CN105910995A - 一种瞬态偏振吸收光谱测量方法及实现该方法的一种激光闪光光解仪系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种瞬态偏振吸收光谱测量方法及实现该方法的一种激光闪光光解仪系统,该方法包括以下步骤:用偏振态可调控的泵浦光激发待测样品;将偏振态可调控的探测光入射到待测样品上;信号检测和数据处理单元对经待测样品散射的探测光进行偏振态选择检测处理。使用本发明的方法和系统可以对具有手性分子等结构具有不对称性的待测样品进行瞬态偏振吸收光谱的检测分析。
Description
技术领域
本发明涉及激光闪光光解领域。更具体地,涉及一种瞬态偏振吸收光谱检测的方法和偏振态可调控的激光闪光光解仪。
背景技术
激光闪光光解技术(Laser Flash Photolysis)是研究受激态原子/分子光化学、光物理瞬态响应过程——瞬态吸收光谱的重要手段:由于受到泵浦激发,基态原子/分子受激跃迁,从而产生了大量激发单态、三重态分子,自由基和正、负离子等瞬态反应中间体,通过探索时间分辨吸收和发射瞬态光谱及相应的动力学信息,不但可以研究伴随反应过程的受激中间体自身的物理化学性质,而且还能够分析这些中间体之间以及它们同微环境之间的相互作用。尤其为涉及金属离子、金胶体的瞬态吸收,非贵金属催化系统的氢演化过程,三重态淬灭及能量转移的光化学过程,核自旋同步信号的反常吸收,双光子聚合过程,光致变色效应,感光降解机理、光致损伤阈值以及衍生物的光伏特性等方面的研究工作提供了一系列重要的时间分辨光谱数据。
分子受光激发后,由基态跃迁到激发态,在其衰减过程中可发生一系列的变化和反应,激光闪光光解仪就是用来观测这些过程中瞬态光谱变化的仪器。激光闪光光解仪通过脉冲激光激发样品,在其垂直方向利用探测器观测样品受激后随时间变化过程中产生的瞬态中间体对探测光的吸收或者本身发射光谱的变化情况。激光闪光光解装置系统主要包括3部分:泵浦光源、探测光源以及信号检测和数据处理单元。
泵浦光源的作用是通过强脉冲(一般为纳秒量级的高能量脉冲激光)使处于基态的样品受激激发,从而提供大量的瞬态中间体作为研究受体;探测光源部分与吸收谱仪类似,主要是使探测光经过受激样品,同时保证泵浦光与探测光在样品区域交叠,经过样品后的探测光可由信号检测和数据处理单元检测并进行分析。目前,经过样品后的探测光可经由单色仪被示波器接收,从而实现对特定波长的探测光进行动力学分析;或者经由光谱仪被阵列探测器(CCD)接收从而用于特定时间的谱分析研究。从本质上讲,探测光对于样品受激前后透过率即光学密度的差异反映了受激瞬态的特性,换言之,通过比较样品受激前后对探测光吸光度(光学密度)的改变即可推断受激态的性质。
但是待测样品对光的吸收性质取决于其本身特定的结构信息,在化学和生物领域存在着大量的手性分子(分子结构不具有镜像对称性),它们对于光的偏振态异常敏感,从而导致了对于不同偏振光的吸收率差异。比如圆二色性(Circular Dichroism)即是由于分子结构的不对称性,而引起的对左右旋圆偏振光吸收程度不同的效应。利用现有的商用激光闪光光解仪,无论是对泵浦光,还是探测光,都不具有对偏振态的选择可控性。因此无法对手性样品进行偏振选择的受激激发、偏振态可调的探测光检测,从而无法进一步研究受激手性分子的瞬态动力学过程对于偏振态的选择关系,偏振态的差异对于手性和非手性分子受激前后的瞬态动力学过程的影响。
发明内容
本发明要解决的第一个技术问题是提供一种能够对具有手性分子的样品进行瞬态偏振吸收光谱的测量方法。
本发明要解决的第二个技术问题是提供一种能够对具有手性分子的样品进行瞬态偏振吸收光谱测量系统。
为解决上述第一个技术问题,本发明采用下述技术方案:
一种瞬态偏振吸收光谱的测量方法,包括如下步骤:
制备偏振调控模块,将所述偏振调控模块耦合进泵浦光路中,所述偏振调控模块将非偏振泵浦光调制成指定偏振态后入射到待测样品上;
将所述偏振调控模块耦合进探测光路中,所述偏振调控模块将非偏振探测光调制成指定偏振态后入射到待测样品上;
