CN105931214B - 图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法 - Google Patents

图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法，图像处理装置具有：散射线校正用数据取得部，其取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的；像素区域取得部，其取得表示所述放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息；曝光范围取得部，其取得表示所述放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息；图像数据取得部，其取得拍摄所述摄影对象的放射线图像而得到的图像数据；以及校正部，在所述摄影用曝光范围包含所述有效像素区域以外的区域的情况下，该校正部利用所述散射线校正用数据来校正所述图像数据取得部取得的所述图像数据。

Description

图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法
技术领域
本发明涉及图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法。
背景技术
以往，使用具备包含像素的放射线检测器的放射线图像摄影装置，由放射线检测器对从放射线照射装置照射而透过摄影对象的放射线进行检测，由此拍摄放射线图像。
一般地，在放射线图像的拍摄中，由于放射线透过摄影对象而产生散射线，因此，透过摄影对象的放射线包含散射线。当放射线包含散射线时，存在画质由于放射线图像的对比度降低或伪影的产生等而降低的情况。
为此，公知有去除散射线给放射线图像带来的影响的技术(例如，参照日本特开2005-321334号公报、日本特开2014-23691号公报)。
散射线是由于多种因素而产生的。在进行放射线图像的拍摄的情况下，存在放射线还照射到有效像素区域外的情况，有效像素区域是有助于放射线图像摄影装置(放射线检测器)拍摄放射线图像的像素区域。在这样的情况下，存在照射到有效像素区域外的放射线在放射线图像摄影装置(放射线检测器)的周围发生反射等而产生由外部因素引起的散射线的情况。因此，期望去除由外部因素引起的散射线的影响，提高放射线图像的画质。
发明内容
本发明提供能够去除散射线的影响而提高放射线图像的画质的图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法。
第一方式是一种图像处理装置，该图像处理装置具有：散射线校正用数据取得部，其取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的；像素区域取得部，其取得表示放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息；曝光范围取得部，其取得表示放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息；图像数据取得部，其取得拍摄摄影对象的放射线图像而得到的图像数据；以及校正部，在曝光范围取得部取得的信息所示的摄影用曝光范围包含像素区域取得部取得的信息所示的有效像素区域以外的区域的情况下，该校正部利用散射线校正用数据取得部取得的散射线校正用数据来校正图像数据取得部取得的图像数据。
第二方式是一种图像处理装置，该图像处理装置具有：散射线校正用数据取得部，其取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的；像素区域取得部，其取得表示放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息；曝光范围取得部，其取得表示放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息；图像数据取得部，其取得拍摄摄影对象的放射线图像而得到的图像数据；以及校正部，在曝光范围取得部取得的信息所示的摄影用曝光范围大于像素区域取得部取得的信息所示的有效像素区域的情况下，该校正部利用散射线校正用数据取得部取得的散射线校正用数据来校正图像数据取得部取得的图像数据。
第三方式在上述第二方式基础上，也可以是，在摄影用曝光范围小于有效像素区域的情况下，校正部不利用散射线校正用数据来校正图像数据。
第四方式在上述第一方式和第二方式基础上，也可以是，散射线校正用数据取得部还取得表示在取得散射线校正用数据时照射出的放射线的校正用曝光范围的信息，校正部基于校正用曝光范围的大小和摄影用曝光范围的大小，利用散射线校正用数据校正图像数据。
第五方式在上述第四方式基础上，也可以是，在校正用曝光范围与摄影用曝光范围相同的情况下，校正部利用散射线校正用数据校正图像数据。
第六方式在上述第四方式和第五方式的基础上，也可以是，在校正用曝光范围大于摄影用曝光范围的情况下，校正部利用根据摄影用曝光范围的大小修正后的散射线校正用数据校正图像数据。
第七方式在上述第四方式至第六方式的基础上，也可以是，在校正用曝光范围小于摄影用曝光范围的情况下，校正部进行规定的处理。
第八方式在上述第四方式至第七方式的基础上，也可以是，散射线校正用数据根据校正用曝光范围的大小而具有多种，校正部利用与校正用曝光范围的大小对应的种类的散射线校正用数据校正图像数据。
第九方式在上述方式的基础上，也可以是，散射线校正用数据根据表示拍摄放射线图像的摄影环境的摄影环境信息而具有多种，校正部利用与拍摄到放射线图像时的摄影环境信息对应的种类的所述散射线校正用数据，校正放射线图像的图像数据。
第十方式是一种放射线图像摄影系统，该放射线图像摄影系统具有：放射线照射装置，其具有放射线源和准直器；放射线图像摄影装置，其拍摄基于从放射线照射装置照射出的放射线的放射线图像；以及上述方式的图像处理装置，其对由放射线图像摄影装置拍摄到的放射线图像的图像数据进行图像处理。
并且，第十一方式是一种图像处理方法，其中，由散射线校正用数据取得部取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的，由像素区域取得部，取得表示放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息，由曝光范围取得部，取得表示放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息，由图像数据取得部，取得拍摄摄影对象的放射线图像而得到的图像数据，由校正部，在曝光范围取得部取得的信息所示的摄影用曝光范围包含像素区域取得部取得的信息所示的有效像素区域以外的区域的情况下，利用散射线校正用数据取得部取得的散射线校正用数据来校正图像数据取得部取得的图像数据。
