CN106092001A - 封框胶宽度的测量方法及测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种封框胶宽度的测量装置，包括：处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器。本发明还提供了一种封框胶宽度的测量方法。本发明的技术方案，通过设置处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器，能够确定窄边框液晶面板的封框胶的两个宽度边界，并能够通过计算得出封框胶宽度。本发明的技术方案，借助超声波的特性，突破了窄边框液晶面板中由于黑矩阵层和金属层遮盖封框胶而导致无法使用CCD获取封框胶的宽度边界的瓶颈，能够有效测量窄边框液晶面板的封框胶宽度。

Description

封框胶宽度的测量方法及测量装置

技术领域

本发明涉及液晶制造领域，尤其涉及一种封框胶宽度的测量方法及测量装置。

背景技术

TFT(薄膜晶体管)液晶面板包括TFT基板与CF(彩色滤光片)基板，TFT基板与CF基板之间填充有LC(Liquid Crystal，液晶)层和Seal(封框胶)。封框胶围设在液晶层的外围，起到将两层基板粘合、密封液晶层的作用。封框胶的宽度是与液晶面板的产品良率及信赖性强相关的管控尺寸。封框胶宽度过宽会造成基板切割制程异常，或导致液晶过早接触封框胶而被污染；封框胶宽度若过窄，又会造成液晶泄漏或水汽进入，导致产品报废。因此，需要对液晶面板的封框胶宽度进行测量，以实现尺寸管控。现有的一种测量技术，是通过CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合元件)摄取封框胶的宽度轮廓，实现封框胶宽度的测量。

窄边框设计逐渐成为液晶屏设计的主流技术。然而，采用窄边框设计的液晶面板中，封框胶宽度更小，这将导致传统借助CCD的测量方法无法摄取封框胶的宽度轮廓，从而无法进行封框胶宽度的测量。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种封框胶宽度的测量方法及测量装置，能够有效测量液晶面板的封框胶宽度。

一种封框胶宽度的测量方法，用于测量液晶面板的封框胶的宽度，所述封框胶填充在所述液晶面板的上基板与下基板之间，所述封框胶具有极限宽度边界，包括：处理器向控制器发送包含测量参数的测量信号，所述测量参数包括位于所述上基板上方的初始测量位置、位于所述上基板上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D；其中，所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间；所述测量距离D与所述单次移动间距d满足：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数；所述移动方向平行于所述封框胶的宽度方向；所述控制器接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、控制所述超声波发射器发射超声波，以及控制所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；所述超声波发射器定位到所述初始测量位置，所述超声波发射器由所述初始测量位置开始，沿所述移动方向逐次移动一个所述单次移动间距d以到达下一测量位置，直至到达所述终止测量位置，所述超声波发射器在每个测量位置向所述超声波接收器发射超声波；所述超声波接收器定位到所述下基板下方对应所述每个测量位置处，并接收所述超声波发射器发射的超声波；所述控制器确定所述每个测量位置的超声波回传时差，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；其中，第i测量位置Pi具有超声波回传时差Ti，i＝0,1,2…n；所述处理器接收所述控制器发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb；所述处理器计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

其中，所述控制器生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号包括：所述控制器生成指示所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的对应关系的测量结果曲线，所述测量结果曲线包含有所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的信息；所述控制器生成包含所述测量结果曲线的反馈信号；所述处理器根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb包括：所述处理器根据所述反馈信号确定所述测量结果曲线上的两个拐点a和拐点b，进而确定所述拐点a对应的所述拐点超声波回传时差Ta，以及所述拐点b对应的所述拐点超声波回传时差Tb。

