CN106053018B - 光学元件老化装置 - Google Patents

光学元件老化装置 Download PDF

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Abstract

本发明实施例提供一种光学元件老化装置,包括光源模块提供照射光束,光学元件放置架用于设置光学元件,以及温度加热模块和温度检测模块,用于对光学元件放置架进行加热,扬尘模块和洁净度检测模块对光学元件周围空气吹出粉尘,能够分别模拟光学元件在使用时的环境温度和环境洁净程度,综合考虑光源照射,温度,以及环境粉尘量对光学元件老化的影响,从而得到较为准确的老化结果。

Description

光学元件老化装置
技术领域
本发明实施例涉及激光显示技术,尤其涉及一种激光投影产品中使用的光学元件的老化装置。
背景技术
在投影显示类产品中,激光投影产品因为使用的激光光源寿命长,亮度高,色域佳等优点逐渐被消费者接受,并成为发展趋势。激光投影产品是光机电一体化的高精密度,高集成度的设备,不仅包括激光器光源,色轮,DMD芯片等关键部件,更包括许多光学镜片,作为光路组成的基础部件。
光学镜片通常由玻璃基材制成,根据光路需求被加工成各种形状,有时还会在镜片表面镀膜,形成一些特殊的透射和反射性能。
光学镜片在使用一定时间后会发生老化,老化的直接表现就是光学性能下降,比如光学透过率下降,成像模糊扭曲等。老化的原因有很多种,一方面是镜片自身材质的稳定性,更重要的是由于环境因素,环境因素又包括光照,温度等,并最终影响到镜片自身。目前还没有较好的对光学元件进行老化的设备能够相对全面评估光学镜片的使用寿命,进而对使用该光学镜片的激光投影产品的性能和寿命进行评估。
发明内容
本发明实施例提供一种光学元件老化装置,能够对光学元件(例如光学镜片)的老化条件进行模拟,准确反映光学元件在使用环境中的老化过程,并通过测试获取光学元件的老化结果。
本发明实施例提供一种光学元件老化装置,包括:
光源模块、光学元件放置架、温度加热模块、温度检测模块以及扬尘模块、洁净度检测模块;
光学元件放置架用于设置光学元件;
温度加热模块用于对光学元件放置架进行加热,以提高设置于光学元件设置架上的光学元件的温度;
温度检测模块,用于检测光学元件的温度并反馈至温度加热模块;以及,温度加热模块还用于根据温度检测模块检测到的光学元件的温度,控制加热温度,使得光学元件的温度维持在预设值;
扬尘模块用于至少朝向光学元件吹出粉尘,以提高光学元件周围空气的粉尘含量;
洁净度检测模块,用于检测光学元件周围空气的粉尘度并反馈至扬尘模块;以及,扬尘模块还用于根据洁净度检测模块检测到的粉尘度,控制扬尘量,使得光学元件周围空气的粉尘度维持在预设值;
进一步地,该装置还包括功率调整模块;
功率调整模块用于光学元件的功率要求调整光源模块的功率;
进一步地,该装置还包括功率检测模块,功率检测模块用于检测光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率;
功率检测模块还用于判断光学元件在第一时刻接收到的光源照射的光功率和在与第一时刻相邻的第二时刻接收到的光源照射的光功率是否相同,若否,则功率检测模块将第一时刻和第二时刻接收到的光源照射的光功率发送给功率调整模块;
功率调整模块还用于根据第一时刻和第二时刻接收到的光源照射的光功率调整光源模块的驱动电流,以使光学元件持续在第一时刻接收到的光源照射的光功率的光照射下发生老化;
进一步地,该装置还包括:外罩壳体,外罩壳体至少用于容纳光源模块、光学元件放置架,外罩壳体至少一侧设置有过滤网罩,扬尘模块通过过滤网罩向装置内部输出粉尘;
进一步地,温度加热模块与光学元件放置架电连接;
进一步地,扬尘模块包括鼓风机或风扇,容尘装置,以及风道,容尘装置中的粉尘通过鼓风机或风扇沿风道吹出;
进一步地,功率检测模块设置于光源模块和光学元件放置架之间;
进一步地,光源模块提供的光源的中心与设置于光学元件放置架上的光学元件的中心重合;
进一步地,光学元件设置架可沿光学元件的中心轴轴向移动;