并且，第十二方式是一种图像处理方法，其中，由散射线校正用数据取得部取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的，由像素区域取得部，取得表示放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息，由曝光范围取得部，取得表示放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息，由图像数据取得部，取得拍摄摄影对象的放射线图像而得到的图像数据，由校正部，在曝光范围取得部取得的信息所示的摄影用曝光范围大于像素区域取得部取得的信息所示的有效像素区域的情况下，利用散射线校正用数据取得部取得的散射线校正用数据来校正图像数据取得部取得的图像数据。
根据上述方式，可提供能够提高放射线图像的画质的图像处理装置、放射线图像摄影系统以及图像处理方法。
附图说明
图1是示出本例示性实施方式的放射线图像摄影系统的整体结构的概略的结构示意图。
图2是示出用于说明本例示性实施方式的放射线图像摄影系统中的放射线图像摄影装置、控制台、放射线图像解读装置以及放射线照射装置的功能的概略结构的功能框图。
图3是示出本例示性实施方式的放射线检测器的结构的结构图。
图4是示出本例示性实施方式的放射线照射部的要部结构的立体图。
图5是用于说明在放射线图像的拍摄中产生的散射线的说明图。
图6是本例示性实施方式的由控制台执行的图像处理的流程图。
图7是用于说明摄影用曝光范围＜有效像素区域＜校正用曝光范围的情况的说明图。
图8是用于说明摄影用曝光范围＝校正用曝光范围的情况的说明图。
图9是用于说明摄影用曝光范围＞校正用曝光范围的情况的说明图。
图10是用于说明校正用曝光范围＞摄影用曝光范围＞有效像素区域的情况的说明图。
具体实施方式
以下，参照附图，详细地说明本发明的例示性实施方式。另外，本发明不限于本例示性实施方式。
首先，对本例示性实施方式的放射线图像摄影系统整体的概略结构进行说明。在图1中示出本例示性实施方式的放射线图像摄影系统的整体结构的一例的结构示意图。
本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10具有如下功能：基于经由控制台16从外部的系统(例如RIS：Radiology Information System(放射信息系统))输入的指示(摄影菜单)，通过医生或放射线技师等用户的操作，拍摄作为摄影对象的一例的受检者W的放射线图像。
本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10具有放射线图像摄影装置14、控制台16、放射线图像解读装置18以及放射线照射装置20。
在本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10中，对作为图像处理装置的一例的控制台16对由放射线图像摄影装置14拍摄到的放射线图像的图像数据进行图像处理，尤其进行从放射线图像的图像数据中去除散射线的影响的校正处理的情况进行说明。另外，在本例示性实施方式中，由于从放射线图像的图像数据中降低散射线的影响的情况也是去除一部分影响，因此称作“去除”。
放射线照射装置20具有基于控制台16的控制而照射放射线X的功能。在拍摄受检者W的放射线图像的情况下，放射线照射装置20具有使放射线X照射到摄影台11的摄影面12上的受检者W的摄影对象部位的功能。另外，在从放射线照射装置20照射放射线X的情况下，优选使放射线图像摄影装置14的有效像素区域(详细情况后述)的中心与照射场的中心一致。为此，例如可以在放射线图像摄影装置14中设置位置传感器，放射线照射部62掌握放射线图像摄影装置14的位置，在中心位置重合的情况下进行放射线X的照射准备。
放射线图像摄影装置14具有放射线检测器28(参照图2、3)，具有产生与放射线X的射线量相应的电荷，基于产生的电荷量来拍摄放射线图像并发送放射线图像的图像数据的功能。在本例示性实施方式中，作为具体例子，使用电子暗盒作为放射线图像摄影装置14，例如使用将放射线转换成数字数据进行输出的DR(Digital Radiography(数字放射线摄影))暗盒。
另外，在图1中示出放射线图像摄影装置14配置于摄影台11的摄影面12上的状态。
由放射线图像摄影装置14拍摄到的放射线图像的图像数据被输出到控制台16。本例示性实施方式的控制台16具有使用经由LAN(Local Area Network(局域网))等无线通信或有线通信从外部的系统等取得的摄影菜单和各种信息等，进行放射线图像摄影装置14和放射线照射装置20的控制的功能。并且，本例示性实施方式的控制台16具有在与放射线图像摄影装置14之间进行包含放射线图像的图像数据的各种信息的发送接收的功能。并且，本例示性实施方式的控制台16具有对从放射线图像摄影装置14取得的放射线图像的图像数据进行图像处理，尤其进行从放射线图像的图像数据中去除散射线的影响的校正处理的功能。而且，本例示性实施方式的控制台16具有向放射线图像解读装置18发送从放射线图像摄影装置14取得的放射线图像的图像数据或进行图像处理后的图像数据的功能。
放射线图像解读装置18具有从控制台16接收并显示放射线图像的图像数据的功能。作为放射线图像解读装置18的具体例子可以举出观测器等，但没有特别限定，也可以是以平板式终端和智能手机等为代表的所谓PDA(Personal Digital Assistance(个人数字助理))即便携式信息终端装置。
在图2中示出表示用于说明本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10中的放射线图像摄影装置14、控制台16、放射线图像解读装置18以及放射线照射装置20的一例的功能的概略结构的功能框图。
本例示性实施方式的控制台16是服务器计算机。如图2所示，控制台16具有控制部30、存储部32、显示部驱动部33、显示部34、操作输入检测部35、操作部36、I/O(InputOutput(输入输出))部37以及I/F(Interface(接口))部38。控制部30、存储部32、显示部驱动部33、操作输入检测部35以及I/O部37以能够经由系统总线或控制总线等总线39相互收受信息等的方式连接。