其中，所述测量方法还包括：在所述显示装置中显示所述测量结果曲线以及所述封框胶宽度。

其中，所述测量参数还包括所述超声波发射器及所述超声波接收器的移动速度。

一种封框胶宽度的测量装置，用于测量液晶面板的封框胶的宽度，所述封框胶填充在所述液晶面板的上基板与下基板之间，所述封框胶具有极限宽度边界，所述测量装置包括：处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器；所述处理器与所述控制器电连接，所述处理器用于向所述控制器发送包含测量参数的测量信号，所述测量参数包括位于所述上基板上方的初始测量位置、位于所述上基板上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D；其中，所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间；所述测量距离D与所述单次移动间距d满足：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数；所述移动方向平行于所述封框胶的宽度方向；所述控制器与所述处理器、所述超声波发射器以及所述超声波接收器均电连接，所述控制器用于接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、所述超声波发射器发射超声波，以及所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；所述超声波发射器与所述控制器电连接，所述超声波发射器可定位到所述初始测量位置，并可由所述初始测量位置开始，沿所述移动方向逐次移动一个所述单次移动间距d以到达下一测量位置，直至到达所述终止测量位置；所述超声波发射器用于向所述超声波接收器发射超声波；所述超声波接收器与所述控制器电连接，所述超声波接收器可同步定位到所述下基板下方对应所述每个测量位置处；所述超声波接收器用于接收所述超声波发射器发射的超声波；所述控制器还用于确定所述每个测量位置的超声波回传时差，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；其中，第i测量位置Pi具有超声波回传时差Ti，i＝0,1,2…n；所述处理器还用于接收所述控制器发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb；所述处理器还用于计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

其中，所述控制器包括第一控制单元与第二控制单元；所述第一控制单元与所述处理器、所述超声波发射器及所述超声波接收器均电连接；所述第一控制单元用于接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、所述超声波发射器发射超声波，以及所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；所述第二控制单元与所述超声波接收器及所述处理器均电连接；所述第二控制单元用于测量所述每个测量位置的超声波回传时差Ti，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；所述处理器具体用于，接收所述第二控制单元发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb，并计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

其中，所述第二控制单元具体用于生成指示所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的对应关系的测量结果曲线，所述测量结果曲线包含有所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的信息；所述第二控制单元生成包含所述测量结果曲线的反馈信号；所述处理器具体用于接收所述第二控制单元发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述测量结果曲线上的两个拐点a和拐点b，进而确定所述拐点a对应的所述拐点超声波回传时差Ta及所述测量位置Pa，以及所述拐点b对应的所述拐点超声波回传时差Tb及所述测量位置Pb，并计算所述测量位置Pa到所述测量位置P的间距，确定所述封框胶宽度。

其中，所述测量装置还包括显示单元，所述显示单元与所述处理器电连接，所述显示单元用于显示所述测量结果曲线以及所述封框胶宽度。

其中，所述测量参数还包括所述超声波发射器及所述超声波接收器的移动速度。

由此，本发明的技术方案，通过设置处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器，控制超声波发射器和超声波接收器沿封框胶的宽度方向依次平移并同时进行超声波的发送与接收，测量在各个测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，确定出两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进一步确定超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa、超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb，从而确定封框胶的两个宽度边界Pa和Pb。最后通过计算测量位置Pa与测量位置Pb的间距得出封框胶宽度。本发明的技术方案，借助超声波的特性，突破了现有技术中由于黑矩阵层和金属层遮盖封框胶而导致无法使用CCD获取窄边框液晶面板的封框胶的宽度边界的瓶颈，能够有效测量窄边框液晶面板的封框胶宽度。进一步的，本发明的技术方案还可以用于其他由具有明显分界的多种介质构成的产品中某一介质宽度的测量，具备广泛的适用性。

附图说明

为更清楚地阐述本发明的构造特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对其进行详细说明。

图1是现有技术中封框胶宽度的测量方法的操作示意图。

图2是本发明实施例提供的封框胶宽度的测量方法的操作示意图。

图3是本发明实施例提供的封框胶宽度的测量方法的示意性流程框图。

图4是图3所示的测量方法中的测量结果曲线的示意图。

图5是本发明实施例提供的封框胶宽度的测量装置的结构示意图。

图6是本发明实施例提供的封框胶宽度的测量装置的又一结构示意图。

图5是本发明实施例提供的封框胶宽度的测量装置的又一结构示意图。

图7是本发明实施例提供的封框胶宽度的测量装置的又一结构示意图。

具体实施例

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本发明保护的范围。

图1示出了现有技术中，针对窄边框液晶面板进行封框胶宽度测量的示意图。如图1所示，窄边框液晶面板包括CF基板5和TFT基板7，两层基板之间填充有LC层6及Seal 2，Seal 2呈环状围设在LC层6外围。CF基板5上对应Seal 2的位置设有BM(Black Matrix，黑矩阵)层1，TFT基板7上对应Seal 2的位置设有Metal(金属)层3。BM层1与Metal层3的宽度均大于Seal 2宽度，且在宽度方向上，BM层1与Metal层3的两端均超出了Seal 2的宽度轮廓的两端。本发明实施例中，所述宽度方向指图1和图2中的水平方向，在此方向上，BM层1、Metal层3及Seal 2均具有宽度尺寸。例如，Seal 2宽度即为在图1和图2中的水平方向上，环状的Seal 2的环截面尺寸，也即为Seal 2的宽度方向的轮廓尺寸。