进一步地,光源为激光光源和荧光光源中至少一项或其组合,激光光源包括单色激光光源或者多色激光光源;
进一步地,光源模块包括多组激光器、选择开关和壳体;
多组激光器可提供不同波长的激光;
选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向光学元件提供照射光源;
壳体上设置有出光孔,出光孔的中心与光学元件的中心重合。
本发明实施例提供的光学元件老化装置,光学元件在接受光源模块照射的同时,通过温度加热模块对光学元件放置架加热,模拟光学元件在使用时的环境温度,通过扬尘模块吹出粉尘,模拟光学元件在使用时的环境洁净程度,较为全面的模拟光学元件在产品中的使用环境条件,综合的考虑光源照射,温度,以及环境粉尘量对光学元件老化的影响,从而得到较为准确的老化结果,并可进一步评估使用该光学元件的激光显示产品的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为激光投影设备的激光光源光学结构示意图;
图2为本发明实施例一中一装置结构示意图;
图3为本发明实施例一中扬尘模块的一种结构示意图;
图4为本法实施例一中又一装置结构示意图;
图5为本发明实施例二的结构示意图;
图6为本发明实施例三的结构示意图;
图7为本发明实施例四的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
激光显示技术是采用激光作为显示光源,配合扫描技术或者投影显示技术,实现画面显示的一种手段。激光显示具有色域空间大、色彩丰富、光源寿命长、维护费用和使用成本低等优点,使得激光显示得到了快速发展,具体的,激光显示产品包括激光投影设备、激光背投电视、激光背投拼接墙等,激光显示产品在采用激光作为显示光源过程中,由激光器产生激光,激光经过光学镜片进行光束整形、反射、放大等处理(不同需求可以设置不同的光学镜片)之后,为激光显示产品提供光源。
具体的,以激光投影设备作为举例说明,图1为激光投影设备的激光光源光学结构示意图,如图1所示,该激光光源可以包括激光器11、望远镜系统12、二向色镜13、荧光轮14、凸透镜15、以及滤色轮16,由此可见,激光投影设备可以包括很多光学镜片。首先,激光器11发出激光,激光具有光束发散度极小、亮度极高等优点,激光具体可以是任意一种颜色的激光,这里以蓝色激光做举例说明,从激光器11发出的蓝色激光先经过望远镜系统12的光束整形,将大光斑整形为小光斑,以便于能够入射其他光学镜片,比如二向色镜13、荧光轮14,激光照射到荧光轮14的表面,使得荧光轮14受激发发出至少一种颜色的荧光,荧光和蓝色激光一起反射至二向色镜13,并通过凸透镜15会聚后入射至滤色轮16,从而为激光投影设备中的光机部分提供照明光源。
由此可见,上述任何一个环节的光学镜片如果出现了老化使得光学透过率下降的问题,都会影响到整个光路的光学效率。因此,本发明实施例提供一种光学元件老化装置,用于对光学元件(例如上述光学镜片)进行老化,以获取光学元件在激光投影产品中使用时的老化情况,比如光学透过率的老化衰减情况。
然而光学元件(例如上述光学镜片)在实际应用中,不仅会由于自身接收高能光束的照射发生热效应,由于周围结构和环境温度的热传递,也会自身升温,比如光学元件放置架或者镜圈通常为金属制件,具有较高的导热率,尤其是激光投影产品为了防尘,会具有一些密封结构,密封结构内的光学镜片更易受环境温度的影响而升温,温度也会影响光学元件的寿命,加速光学元件的老化过程。以及,如前现有技术内容所述,由于激光投影产品架构大部分是由光学元件组成的,粉尘进入产品内部,一方面会阻碍光路,增加光损,另一方面,粉尘附着在光学元件表面,既造成光学元件光透过率的下降,同时也易因为高温引燃粉尘,灼伤镜片,甚至造成镜片由于应力作用而破裂。因此作为精密的光学仪器设备,激光投影产品的防尘要求较高,但是对于产品的完全密封是无法做到的,随着时间的推移,总会有少量的粉尘进入产品内部,技术人员也发现,尤其越是光能量集中的部位越容易积累粉尘。