本例示性实施方式的控制部30是散射线校正用数据取得部、像素区域取得部、曝光范围取得部、图像数据取得部以及校正部的一例。控制部30具有对控制台16整体的动作进行控制的功能。并且，控制部30具有对放射线图像的图像数据进行去除散射线的影响的图像处理等的功能。本例示性实施方式的控制部30具有CPU(Central Processing Unit(中央处理单元))、ROM(Read Only Memory(只读存储器))、RAM(Random Access Memory(随机存取存储器))以及HDD(Hard Disk Drive(硬盘驱动器))。CPU具有对控制台16整体的动作进行控制的功能。在ROM中预先存储有包含由CPU使用的图像处理程序的各种程序等。RAM具有暂时存储各种数据的功能。HDD具有存储并保持各种数据的功能。另外，HDD可以是SSD(Solid State Drive(固态硬盘))，并且，也可以与存储部32兼用。
显示部驱动部33具有对各种信息在显示部34上的显示进行控制的功能。本例示性实施方式的显示部34具有对摄影菜单和放射线图像等进行显示的功能。操作输入检测部35具有检测对操作部36的操作状态和处理操作的功能。操作部36用于用户进行与放射线图像的拍摄和图像处理等有关的指示。作为一例，操作部36可以是具有键盘或鼠标的形态的部件，也可以是具有与显示部34一体化的触摸面板的形态的部件。并且，操作部36也可以是包含摄像机，具有通过使该摄像机识别用户的手势来输入各种指示的形态的部件。
并且，I/O部37和I/F部38具有通过无线通信或有线通信，与放射线图像摄影装置14、放射线图像解读装置18、放射线照射装置20、RIS等外部的系统以及PACS(PictureArchiving and Communication System(图片归档和通信系统))等外部的系统之间进行各种信息的发送接收的功能。
存储部32具有存储从放射线图像摄影装置14接收到的放射线图像的图像数据和散射线校正用数据等各种数据的功能。
并且，本例示性实施方式的放射线图像解读装置18具有解读控制部50、存储部52、显示部驱动部53、显示部54、操作输入检测部55、操作部56、I/O部57以及I/F部58。解读控制部50、存储部52、显示部驱动部53、操作输入检测部55以及I/O部57以能够经由系统总线或控制总线等总线59相互收受信息等的方式连接。
解读控制部50具有对放射线图像解读装置18整体的动作进行控制的功能。解读控制部50具有CPU、ROM以及RAM。CPU具有对放射线图像解读装置18整体的动作进行控制的功能。在ROM中预先存储有CPU使用的各种处理程序等。RAM具有暂时存储各种数据的功能。
显示部驱动部53、显示部54、操作输入检测部55以及操作部56分别具有与控制台16的显示部驱动部33、显示部34、操作输入检测部35以及操作部36相同的功能。
I/O部57和I/F部58具有通过基于电波的无线通信、基于光的光通信以及有线通信等，与控制台16或PACS之间进行各种信息的通信的功能。
存储部52具有存储从控制台16接收到的放射线图像的功能。作为存储部52的具体例子，可以举出非易失性存储器等。
并且，本例示性实施方式的放射线图像摄影装置14具有摄影控制部22、存储部24、I/O部25、I/F部26、放射线检测器28、遮蔽板97(参照图5)以及电源110(参照图3)。摄影控制部22、存储部24、I/O部25以及放射线检测器28以能够经由系统总线或控制总线等总线29相互收受信息等的方式连接。
摄影控制部22具有对放射线图像摄影装置14整体的动作进行控制的功能，具有CPU、ROM以及RAM。CPU具有对放射线图像摄影装置14整体的动作进行控制的功能。在ROM中预先存储有CPU使用的各种处理程序等。RAM具有暂时存储各种数据的功能。
存储部24具有存储由放射线检测器28检测出的放射线图像的图像数据等各种数据的功能。
I/O部25和I/F部26具有通过无线通信或有线通信，与控制台16之间进行包含放射线图像的图像数据的各种信息的发送接收的功能。
放射线检测器28接受放射线X的照射，记录放射线图像的图像数据，并输出已记录的图像数据，将与照射的放射线X的射线量相应地产生的每个像素的电荷作为图像数据进行检测。
在图3中示出表示本例示性实施方式的放射线检测器28的结构的一例的结构图。在本例示性实施方式中，对在先将放射线X转换成光，再将转换后的光转换成电荷的间接转换方式的放射线检测器28中使用本发明的情况进行说明。另外，在图3中，省略将放射线X转换成光的闪烁器98(参照图5)的描述。
本例示性实施方式的放射线检测器28具有TFT(Thin Film Transistor(薄膜晶体管))基板90(参照图5)、闪烁器98(参照图5)、扫描信号控制电路104以及信号检测电路105。
放射线检测器28具备具有像素100的TFT基板90，该像素100具有：传感器部103，其接受光而产生电荷，并蓄积产生的电荷；以及作为开关元件的TFT开关74，其用于读出蓄积于传感器部103中的电荷。在本例示性实施方式中，通过照射由闪烁器98(参照图5)转换得到的光，在传感器部103中产生电荷。
沿一个方向(图3的栅极布线方向)和与栅极布线方向交叉的方向(图3的信号布线方向)呈矩阵状配置有多个像素100。在图3中，简略地示出像素100的排列，例如，沿栅极布线方向和信号布线方向配置有1024个×1024个像素100。
在本例示性实施方式中，将由像素100中的实际上有助于拍摄放射线图像的像素100形成的区域称作“有效像素区域”。另外，有效像素区域是预定的区域，例如，即使在有效像素区域内包含有由于劣化或制造不良等而无法进行电荷的蓄积、读出的像素100等无助于拍摄放射线图像的像素，也要忽略不计。
根据需要，使用光吸收性较低的绝缘性材料在TFT基板90上形成保护膜，并使用光吸收性较低的粘接树脂将作为放射线转换层的闪烁器98(参照图5)粘贴在其表面上。或者，通过真空蒸镀法形成闪烁器98。作为闪烁器98，期望如能够产生可吸收的波长区域的光那样的产生具有较宽范围的波长区域的荧光的闪烁器。作为这样的闪烁器98，具有CsI：Na、CaWO4、YTaO4：Nb、BaFX：Eu(X是Br或Cl)，或者LaOBr：Tm以及GOS等。具体而言，在使用X射线作为放射线X进行拍摄的情况下，优选包含碘化铯(CsI)的闪烁器，尤其优选使用基于X射线照射的发光光谱位于400nm～700nm的CsI：Tl(添加有铊的碘化铯)或CsI：Na。另外，CsI：Tl在可见光区域中的发光峰值波长为565nm。另外，在使用包含CsI的闪烁器作为闪烁器98的情况下，优选使用通过真空蒸镀法形成为条状的柱状晶体结构的材料。
