+i插入设备并发送给上位机，继续下一个IP检测，直至所有待测电子设备的IP均设定。
待测电子设备的IP设定方法如下：(1)检测待测电子设备是否存在IP；
(2)接收测试柜控制器下发的IP地址；并将测试柜控制器下发的IP地址IP＝j+i，设为该待测电子设备的IP；
(3)发送该待测电子设备IP已设置的回复信息至测试柜控制器。
本发明与现有静态IP设定方案相比，具有以下优势：
①控制器的IP设定不需要操作人员设定，完全有测试系统自动分配；
②能保证所设定的IP与被测电子设备放置位置编号严格保持一致；
③测试结束之后，该IP自动清除，不占用内存和影响其他功能；
④该IP设定方法准确、快速、简单易于实现；
⑤该IP设定方法具有很强的通用性，因而该发明具有很高的性价比和适用互换性；
⑥该地址IP设定方法能对断线的测试设备进行实时监控并报警处理；
本发明与现有动态IP设定方案相比，具有以下优势：
①无需获取控制器主控芯片的任何信息，从而能实现基于不同主控芯片平台的控制器同时进行测试；
②能准确实现IP与被测电子设备放置位置编号保持一致；
③该IP设定方法准确、快速、简单易于实现；
④该IP设定方法能对断线的测试设备进行实时监控并报警处理；
同时，采用本发明所述的具备位置识别的电子设备测试系统IP设定方法具有结构简单、可靠性高，实用性强等特点；可有快速、有效解决IP与位置编号不一致的问题，为设备组网地址分配领域提供了一种新的方案，特别是应用于开关电源、变频器、水泵控制器和LED控制器等测试系统IP设定。
附图说明
图1为测试系统结构图。
图2为上位机地址设定算法流程图。
图3为测试柜控制器地址设定算法流程图。
图4为被测控制器地址设定算法流程图。
具体实施方式
下面针对附图对本发明的实施例作进一步说明：
本发明公开了一种具备位置识别的电子设备测试系统，其包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，待测电子设备通过倒T型DA转换电路与测试柜控制器连接，所述待测电子设备与测试柜控制器通信连接，所述测试柜控制器与上位机连接，所述倒T型DA转换电路包括正负输入端，所述正负输入端之间对应待测电子设备的位置设置切换开关，该切换开关为单刀双掷开关Si，通过切换开关的闭合闸使 得倒T型DA转换电路的输出电压V0的大小发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，根据控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，从而分别获得当前装入待测电子设备的位置编号。当待测电子设备全装入测试柜后，其可以通过控制电路进行接入电源的自动控制，利用顺序通电的方式分别使得待测电子设备接入电源，已获得倒T型DA转换电路的输出电压V0的变化。其中控制电路包括电源控制开关pi，该开关的通断由测试柜控制器控制，即通过测试柜控制器发出驱动信号，驱使控制电路的电源控制开关pi依次闭合，使得待测电子设备依次上电。
上位机、测试柜控制器和待测电子设备通过通信总线连接组成局域网，进行数据的交换。功能测试模拟设备主要实现模拟电子设备输入电压参数、静电，浪涌及雷击参数、负载特性参数、输出电流过载、轻载及短路特性模拟等，其相应功能说明如下：
一、上位机主要实现以下功能：①通过控制功能测试模拟设备来调节测试流程和测试参数；②将对应的测试流程参数下发给测试柜控制器；③接收上传数据生成被测设备的测试报告和相应数据库；
二、测试柜控制器主要实现以下功能：①被测试设备IP地址设定；②接收上位机下发的测试流程参数；③上传被测设备测试数据给上位机。
三、被测设备主要实现以下功能：①接收测试柜控制器设定的IP地址、测试流程和测试参数；②上传测试流程对应的状态数据。
四、功能测试模拟设备主要实现模拟电子设备的输入电压参数、静电，浪涌及雷击参数、负载特性参数、输出电流过载、轻载及短路特性模拟等
五、单刀双掷开关Si(1≤i≤K)和倒T型DA转换电路用于识别被测控制器放入测试柜的排号及对应排号的位置编号，其实现原理如下：测试柜控制器实时对N路DA采样通道进行采样，下面以第j(1≤j≤N)排为例进行说明：获取第j排(即AD采样第j通道)倒T型DA转换电路输出电压V0对应的采样数字量(其中：j为排号，i为待测电子设备放置的位置编号即列位置编号，K为待测电子设备位置编号最大值及AD采样的位数)；通过判断K位二进制数据Dataj中哪些位为1，从而确定哪些位置放入了待测控制器。