因此,为了获取光学元件在实际工作中的老化衰减特性,本发明实施例提供一种光学元件老化装置,能够使光学元件在接受光源模块照射的同时,通过温度加热模块对光学元件放置架加热,模拟光学元件在使用时的环境温度,通过扬尘模块吹出粉尘,模拟光学元件在使用时的环境洁净程度,由于本老化装置较为全面的模拟了光学元件在产品中的使用环境条件,综合的考虑光源照射,温度,以及环境粉尘量对光学元件老化的影响,从而得到较为准确的老化结果,以进一步评估使用该光学元件的激光显示产品的可靠性。
下面采用几个具体的实施例对本发明的光学元件老化装置进行详细解释说明。
实施例一
图2为本发明光学元件老化装置实施例一的结构示意图,如图2所示,本实施例的装置可以包括:光源模块21、光学元件放置架22、温度加热模块23和扬尘模块24,其中,温度加热模块23与光学元件放置架22连接。扬尘模块24用于至少朝向光学元件吹出粉尘,以提高所述光学元件周围空气的粉尘含量。因此扬尘模块24设置在光学元件放置架22周围,优选地,出尘方向不与光源模块21的光束传输光路发生直接干涉。
具体的,光源模块21用于为该光学元件老化装置提供照射光学元件的光源,该光源具体可以是激光光源,例如,单色激光光源、多色激光光源、荧光光源、或激光光源和荧光光源的组合,光源的选择可以根据测试需求进行灵活设置。
在本实施例中在光学元件的温度以及光学元件周围空气的粉尘度均未达到各自的预设值之前,光源模块21处于关闭状态,不向光学元件提供照射光源,当上述温度和粉尘度达到各自的预设值时,温度加热模块23和扬尘模块24维持目前的温度和粉尘度条件,光源模块21开始向光学元件提供照射光源,这样可以加速光学镜片的老化速度。或者,也可以同时点亮光源模块21,启动温度加热模块23,扬尘模块24,待温度和粉尘度达到预设值时,再控制温度加热模块23和扬尘模块24工作条件,维持当前的环境条件。
光学元件放置架22用于设置待测试的光学元件,在需要测试光学元件在光源照射下的光学透过率的老化衰减情况时,将待测试的光学元件放置于该光学元件放置架22上,该光学元件放置架22用于固定光学元件,以使得温度加热模块23通过该光学元件放置架22对该光学元件进行升温,在光学元件的温度达到预设值时,温度加热模块23控制加热温度,使得光学元件的温度维持在该预设值,以及,通过扬尘模块24向光学元件放置架22周围吹出粉尘,在周围空气粉尘度达到预设值时,扬尘模块控制扬尘量。
之后,由光源模块21提供光源,对光学元件进行照射,在该光源持续照射一段时间后对光学元件的光学透过率进行测试,通过对比光学元件经过光源持续照射前的光学透过率以及经过光源持续照射后的光学透过率,以获取光学元件在一定温度和粉尘度条件下进行光源照射的老化衰减特性。
具体的,温度加热模块23与光学元件设置架22电学连接,温度加热模块23具体可以是加热电阻或者加热枪等加热装置,能够迅速产生热量,对光学元件设置架22进行加热,进而由于光学元件设置架22温度升高,使得光学元件的温度升高,温度检测模块24设置于光学元件设置架22附近,用于实时对光学元件的温度进行检测,其具体可以是温度计等温度测量装置。
以及,扬尘模块24具体地,如图3所示,包括鼓风机或风扇231,容尘装置232,风道233,其中容尘装置232和风道233可以一体设计,通过风力将粉尘从容尘装置232中沿风道233吹出,吹向光学元件,以提高光学元件周围空气的粉尘量,使得光学元件表面具有一定的粉尘积累。
以及,在另一具体实施例中,如图4所示,该装置还包括外罩壳体27,外罩壳体27用于容纳光源模块21、光学元件放置架22,而温度加热模块23,温度检测模块25可以设置在外罩壳体27内部也可以作为电学模块设置在外罩壳体27外侧,但扬尘模块24优选地,设置在外罩壳体27外侧,以减少因为扬尘对其他部件,比如光源模块21的粉尘影响,洁净度检测模块26优选地设置在外罩壳体27的内部,以检测最靠近光学元件的位置处的粉尘度。
当扬尘模块24设置在外罩壳体27外侧时,外罩壳体27至少一侧设置有过滤网罩,即相对于扬尘模块24的一侧设置过滤网罩,扬尘模块24通过该过滤网罩向测试装置内部输出粉尘。
或者,若光学元件应用在要求洁净度较高的设备中,还可以省略扬尘模块24,仅依靠敞开的周围环境的粉尘来作为老化条件中的一个因素条件。
可选的,所述光学元件设置架22还可以沿中心轴轴向移动,这样可以通过调节光学元件设置架22距离光源模块21的距离,从而调节光学元件接收到光源照射的面积,进而对功率密度进行调节。使得本发明的光学元件老化装置应用更为灵活广泛。
在上述实施方式中,光源模块21包括多组激光器、选择开关和壳体,所述多组激光器可提供不同波长的激光,所述选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向所述光学元件提供照射光源,所述壳体上设置有出光孔,所述出光孔的中心与所述光学元件的中心重合。具体的,有光学元件对不同颜色的光照射会存在不同的衰减特性,可以依次将光源模块21提供的光源设置为多组单色光源,使用本发明的装置对光学元件分别做光学透过率的衰减测试,然后进行拟合,可以获取该光学元件的白色光谱衰减曲线。
本发明实施例的光学元件老化装置,在对光学元件进行老化衰减过程中,通过温度加热模块和温度检测模块实现对光学元件的温度可控,模拟光学元件老化过程中的温度因素,并通过扬尘模块和洁净度检测模块实现光学元件环境的粉尘因素,能够全面的模拟光学元件的老化条件,使得获取的光学元件的衰减特性更为准确。
实施例二
图5为本发明光学元件老化装置实施例二的结构示意图,如图5所示,本实施例的装置在图2或图4所述实施例的装置的基础上,进一步的,还可以包括:功率调整模块29,所述功率调整模块29用于光学元件的功率要求调整所述光源模块的功率。
由于激光器为直流电流驱动,因此可以根据驱动电压和驱动电流值得到激光器的驱动功率,从而调整光源的照射功率。
以及具体的,还可以在光学元件的温度达到预设值时,光源模块21开始向光学元件提供光源照射,由于光学元件具有一定的光损,未透过的激光光源会在光源元件的表面产生热效应,从而使得光学元件的温度上升,本发明的功率调整模块29可以通过温度检测模块24实时获取光学元件的温度,当该光学元件的温度超过光学元件的功率要求时,该温度调整模块29可以调整光源模块21的功率,具体可以降低光源模块21的功率,进而减小光学元件接收到光源照射的功率,从而防止光学元件温度过高而造成光学元件的损坏。
实施例三
图6为本发明光学元件老化装置实施例三的结构示意图,如图6所示,本实施例的装置在图5所述实施例的装置的基础上,进一步的,还可以包括:功率检测模块20,功率检测模块20,用于获取不同时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率,所述功率检测模块20还用于判断相邻两个时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率是否相同,若否,则所述功率检测模块20将所述相邻两个时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率发送给所述功率调整模块29,所述相邻两个时刻包括第一时刻和第二时刻,所述功率调整模块29还用于根据所述相邻两个时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率调整所述光源模块21的驱动电流,以使所述光学元件持续在所述第一时刻所述光学元件接收到的光源照射的光功率的光照射下发生老化。
其中,功率检测模块20获取不同时刻的光量,并根据不同时刻的光量确定其中相邻两个时刻的光量是否相同,如果不相同,则计算获取相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率,并将相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率发送给功率调整模块29,功率调整模块29根据相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率以及功率与驱动电流的对应的关系调整光源模块21提供的光源的功率,以保证光学元件在持续稳定的照射环境下进行老化。即,通过比较相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率,确定光学元件接收到光源照射的光功率是否发生变化,如果变化,则调整光源模块21的驱动电流,以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在一个恒定水平。