现有技术中使用CCD 4进行Seal 2宽度测量。CCD 4摄取Seal 2的宽度边界图像，然后处理器对所获图像进行灰阶分析，从而找出Seal 2的宽度边界，进而计算出Seal 2宽度。具体的，如图1所示，CCD 4设于TFT基板一侧对应Seal的宽度轮廓的附近位置，并拟进行宽度边界图像摄取。但是，由于采用了窄边框设计，Seal 2宽度更小，其宽度轮廓完全被BM层1及Metal层3遮挡，因此CCD 4无法摄取到Seal 2的实际宽度边界图像，从而也就无法确定Seal 2的宽度边界和计算出Seal 2宽度。

本实施例中的窄边框液晶面板与上述现有技术中的窄边框液晶面板结构相同，在此不再赘述。出于简洁和突出重点的考虑，本实施例的图2中仅截取了窄边框液晶面板一侧的部分结构进行示意。如图2所示，在Seal 2的外侧，即Seal 2靠近两层基板外边缘这侧，Seal 2与两层基板外边缘之间留有结构设计上要求的间隙，间隙中充有空气层8。因此，图2中示出了填充在两层基板之间的不同介质LC 6、Seal 2、空气层8、BM层1及Metal层3。其中，Seal 2与LC层6及空气层8的交界均为Seal 2的宽度边界。本实施例中，Seal 2具有极限宽度边界。所述极限宽度边界指Seal 2的两个宽度边界所分别能达到的极限位置，此极限位置分别为Seal 2与LC层6和空气层8的极限交界。所述极限宽度边界通过设计公差和生产制程予以保证，并在实际制造中能够确定。

如图2所示，本实施例中的上基板5是CF基板、下基板7是TFT基板；当然，在其他实施例中，上基板5也可以是TFT基板、而下基板7是CF基板。上基板与下基板经过了真空贴合和Seal硬化工艺。应理解，Seal 2宽度测量发生在真空贴合和Seal硬化工艺之后，因此本实施例中的上基板与下基板，指的经过真空贴合和Seal硬化工艺处理之后的上基板和下基板。

如图3所示，本实施例的测量方法200包括：

S210，处理器向控制器发送包含测量参数的测量信号，所述测量参数包括位于所述上基板上方的初始测量位置、位于所述上基板上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D；其中，所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间；所述测量距离D与所述单次移动间距d满足：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数；所述移动方向平行于所述封框胶的宽度方向；

S220，所述控制器接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、控制所述超声波发射器发射超声波，以及控制所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；

S230，所述超声波发射器定位到所述初始测量位置，所述超声波发射器由所述初始测量位置开始，沿所述移动方向逐次移动一个所述单次移动间距d以到达下一测量位置，直至到达所述终止测量位置，所述超声波发射器在每个测量位置向所述超声波接收器发射超声波；

S240，所述超声波接收器定位到所述下基板下方对应所述每个测量位置处，并接收所述超声波发射器发射的超声波；

S250，所述控制器确定所述每个测量位置的超声波回传时差，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；其中，第i测量位置Pi具有超声波回传时差Ti，i＝0,1,2…n；

S260，所述处理器接收所述控制器发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb；

S270，所述处理器计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

具体而言，在S210中，所述处理器中预设有所述测量参数。所述测量参数是具体控制超声波发射器11及超声波接收器12进行工作的参数。所述测量参数包括：位于所述上基板上方的初始测量位置、位于所述上基板上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D。所述处理器向所述控制器发送所述测量信号，所述测量信号中包含所述测量参数。