六、电源控制开关pi：每台待测电子设备均由一个电源控制开关pi(1≤i≤K)来控制上电。测试柜控制器通过扫描N路AD采样通道得到的数据Dataj(1≤j≤N)，并对Dataj的数据进行分析确定哪些位置放置了待测电子设备，从而控制对应的电源开关pi接通运行。
7、为电子设备的供电电源。
一种基于上述具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其包括以下步骤：
(a)依次将待测电子设备放入测试柜，并正确接好连线，直至所有待测电子设备均放入测试柜；
(b)测试柜控制器通过顺序控制控制电路对待测电子设备的供电，对DA转换电路输出电压V0进行采样，依次对放入测试柜的待测电子设备进行位置号识别和标记，并将依据识别地址得到的IP＝j+i发送给待测电子设备，并确认IP设定成功，其中j为高字节表示排号，i为低字节表示列位置编号；
(c)所有待测电子设备放置完毕之后，运行上位机测试程序；
(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取电子设备IP；
(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP命令之后，依据以获得的测试柜中待测电子设备放置的位置编号，按照排号从小到大，列位置编号从小到大的原则设定待测电子设备的IP；
(f)测试柜控制器将所有待测电子设备的IP＝j+i发送给上位机；
(g)上位机依据获取的IP建立待测电子设备的测试数据库，地址设定流程结束。
所述步骤e的步骤为：①初始化排号j＝1；列位置编号i＝1；②控制第j排第i位置编号的电子设备通电；②测试柜控制器将IP＝j+i发送到通信总线上；③在规定的时间内接收地址回复确认信息，并对该位置IP进行确认标记；④逐次增加列位置编号i和排号j的值，重复步骤②～④直至所有的待测电子设备IP设定完成。
步骤b包括以下步骤：
一、启动AD对N路AD通道进行采样，依次获取j通道的采样数字量为：其中K为测试柜一排能放置待测电子设备的数量最大值；
二、判断采样数据Dataj的第i-1位是否为1；结果是1置数组元素value[j][i]＝1，结果不是1则置数组元素value[j][i]＝0；
三、上传IP地址至上位机；
四、重新初始化排号j＝1，初始化列位置编号i＝1；通过上传的IP地址与数组元素的判断，即判断Ip[j][i]＝＝value[j][i]，其结果为是，则继续下一个IP检测，直至所有待测电子设备的IP均设定；其结果为否，则判断value[j][i]＝＝0，该结果为是，则确定IP＝j+i的设备断 线并发送给上位机，该结果为否则确定IP＝j+i插入设备并发送给上位机，继续下一个IP检测，直至所有待测电子设备的IP均设定。
待测电子设备的IP设定方法如下：(1)检测待测电子设备是否存在IP；
(2)接收测试柜控制器下发的IP地址；并将测试柜控制器下发的IP地址IP＝j+i，设为该待测电子设备的IP；
(3)发送该待测电子设备IP已设置的回复信息至测试柜控制器。
具体讲，该IP检测方法包括上位机IP设定方法、待测电子设备的IP设定方法以及测试柜控制器IP设定方法。
其中上位机IP设定方法包括以下步骤：
(1)将所有待测电子设备放入测试柜之后，运行上位机测试软件；
(2)上位机发送命令给测试柜控制器获取待测电子设备的IP；
(3)测试柜控制器回复确认接收到命令？如果结果为是，则进入下一步，否则，返回上一步；
(4)接收测试柜上传的被测设备的IP；
(5)判断测试柜上所有被测设备的IP是否已接收？如果是，则进入下一步；否则返回上一步；
(6)建立所有设备IP对应的测试结果数据库；
(7)执行测试程序的其他功能；
(8)测试是否结束？如果是，进入下一步；否则，则返回上一步；
(9)发送测试程序结束命令给测试柜控制器；
(10)测试程序结束。
待测电子设备的IP设定方法如图3所示，主要实现测试柜中待测电子设备IP设定及查询、上传待测电子设备的IP给上位机，其IP设定方法包括以下步骤：
(1)进入定时采样子程序，然后进入步骤(2)；
(2)启动AD对N路AD通道进行采样，然后进入步骤(3)；
