CN104359432A

CN104359432A - 电磁超声波测厚方法及装置

Info

Publication number: CN104359432A
Application number: CN201410727877.0A
Authority: CN
Inventors: 闫重强; 段凯; 钱宏亮; 李赛霄; 王艳斌; 李涛
Original assignee: China Electronics Technology Information Industry Co Ltd
Current assignee: Henan Province Boiler Pressure Vessel Safety Checking Research Institute
Priority date: 2014-12-02
Filing date: 2014-12-02
Publication date: 2015-02-18
Anticipated expiration: 2034-12-02
Also published as: CN104359432B

Abstract

本发明实施例提供了一种电磁超声波测厚方法及装置，改善了现有超声波测厚方法准确度有待提高的问题。方法包括：从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；获得猝发的多个波在待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2；第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个峰值分别对应一个时间间隔；计算第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取时间间隔比值属于预设阈值的两个时间间隔；根据选取的时间间隔计算出待测检测体的厚度。使用该方法，可以显著提高超声波测厚的准确度，实施方便，易于推广应用。

Description

电磁超声波测厚方法及装置

技术领域

本发明涉及测量技术，具体而言，涉及一种电磁超声波测厚方法及装置。

背景技术

超声波测厚，即利用超声波进行厚度测量，测量原理为：当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

现有技术中，主要根据检测到的第一次底面回波的时间进行厚度计算，或根据相邻底面回波的时间差进行厚度计算。发明人经研究发现，这样计算存在较明显的缺点：为提高检测能力，通常一个触发周期同一时间点猝发波个数大于2，这样脉冲簇中的峰值位置在受到多种因素的影响下会出现“抖动”现象甚至“漂移”现象，从而影响检测精度；在遇到内部缺陷时，会将缺陷回波信号“误”认为是底面回波信号，从而导致测量不准。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种电磁超声波测厚方法及装置，以改善现有技术中超声波测厚方法准确度有待提高的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种电磁超声波测厚方法，应用于电磁超声波测厚装置，所述方法包括：

所述电磁超声波测厚装置在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；

获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1，获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2；所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔，所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长；

计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔；

根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述第一反射脉冲簇B1为从所述待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，所述第二反射脉冲簇B2为从所述待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，所述预设阈值为1:2；

所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，包括：

计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔比值等于1:2的两个时间间隔。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为所述电磁超声波测厚装置获得的从所述待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，所述预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6；

所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔比值属于预设阈值的两个时间间隔，包括：

计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔比值等于1:2、2:3、3:4、4:5或5:6的两个时间间隔。

结合第一方面，或第一方面的第一种或第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，包括：

根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第一反射脉冲簇B1中前N个峰值，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第二反射脉冲簇B2中前N个峰值，计算选取的所述第一反射脉冲簇B1中的任一峰值对应的时间间隔与选取的所述第二反射脉冲簇B2中的任一峰值对应的时间间隔的比值，其中，N为大于1的整数。

结合第一方面的第三种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述待测检测体的厚度H根据以下公式得出：H＝V(t_b2-t_b1)/2，其中，V为所述电磁超声波在所述待检测体中的传输速度，t_b2和t_b1为选取的两个时间间隔。

第二方面，本发明实施例提供了一种电磁超声波测厚装置，包括：

猝发单元，用于在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；

获得单元，用于获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1，获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2；所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔，所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长；

计算单元，用于计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

结合第二方面，本发明实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中，所述第一反射脉冲簇B1为从所述待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，所述第二反射脉冲簇B2为从所述待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，所述预设阈值为1:2；

所述计算单元用于，计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值等于1:2的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

结合第二方面，本发明实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式，其中，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为所述电磁超声波测厚装置获得的从所述待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，所述预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6；

所述计算单元用于，计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值等于1:2、2:3、3:4、4:5或5:6的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

结合第二方面，或第二方面的第一种或第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式，其中，所述计算单元具体用于，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第一反射脉冲簇B1中前N个峰值，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第二反射脉冲簇B2中前N个峰值，计算选取的所述第一反射脉冲簇B1中的任一峰值对应的时间间隔与选取的所述第二反射脉冲簇B2中的任一峰值对应的时间间隔的比值，其中，N为大于1的整数，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