其中，所述初始测量位置为超声波发射器11开始发射超声波、所述控制器开始测量和获取第一个超声波回传时差的位置。所述初始测量位置位于所述上基板上方d1距离处，即超声波发射器11开始位于所述上基板上方d1距离处。设定距离d1是为了避免超声波发射器11直接接触所述上基板而污染所述上基板。类似的，所述终止测量位置为超声波发射器11结束发射超声波、所述控制器测量和获取最后一个超声波回传时差的位置。如图2所示，所述初始测量位置具体为测量位置P0，所述终止测量位置具体为测量位置Pn。测量位置P0到测量位置Pn的距离为所述测量距离D。所述测量距离D为超声波发射器11及超声波接收器12在后续测量过程中移动的总距离。所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间。由此，所述测量距离D将完全覆盖所述极限宽度边界。所述单次移动间距d为超声波发射器11及超声波接收器12在后续测量过程中每次移动的距离。所述单次移动间距d越小，则最终测量结果越精准。所述单次移动间距d的具体数值，根据实际情况而定。如图2所示，超声波发射器11从所述初始测量位置P0向所述终止测量位置Pn移动的过程中，依次会经过其他测量位置，例如测量位置P1、P2…、Pn-2、Pn-1。

所述单次移动间距d与所述测量距离D满足如下关系式：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数。即超声波发射器11及超声波接收器12将移动n次，每次移动所述单次移动间距d，移动的总距离为所述测量距离D。n的取值范围将在下文中予以解释。

所述移动方向为超声波发射器11从测量位置P0，移动到测量位置Pn的运动方向，所述移动方向平行于Seal 2的所述宽度方向。所述移动方向也即为超声波接收器12的平移方向。

进一步的，在S210中，所述测量参数还包括超声波发射器11及超声波接收器12的移动速度。所述移动速度根据具体情况予以设定。例如，以超声波发射器11及超声波接收器12能够平稳移动且稳定收发超声波为准。

具体而言，在S220中，所述控制器接收所述处理器发送的所述测量信号。所述控制器根据所述测量信号中控制超声波发射器11与超声波接收器12进行工作。具体的，所述控制器根据所述测量信号的所述测量参数，控制超声波发射器11定位到所述初始测量位置P0、控制超声波接收器12定位到下基板7下方d2距离处，且对应所述初始测量位置P0(即对应超声波发射器11)；在超声波发射器11及超声波接收器12到位后，所述控制器控制超声波发射器11发射超声波、控制超声波接收器12接收超声波。之后，所述控制器控制超声波发射器11与超声波接收器12移动到下一测量位置，继续进行超声波的发送和接收，直至完成全部测量位置的超声波发送与接收。所述控制器能够检测超声波发射器11和超声波接收器12的移动次数，当所述次数达到n时，则控制超声波发射器11和超声波接收器12不再继续沿着所述移动方向平移，以及控制超声波发射器11和超声波接收器12停止超声波的发送和接收。

具体而言，在S230中，超声波发射器11在所述控制器的控制之下，从所述初始测量位置P0开始，每次移动所述单次移动间距d，直到到达所述终止测量位置Pn。同时，超声波发射器11在各个测量位置向超声波接收器12发送超声波。超声波依次穿透上基板5、上基板5与下基板7间的介质，以及下基板7，到达超声波接收器12。如图2所示，在两层基板内沿所述宽度方向上的不同位置处，超声波将要穿透的介质不同，而超声波在不同介质中的传播速率有差别。在穿透距离不变的情况下，传播速率不同则超声波由超声波发射器11传递到超声波接收器12的时差也不同。

具体而言，在S240中，超声波接收器12在所述控制器的控制之下，依次同步定位到下基板7下方d2距离处，且对应各个测量位置。同时，超声波接收器12接收超声波发射器11发送的超声波。所述控制器可以是控制超声波接收器12与超声波发射器11同时同步移动，也可以是控制超声波发射器11先行移动到某一测量位置，然后控制超声波接收器12在后跟随移动到此位置。使得超声波接收器12与超声波发射器11的位置对应，是为了保证超声波在各个测量位置的穿透距离恒定。因而，超声波从超声波发射器11传递到超声波接收器12的时差不同，仅仅与穿透的介质有关系，而并非是穿透距离变化导致的。

具体而言，在S250中，所述控制器测量每个测量位置处的超声波回传时差，从而获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn。所述超声波回传时差为在每个测量位置，超声波从超声波发射器11传递到超声波接收器12的时差。其中，第i测量位置的超声波回传时差为Ti，i＝0,1,2…n。

在Seal 2的一个宽度边界的两侧，由于传播介质发生变化，因此各个所述超声波回传时差有较大不同；而在Seal 2的一个宽度边界的同侧且传播介质不变的测量位置，各个所述超声波回传时差则几乎一致。应理解，对于上基板5和下基板7间传播介质不发生变化的测量位置，即除Seal 2的两个宽度边界之外的其他测量位置，由于制程误差和/或测量误差，也会导致各个所述超声波回传时差有微小差别。这种微小误差虽然固有，但其对测量结果的影响可以通过特定方式排除。

所述控制器获取所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn之后，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号，以供所述处理器进行下一步处理。

具体而言，在S260中，所述处理器接收所述控制器发送的所述反馈信号，并据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb。所述拐点超声波回传时差Ta和Tb均为所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的超声波回传时差值。所述拐点超声波回传时差Ta对应测量位置Pa，所述拐点超声波回传时差Tb对应测量位置Pb。所述拐点超声波回传时差Ta满足：测量位置Pa处的所述拐点超声波回传时差Ta远小于相邻的测量位置Pa-1处的超声波回传时差Ta-1，且Ta-1减去Ta的结果大于设定的上限阈值；而所述拐点超声波回传时差Ta与相邻的测量位置Pa+1处的超声波回传时差Ta+1却相差极小，两者之差小于设定的下限阈值，所述上限阈值大于所述下限阈值。所述拐点超声波回传时差Tb满足：测量位置Pb处的所述拐点超声波回传时差Tb远小于相邻的测量位置Pb+1处的超声波回传时差Ta+1，且Ta+1减去Tb的结果大于设定的所述上限阈值；而所述拐点超声波回传时差Tb与相邻的测量位置Pb-1处的超声波回传时差Tb-1却相差极小，两者之差小于设定的所述下限阈值。即所述拐点超声波回传时差Ta和Tb均为所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个临界极小值。本实施例中，所述上限阈值与所述下限阈值为时间值，两者均用于判定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的某个超声波回传时差是否为拐点超声波回传时差。所述上限阈值与所述下限阈值的具体数值可以根据实际情况予以确定。

由于超声波在包含Seal 2的介质中(即图2中填充有Seal 2的传播介质区域，此区域中的传播介质有上基板5、BM层1、Seal 2、Metal层3以及下基板7)传播的速率更大，在不含Seal的介质(即图2中仅填充有空气层8和LC层6的传播介质区域，此区域中的传播介质有上基板5、BM层1、空气层8、LC层6、Metal层3以及下基板7)中传播的速率更小，因而测量位置Pa的所述超声波回传时差Ta突然降低，表示超声波的速率突然增大，进而表明测量位置Pa即为Seal 2的一个宽度边界，超声波从此测量位置Pa开始进入Seal 2中进行传播。类似的，测量位置Pb的所述超声波回传时差Tb突然提升，则表示超声波的速率突然减小，进而表明测量位置Pb即为Seal 2的另一个宽度边界，超声波从此测量位置Pb离开Seal 2，而进入到其他介质中进行传播。因此在S260中，通过确定两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，所述处理器能够确定Seal 2的两个宽度边界。

具体而言，在S270中，根据S260中确定的所述测量位置Pa与所述测量位置Pb，所述处理器计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距。此间距即为Seal 2宽度。

由此，本实施例的测量方法200，通过设置处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器，控制超声波发射器和超声波接收器沿封框胶的宽度方向依次平移并同时进行超声波的发送与接收，测量在各个测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，确定出两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进一步确定超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa、超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb，从而确定封框胶的两个宽度边界Pa和Pb。最后通过计算测量位置Pa与测量位置Pb的间距得出封框胶宽度。本实施例的测量方法，借助超声波的特性，突破了现有技术中由于黑矩阵层和金属层遮盖封框胶而导致无法使用CCD获取窄边框液晶面板的封框胶的宽度边界的瓶颈，能够有效测量窄边框液晶面板的封框胶宽度。进一步分析本测量方法200的实质可知，本测量方法200还可以用于其他由具有明显分界的多种介质构成的产品中某一介质宽度的测量，从而本测量方法200具备广泛的适用性。

进一步的，本实施例中，在S250中，所述控制器生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号包括：