(3)N路采样是否结束？如果是，进入步骤(4)；否则，等待；
(4)初始化采样通道j＝1，然后进入步骤(5)；
(5)获取j通道的采样数字量为：(其中：VCC为运算放大电路的供电电压和测试柜控制器采样的基准电压；K为测试柜一排能放置待测电子设备的数量最大值，该值也为AD采样的位数。由倒T型电阻网络DA工作原理可知：运算放大器、阻值为R和2R的电阻、单刀双投开关Si(1＜＝i＜＝K)组成的倒T型电阻网络DA(数-模)转换电路实现待测电子设备在第j排放置编号的识别。然后进入步骤(6)；
(6)初始化位置变量i＝1；然后进入步骤(7)；
(7)判断采样数据Dataj的第i-1位是否为1，即Dataj&(1＜＜(i-1))＝＝1？如果是，则进入步骤(8),；否则，进入步骤(9)；
(8)置数组元素value[j][i]＝1，然后进入步骤(10)；
(9)置数组元素value[j][i]＝0，然后进入步骤(10)；
(10)更新变量i＝i+1，然后进入步骤(11)；
(11)判断i>K？如果是，则进入步骤(12)；否则，进入步骤(7)；
(12)更新变量j＝j+1，然后进入步骤(13)；
(13)判断j>N？如果是，则进入步骤(14)；否则，进入步骤(5)；
(14)判断IP地址是否已上传？如果是，则进入步骤(45)；否则，进入步骤(15)；
(15)判断是否收到IP上传命令？如果是，则进入步骤(16)；否则，进入步骤(56)；
(16)初始化排数变量j＝1，然后进入步骤(17)；
(17)初始化位置编号变量i＝1；然后进入步骤(18)；
(18)判断value[j][i]＝＝1？如果是，则进入步骤(19)；否则，进入步骤(29)；
(19)接通第j排的电源控制开关pi，然后进入步骤(20)；
(20)延时T，然后进入步骤(21)；
(21)发送IP＝j(高字节)+i(低字节)给待测电子设备，然后进入步骤(22)；
(22)判断是否收到待测电子设备IP回复？如果是，则进入步骤(27)；否则，进入步骤(23)；
(23)更新定时器变量Timer＝Timer+1，然后进入步骤(24)；
(24)判断Timer>Tmax？如果是，进入步骤(25)；否则，进入步骤(21)；
(25)更新变量value[j][i]＝0，然后进入步骤(26)；
(26)更新变量Ip[j][i]＝0，然后进入步骤(28)；
(27)更新变量Ip[j][i]＝1并将IP＝j(高字节)+i(低字节)发送给上位机，然后进入步骤(28)；
(28)更新变量Timer＝0，然后进入步骤(29)；
(29)更新变量i＝i+1，然后进入步骤(30)；
(30)判断i>K？如果是，则进入步骤(30)；否则，进入步骤(18)；
(31)更新变量j＝j+1，然后进入步骤(32)；
(32)判断j>N？如果是，则进入步骤(33)；否则，进入步骤(17)；
(33)置位IP地址已上传标志，然后进入步骤(33)；
(34)判断是否收到测试结束命令？如果是，则进入步骤(35)；否则，进入步骤(56)；
(35)复位IP地址已上传标志，然后进入步骤(36)；
(36)初始化排数变量j＝1，然后进入步骤(37)；
(37)初始化位置编号变量i＝1；然后进入步骤(38)；
(38)判断Ip[j][i]＝＝1？如果是，则进入步骤(39)；否则，进入步骤(41)；
(39)断开第j排的电源开关pi，然后进入步骤(40)；
(40)更新数组元素Ip[j][i]＝0，然后进入步骤(41)；
(41)更新变量i＝i+1，然后进入步骤(42)；
(42)判断i>K？如果是，则进入步骤(43)；否则，进入步骤(38)；
(43)更新变量j＝j+1，然后进入步骤(44)；
(44)判断j>N？如果是，则进入步骤(56)；否则，进入步骤(37)；
(45)初始化排数变量j＝1，然后进入步骤(46)；
(46)初始化位置编号变量i＝1；然后进入步骤(47)；
(47)判断Ip[j][i]＝＝value[j][i]？如果是，则进入步骤(52)；否则，进入步骤(48)；
(48)判断value[j][i]＝＝0？如果是，则进入步骤(49)；否则，进入步骤(50)；
(49)确定IP＝j+i的设备断线并发送给上位机，然后进入步骤(51)；
(50)确定IP＝j+i插入设备并发送给上位机，然后进入步骤(51)；