并且，在放射线检测器28中以彼此交叉的形式设置有多个栅极布线101和多个信号布线73，其中，栅极布线101用于接通/断开TFT开关74，信号布线73用于读出蓄积于传感器部103中的电荷。
而且，在放射线检测器28中与各信号布线73并列地设置有共用电极布线95。传感器部103与共用电极布线95连接，经由共用电极布线95从放射线图像摄影装置14内的电源110对传感器部103施加偏置电压。
在栅极布线101中流过用于切换各TFT开关74的控制信号。通过这样地在各栅极布线101中流过控制信号，切换各TFT开关74。
根据各像素100的TFT开关74的切换状态，在信号布线73中流过与蓄积于各像素100中的电荷相应的电信号。
对流到各信号布线73的电信号进行检测的信号检测电路105与各信号布线73连接。并且，向各栅极布线101输出用于接通/断开TFT开关74的控制信号的扫描信号控制电路104与各栅极布线101连接。
信号检测电路105和扫描信号控制电路104与摄影控制部22连接。摄影控制部22对在信号检测电路105中转换得到的数字信号实施噪声去除等规定的处理，并且向信号检测电路105输出表示信号检测定时的控制信号，向扫描信号控制电路104输出表示扫描信号输出定时的控制信号。
并且，本例示性实施方式的放射线照射装置20具有照射控制部60、放射线照射部62、I/O部67以及I/F部68。并且，放射线照射部62具有准直器64和放射线源66。照射控制部60、放射线照射部62以及I/O部67以能够经由系统总线或控制总线等总线69相互收受信息等的方式连接。
I/O部67和I/F部68具有通过无线通信或有线通信，与控制台16之间进行与放射线X的照射相关的各种信息的发送接收的功能。
照射控制部60具有对放射线照射装置20整体的动作进行控制的功能，具有CPU、ROM以及RAM。CPU具有对放射线照射装置20整体的动作进行控制的功能。在ROM中预先存储有CPU使用的各种处理程序等。RAM具有暂时存储各种数据的功能。
照射控制部60具有基于控制台16的控制来控制放射线照射部62的准直器64，由此对照射的放射线X的照射场进行控制的功能。并且，照射控制部60具有基于控制台16的控制，使放射线照射部62的放射线源66照射放射线X的功能。
在图4中示出表示本例示性实施方式的放射线照射部62的一例的要部结构的立体图。在本例示性实施方式中，作为具体例子，对准直器64为四片翼式准直器的情况进行说明。
如图4所示，准直器64设置于放射线源66与放射线图像摄影装置14之间，包含四片狭缝板(翼)65A、65B、65C、65D。各狭缝板65A～65D由俯视矩形的板状部件构成，该板状部件使用铅或钨等遮蔽放射线X的材料，在准直器64中，狭缝板65A和狭缝板65B的一个侧面彼此相对，并且狭缝板65C和狭缝板65D的一个侧面彼此相对。并且，在准直器64中，由各狭缝板65A～65D的相对的各个侧面形成俯视矩形的开口部63。
在本例示性实施方式的放射线照射部62中，狭缝板65A～65D分别根据省略图示的包含电动机等的驱动部而移动。狭缝板65A和狭缝板65B能够在图4的x方向上移动，相对地，狭缝板65C和狭缝板65D能够在与上述x方向交叉的方向即图4的y方向上移动。另外，在本例示性实施方式的准直器64中，将各狭缝板65A～65D的可移动的范围设为从相对配置的狭缝板彼此的前端部接触的状态即开口部63为全闭状态的状态到开口部63保持俯视矩形且成为最大面积的状态的范围。照射场的大小为与开口部63的大小(面积)对应的大小(面积)。另外，在本例示性实施方式中，照射场的大小是指与放射线图像摄影装置14的放射线检测器28的检测面(被照射放射线X的面)同等的位置处的面积的大小。
接着，参照附图，对本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10的控制台16对放射线图像的图像数据去除散射线的影响的图像处理进行说明。
首先，对在放射线图像的拍摄中产生的散射线进行说明。图5是用于说明在放射线图像的拍摄中产生的散射线的说明图。在图5中示出在摄影台11的顶板11A的摄影面12上与受检者W之间配置放射线图像摄影装置14的情况。
放射线图像摄影装置14在框体内(省略图示)具有上述的放射线检测器28的TFT基板90、闪烁器98、遮蔽板97、电路部99。电路部99包含摄影控制部22或放射线检测器28具有的信号检测电路105和扫描信号控制电路104等电路。遮蔽板97是为了遮蔽透过TFT基板90和闪烁器98的放射线X照射到电路部99而设置的，例如，是金属制的板等。作为框体，例如使用采用碳和Mg等金属制的框的框体。
并且，摄影台11具有顶板11A和收纳部13。作为顶板11A的材料，例如可以举出丙烯酸等。并且，收纳部13具有收纳放射线图像摄影装置14的功能。另外，在图5所示的状态下，如上所述，示出放射线图像摄影装置14没有收纳到收纳部13中而是配置在顶板11A上进行放射线图像的拍摄的情况。作为收纳部13的材料，例如可以举出金属等。
在从放射线照射装置20对受检者W照射放射线X的情况下，关于入射到放射线图像摄影装置14的散射线，如图5所示，可以举出散射线A、B、C三种。
散射线A是由受检者W产生的散射线。散射线B是由放射线图像摄影装置14引起的散射线。散射线C是由存在于摄影台11等的周边的装置等的摄影环境等外部因素引起的散射线。在本例示性实施方式中，将散射线C称作“外部散射线”，以与其它种类的散射线区别。
关于散射线A，一般地，通过如下方法来去除散射线A的影响：实际使用用于去除散射线的栅格进行拍摄，或者使用虚拟栅格对放射线图像的图像数据进行图像处理。
并且，关于散射线B，一般地，通过使用不容易产生散射线的材料作为放射线图像摄影装置14特别是遮蔽板97的材料来降低散射性。另外，在金属中，一般地，原子量越高越容易产生散射线。
而且，考虑技师等摄影者使用例如较小的放射线图像摄影装置14(电子暗盒)的情况或放射线图像摄影装置14的端部被摄影对象(受检者W)遮挡的情况等，为了降低由照射场过窄导致的放射线图像端部的缺陷引起的再次摄影的风险，具有以将照射场扩大到有效像素区域以上的方式照射放射线X的倾向。并且，摄影者为了将照射场正好收缩到有效像素区域，需要将放射线源66与放射线图像摄影装置14(放射线检测器28)正确对准，因此，具有以将照射场扩大到有效像素区域以上的方式照射放射线X的倾向。在这样将照射场扩大到有效像素区域以上的情况下，容易产生外部散射线(散射线C)。例如，来自位于放射线图像摄影装置14周边的摄影台11、收纳部13、摄影台11背后的地面或墙壁等的外部散射线从后方绕到进入放射线图像摄影装置14(放射线检测器28)的风险增高。并且，由于放射线图像摄影装置14的框体通常是金属制的，因此，来自框体的外部散射线从后方绕到进入放射线图像摄影装置14(放射线检测器28)的风险增高。进而，外部散射线给放射线图像带来对比度的降低或伪影等影响。
