CN105954448A - 一种恒温电导检测装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种恒温电导检测装置及检测方法，包括入口、出口、管道、半导体制冷片、绝热材料、热传导材料、检测池；所述的半导体制冷片包括冷面和热面，所述的冷面和热面通过绝热材料隔离；所述的冷面和热面上分别贴有冷面热传导材料和热面热传导材料，所述的管道连接入口，并依次通过冷面热传导材料和热面热传导材料，随后依次连接检测池和出口，能够在输出信号方面使所测溶液始终保持在所设定得测试温度，不受环境温度影响，提高了检测精度。

Description

一种恒温电导检测装置及检测方法
技术领域
本发明属于检测检验技术领域，尤其是涉及一种恒温电导检测装置及检测方法。
背景技术
电导检测器是离子色谱至关重要的一种检测器，电导检测池是被检测液体的流通池，检测池直接接触被检液体，并把检测信号上传至信号采集和处理部分。检测池的结构和性能直接影响输出信号，其中溶液和检测池体温度变化是影响检测信号稳定性的主要因素之一，溶液的电阻是随温度升高而减小，即溶液的浓度一定时，它的电导率随着温度的升高而增加，其增加的幅度约为2％/℃。另外同一类的电解质，当浓度不同时，它的温度系数也不一样。在低浓度时，电导率的温度之间的关系用下式表示：由于第二项之值较小，可忽略不计，在低温时的电导率与温度的关系可用以下近似值表示，因此实际测量时必须加入温度补偿。对于大多数离子，电导率的温度系数大约为+1.4％/℃～3％/℃，对于H+和OH-离子，电导率温度系数分别为1.5％/℃和1.8％/℃，这个数值相对于电导率测量的准确度要求，一般为1％或优于1％，是不容忽视的。
通过给溶液预热的方式可在被检溶液温度低于设定测试温度时弥补溶液随温度升高造成的影响，但当环境温度高于设定预热温度时，很难达到恒温的目的，而且整个流路系统其他与电相关的器件也在发热，在表象上就会出现检测溶液电导值仍在升高的现象，很难达到真正系统恒温。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种恒温电导检测装置及检测方法。能够在输出信号方面使所测溶液始终保持在所设定得测试温度，不受环境温度影响，提高了检测精度。
本发明完整的技术方案包括：一种恒温检测装置，包括入口、出口、管道、半导体制冷片、绝热材料、热传导材料、检测池；
所述的半导体制冷片包括冷面和热面，所述的冷面和热面通过绝热材料隔离；所述的冷面和热面上分别贴有冷面热传导材料和热面热传导材料，所述的管道连接入口，并依次通过冷面热传导材料和热面热传导材料，随后依次连接检测池和出口。
所述的恒温检测装置为恒温电导检测装置，所述的检测池为电导检测池；
所述的热传导材料为石墨；
在冷面热传导材料和热面热传导材料处的管道为盘曲微管；
所述的恒温检测装置还包括隔热外壳。
利用上述检测装置进行检测的方法，待测物质由入口进入管道，首先通过冷面热传导材料，使温度先降低到待侧温度之下，消除前端过高温度的影响，降温后的介质再通过热面热传导材料，升温至测试设定温度，随后进入检测池进行检测。
所述待测物质为电导溶液。
本发明相对于现有技术的优点在于：采用半导体制冷片，利用半导体制冷片制冷和产热的双面特性，冷面降温，热面升温加热。进入电导检测池的溶液先经过与冷面密切接触的盘曲微管，使溶液温度先降低到设定检测温度之下，消除前端过高温度的影响。降温后的溶液再进入与热面密切接触的盘曲微管进行升温至测试设定温度。前端余热对最终检测温度的影响给予消除，使最终检测溶液的电导值更加稳定。控温方面以精确控制热面温度，制冷为副效果。
附图说明
图1为本发明公开的恒温检测装置结构示意图。
图2为盘曲微管示意图。
图中：1-入口；2-管道；3-半导体制冷片；4-冷面；5-热面；6-石墨；7-绝热材料；8-电导检测池；9-出口；10-隔热外壳。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步说明。
一种电导恒温检测装置，包括入口1、出口9、管道2、半导体制冷片3、绝热材料7、石墨6、电导检测池8；隔热外壳10。
所述的半导体制冷片包括冷面4和热面5，所述的冷面和热面通过绝热材料7隔离；所述的冷面和热面上分别贴有冷面石墨和热面石墨，所述的管道2连接入口1，并依次通过冷面石墨和热面石墨，随后依次连接检测池和出口。
电导溶液由入口进入管道，首先通过冷面石墨处的盘曲微管，使温度先降低到待侧温度之下，消除前端过高温度的影响，降温后的电导溶液再通过热面石墨处的盘曲微管，升温至测试设定温度，随后进入检测池进行检测。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明作任何限制，凡是根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本发明技术方案的保护范围内。

Claims (7)

1.一种恒温检测装置，其特征在于，包括入口、出口、管道、半导体制冷片、绝热材料、热传导材料、检测池；
所述的半导体制冷片包括冷面和热面，所述的冷面和热面通过绝热材料隔离；所述的冷面和热面上分别贴有冷面热传导材料和热面热传导材料，所述的管道连接入口，并依次通过冷面热传导材料和热面热传导材料，随后依次连接检测池和出口。
2.权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的恒温检测装置为恒温电导检测装置，所述的检测池为电导检测池。
3.权利要求1所述的装置，其特征在于，在冷面热传导材料和热面热传导材料处的管道为盘曲微管。
4.权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的热传导材料为石墨。
5.权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的恒温检测装置还包括隔热外壳。
6.利用权利要求1-6任一项所述的装置进行检测的方法，其特征在于，待测物质由入口进入管道，首先通过冷面热传导材料，使温度先降低到待侧温度之下，消除前端过高温度的影响，降温后的介质再通过热面热传导材料，升温至测试设定温度，随后进入检测池进行检测。
7.权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待测物质为电导溶液。
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