结合第二方面的第三种可能的实施方式，本发明实施例提供了第二方面的第四种可能的实施方式，其中，所述计算单元根据以下公式得出待测检测体的厚度H：H＝V(t_b2-t_b1)/2，其中，V为所述电磁超声波在所述待检测体中的传输速度，t_b2和t_b1为选取的两个时间间隔。

本发明实施例中所提供的方法和装置，通过对同一触发周期的同一时间点，属于同一猝发波的下底面多次回波的时间间隔间相应关系的分析，得出了各峰值对应的时间间隔间存在的特定关系(预设阈值，即时间间隔的比值)，并基于这一特定关系反推回去进行峰值对应的时间间隔选择，显著提高了时间差的准确性，从而显著提高了待检测体厚度计算的准确性。

进一步地，本发明实施例中，针对电磁超声波测厚的技术特性，优选从相邻反射脉冲簇中选取时间间隔进行厚度计算，有效提高了找到符合预设条件(时间间隔比值)的时间间隔的几率，确保了本发明实施例的可行性，符合实际需求。

进一步地，本发明实施例中，选取两两反射脉冲簇中前N个峰值对应的时间间隔进行计算，有效减小了计算量，提高了厚度测量效率。

本发明实施例构思巧妙，实施方便，具有突出的实质性特点和显著进步，适合大规模推广应用。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本发明实施例所提供的脉冲波簇示意图；

图2示出了本发明实施例1所提供的一种流程示意图；

图3示出了本发明实施例2所提供的一种结构框图；

图4示出了本发明实施例2所提供的另一种结构框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

经研究发现，若直接根据猝发波至检测到第一次下底面回波簇的时间t进行厚度H计算，即H＝Vt/2，其中，V为电磁超声波在待检测体中的传输速度，可以通过查找手册或通过测量计算得到。由于猝发波的环境条件不同，待检测体本身可能存在的内部缺陷等，测厚结果距实际厚度偏差较大，为了提高测厚精度，现今主要是根据相邻下底面回波簇的时间差进行厚度计算，即H＝V(t₂-t₁)/2，其中，t₂-t₁为(同一触发周期内)相邻下底面回波簇的时间差。

发明人经研究发现，根据相邻下底面回波簇的时间差进行厚度计算虽然能够提高待检测体的厚度计算精度，但是，由于在进行待检测体厚度检测时，为了提高检测能力，通常会在一个触发周期的同一时间点猝发多个波，多个波为同时猝发，因而反射回波簇的波峰基本一致，但实际上，各波峰间其实存在一定差值，相应的时间间隔亦有一定差值，如图1所示，且脉冲簇中的峰值位置在受到多种因素的影响下会出现“抖动”现象甚至“漂移”现象，因而，现有技术中，直接采用相邻两个下底面回波簇中最大峰值对应的时间差进行厚度计算的测厚方法，并不能确保所寻时间差的准确性，相应地，亦无法确保根据该时间差所计算出的待检测体厚度为准确的。

基于此，发明人经多方研究与验证得出，在下底面回波簇中寻找最大峰值的实际目的是为了找出得以计算出待检测体厚度的时间间隔，时间间隔的准确确定才是决定计算出的待检测体厚度准确性的关键因素，发明人通过对同一触发周期内，各下底面回波簇对应时间间隔进行分析得出一结论，在同一触发周期内，多个猝发波在待检测体中的多次传递时间间隔在理想状态下应该是完全相同的，例如：理想状态下，从(同一时间点)猝发多个波至第一次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时3秒，那么从猝发多个波至第二次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为6秒，依次类推，从猝发多个波至第三次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为9秒，从猝发多个波至第四次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为12秒，从猝发多个波至第五次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为15秒等，从上述分析可知，同一触发周期内，属于同一猝发波的下底面回波的时间间隔存在特定的关系，若基于这一特定关系反推回去进行峰值对应的时间间隔选择，则能显著提高时间差的准确性，从而显著提高待检测体厚度计算的准确性。

基于上述研究，如图2所示，本发明实施例公开了一种电磁超声波测厚方法，应用于电磁超声波测厚装置，所述方法包括：步骤S100：所述电磁超声波测厚装置在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；步骤S101：获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1，获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2；所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔，所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长；步骤S102：计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值；步骤S103：选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔；步骤S104：根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