(51)延时T，然后进入步骤(52)；
(52)更新变量i＝i+1，然后进入步骤(53)；
(53)判断i>K？如果是，则进入步骤(54)；否则，进入步骤(47)；
(54)更新变量j＝j+1，然后进入步骤(55)；
(55)判断j>N？如果是，则进入步骤(34)；否则，进入步骤(46)；
(56)定时采样子程序退出；
被测设备IP设定流程如图4所示，主要实现接收测试柜控制器IP设定和上传测试数据给测试柜控制器，其地址设定流程说明如下：
(1)进入IP设定子程序；然后进入步骤(2)；
(2)判断本设备IP是否为null？如果是，则进入步骤(3)；否则，进入步骤(6)；
(3)判断是否接收到测试柜控制器下发的IP地址？如果是，则进入步骤(4)；否则，进入步骤(6)；
(4)接收来自测试柜控制器的IP＝j(高字节)+i(低字节)，然后进入步骤(5)；
(5)发送设备IP已设置的回复信息，然后进入步骤(6)；
(6)程序结束，退出；
举个实施例，本例以测试柜为10×10结构，即每个测试柜有10排，每排10个电子设备放置位置为例进行阐述，测试实例基本流程为：
(a)操作员将待测电子设备放入测试柜，并正确接好连线；
(b)测试柜控制器通过运行定时采样子程序对放入测试柜的待测电子设备进行位置号识别和标记；
(c)所有待测电子设备放置完毕之后，运行上位机测试程序；
(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取电子设备IP；
(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP命令之后，依据以获得的测试柜中待测电子设备放置的位置编号，按照排数从小到大，位置号从小到大的原则设定电子设备的IP(假设控制柜上位置全放置了待测电子设备，其操作流程为：①初始化排数j＝1；位置编号i＝1；②控制第j排第i位置编号的待测电子设备通电；②测试柜控制器将IP＝j(高字节)+i(低字节)发送到通信总线上；③在规定的时间内接收地址回复确认信息，并对该位置IP进行确认标记；④逐次增加列位置编号i和排号j的值，重复步骤②～④直至所有的待测电子设备IP设定完成。
(f)测试柜控制器将所有待测电子设备的IP＝j(高字节：排号)++i(低字节：位置号)发送给上位机；
(g)上位机依据获取的IP建立待测电子设备的测试数据库,地址设定流程结束。
采用此IP设定方法，与现有静态IP设定方案相比，具有以下优势：
①控制器的IP设定不需要操作人员设定，完全有测试系统自动分配；
②能保证所设定的IP与被测电子设备放置位置编号严格保持一致；
③测试结束之后，该IP自动清除，不占用内存和影响其他功能；
④该IP设定方法准确、快速、简单易于实现；
⑤该IP设定方法具有很强的通用性，因而该发明具有很高的性价比和适用互换性；
⑥该地址IP设定方法能对断线的测试设备进行实时监控并报警处理；
与现有动态IP设定方案相比，具有以下优势：
①无需获取控制器主控芯片的任何信息，从而能实现基于不同主控芯片平台的控制器同时进行测试；
②能准确实现IP与被测电子设备放置位置编号保持一致；
③该IP设定方法准确、快速、简单易于实现；
④该IP设定方法能对断线的测试设备进行实时监控并报警处理；
实施例不应视为对发明的限制，但任何基于本发明的精神所作的改进，都应在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种具备位置识别的电子设备测试系统，其包括上位机、测试柜控制器以及功能测试模拟设备，其特征在于：其还设有若干倒T型DA转换电路、若干与待测电子设备对应的供电电源以及分别控制供电电源对待测电子设备供电的控制电路，待测电子设备通过倒T型DA转换电路与测试柜控制器连接，所述待测电子设备与测试柜控制器通信连接，所述测试柜控制器与上位机连接，所述倒T型DA转换电路包括正负输入端，所述正负输入端之间对应待测电子设备的位置设置切换开关，通过切换开关的闭合闸将待测电子设备接入倒T型DA转换电路，通过控制电路对待测电子设备的顺序通电使得倒T型DA转换电路的输出电压V0发生变化，并将该电压V0输入到测试柜控制器，从而分别获得当前装入待测电子设备的位置编号。