并且，有时外部散射线根据源自摄影位置(立姿、卧姿、随意姿势(包含出诊)等)、摄影室等摄影环境的外部因素而不同，因此，期望包含这样的因素在内去除外部散射线的影响。
并且，如上所述，近来使用虚拟栅格的摄影备受关注。在使用虚拟栅格的摄影中，在推算出作为摄影对象的受检者W内的散射线A后从放射线图像中去除，在这样的还重叠有散射线B和外部散射线造成的散射线部分的状态下，在判定是散射线A后再进行去除。为了正确地掌握散射线A造成的散射线部分，需要与散射线B和外部散射线造成的散射线部分分离，尤其需要与外部散射线造成的散射线部分分离。通过预先正确地掌握散射线A造成的散射线部分并在接下来的拍摄中运用，例如能够进行即使摄影室等摄影环境(外部因素)不同，摄影时间也得到缩短的所谓智能摄影。
因此，在本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10的控制台16中，进行用于从放射线图像的图像数据中去除散射线的影响的图像处理。
在图6中示出由本例示性实施方式的控制台16执行的图像处理的一例的流程图。另外，在本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10中，在图6所示的图像处理之前，控制台16预先取得用于从放射线图像中去除外部散射线的影响的散射线校正用数据。散射线校正用数据的取得方法没有特别地限定，例如，可以举出如下方法：在不存在受检者W等的状态下，基于从放射线照射装置20向放射线图像摄影装置14照射放射线X而得到的放射线图像的图像数据，生成散射线校正用数据。
根据取得散射线校正用数据时的照射场即校正用曝光范围的大小，更具体而言根据放射线图像摄影装置14的有效像素区域以外的校正用曝光范围的大小，外部散射线的产生量不同。因此，在本例示性实施方式中，按照每个校正用曝光范围的大小而存在多种散射线校正用数据，将散射线校正用数据与校正用曝光范围的大小对应地存储于存储部32中。另外，以下将校正用曝光范围的大小表示为“校正用曝光范围S1”，将有效像素区域的大小表示为“有效像素区域S2”。
并且，在本例示性实施方式中，考虑到外部因素，按照每种摄影环境(摄影室、摄影台11以及摄影状态(卧姿、立姿以及随意姿势等))而存在多种散射线校正用数据，还将散射线校正用数据与表示摄影环境的摄影环境信息对应地存储。而且，在本例示性实施方式中，由于散射线的产生量根据放射线源66的管电压而不同，因此，按照放射线源66的每个管电压而存在多种散射线校正用数据，还将散射线校正用数据与管电压对应地存储。
即，在本例示性实施方式的控制台16中，在存储部32中预先与校正用曝光范围S1、摄影环境信息以及管电压对应地存储多个散射线校正用数据。
另外，这样的散射线校正用数据也可以不预先存储于控制台16内的存储部32中而预先存储于外部的系统中。并且，也可以使用由与拍摄受检者W的控制台16不同的控制台取得的散射线校正用数据。
另外，散射线校正用数据的取得方法不限于上述方法，例如，也可以在配置有与受检者W相当的模型(phantom)等的状态下取得散射线校正用数据。通过这样配置模型等，能够考虑被受检者W散射后被摄影台11(顶板11A)等反射后的外部散射线，因此优选。
在这样将散射线校正用数据存储于存储部32中的状态下，由控制台16的控制部30执行图6所示的图像处理。
在步骤S100中，控制部30经由I/O部37和I/F部38从放射线图像摄影装置14取得放射线图像的图像数据。当通过控制台16的控制，从放射线照射装置20向受检者W照射放射线X，并由放射线图像摄影装置14拍摄放射线图像时，控制台16取得拍摄到的放射线图像的图像数据。另外，控制部30从哪里取得放射线图像的图像数据没有特别地限定，例如，也可以不从放射线图像摄影装置14而从PACS等外部的系统取得放射线图像的图像数据。
在接下来的步骤S102中，控制部30取得表示放射线图像摄影装置14的放射线检测器28的有效像素区域S2和摄影用曝光范围的大小(以下，表示为摄影用曝光范围S3)的信息。在本例示性实施方式中，摄影用曝光范围S3是指拍摄受检者W的放射线图像时照射场的大小。有效像素区域S2按照每个放射线图像摄影装置14而确定。关于表示有效像素区域S2的信息，控制部30可以经由I/O部37和I/F部38，根据在拍摄中使用的放射线图像摄影装置14从RIS等外部的系统取得，也可以从放射线图像摄影装置14取得。并且，关于表示摄影用曝光范围S3的信息，在包含于摄影菜单中的情况下，控制部30可以从摄影菜单取得，也可以经由I/O部37和I/F部38从RIS等外部的系统或放射线照射装置20取得。并且，摄影用曝光范围S3也可以由控制部30根据由放射线源66的位置和放射线图像摄影装置14的位置得到的SID(Source Image Distance(源像距))和准直器64的开口部63的开口率算出。
在接下来的步骤S104中，控制部30取得摄影环境信息。如上所述，摄影环境信息是表示作为产生外部散射线的外部因素的摄影环境的信息。关于摄影环境信息，在包含于摄影菜单中的情况下，控制部30可以从摄影菜单取得，也可以经由I/O部37和I/F部38从RIS等外部的系统取得。
在接下来的步骤S106中，控制部30基于有效像素区域S2、摄影用曝光范围S3以及摄影环境信息，从存储部32取得散射线校正用数据和校正用曝光范围S1。另外，在本步骤中，在存在多个与有效像素区域S2、摄影用曝光范围S3以及摄影环境信息对应的散射线校正用数据和校正用曝光范围S1的组合的情况下，取得多组散射线校正用数据和校正用曝光范围S1。
在接下来的步骤S108中，控制部30对摄影用曝光范围S3是否大于有效像素区域S2(摄影用曝光范围S3＞有效像素区域S2)进行判断。在摄影用曝光范围S3不大于有效像素区域S2的情况，即摄影用曝光范围S3小于有效像素区域S2的情况和摄影用曝光范围S3等于有效像素区域S2的情况下，转移到步骤S110。另外，在本例示性实施方式中，关于校正用曝光范围S1、有效像素区域S2以及摄影用曝光范围S3，“等于”是指在误差范围内相等，“大于”是指比“等于”的情况大，“小于”是指比“等于”的情况小。