上述中，第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为同一触发周期内，从下底面反射回的不同脉冲簇，例如：第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2可为同一触发周期内，下底面的第一次反射脉冲簇、第二次反射脉冲簇、第三次反射脉冲簇、第四次反射脉冲簇、第五次反射脉冲簇等中的任意两个不同的反射脉冲簇。

由于同一触发周期的同一时间点，会同时猝发多个波，在多种因素的影响下，猝发的多个波反射回的脉冲簇中实际上存在多个峰值，如图1所示，只有选择同一个波的多次反射脉冲的峰值对应的时间间隔进行厚度计算，方能确保厚度计算的准确性，如表1所示，可以明确得出，若同一个波从猝发至第一次反射回脉冲簇的时间间隔为C，那么同一个波第二次反射回脉冲簇的时间间隔必然为2C，以此类推，第五次反射回脉冲簇的时间间隔必然为5C等(由于为同一个波，在同一介质中，传递相同的距离，那么多次反射传递的时间必然相同)。

由表1可以得出，第一次反射脉冲簇的时间间隔：第二次反射脉冲簇的时间间隔：第三次反射脉冲簇的时间间隔：第四次反射脉冲簇的时间间隔：第五次反射脉冲簇的时间间隔＝1:2:3:4:5，即同一个波的多次反射脉冲簇的时间间隔有固定的比值，基于这一发现，本发明实施例中，巧妙地进行逆向反推，根据该固定比值寻找时间间隔，以确保时间间隔选择的准确性，从而确保待检测体厚度计算的准确性。

表1

相应地，根据所选第一反射脉冲簇B1、第二反射脉冲簇B2为猝发波的第N次反射脉冲簇的不同，相应时间间隔的比值亦不同，例如：若第一反射脉冲簇B1为从待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，第二反射脉冲簇B2为从待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，从表1可知，此时二者时间间隔分别为C和2C，时间间隔的比值为1:2，即预设阈值为1:2。在实施时，根据以下方式进行时间间隔选择，计算第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取时间间隔比值等于1:2的两个时间间隔，根据选取的时间间隔计算出待测检测体的厚度。

又例如：若第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为电磁超声波测厚装置在同一个触发周期内，获得的从待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，即第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2可以为第一次反射回波的脉冲簇和第二次反射回波的脉冲簇或第二次反射回波的脉冲簇和第三次反射回波的脉冲簇或第三次反射回波的脉冲簇和第四反射回波的脉冲簇或第四次反射回波的脉冲簇和第五次反射回波的脉冲簇中的任意一种，相应地，二者之间的时间间隔比值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6，即预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6。在实施时，根据以下方式进行时间间隔选择，计算第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取时间间隔比值等于1:2、2:3、3:4、4:5或5:6的两个时间间隔，根据选取的时间间隔计算出待测检测体的厚度。

再例如：若第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为电磁超声波测厚装置在同一个触发周期内，获得的从待检测体下底面反射回的不相邻反射脉冲簇，根据表1，亦可得出，预设阈值为1:3、2:5等。

为了提高测厚速度，本发明实施例中，优选仅对两次反射脉冲簇中峰值较大的N个(如3个)峰值的时间间隔进行比较、确认，其中，反射脉冲簇中峰值较大的几个峰值大于该反射脉冲簇中的其余峰值，相应地，无需对两次反射脉冲簇中的所有峰值对应的时间间隔的比值进行计算，仅需对选取的峰值较大的几个峰值的时间间隔的比值进行计算，例如：根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第一反射脉冲簇B1中前N个峰值，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第二反射脉冲簇B2中前N个峰值，计算选取的所述第一反射脉冲簇B1中的任一峰值对应的时间间隔与选取的所述第二反射脉冲簇B2中的任一峰值对应的时间间隔的比值，其中，N为大于1的整数。

需说明的是，上述预设阈值、厚度的计算均是指理想状态下的计算方式，在实际操作时，由于环境等因素的影响，反射脉冲簇在传递回电磁超声波测厚装置时可能存在滞后空量t_β，即延时，在计算时，需减去该滞后空量，例如：若仅有一个脉冲簇时，待检测体的实际厚度应为H＝V(t-t_β)/2，设第一反射脉冲簇B1的时间间隔为t_b1，第二反射脉冲簇B2的时间间隔为t_b2，时间间隔满足预设阈值的实际条件应为：(t_b1-t_β)：(t_b2-t_β)属于预设阈值，相应的厚度计算公式为：H＝V(t_b2-t_b1)/2。