2.一种基于上述权利要求1或2所述的具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其特征在于：其包括以下步骤：
(a)依次将待测电子设备放入测试柜，并正确接好连线，直至所有待测电子设备均放入测试柜；
(b)测试柜控制器通过顺序控制控制电路对待测电子设备的供电，对DA转换电路输出电压V0进行采样，依次对放入测试柜的待测电子设备进行位置号识别和标记，并将依据识别地址得到的IP＝j+i发送给待测电子设备，并确认IP设定成功，其中j为高字节表示排号，i为低字节表示列位置编号；
(c)所有待测电子设备放置完毕之后，运行上位机测试程序；
(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取电子设备IP；
(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP命令之后，依据以获得的测试柜中待测电子设备放置的位置编号，按照排号从小到大，列位置编号从小到大的原则设定待测电子设备的IP；
(f)测试柜控制器将所有待测电子设备的IP＝j+i发送给上位机；
(g)上位机依据获取的IP建立待测电子设备的测试数据库，地址设定流程结束。
3.根据权利要求2所述的一种具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其特征在于：所述步骤e的步骤为：①初始化排号j＝1；列位置编号i＝1；②控制第j排第i位置编号的电子设备通电；②测试柜控制器将IP＝j+i发送到通信总线上；③在规定的时间内接收地址回复确认信息，并对该位置IP进行确认标记；④逐次增加列位置编号i和排号j的值，重复步骤②～④直至所有的待测电子设备IP设定完成。
4.根据权利要求2所述的一种具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其特征在于：步骤b包括以下步骤：
一、启动AD对N路AD通道进行采样，依次获取j通道的采样数字量为：其中K为测试柜一排能放置待测电子设备的数量最大值；
二、判断采样数据Dataj的第i-1位是否为1；结果是1置数组元素value[j][i]＝1，结果不是1则置数组元素value[j][i]＝0；
三、上传IP地址至上位机；
四、重新初始化排号j＝1，初始化列位置编号i＝1；通过上传的IP地址与数组元素的判断，即判断Ip[j][i]＝＝value[j][i]，其结果为是，则继续下一个IP检测，直至所有待测电子设备的IP均设定；其结果为否，则判断value[j][i]＝＝0，该结果为是，则确定IP＝j+i的设备断线并发送给上位机，该结果为否则确定IP＝j+i插入设备并发送给上位机，继续下一个IP检测，直至所有待测电子设备的IP均设定。
5.根据权利要求4所述的一种具备位置识别的电子设备测试系统的IP设定方法，其特征在于：待测电子设备的IP设定方法如下：(1)检测待测电子设备是否存在IP；
(2)接收测试柜控制器下发的IP地址；并将测试柜控制器下发的IP地址IP＝j+i，设为该待测电子设备的IP；
(3)发送该待测电子设备IP已设置的回复信息至测试柜控制器。
CN201610392542.7A 2016-06-03 2016-06-03 一种具备位置识别的电子设备测试系统的ip设定方法 Expired - Fee Related CN106093631B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610392542.7A CN106093631B (zh) 2016-06-03 2016-06-03 一种具备位置识别的电子设备测试系统的ip设定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610392542.7A CN106093631B (zh) 2016-06-03 2016-06-03 一种具备位置识别的电子设备测试系统的ip设定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106093631A true CN106093631A (zh) 2016-11-09
CN106093631B CN106093631B (zh) 2018-11-06