将信号检测和数据处理单元置于探测光路上且位于待测样品之后,使经待测样品散射的探测光能被所述信号检测和数据处理单元检测到,所述信号检测和数据处理单元包括一偏振分析器,所述偏振分析器能够使经待测样品散射的探测光实现不同方向偏振态的选择检测。
优选地,所述偏振态包括P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态和右旋椭圆偏振态。
优选地,所述信号检测和数据处理单元根据选定偏振态的探测光的瞬态偏振吸收光谱和偏振吸光度,进行对偏振光学密度动力学变化的e指数拟合,所述偏振吸收光谱和偏振吸光度包括不同偏振态间的差值偏振光谱和差值吸光度。
为解决上述第二个技术问题,本发明采用下述技术方案:
一种激光闪光光解仪系统,包括:
泵浦光路,用于对待测样品的偏振激发;
探测光路,用于对待测样品的偏振照射;
信号检测和数据处理单元,用于检测和分析待测样品的瞬态偏振光谱;
所述泵浦光路上依次设有泵浦光源和将泵浦光源的出射光调制成偏振态的第一偏振调控模块,所述探测光路上依次设有探测光源和将探测光源的出射光调制成偏振态的第二偏振调控模块;所述信号检测和数据处理单元包括一偏振分析器,所述偏振分析器能使经待测样品散射的探测光实现不同方向偏振态的选择检测。
优选地,所述第一偏振调控模块和第二偏振调控模块分别能够将泵浦光源的出射光和探测光源的出射光调制成P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态或右旋椭圆偏振态。
优选地,所述第一偏振调控模块包括沿光路依次设置的第一起偏器和第一全波可调相移器,所述第一起偏器与第一全波可调相移器主轴之间的夹角可调节,所述第一全波可调相移器能够进行不同泵浦波长下主轴间的相位差调控,所述第一起偏器和第一全波可调相移器的工作波长覆盖泵浦光波长范围;
所述第二偏振调控模块包括沿光路依次设置的第二起偏器和第二全波可调相移器,所述第二起偏器与第二全波可调相移器主轴之间的夹角可调节,所述第二全波可调相移器能够进行不同探测波长下主轴间的相位差调控,所述第二起偏器和第二全波可调相移器的工作波长覆盖探测光范围。
优选地,该系统还包括用于控制第一起偏器与第一全波可调相移器主轴之间夹角调节和第二起偏器与第二全波可调相移器主轴之间夹角调节的角度控制器。
优选地,所述第一全波可调相移器为第一全波液晶相位延迟器,所述第二全波可调相移器为第二全波液晶相位延迟器;该系统还包括用于控制第一全波液晶相位延迟器和第二全波液晶相位延迟器的液晶控制器。
优选地,所述偏振分析器包括能够在不同偏振分量间产生附加相位差的双折射偏振晶体和调节所述双折射偏振晶体与光轴夹角的角度调谐装置。
优选地,所述信号检测和数据处理单元能够接收检测指定偏振方向上的光学密度变化的时间动力学信息或不同偏振态之间的差值光谱检测。
本发明的有益效果如下:
首先本发明实现了对于泵浦光的偏振选择激发,包括P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态、右旋椭圆偏振态等任意泵浦激发偏振态,从而能够对待测样品,特别是对不具有对称结构的化合物及生物大分子进行结构相关的偏振选择泵浦激发;其次本发明实现了对于探测光的偏振选择检测,包括P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态、右旋椭圆偏振态等任意探测偏振态。从而能够推断分子结构同瞬态吸收光谱的关系,利用瞬态偏振吸收光谱探索新型的生物大分子及化合物结构。
利用偏振分析器可以提取同入射探测光偏振方向相同的样品散射分量,从而研究偏振光激发的瞬态中间体在相同偏振方向上的瞬态吸收光谱特征;另一方面,还可以利用偏振分析器提取同入射探测光相垂直偏振方向的样品散射分量,从而可以研究偏振激发的瞬态中间体正交方向上的瞬态吸收情况,进而可以推断待测样品形貌或结构的各向异性对于瞬态偏振吸收光谱的影响。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1示出本发明检测方法的原理图。