本发明实施例中，列举了其中一种滞后空量t_β的计算方法：

在标准试块上进行检测，可以得出以下参数相关的数据组：

H，已知标准试块厚度；V，电磁超声波在标准试块中的传递速度，可以查找手册或自己通过测量计算；t，获得反射脉冲簇的时间间隔，通过硬件采集的数据直接读取；

把厚度计算公式：H＝V(t-t_β)/2进行变换得到t_β计算公式：t_β＝t-2H/V。

对多次计算结果取平均值即为此检测条件下的滞后空量t_β。

实施例2

经研究发现，若直接根据猝发波至检测到第一次下底面回波簇的时间t进行厚度H计算，即H＝Vt/2，其中，V为电磁超声波在待检测体中的传输速度，可以通过查找手册或通过测量计算得到，由于猝发波的环境条件不同，待检测体本身可能存在的内部缺陷等，测厚结果距实际厚度偏差较大，为了提高测厚精度，现今主要是根据相邻下底面回波簇的时间差进行厚度计算，即H＝V(t₂-t₁)/2，其中，t₂-t₁为(同一触发周期内)相邻下底面回波簇的时间差。

发明人经研究发现，根据相邻下底面回波簇的时间差进行厚度计算虽然能够提高待检测体的厚度计算精度，但是，由于在进行待检测体厚度检测时，为了提高检测能力，通常会在一个触发周期的同一时间点猝发多个波，多个波为同时猝发，因而反射回波簇的波峰基本一致，但实际上，各波峰间其实存在一定差值，相应的时间间隔亦有一定差值，如图1所示，且脉冲簇中的峰值位置在受到多种因素的影响下会出现“抖动”现象甚至“漂移”现象，因而，现有技术中，直接采用相邻两个下底面回波簇中最大峰值对应的时间差进行厚度计算，并不能确保所寻时间差的准确性，相应地，亦无法确保根据该时间差所计算出的待检测体厚度为准确的。

基于此，发明人经多方研究与验证得出，在下底面回波簇中寻找最大峰值的实际目的是为了找出得以计算出待检测体厚度的时间间隔，时间间隔的准确确定才是决定计算出的待检测体厚度准确性的关键因素，发明人通过对同一触发周期内，各下底面回波簇对应时间间隔进行分析得出一结论，在同一触发周期内，多个猝发波在待检测体中的多次传递时间间隔在理想状态下应该是完全相同的，例如：理想状态下，从同一时间点猝发多个波至第一次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时3秒，那么从猝发多个波至第二次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为6秒，依次类推，从猝发多个波至第三次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为9秒，从猝发多个波至第四次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为12秒，从猝发多个波至第五次获得待检测体下底面的反射脉冲簇用时必然为15秒等，从上述分析可知，同一触发周期内，属于同一猝发波的下底面回波的时间间隔存在特定的关系，若基于这一特定关系反推回去进行峰值对应的时间间隔选择，则能显著提高时间差的准确性，从而显著提高待检测体厚度计算的准确性。

基于上述研究，如图3所示，本发明实施例公开了一种电磁超声波测厚装置，包括猝发单元200，用于在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；获得单元201，用于获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1，获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2；所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔，所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长；计算单元202，用于计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

第一次反射脉冲簇的时间间隔：第二次反射脉冲簇的时间间隔：第三次反射脉冲簇的时间间隔：第四次反射脉冲簇的时间间隔：第五次反射脉冲簇的时间间隔＝1:2:3:4:5，即同一个波的多次反射脉冲簇的时间间隔有固定的比值。

相应地，根据所选第一反射脉冲簇B1、第二反射脉冲簇B2为猝发波的第N次反射脉冲簇的不同，相应时间间隔的比值亦不同，计算单元202选取用于计算厚度的时间间隔亦不同。例如：若第一反射脉冲簇B1为从待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，第二反射脉冲簇B2为从待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，时间间隔的比值为1:2，即预设阈值为1:2。在实施时，计算单元202用于根据以下方式进行时间间隔选择，计算第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取时间间隔比值等于1:2的两个时间间隔，根据选取的时间间隔计算出待测检测体的厚度。