Family

ID=57447737

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610392542.7A Expired - Fee Related CN106093631B (zh) 2016-06-03 2016-06-03 一种具备位置识别的电子设备测试系统的ip设定方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106093631B (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107454206A (zh) * 2017-08-10 2017-12-08 四川长虹电器股份有限公司 一种智能家居设备局域网地址设定方法
CN108490337A (zh) * 2018-03-14 2018-09-04 广州视源电子科技股份有限公司 板卡测试方法、系统、可读存储介质及计算机设备
CN108521383A (zh) * 2018-04-13 2018-09-11 郑州云海信息技术有限公司 一种基于vsan架构虚拟化方法、系统及设备
CN109711143A (zh) * 2018-12-11 2019-05-03 北京云测信息技术有限公司 一种基于adb识别Android设备的方法
CN109813524A (zh) * 2018-12-03 2019-05-28 深圳市天视通电子科技有限公司 一种模组批量测试的方法、装置及系统
CN110377871A (zh) * 2019-06-12 2019-10-25 深圳市智莱科技股份有限公司 确定智能储物柜系统中副柜位置的方法及系统
CN111025046A (zh) * 2019-11-25 2020-04-17 上海科梁信息工程股份有限公司 一种测试系统、控制矩阵开关的方法及存储介质
CN114899927A (zh) * 2022-07-14 2022-08-12 广东首航智慧新能源科技有限公司 电池端口的识别方法、逆变器与储能系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1042633A (zh) * 1988-11-10 1990-05-30 清华大学 电流型数/模转换器
US7107817B2 (en) * 2001-06-07 2006-09-19 Advantest Corporation Method for calibrating semiconductor test instruments
CN101675349A (zh) * 2007-05-02 2010-03-17 Nxp股份有限公司 Ic测试方法和设备
CN104247270A (zh) * 2012-04-12 2014-12-24 美国亚德诺半导体公司 具有控制栅极电压的数字-模拟转换器
CN104321969A (zh) * 2012-06-19 2015-01-28 国际商业机器公司 具有部分电阻器网络重构的电阻器-2电阻器(r-2r)数模转换器
CN104954081A (zh) * 2015-05-29 2015-09-30 深圳市共进电子股份有限公司 一种电子设备的测试系统及其测试方法
US9183163B2 (en) * 2012-06-27 2015-11-10 Ubiquiti Networks, Inc. Method and apparatus for distributed control of an interfacing-device network

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1042633A (zh) * 1988-11-10 1990-05-30 清华大学 电流型数/模转换器
US7107817B2 (en) * 2001-06-07 2006-09-19 Advantest Corporation Method for calibrating semiconductor test instruments
CN101675349A (zh) * 2007-05-02 2010-03-17 Nxp股份有限公司 Ic测试方法和设备
CN104247270A (zh) * 2012-04-12 2014-12-24 美国亚德诺半导体公司 具有控制栅极电压的数字-模拟转换器
CN104321969A (zh) * 2012-06-19 2015-01-28 国际商业机器公司 具有部分电阻器网络重构的电阻器-2电阻器(r-2r)数模转换器
US9183163B2 (en) * 2012-06-27 2015-11-10 Ubiquiti Networks, Inc. Method and apparatus for distributed control of an interfacing-device network
CN104954081A (zh) * 2015-05-29 2015-09-30 深圳市共进电子股份有限公司 一种电子设备的测试系统及其测试方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
叶忻泉 等: "压双电源智能投切控制系统的开发", 《农业科技与装备》 *