举例而言,功率检测模块20可以获取t1,t2,…….,tm时刻光学元件接收到光源照射的光功率,判断相邻两个时刻光学元件接收到光源照射的光功率是否发生变化,具体是随着时间的推移分别比较t1和t2时刻光学元件接收到光源照射的光功率,t2和t3时刻光学元件接收到光源照射的光功率,依次类推,如果发生变化,则功率调整模块29总是将光学元件接收到光源照射的光功率调整为前一个时刻的光功率,例如,t2和t3时刻光学元件接收到光源照射的光功率不同,则功率调整模块29将光学元件接收到光源照射的光功率调整为t2时刻的光功率。
可选的,本发明的光学元件老化装置还可以用于对特定要求功率照射下的光学元件的老化衰减情况进行测试,具体的实现方式可以为:功率调整模块29还用于根据第一预设功率值(特定要求功率)调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件接收到光源照射的光功率为所述第一预设功率值。在功率检测模块20获取光学元件接收到光源照射的光功率为第一预设功率值后,可以执行获取不同时刻所述光学元件接收到光源照射的光功率,按照上述方式以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在该第一预设功率值的恒定水平。
本发明实施例的装置通过温度加热模块23和温度检测模块25使得光学元件在一定温度条件,以及并通过扬尘模块24和洁净度检测模块26提供一定粉尘度条件下进行老化。在进行老化过程中,可以通过功率检测模块20实时检测光学元件当前接收到光源照射的光功率,并将检测结果发送给功率调整模块29,功率调整模块29可以根据功率检测模块20获取的结果对光源模块21的光源的功率进行调整,进而使得光学元件接收到光源照射的光功率得到相应调整,以使光学元件接收到光源照射的光功率维持在一个恒定水平。即在一定温度、环境粉尘度且恒定光源功率的条件下,对光学元件进行光源照射,在持续照射一段时间后对光学元件的光学透过率进行测试,通过对比光学元件经过光源持续照射前的光学透过率以及经过光源持续照射后的光学透过率,以获取光学元件在该光源照射下的衰减特性。
实施例四
图7为本发明光学元件老化装置实施例四的结构示意图,如图7所示,本实施例的装置在上述图2、图4、图5、图6任一实施例的装置的基础上,进一步的,还可以包括:光束接收模块30,该光束接收模块30用于吸收光源透过光学元件的光束,该光束接收模块30具体可以是接收屏或者由吸光材料制成的接收屏。本实施例四是基于图6基础上进行的改进。
本实施例的光学元件老化装置通过光束接收模块30防止光源模块21提供的光源,比如激光,从光学元件透射后对周围环境造成光污染或者产生人身伤害。
综上所述的一个或多个实施例,在对光学元件进行老化衰减过程中,通过温度加热模块和温度检测模块实现对光学元件的温度可控,模拟光学元件老化过程中的温度因素,并可获取不同温度条件下的衰减变化情况,以及通过扬尘模块和洁净度检测模块实现光学元件环境的粉尘因素,能够全面的模拟光学元件的老化条件,其中,温度条件和粉尘条件因素可以同时具备,也可以根据需求选择其中一个因素进行老化,能够全面的模拟光学元件在使用过程中的老化条件,从而能够得到比较准确的老化结果。
具体地,老化结果可以借助外部分析仪器,比如在老化过程之前对光学元件的透过率进行一次检测,在老化完成后再对光学透过率进行检测,两次透过率的变化反映了光学元件的老化结果。
以及,通过功率调整模块和功率检测模块,能够获取光学元件接收到的光源光束功率,当需要稳定光功率照射要求时,能够及时反馈调整,保持持续稳定的光照射功率;
以及,光源模块还可以设置多组激光器和开关,可以出射不同光谱即不同颜色的激光,从而还可以进行单光谱和白光光谱的老化;
以及,通过设置光束接收模块,提高了老化装置的安全可靠性。
本发明上述一个或多个实施例能够对光学元件进行老化,进而得到准确的老化结果,从而对光学元件的使用寿命进行评估,并进一步评估使用该光学元件的激光显示产品的可靠性。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (11)

1.一种应用于激光投影显示的光学元件老化装置,其特征在于,包括:
光源模块、光学元件放置架、温度加热模块、温度检测模块以及扬尘模块、洁净度检测模块;
所述光学元件放置架用于设置光学元件;
所述温度加热模块用于对所述光学元件放置架进行加热,以提高设置于所述光学元件放置架上的光学元件的温度;
所述温度检测模块,用于检测所述光学元件的温度并反馈至所述温度加热模块;以及,所述温度加热模块还用于根据所述温度检测模块检测到的所述光学元件的温度,控制加热温度,使得所述光学元件的温度维持在预设值;
所述扬尘模块用于至少朝向所述光学元件吹出粉尘,以提高所述光学元件周围空气的粉尘含量;
所述洁净度检测模块,用于检测所述光学元件周围空气的粉尘度并反馈至所述扬尘模块;以及,所述扬尘模块还用于根据所述洁净度检测模块检测到的所述粉尘度,控制扬尘量,使得所述光学元件周围空气的粉尘度维持在预设值;
所述光学元件老化装置用于获取所述光学元件的衰减特性。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括功率调整模块;
所述功率调整模块用于所述光学元件的功率要求调整所述光源模块的功率。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述装置还包括功率检测模块,所述功率检测模块用于检测所述光学元件在不同时刻接收到的光源照射的光功率;
所述功率检测模块还用于判断所述光学元件在第一时刻接收到的光源照射的光功率和在与所述第一时刻相邻的第二时刻接收到的光源照射的光功率是否相同,若否,则所述功率检测模块将所述第一时刻和所述第二时刻接收到的光源照射的光功率发送给所述功率调整模块;
所述功率调整模块还用于根据所述第一时刻和所述第二时刻接收到的光源照射的光功率调整所述光源模块的驱动电流,以使所述光学元件持续在所述第一时刻接收到的光源照射的光功率的光照射下发生老化。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:外罩壳体,所述外罩壳体至少用于容纳所述光源模块、所述光学元件放置架,所述所述外罩壳体至少一侧设置有过滤网罩,所述扬尘模块通过所述过滤网罩向所述装置内部输出粉尘。
5.根据权利要求1至4任一项所述的装置,其特征在于,所述温度加热模块与所述光学元件放置架电连接。
6.根据权利要求1至4任一项所述的装置,其特征在于,所述扬尘模块包括鼓风机或风扇,容尘装置,以及风道,所述容尘装置中的粉尘通过所述鼓风机或风扇沿风道吹出。
7.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述功率检测模块设置于所述光源模块和所述光学元件放置架之间。
8.根据权利要求1至4任一项所述的装置,其特征在于,所述光源模块提供的光源的中心与设置于光学元件放置架上的光学元件的中心重合。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述光学元件放置架可沿所述光学元件的中心轴轴向移动。
10.根据权利要求1至4任一项所述的装置,其特征在于,所述光源为激光光源和荧光光源中至少一项或其组合,所述激光光源包括单色激光光源或者多色激光光源。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述光源模块包括多组激光器、选择开关和壳体;
所述多组激光器可提供不同波长的激光;
所述选择开关用于根据需求使得相应激光器导通向所述光学元件提供照射光源;
所述壳体上设置有出光孔,所述出光孔的中心与所述光学元件的中心重合。
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