又例如：若第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为电磁超声波测厚装置在同一个触发周期内，获得的从待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，即第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2可以为第一次反射回波的脉冲簇和第二次反射回波的脉冲簇或第二次反射回波的脉冲簇和第三次反射回波的脉冲簇或第三次反射回波的脉冲簇和第四反射回波的脉冲簇或第四次反射回波的脉冲簇和第五次反射回波的脉冲簇中的任意一种，相应地，二者之间的时间间隔比值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6，即预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6。在实施时，计算单元202用于根据以下方式进行时间间隔选择，计算第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取时间间隔比值等于1:2、2:3、3:4、4:5或5:6的两个时间间隔，根据选取的时间间隔计算出待测检测体的厚度。

再例如：若第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为电磁超声波测厚装置在同一个触发周期内，获得的从待检测体下底面反射回的不相邻反射脉冲簇，亦可得出，预设阈值为1:3、2:5等。

本发明实施例所提供的装置，其实现原理及产生的技术效果和前述方法实施例相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例中相应内容。

如图4所示，本发明实施例还提供了一种电磁超声波测厚装置的结构示意图，包括：处理器400，存储器404，总线402和通信接口403，所述处理器400、通信接口403和存储器404通过总线402连接；。

其中，存储器404可能包含高速随机存取存储器(RAM：Random Access Memory)，也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个通信接口403(可以是有线或者无线)实现该系统网元与至少一个其他网元之间的通信连接，可以使用互联网，广域网，本地网，城域网等。

处理器400用于执行存储器404中的可执行模块，例如计算机程序401；处理器400通过通信接口403接收数据流；

总线402可以是ISA总线、PCI总线或EISA总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图4中仅用一个双向箭头表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

其中，存储器404用于存储程序401，所述处理器400在接收到执行指令后，执行所述程序401，前述本发明实施例任一实施例揭示的过程定义的装置所执行的方法可以应用于处理器400中，或者由处理器400实现。

在具体实现中，程序401可以包括程序代码，所述程序代码包括计算机操作指令和算法等；

处理器400可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器400中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器400可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现成可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器404，处理器400读取存储器404中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

本发明实施例所提供的进行装置中的计算机程序产品，包括存储了程序代码的计算机可读存储介质，所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种电磁超声波测厚方法，其特征在于，应用于电磁超声波测厚装置，所述方法包括：

根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

2.根据权利要求1所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述第一反射脉冲簇B1为从所述待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，所述第二反射脉冲簇B2为从所述待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，所述预设阈值为1:2；

3.根据权利要求1所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为所述电磁超声波测厚装置获得的从所述待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，所述预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6；

4.根据权利要求1～3任意一项所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，包括：

5.根据权利要求4所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述待测检测体的厚度H根据以下公式得出：H＝V(t_b2-t_b1)/2，其中，V为所述电磁超声波在所述待检测体中的传输速度，t_b2和t_b1为选取的两个时间间隔。

6.一种电磁超声波测厚装置，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的电磁超声波测厚装置，其特征在于，所述第一反射脉冲簇B1为从所述待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，所述第二反射脉冲簇B2为从所述待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，所述预设阈值为1:2；

8.根据权利要求6所述的电磁超声波测厚装置，其特征在于，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为所述电磁超声波测厚装置获得的从所述待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，所述预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6；

9.根据权利要求6～8任意一项所述的电磁超声波测厚装置，其特征在于，所述计算单元具体用于，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第一反射脉冲簇B1中前N个峰值，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第二反射脉冲簇B2中前N个峰值，计算选取的所述第一反射脉冲簇B1中的任一峰值对应的时间间隔与选取的所述第二反射脉冲簇B2中的任一峰值对应的时间间隔的比值，其中，N为大于1的整数，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

10.根据权利要求9所述的电磁超声波测厚装置，其特征在于，所述计算单元根据以下公式得出待测检测体的厚度H：H＝V(t_b2-t_b1)/2，其中，V为所述电磁超声波在所述待检测体中的传输速度，t_b2和t_b1为选取的两个时间间隔。