在步骤S110中，控制部30不校正放射线图像的图像数据而结束本处理。摄影用曝光范围S3小于有效像素区域S2的情况，例如如图7所示，存在摄影用曝光范围S3＜有效像素区域S2＜校正用曝光范围S1的情况。并且，例如存在有效像素区域S2＞校正用曝光范围S1＞摄影用曝光范围S3、有效像素区域S2＞摄影用曝光范围S3＞校正用曝光范围S1的情况。无论校正用曝光范围S1的大小如何，只要摄影用曝光范围S3＞校正用曝光范围S1即可。
在摄影用曝光范围S3小于有效像素区域S2的情况下，放射线X没有照射到有效像素区域外，可以看作没有外部散射线造成的影响或外部散射线造成的影响较小，因此，在本例示性实施方式中，不利用散射线校正用数据校正图像数据。
另一方面，在步骤S108中摄影用曝光范围S3大于有效像素区域S2的情况下，转移到步骤S112。
在步骤S112中，控制部30对摄影用曝光范围S3是否等于校正用曝光范围S1(摄影用曝光范围S3＝校正用曝光范围S1，参照图8)进行判断。另外，在存在多个取得的校正用曝光范围S1的情况下，对在取得的多个校正用曝光范围S1中是否存在等于摄影用曝光范围S3的校正用曝光范围S1进行判断。在摄影用曝光范围S3等于校正用曝光范围S1的情况下，转移到步骤S114。
在步骤S114中，控制部30直接使用与摄影用曝光范围S3＝校正用曝光范围S1的校正用曝光范围S1对应的散射线校正用数据，校正放射线图像的图像数据后，结束本处理。另外，在本例示性实施方式中，预先将校正后的图像数据存储到存储部32中。
另一方面，在步骤S112中摄影用曝光范围S3不等于校正用曝光范围S1的情况下，转移到步骤S116。在步骤S116中，控制部30对摄影用曝光范围S3是否大于校正用曝光范围S1(摄影用曝光范围S3＞校正用曝光范围S1)进行判断。另外，在存在多个取得的校正用曝光范围S1的情况下，对于取得的多个校正用曝光范围S1中最大的校正用曝光范围S1，对摄影用曝光范围S3是否大于校正用曝光范围S1进行判断。在摄影用曝光范围S3大于校正用曝光范围S1的情况下，转移到步骤S118。
摄影用曝光范围S3大于校正用曝光范围S1的情况，例如如图9(1)所示，存在摄影用曝光范围S3＞校正用曝光范围S1＞有效像素区域S2的情况。并且，例如如图9(2)所示，存在摄影用曝光范围S3＞有效像素区域S2＞校正用曝光范围S1的情况。在摄影用曝光范围S3大于校正用曝光范围S1的情况下，有可能即使利用与校正用曝光范围S1对应的散射线校正用数据来校正放射线图像的图像数据，也无法适当地进行校正。
因此，在步骤S118中，控制部30通过显示部34将表示摄影用曝光范围S3大于校正用曝光范围S1的意思通知给用户，并进行规定的处理，然后结束本处理。规定的处理没有特别地限定。例如，在摄影用曝光范围S3大于校正用曝光范围S1的情况下，优选在采用与摄影用曝光范围S3一致的校正用曝光范围S1的状态下重新取得散射线校正用数据。因此，控制部30可以使显示部34重新显示用于催促取得散射线校正用数据的信息。并且，例如在摄影用曝光范围S3大于校正用曝光范围S1的情况下，也可以使摄影用曝光范围S3与校正用曝光范围S1一致来拍摄受检者W(再次拍摄)。因此，控制部30可以使显示部34显示用于催促进行再次拍摄的信息。并且，例如也可以直接结束本处理。并且，例如，控制部30可以使用大小最接近摄影用曝光范围S3的校正用曝光范围S1来校正放射线图像的图像数据。另外，在这样地进行了校正的情况下，有可能没有适当地进行校正，因此，优选控制部30使显示部34显示表示该意思的信息或用于催促用户确认的信息。
另一方面，在步骤S116中摄影用曝光范围S3小于校正用曝光范围S1的情况下，转移到步骤S120。
摄影用曝光范围S3小于校正用曝光范围S1的情况，例如如图10所示，存在校正用曝光范围S1＞摄影用曝光范围S3＞有效像素区域S2的情况。
在步骤S120中，由于校正用曝光范围S1大于摄影用曝光范围S3，因此，控制部30按照摄影用曝光范围S3的大小，与校正用曝光范围S1对应地修正散射线校正用数据，具体而言，控制部30按照摄影用曝光范围S3的大小，对散射线校正用数据进行面积换算。而且，控制部30使用面积换算后的散射线校正用数据来校正放射线图像的图像数据，然后结束本处理。另外，在取得多个校正用曝光范围S1的情况下，优选使用与多个校正用曝光范围S1对应的散射线校正用数据进行面积换算。面积换算的方法没有特别地限定，例如，在具有与大于摄影用曝光范围S3的校正用曝光范围S1对应的散射线校正用数据和与小于摄影用曝光范围S3的校正用曝光范围S1对应的散射线校正用数据的情况下，通过使用两个散射线校正用数据进行插值运算来生成散射线校正用数据。
另外，在本例示性实施方式的控制台16中，之后对进行图6所示的图像处理后的放射线图像的图像数据进行其它图像处理等。作为其它图像处理，例如如上所述，可以举出用于去除散射线A的影响的使用虚拟栅格的放射线图像的图像数据的校正等。
这样校正后的放射线图像的图像数据存储在控制台16的存储部32或PACS等外部的系统中。并且，根据用户的期望，将放射线图像的图像数据发送到放射线图像解读装置18并显示在放射线图像解读装置18的显示部54。
如以上说明的那样，在本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10的控制台16中，预先取得用于去除外部散射线的影响的散射线校正用数据，将取得的散射线校正用数据和校正用曝光范围S1对应地存储到存储部32中。控制台16对从放射线照射装置20向受检者W照射放射线X而由放射线图像摄影装置14拍摄到的放射线图像的图像数据，进行用于去除外部散射线的影响的图像处理。在摄影用曝光范围S3不大于有效像素区域S2的情况下，控制台16的控制部30不利用散射线校正用数据校正放射线图像的图像数据。并且，在摄影用曝光范围S3大于有效像素区域S2且摄影用曝光范围S3等于校正用曝光范围S1的情况下，控制部30直接使用散射线校正用数据来校正放射线图像的图像数据。并且，在摄影用曝光范围S3大于有效像素区域S2且大于校正用曝光范围S1的情况下，控制部30进行表示该意思的通知处理和规定的处理。并且，在摄影用曝光范围S3大于有效像素区域S2且小于校正用曝光范围S1的情况下，控制部30按照摄影用曝光范围S3对与校正用曝光范围S1对应的散射线校正用数据进行面积换算，并利用面积换算后的散射线校正用数据来校正放射线图像的图像数据。