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107454206A (zh) * 2017-08-10 2017-12-08 四川长虹电器股份有限公司 一种智能家居设备局域网地址设定方法
CN108490337A (zh) * 2018-03-14 2018-09-04 广州视源电子科技股份有限公司 板卡测试方法、系统、可读存储介质及计算机设备
CN108521383A (zh) * 2018-04-13 2018-09-11 郑州云海信息技术有限公司 一种基于vsan架构虚拟化方法、系统及设备
CN109813524A (zh) * 2018-12-03 2019-05-28 深圳市天视通电子科技有限公司 一种模组批量测试的方法、装置及系统
CN109711143A (zh) * 2018-12-11 2019-05-03 北京云测信息技术有限公司 一种基于adb识别Android设备的方法
CN110377871A (zh) * 2019-06-12 2019-10-25 深圳市智莱科技股份有限公司 确定智能储物柜系统中副柜位置的方法及系统
CN110377871B (zh) * 2019-06-12 2021-04-13 深圳市智莱科技股份有限公司 确定智能储物柜系统中副柜位置的方法及系统
CN111025046A (zh) * 2019-11-25 2020-04-17 上海科梁信息工程股份有限公司 一种测试系统、控制矩阵开关的方法及存储介质
CN114899927A (zh) * 2022-07-14 2022-08-12 广东首航智慧新能源科技有限公司 电池端口的识别方法、逆变器与储能系统
CN114899927B (zh) * 2022-07-14 2022-10-14 广东首航智慧新能源科技有限公司 电池端口的识别方法、逆变器与储能系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN106093631B (zh) 2018-11-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106093631A (zh) 一种具备位置识别的电子设备测试系统及ip设定方法
CN106093633B (zh) 一种电子设备测试系统及ip地址设定方法
CN110927489B (zh) 配电自动化馈线终端测试系统和方法
US5444390A (en) Means and method for sequentially testing electrical components
CN106093632B (zh) 基于扫描被测电子设备位置的ip地址设定方法及系统
CN204631150U (zh) 三相低电压保护继电器功能测试系统
CN104849580A (zh) 保护卡件功能测试系统及方法
CA2421047A1 (en) Method and apparatus for optimized parallel testing and access of electronic circuits
CN103149386A (zh) 电源老化测试的电子负载模块及电源老化测试系统
CN106249088A (zh) 一种航天器火工品线路电子等效测试装置
CN204631215U (zh) 两相低电压保护继电器功能测试系统
CN105379043A (zh) Dc功率分配系统
CN104849582A (zh) 过流保护及电压监测装置拷机测试系统及方法
CN107526004B (zh) 计量故障识别模块的台区识别方法
CN107192945A (zh) 一种基于网络的高压开关设备试验管理系统及方法
CN105510737A (zh) 一种运载火箭通用自动化测试系统
CN110654572A (zh) 新型航天器真空热试验测控装置及测控方法
CN103376381A (zh) 配电终端产品老化实时检测系统
US20150316606A1 (en) Self learning radio frequency monitoring system for identifying and locating faults in electrical distribution systems
CN105867356B (zh) 一种水泵控制器测试系统及ip地址设定方法
CN106569187B (zh) 一种基于老化台的自动监控系统
CN104298125A (zh) 模块化cpci配线箱
CN106054860B (zh) 一种水泵控制器测试系统及ip地址自主设定方法
US20180097349A1 (en) Junction box and network for distributing energy
CN203365577U (zh) 配电终端产品老化实时检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Application publication date: 20161109

Assignee: INSTITUTE OF LASER AND OPTOELECTRONICS INTELLIGENT MANUFACTURING, WENZHOU University

Assignor: Wenzhou University

Contract record no.: X2020330000103

Denomination of invention: IP setting method of electronic equipment test system with position identification

Granted publication date: 20181106

License type: Common License

Record date: 20201125

EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20181106

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee