CN106017671B - 一种光谱测试治具及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明实施方式公开了一种光谱测试治具及系统,光谱测试治具包括：光处理装置和底板，其特征在于：所述光处理装置设置于所述底板一端，所述底板另一端用于承载激光器；所述光处理装置设置有入射孔和出射孔，其中，所述出射孔用于插接连接光谱仪的跳线，所述光处理装置的入射孔用于插接所述激光器的输出端，所述光处理装置对从所述输出端出射的激光进行处理，以使所述激光从出射孔出射并且进入所述跳线。本发明将激光器和光处理装置均设置于底板上，而跳线设置于光处理装置上，激光器所输出的激光通过光处理装置转发入跳线内，保证了激光器所输出的激光全部入射至跳线内，从而保证了后续对激光器所输出的激光进行光谱分析的准确性。
Description
技术领域
本发明实施方式涉及光处理技术领域，特别是涉及一种光谱测试治具及系统。
背景技术
光谱分析是激光行业和其它光学相关领域必不可少的部分之一，其判断机器的可靠性、稳定性等有着很大作用。
目前低功率的激光器测试光谱方式通常为在一块挡板锁付一个法兰盘，法兰盘的一端接跳线，法兰盘的另一端接收激光输入，而跳线的另一端接入光谱仪测试光谱。第一方面，低功率输出功率不高，如果激光输出不正对法兰盘中跳线头的中心，则光谱仪测试的光谱跟实际光谱相差较大。第二方面，激光长时间打在法兰盘上，法兰盘异常发烫，会将跳线根部软化，导致跳线失效。第三方面，比较难找到合适的位置，让输出的激光正好打入法兰盘中跳线中，需要调整激光输出头的位置，费时费力。
发明内容
本发明实施方式主要解决的技术问题是提供一种光谱测试治具及系统，能够很好地固定激光器和跳线的位置，保证激光器的输出的激光进入跳线内，保证后续对激光器的激光进行光谱分析的准确性。
为解决上述技术问题，本发明实施方式采用的一个技术方案是：提供一种光谱测试治具，包括光处理装置和底板，其特征在于，光处理装置设置于底板一端，底板另一端用于承载激光器；光处理装置设置有入射孔和出射孔，其中，出射孔用于插接连接光谱仪的跳线，光处理装置的入射孔用于插接激光器的输出端，光处理装置对从输出端出射的激光进行处理，以使激光从出射孔出射并且进入跳线。
其中，光处理装置包括：盒子，盒子的一面设置有入射孔，盒子的另一面设置有出射孔；三棱镜，三棱镜设置于盒子内，并且三棱镜的一面分别与出射孔和入射孔相对应，用于对从输出端出射的激光进行反射和折射处理，其中，三棱镜所反射的部分激光从出射孔射出。
其中，光处理装置还包括法兰盘；法兰盘固定在盒子的出射孔处，用于与跳线螺纹连接。
其中，光处理装置为积分球。
其中，底板的另一端设置有与激光器相适配的凹槽。
其中，光谱测试治具还包括：可调节支撑架，固定于底板的另一端，用于承载激光器，并且用于调节激光器距离底板的高度。
其中，一种光谱测试系统，其特征在于，包括：光谱仪、光谱测试治具、激光器和跳线；光谱测试治具包括底板和光处理装置；跳线的一端与光谱仪连接，光处理装置设置于底板的一端，其中，光处理装置还设置有入射孔和出射孔，跳线的另一端插接于出射孔；激光器设置于底板的另一端，并且激光器的输出端插接于入射孔；激光器所输出的激光从入射孔入射光处理装置，并且激光经过光处理装置处理之后，至少部分激光从出射孔出射，其中，从出射孔出射部分激光入射至跳线，并且由跳线传送至光谱仪，由光谱仪对部分激光进行光谱分析。
其中，光处理装置包括：盒子，盒子的一面设置有入射孔，盒子的另一面设置有出射孔；三棱镜，三棱镜设置于盒子内，并且三棱镜的一面分别与出射孔和入射孔相对应，用于对从输出端出射的激光进行反射和折射处理，其中，三棱镜所反射的部分激光从出射孔射出；法兰盘，法兰盘固定在盒子的出射孔处，用于与跳线螺纹连接。
其中，光处理装置为积分球。
其中，底板的另一端设置有与激光器相适配的凹槽。
本发明实施方式的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明将激光器和光处理装置均设置于底板上，保证光处理装置和激光器的位置相对固定，而跳线设置于光处理装置上，激光器所输出的激光通过光处理装置转发入跳线内，保证了激光器所输出的激光全部入射至跳线内，保证了跳线所采集到的激光与激光器所输出的激光差别不大，从而保证了后续对激光器所输出的激光进行光谱分析的准确性。另外，通过控制激光器所输出的激光全部入射至跳线内，可以很好地避免激光落到跳线的周围，避免跳线的周围给激光照料造成温度过高的情况，从而避免软化跳线的根部。
附图说明
图1是本发明光谱测试治具实施例的分解示意图；
图2是本发明光谱测试治具实施例的一体示意图；
图3是本发明光谱测试治具实施例中的光处理装置是通过三棱镜反射激光进入跳线的原理图；
图4是本发明光谱测试治具实施例中的光处理装置是通过积分球反射激光进入跳线的原理图；