所述控制器生成指示所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的对应关系的测量结果曲线，所述测量结果曲线包含有所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的信息；所述控制器生成包含所述测量结果曲线的反馈信号。

其中，在S260中，所述处理器根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb包括：

所述处理器根据所述反馈信号确定所述测量结果曲线上的两个拐点a和拐点b，进而确定所述拐点a对应的所述拐点超声波回传时差Ta，以及所述拐点b对应的所述拐点超声波回传时差Tb。

具体而言，如图4所示，所述控制器生成所述测量结果曲线。所述测量结果曲线的一个坐标轴为测量位置Pi，另一正交坐标轴为超声波回传时差Ti。所述测量结果曲线包含了所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn与所述全部测量位置的信息。所述处理器从所述测量结果曲线中确定两个拐点a和拐点b，所述拐点a和拐点b分别为所述测量结果曲线中的两个临界极小值点，其分别对应所述拐点超声波回传时差Ta及所述拐点超声波回传时差Tb。进而能够确定所述测量位置Pa与所述测量位置Pb，从而最终计算出Seal宽度。所述拐点超声波回传时差Ta及所述拐点超声波回传时差Tb的含义在上文已有详细描述，此处不再赘述。分析图4中的所述测量结果曲线可知：对于满足上述公式D＝n×d的n而言，n最小可取3。当n＝3时，所述测量结果曲线上具有4个插值点。如果出现所述拐点a和拐点b，则根据上述拐点a和拐点b的定义，所述拐点a和拐点b只能是所述4个插值点中处于中间的2个插值点(即所述测量结果曲线上除两端插值点之外的插值点)；若n取小于3的值，则所述测量结果曲线的插值点不足4个，此时将无法出现所述拐点a和拐点b，进而也无法确定所述宽度边界。综合可得，n为大于或等于3的正整数。本实施例中，通过使用函数曲线确定所述宽度边界的方式更具直观性。

进一步的，本实施例中，测量方法200还可以包括：在显示装置中显示所述测量结果曲线以及所述封框胶宽度。通过设置显示装置，能够直观告知人员测量过程产生的测量数据以及最终测量结果。

上文结合图1-图4详细描述了本发明实施例的测量方法。下面将结合图5-图7描述本发明实施例的测量装置。

如图2和图5所示，本实施例的测量装置10包括：处理器14、控制器13、超声波发射器11及超声波接收器12。测量装置10用于测量液晶面板的Seal 2的宽度，Seal 2填充在所述液晶面板的上基板5与下基板7之间，Seal 2具有极限宽度边界。

具体的，如图2和图5所示，处理器14与控制器13电连接，处理器14用于向控制器13发送包含测量参数的测量信号，所述测量参数包括位于上基板5上方的初始测量位置、位于上基板5上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D；其中，所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间；所述测量距离D与所述单次移动间距d满足：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数；所述移动方向平行于所述封框胶的宽度方向。进一步的，所述测量参数还包括超声波发射器11及超声波接收器12的移动速度。所述移动速度根据具体情况予以设定。例如，以超声波发射器11及超声波接收器12能够平稳移动且稳定收发超声波为准。

控制器13与处理器14、超声波发射器11及超声波接收器12均电连接。控制器13用于接收处理器14发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制超声波发射器11与超声波接收器12进行移动、超声波发射器11发射超声波，以超声波接收器12接收超声波发射器11发射的超声波。

所述超声波发射器与所述控制器电连接，所述超声波发射器可定位到所述初始测量位置，并可由所述初始测量位置开始，沿所述移动方向逐次移动一个所述单次移动间距d以到达下一测量位置，直至到达所述终止测量位置；所述超声波发射器用于向所述超声波接收器发射超声波；

超声波接收器12与控制器13电连接，超声波接收器12可同步定位到下基板7下方对应所述每个测量位置处；超声波接收器12用于接收所述超声波发射器发射的超声波。

控制器13还用于确定所述每个测量位置的超声波回传时差，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向处理器14发送所述反馈信号；其中，第i测量位置Pi具有超声波回传时差Ti，i＝0,1,2…n。

处理器14还用于接收控制器13发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb。

处理器14还用于计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

因此，本实施例的测量装置10，通过设置处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器，处理器向控制器发送所述携带测量参数的控制信号；控制器根据所述控制信号生成并向所述超声波发射器及所述超声波接收器发送携带所述参数的测量信号，以控制所述超声波发射器及所述超声波接收器进行测量工作；所述超声波发射器及所述超声波接收器根据所述测量信号顺次平移并同时进行超声波的发送与接收；所述控制器测量在各个测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn；所述处理器确定出两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进一步确定超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa、超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb，从而确定Seal的两个宽度边界，最终通过计算测量位置Pa与测量位置Pb的间距得出Seal宽度。本实施例的测量方装置10，突破了现有技术中由于BM层和Metal层遮盖Seal而导致无法使用CCD获取窄边框液晶面板的Seal的宽度边界的瓶颈，能够有效测量窄边框液晶面板的Seal宽度。进一步的，本测量方装置10还可以用于其他由具有明显分界的多种介质构成的产品中某一介质宽度的测量，具备广泛的适用性。

进一步的，如图6所示，本实施例中，控制器13还包括第一控制单元131及第二控制单元132。

具体的，第一控制单元131与处理器14、超声波发射器11及超声波接收器12电连接。第一控制单元131用于接收处理器14发送的所述测量信号，根据所述测量信号控制超声波发射器11与超声波接收器12进行移动、控制超声波发射器11发射超声波，以及控制超声波接收器12接收超声波发射器11发射的超声波。

具体的，第二控制单元132与超声波接收器11及处理器14电连接。第二控制单元132用于测量每个测量位置的超声波回传时差Ti，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn。第二控制单元132能生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向处理器14发送所述反馈信号。

其中，对应的，处理器14具体用于接收第二控制单元132发送的所述反馈信号，并根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa、所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb。处理器14最终通过计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，得到Seal 2宽度。

进一步的，第二控制单元132具体用于生成指示所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的对应关系的测量结果曲线，所述测量结果曲线包含有所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的信息；所述第二控制单元生成包含所述测量结果曲线的反馈信号。

其中，对应的，处理器14具体用于接收第二控制单元132发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述测量结果曲线上的两个拐点a和拐点b，进而确定所述拐点a对应的所述拐点超声波回传时差Ta及所述测量位置Pa，以及所述拐点b对应的所述拐点超声波回传时差Tb及所述测量位置Pb。处理器14计算所述测量位置Pa到所述测量位置P的间距，确定Seal 2宽度。

进一步的，如图7所示，本实施例中，测量装置10还包括显示单元15。显示单元15与处理器14电连接，用于显示所述测量结果曲线以及Seal 2宽度。通过设置显示单元15，能够直观告知人员测量过程产生的测量数据以及最终测量结果。

应理解，本发明实施例的测量装置10的各个模块可对应于本发明实施例的测量方法200中的各个执行主体，并且测量装置10的各个模块的上述和其他操作和/或功能能够实现测量方法200的相应流程。为了简洁，在此不再赘述。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易的想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种封框胶宽度的测量方法，用于测量液晶面板的封框胶的宽度，所述封框胶填充在所述液晶面板的上基板与下基板之间，所述封框胶具有极限宽度边界，其特征在于，包括：

处理器向控制器发送包含测量参数的测量信号，所述测量参数包括位于所述上基板上方的初始测量位置、位于所述上基板上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D；其中，所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间；所述测量距离D与所述单次移动间距d满足：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数；所述移动方向平行于所述封框胶的宽度方向；

所述控制器接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、控制所述超声波发射器发射超声波，以及控制所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；

所述超声波发射器定位到所述初始测量位置，所述超声波发射器由所述初始测量位置开始，沿所述移动方向逐次移动一个所述单次移动间距d以到达下一测量位置，直至到达所述终止测量位置，所述超声波发射器在每个测量位置向所述超声波接收器发射超声波；

所述超声波接收器定位到所述下基板下方对应所述每个测量位置处，并接收所述超声波发射器发射的超声波；

所述控制器确定所述每个测量位置的超声波回传时差，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；其中，第i测量位置Pi具有超声波回传时差Ti，i＝0,1,2…n；

所述处理器接收所述控制器发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb；

所述处理器计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述控制器生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号包括：

所述控制器生成指示所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的对应关系的测量结果曲线，所述测量结果曲线包含有所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的信息；所述控制器生成包含所述测量结果曲线的反馈信号；其中，