这样，在本例示性实施方式的放射线图像摄影系统10的控制台16中，根据摄影用曝光范围S3和有效像素区域S2，对是否校正放射线图像的图像数据(去除外部散射线造成的影响的校正)进行判断。而且，在摄影用曝光范围S3不大于有效像素区域S2的情况下，可以看作没有外部散射线造成的影响或外部散射线造成的影响较小，因此，不校正放射线图像的图像数据，因此，能够缩短图像处理所需的时间。
并且，在摄影用曝光范围S3大于有效像素区域S2的情况下，控制台16根据摄影用曝光范围S3和校正用曝光范围S1的大小，利用散射线校正用数据校正放射线图像的图像数据。
因此，能够适当地从放射线图像的图像数据中去除外部散射线的影响。因此，能够抑制放射线图像的伪影等的产生，提高放射线图像的画质。
并且，能够适当地从放射线图像的图像数据中去除外部散射线的影响，因此，在进行使用虚拟栅格去除散射线A的影响的图像处理的情况下，在去除外部散射线的影响后进行使用虚拟栅格的图像处理，由此，能够适当地推算散射线A，因此，能够去除散射线A的影响。
并且，在本例示性实施方式中，考虑到外部因素，按照每种摄影环境(摄影室、摄影台11以及摄影状态(卧姿、立姿以及随意姿势等)的至少一种)，存在多种散射线校正用数据，控制台16的控制部30使用与取得的摄影环境信息对应的散射线校正用数据来校正放射线图像的图像数据，因此，能够更适当地去除外部散射线的影响。
另外，在上述例示性实施方式中，对在摄影用曝光范围S3大于有效像素区域S2的情况下进行校正的情况进行了说明，但不限于此。例如，在虽然摄影用曝光范围S3等于有效像素区域S2，但是摄影用曝光范围S3的形状和有效像素区域S2的形状不同的情况下或中心位置偏移的情况下，有时效像素区域S2以外包含在摄影用曝光范围S3中。在这样的情况下，有可能在有效像素区域S2以外的部分产生外部散射线，因此，优选利用散射线校正用数据校正放射线图像的图像数据。在这样的情况下，只要根据有效像素区域S2以外是否包含在摄影用曝光范围S3中，判断是否利用散射线校正用数据校正放射线图像的图像数据即可。
并且，在上述例示性实施方式中，对优先于图像处理的步骤S112、S116进行步骤S108的处理的情况进行了说明，但是，处理的优先顺序不限于此。例如，也可以先于步骤S108的处理而进行步骤S112的处理。在该种情况下，在通过步骤S112的处理判断为摄影用曝光范围S3等于有效像素区域S2的情况下，通过步骤S114的处理来进行图像数据的校正。而且，在摄影用曝光范围S3不等于有效像素区域S2的情况下，在通过步骤S108的处理判断为摄影用曝光范围S3不大于有效像素区域S2的情况下，不通过步骤S110的处理来校正图像数据即可。
并且，在上述例示性实施方式中，对照射场为矩形的情况进行了说明，但不限于此。也可以是照射场为圆形的情况。并且，例如作为准直器64，也可以使用多片准直器。
并且，在上述例示性实施方式中，对将放射线图像摄影装置14配置于摄影台11的摄影面12和受检者W上拍摄放射线图像的情况进行了说明，但是，放射线图像摄影装置14的配置不限于此。例如，也可以在收纳于收纳部13内的状态下进行拍摄。并且，在上述例示性实施方式中，对被摄体W为卧姿的情况进行了说明，但不限于此，被摄体W也可以为座姿。并且，勿需赘述，例如也可以用于出诊车中的放射线图像拍摄。
并且，放射线图像摄影装置14不限于本例示性实施方式。例如，在本例示性实施方式中，对如图5所示放射线图像摄影装置14采用从TFT基板90侧照射放射线X的所谓表面读取方式(ISS(Irradiation Side Sampling)方式)的情况进行了说明，但是，也可以采用从闪烁器98侧照射放射线X的所谓背面读取方式(PSS(Penetration Side Sampling)方式)。并且，在本例示性实施方式中，对具有先通过闪烁器98将放射线X转换成光再利用转换后的光产生电荷的间接型的放射线检测器28的情况进行了说明，但是，也可以具有利用放射线X产生电荷的直接型的放射线检测器。
并且，在上述例示性实施方式中，对控制台16的控制部30具有作为散射线校正用数据取得部、像素区域取得部、曝光范围取得部、图像数据取得部以及校正部的功能的情况进行了说明，但不限于此。例如，也可以是放射线图像摄影装置14的摄影控制部22具有这些功能部，还可以是放射线图像解读装置18的解读控制部50具有这些功能部。并且，也可以是放射线图像摄影装置14的摄影控制部22、控制台16的控制部30以及放射线图像解读装置18的解读控制部50中的2个以上的装置具有一部分功能部。
并且，在本例示性实施方式中，存储于放射线图像摄影装置14的摄影控制部22、控制台16的控制部30、放射线图像解读装置18的解读控制部50以及放射线照射装置20的照射控制部60中的各种程序分别预先存储于摄影控制部22、控制部30、解读控制部50以及照射控制部60的ROM中，但不限于此。各种程序也可以预先存储于CD-ROM(Compact Disk ReadOnly Memory(光盘只读存储器))或可移动硬盘等记录介质等中，从记录介质安装到ROM等中。并且，各种程序也可以经由互联网等通信线路从外部装置安装到ROM等中。
另外，摄影控制部22、控制部30、解读控制部50以及照射控制部60例如分别可以是半导体集成电路，更详细而言，是FPGA(Field Programmable Gate Array(现场可编程门阵列))或ASIC(Application Specific Integrated Circuit(特定用途集成电路))等。
并且，放射线图像的拍摄中使用的放射线X没有特别地限定，能够使用X射线或γ射线等。
另外，在本例示性实施方式中说明的放射线图像摄影系统10、放射线图像摄影装置14、控制台16以及放射线图像解读装置18的结构和动作只是一例，勿需赘言，能够在不脱离本发明主旨的范围内根据状况进行变更。并且，在本例示性实施方式中说明的图像处理也只是一例，勿需赘言，能够在不脱离本发明主旨的范围内根据状况进行变更。

Claims (11)

1.一种图像处理装置，该图像处理装置具有：
散射线校正用数据取得部，其取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的；
像素区域取得部，其取得表示所述放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息；
曝光范围取得部，其取得表示所述放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息；
图像数据取得部，其取得拍摄所述摄影对象的放射线图像而得到的图像数据；以及
校正部，在所述曝光范围取得部取得的信息所示的所述摄影用曝光范围包含所述像素区域取得部取得的信息所示的所述有效像素区域以外的区域的情况下，该校正部利用所述散射线校正用数据取得部取得的所述散射线校正用数据来校正所述图像数据取得部取得的所述图像数据，
所述散射线校正用数据取得部还取得表示在取得所述散射线校正用数据时照射出的放射线的校正用曝光范围的信息，
所述校正部基于所述校正用曝光范围的大小和所述摄影用曝光范围的大小，利用所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
2.一种图像处理装置，该图像处理装置具有：
散射线校正用数据取得部，其取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的；
像素区域取得部，其取得表示所述放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息；
曝光范围取得部，其取得表示所述放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息；
图像数据取得部，其取得拍摄所述摄影对象的放射线图像而得到的图像数据；以及
校正部，在所述曝光范围取得部取得的信息所示的所述摄影用曝光范围大于所述像素区域取得部取得的信息所示的所述有效像素区域的情况下，该校正部利用所述散射线校正用数据取得部取得的所述散射线校正用数据来校正所述图像数据取得部取得的所述图像数据，
所述散射线校正用数据取得部还取得表示在取得所述散射线校正用数据时照射出的放射线的校正用曝光范围的信息，
所述校正部基于所述校正用曝光范围的大小和所述摄影用曝光范围的大小，利用所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
3.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，
在所述摄影用曝光范围小于所述有效像素区域的情况下，所述校正部不利用所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
4.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，
在所述校正用曝光范围与所述摄影用曝光范围相同的情况下，所述校正部利用所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
5.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，
在所述校正用曝光范围大于所述摄影用曝光范围的情况下，所述校正部利用根据所述摄影用曝光范围的大小修正后的所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
6.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，
在所述校正用曝光范围小于所述摄影用曝光范围的情况下，所述校正部进行规定的处理。
7.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，
所述散射线校正用数据根据所述校正用曝光范围的大小而具有多种，
所述校正部利用与所述校正用曝光范围的大小对应的种类的所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
8.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，
所述散射线校正用数据根据表示拍摄所述放射线图像的摄影环境的摄影环境信息而具有多种，
所述校正部利用与拍摄到所述放射线图像时的所述摄影环境信息对应的种类的所述散射线校正用数据，校正所述放射线图像的所述图像数据。
9.一种放射线图像摄影系统，该放射线图像摄影系统具有：
放射线照射装置，其具有放射线源和准直器；
放射线图像摄影装置，其拍摄基于从所述放射线照射装置照射出的放射线的放射线图像；以及
所述权利要求1或2所述的图像处理装置，其对由所述放射线图像摄影装置拍摄到的放射线图像的图像数据进行图像处理。
10.一种图像处理方法，其中，
由散射线校正用数据取得部取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的，
由像素区域取得部，取得表示所述放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息，
由曝光范围取得部，取得表示所述放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息，
由图像数据取得部，取得拍摄所述摄影对象的放射线图像而得到的图像数据，
由校正部，在所述曝光范围取得部取得的信息所示的所述摄影用曝光范围包含所述像素区域取得部取得的信息所示的所述有效像素区域以外的区域的情况下，利用所述散射线校正用数据取得部取得的所述散射线校正用数据来校正所述图像数据取得部取得的所述图像数据，
所述散射线校正用数据取得部还取得表示在取得所述散射线校正用数据时照射出的放射线的校正用曝光范围的信息，
所述校正部基于所述校正用曝光范围的大小和所述摄影用曝光范围的大小，利用所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
11.一种图像处理方法，其中，
由散射线校正用数据取得部取得散射线校正用数据，该散射线校正用数据是对拍摄放射线图像的放射线图像摄影装置照射放射线而得到的，
由像素区域取得部，取得表示所述放射线图像摄影装置的有效像素区域的大小的信息，
由曝光范围取得部，取得表示所述放射线图像摄影装置拍摄摄影对象时放射线的摄影用曝光范围的信息，
由图像数据取得部，取得拍摄所述摄影对象的放射线图像而得到的图像数据，
由校正部，在所述曝光范围取得部取得的信息所示的所述摄影用曝光范围大于所述像素区域取得部取得的信息所示的所述有效像素区域的情况下，利用所述散射线校正用数据取得部取得的所述散射线校正用数据来校正所述图像数据取得部取得的所述图像数据，
所述散射线校正用数据取得部还取得表示在取得所述散射线校正用数据时照射出的放射线的校正用曝光范围的信息，
所述校正部基于所述校正用曝光范围的大小和所述摄影用曝光范围的大小，利用所述散射线校正用数据校正所述图像数据。
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