图5是本发明光谱测试系统实施例的示意图。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面结合附图和具体实施方式，对本发明进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是用于限制本发明。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
下面结合附图和实施方式对本发明进行详细说明。
请参阅图1和2，光谱测试治具100，包括光处理装置101和底板105。光处理装置101设置于底板105一端，底板另一端用于承载激光器106；光处理装置101设置有入射孔和出射孔，其中，所述出射孔用于插接连接光谱仪的跳线，光处理装置101的入射孔用于插接所述激光器的输出端，光处理装置101对从输出端出射的激光进行处理，以使所述激光从出射孔出射并且进入所述跳线，值得说明的是：光处理装置101用于通过对进入的激光进行反射和/或折射处理，实现控制激光从出射孔出射，从而很好地控制激光进入跳线内，避免激光落到跳线以外的位置的。
本实施例通过将激光器和光处理装置均设置于底板上，保证光处理装置和激光器的位置相对固定，而跳线设置于光处理装置上，激光器所输出的激光通过光处理装置转发入跳线内，保证了激光器所输出的激光全部入射至跳线内，保证了跳线所采集到的激光与激光器所输出的激光差别不大，从而保证了后续对激光器所输出的激光进行光谱分析的准确性。
进一步的，光处理装置101包括：盒子102、三棱镜104、法兰盘103和可调节支撑架107。法兰盘103固定在盒子102的出射孔处，用于与跳线108螺纹连接，值得说明的是，在其他替代实施例中，没有法兰盘可以直接使跳线与盒子连接。三棱镜104可以是等边直角三棱镜、不等边直角三棱镜等等，可根据具体需要进行选择，三棱镜104具有反射光和折射光的作用，由于激光器106射出的光比较强，光斑较大，直接打在法兰盘上会使法兰盘异常发热，会将跳线108的根部软化导致跳线108失效，而将激光射在三棱镜104上可以将光反射和折射，这样反射出的光就会减弱但不会影响光的分析。跳线108的另一端与光谱仪109连接，光谱仪109通过跳线108引入的激光进行检测。可调节支撑架107，固定于底板105的另一端，即底板105有凹槽的一端，可以很好的卡住可调节支撑架107。可调节支撑架107由长方体表面(图未示)和两个可调节高度的支撑杆(图未示)组成，其长方体表面的面积和所述底板的凹槽面积一致，在长方形表面的两侧的中央设有“U”形圆柱体，在长方形表面上面固定一块与之相适配的长方体海绵(图未示)，再用一条皮筋(图未示)绑在两个“U”形圆柱体上，这样无论激光器106是什么形状、什么大小都可适配，长方体海绵是无论激光器是圆柱体还是方体都能很好的贴在其表面，不会导致激光器106脱离，皮筋具有伸缩性，无论激光器106是什么规格都可很好的固定，这样就可以固定住激光器106，防止由于抖动而使激光打偏。
由可调节支撑架107固定在底板105凹槽处的激光器106射出激光，由于事先调节好可调节支撑架107的高度，可使激光刚好打在三棱镜104的中央，三棱镜104反射出的激光刚好透过法兰盘103的中央打在跳线108上，跳线108将激光传输到光谱仪109上，光谱仪109进行检测，使得光谱测试夹具可以适用于不相同规格的激光器。当然，在其它替代实施例中，也可以不设置可调节支撑架107，直接将激光器固定于底板。
通过可调节支撑架控制激光器所输出的激光全部入射至跳线内，可以很好地避免激光落到跳线的周围，避免跳线的周围给激光照料造成温度过高的情况，从而避免软化跳线的根部。
在另一个实施方式中，本实施例与上一实施方式的不同之处，光处理装置100包括积分球(图未示)。积分球是一个内壁涂有白色漫反射材料的空腔球体，又称光度球，光通球等，球壁上开两个窗孔，用作入射孔和出射孔，入射孔正对激光器的出射端，出射孔连接跳线，跳线连接光谱仪。积分球里面的漫反射材料也是具有反射光和折射光的作用。
在本实施例中，通过激光器和光处理装置均设置于底板上，保证光处理装置和激光器的位置相对固定，而跳线设置于光处理装置上，激光器所输出的激光通过光处理装置转发入跳线内，保证了激光器所输出的激光全部入射至跳线内，保证了跳线所采集到的激光与激光器所输出的激光差别不大，从而保证了后续对激光器所输出的激光进行光谱分析的准确性。另外，通过控制激光器所输出的激光全部入射至跳线内，可以很好地避免激光落到跳线的周围，避免跳线的周围给激光照料造成温度过高的情况，从而避免软化跳线的根部。