所述处理器根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb包括：

所述处理器根据所述反馈信号确定所述测量结果曲线上的两个拐点a和拐点b，进而确定所述拐点a对应的所述拐点超声波回传时差Ta，以及所述拐点b对应的所述拐点超声波回传时差Tb。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法还包括：

在所述显示装置中显示所述测量结果曲线以及所述封框胶宽度。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述测量参数还包括所述超声波发射器及所述超声波接收器的移动速度。

5.一种封框胶宽度的测量装置，用于测量液晶面板的封框胶的宽度，所述封框胶填充在所述液晶面板的上基板与下基板之间，所述封框胶具有极限宽度边界，其特征在于，所述测量装置包括：

处理器、控制器、超声波发射器及超声波接收器；

所述处理器与所述控制器电连接，所述处理器用于向所述控制器发送包含测量参数的测量信号，所述测量参数包括位于所述上基板上方的初始测量位置、位于所述上基板上方的终止测量位置、单次移动间距d、移动方向，以及所述初始测量位置到所述终止测量位置的测量距离D；其中，所述极限宽度边界位于所述初始测量位置及所述终止测量位置之间；所述测量距离D与所述单次移动间距d满足：D＝n×d，n为大于或等于3的正整数；所述移动方向平行于所述封框胶的宽度方向；

所述控制器与所述处理器、所述超声波发射器以及所述超声波接收器均电连接，所述控制器用于接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、所述超声波发射器发射超声波，以及所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；

所述超声波发射器与所述控制器电连接，所述超声波发射器可定位到所述初始测量位置，并可由所述初始测量位置开始，沿所述移动方向逐次移动一个所述单次移动间距d以到达下一测量位置，直至到达所述终止测量位置；所述超声波发射器用于向所述超声波接收器发射超声波；

所述超声波接收器与所述控制器电连接，所述超声波接收器可同步定位到所述下基板下方对应所述每个测量位置处；所述超声波接收器用于接收所述超声波发射器发射的超声波；

所述控制器还用于确定所述每个测量位置的超声波回传时差，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；其中，第i测量位置Pi具有超声波回传时差Ti，i＝0,1,2…n；

所述处理器还用于接收所述控制器发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb；

所述处理器还用于计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述控制器包括第一控制单元与第二控制单元；

所述第一控制单元与所述处理器、所述超声波发射器及所述超声波接收器均电连接；所述第一控制单元用于接收所述处理器发送的所述测量信号，并根据所述测量信号控制所述超声波发射器与所述超声波接收器进行移动、所述超声波发射器发射超声波，以及所述超声波接收器接收所述超声波发射器发射的超声波；

所述第二控制单元与所述超声波接收器及所述处理器均电连接；所述第二控制单元用于测量所述每个测量位置的超声波回传时差Ti，以获取全部测量位置的超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn，生成包含所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的反馈信号，并向所述处理器发送所述反馈信号；其中，

所述处理器具体用于，接收所述第二控制单元发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn中的两个拐点超声波回传时差Ta和Tb，进而确定所述拐点超声波回传时差Ta对应的测量位置Pa，以及所述拐点超声波回传时差Tb对应的测量位置Pb，并计算所述测量位置Pa到所述测量位置Pb的间距，确定所述封框胶宽度。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，

所述第二控制单元具体用于生成指示所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的对应关系的测量结果曲线，所述测量结果曲线包含有所述超声波回传时差T0,T1,…Ti,…Tn及所述全部测量位置的信息；所述第二控制单元生成包含所述测量结果曲线的反馈信号；其中，

所述处理器具体用于接收所述第二控制单元发送的所述反馈信号，根据所述反馈信号确定所述测量结果曲线上的两个拐点a和拐点b，进而确定所述拐点a对应的所述拐点超声波回传时差Ta及所述测量位置Pa，以及所述拐点b对应的所述拐点超声波回传时差Tb及所述测量位置Pb，并计算所述测量位置Pa到所述测量位置P的间距，确定所述封框胶宽度。

8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括显示单元，所述显示单元与所述处理器电连接，所述显示单元用于显示所述测量结果曲线以及所述封框胶宽度。

9.根据权利要求5-8中任一项所述的测量装置，其特征在于，

所述测量参数还包括所述超声波发射器及所述超声波接收器的移动速度。