请参阅图5，图5为一种光谱测试系统的示意图，光谱测试系统100，包括：光谱仪109，跳线108、底板105、光处理装置101和激光器107。跳线108，其一端与所述光谱仪109连接。光处理装置101，设置于所述底板的一端，其中，光处理装置101还设置有入射孔和出射孔，所述跳线的另一端插接于所述出射孔。激光器107，设置于所述底板的另一端，并且所述激光器的输出端插接于所述入射孔。激光器107所输出的激光从入射孔入射所述光处理装置101，并且激光经过光处理装置101处理之后，至少部分激光从出射孔出射，其中，从出射孔出射部分激光入射至跳线108，并且由跳线108传送至光谱仪109，由光谱仪109对部分激光进行光谱分析。
进一步的，光处理装置100包括：盒子102、三棱镜104和法兰盘103。盒子102的一面设置有所述入射孔，盒子102的另一面设置有出射孔；三棱镜104，三棱镜104设置于盒子102内，并且三棱镜104的一面分别与出射孔和入射孔相对应，用于对从输出端出射的激光进行反射和折射处理，其中，三棱镜104所反射的部分激光从出射孔射出；法兰盘103，法兰盘103固定在盒子102的出射孔处，用于与跳线螺纹连接。
进一步的，光处理装置100为积分球(图未示)。
进一步的，底板105的另一端设置有与激光器106相适配的凹槽。
需要说明的是：光谱测试系统中的光处理装置与上述光处理装置实施例中的光处理装置的结构和功能均相同，对于光处理装置的具体功能和结构可参阅上述光处理装置实施例，此处不再一一赘述。
本实施例通过将激光器和光处理装置均设置于底板上，保证光处理装置和激光器的位置相对固定，而跳线设置于光处理装置上，激光器所输出的激光通过光处理装置转发入跳线内，保证了激光器所输出的激光全部入射至跳线内，保证了跳线所采集到的激光与激光器所输出的激光差别不大，从而保证了后续对激光器所输出的激光进行光谱分析的准确性。另外，通过控制激光器所输出的激光全部入射至跳线内，可以很好地避免激光落到跳线的周围，避免跳线的周围给激光照料造成温度过高的情况，从而避免软化跳线的根部。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种光谱测试治具，包括光处理装置和底板，其特征在于,
所述光处理装置设置于所述底板一端，所述底板另一端用于承载激光器；
所述光处理装置设置有入射孔和出射孔，其中，所述出射孔用于插接连接光谱仪的跳线，所述光处理装置的入射孔用于插接所述激光器的输出端，所述光处理装置对从所述输出端出射的激光进行处理，以使所述激光从所述出射孔出射并且进入所述跳线；
所述光处理装置包括：
盒子，所述盒子的一面设置有所述入射孔，所述盒子的另一面设置有所述出射孔；
三棱镜，所述三棱镜设置于所述盒子内，并且所述三棱镜的一面分别与所述出射孔和入射孔相对应，用于对从所述输出端出射的激光进行反射和折射处理，其中，所述三棱镜所反射的部分激光从出射孔射出。
2.根据权利要求1所述的光谱测试治具，其特征在于，
所述光处理装置还包括法兰盘；
所述法兰盘固定在盒子的出射孔处，用于与所述跳线螺纹连接。
3.根据权利要求1所述的光谱测试治具，其特征在于，
所述光处理装置为积分球。
4.根据权利要求1至3任一项所述的光谱测试治具，其特征在于，
所述底板的另一端设置有与所述激光器相适配的凹槽。
5.根据权利要求1至3任一项所述的光谱测试治具，其特征在于，所述光谱测试治具还包括：
可调节支撑架，固定于所述底板的另一端，用于承载所述激光器，并且用于调节所述激光器距离所述底板的高度。
6.一种光谱测试系统，其特征在于，包括：光谱仪、光谱测试治具、激光器和跳线；
所述光谱测试治具包括底板和光处理装置；
所述跳线的一端与所述光谱仪连接，所述光处理装置设置于所述底板的一端，其中，所述光处理装置还设置有入射孔和出射孔，所述跳线的另一端插接于所述出射孔；
所述激光器设置于所述底板的另一端，并且所述激光器的输出端插接于所述入射孔；
所述激光器所输出的激光从所述入射孔入射所述光处理装置，并且所述激光经过所述光处理装置处理之后，至少部分所述激光从所述出射孔出射，其中，从所述出射孔出射部分激光入射至所述跳线，并且由所述跳线传送至所述光谱仪，由所述光谱仪对所述部分激光进行光谱分析。
7.根据权利要求6所述的光谱测试系统，其特征在于，所述光处理装置包括：
盒子，所述盒子的一面设置有所述入射孔，所述盒子的另一面设置有所述出射孔；
三棱镜，所述三棱镜设置于所述盒子内，并且所述三棱镜的一面分别与所述出射孔和入射孔相对应，用于对从所述输出端出射的激光进行反射和折射处理，其中，所述三棱镜所反射的部分激光从出射孔射出；
法兰盘，所述法兰盘固定在盒子的出射孔处，用于与所述跳线螺纹连接。
8.根据权利要求6所述的光谱测试系统，其特征在于，
所述光处理装置为积分球。
9.根据权利要求6所述的光谱测试系统，其特征在于，
所述底板的另一端设置有与所述激光器相适配的凹槽。
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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