图2示出本发明的结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明,下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解,下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的,不应以此限制本发明的保护范围。
如图1所示,一种瞬态偏振吸收光谱的测量装置原理图,包括泵浦光路100、探测光路200以及信号检测和数据处理单元300。泵浦光路100包括沿光轴依次设置的泵浦光源101、第一遮光器102、第一起偏器103和第一全波可调相移器104,泵浦光路100的作用是产生偏振态可调控的泵浦光来激发待测样品400,第一起偏器103和第一全波可调相移器104的工作波长覆盖泵浦光波长范围,第一全波可调相移器104能够实现不同波长下泵浦光主轴(O、E轴)间的相位调控,进而配合第一起偏器103同泵浦光轴之间的夹角实现偏振态的调控,偏振态包括P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态、右旋椭圆偏振态等任意偏振态。
探测光路200包括沿光轴依次设置的探测光源201、光阑202、聚焦透镜203、第二遮光器204、第二起偏器205和第二全波可调相移器206,探测光路200的作用是输出偏振态可调控的探测光对待测样品400进行照射,第二起偏器205和第二全波可调相移器206的工作波长覆盖探测光波长范围,第二全波可调相移器206能够实现不同波长下探测光主轴(O、E轴)间的相位调控,进而配合第二起偏器205同探测光轴之间的夹角实现偏振态的调控,偏振态包括P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态、右旋椭圆偏振态等任意偏振态。
信号检测和数据处理单元300置于探测光路上且位于待测样品400之后,信号检测和数据处理单元300沿探测光轴依次设置偏振分析器301、聚焦透镜302、第三遮光器303、单色仪304和探测器305。偏振分析器301可检测待测样品400在不同偏振泵浦条件下对不同偏振态探测光的光谱响应,能够对经待测样品400散射后的探测光进行不同偏振态的选择提取,从而达到对待测样品400不同偏振态的时间分辨瞬态吸收光谱的测量。探测器305用于接收检测指定偏振方向上的光学密度变化的时间动力学信息,配合泵浦光和探测光的偏振信息,可以进行不同偏振态之间的差值光谱检测,例如垂直和水平线偏振瞬态吸收光谱的差值光谱,左、右旋圆/椭圆偏振瞬态吸收光谱的差值光谱。通过差值偏振光谱,能够进一步放大由于待测样品400本征结构的各向异性对偏振吸收光谱的影响,从而推断待测样品的结构特征。
本发明的方法通过第一起偏器103和第一全波可调相移器104对泵浦光进行偏振调制,将泵浦光源101的出射光调制成偏振光后泵浦激发待测样品400,同时通过第二起偏器205和第二全波可调相移器206对探测光进行偏振调制,将探测光源201的出射光调制成偏振光后入射泵浦激发后的待测样品400,利用偏振分析器301可以提取同入射探测光偏振方向相同的样品散射分量,从而研究偏振光激发的瞬态中间体在相同偏振方向上的瞬态吸收光谱特征;另一方面,还可以利用偏振分析器301提取同入射探测光相垂直偏振方向的样品散射分量,从而可以研究偏振激发的瞬态中间体正交方向上的瞬态吸收情况,进而可以推断待测样品形貌或结构的各向异性对于瞬态偏振吸收光谱的影响。从而可以对具有手性分子的待测样品进行瞬态偏振吸收光谱的测量,并对待测样品进行偏振光学密度动力学变化的e指数拟合。
基于上述的原理,使用本发明的测量方法对异构的化合物溶液进行偏振态可调控的瞬态吸收光谱测量,探索结构的不对称性与瞬态偏振吸收光谱的对应关系。使用的测量系统如图2所示,一种激光闪光光解仪系统,包括相互垂直设置的泵浦光路100与探测光路200以及置于探测光路200上且位于待测样品400之后的信号检测和数据处理单元300。泵浦光路100包括沿光轴依次设置的泵浦光源101、倍频放大器105、反射镜106、第一遮光器102、第一起偏器103和第一全波可调相移器104;探测光路200包括沿光轴依次设置的探测光源201、光阑202、聚焦透镜203、第二遮光器204、第二起偏器205和第二全波可调相移器206;信号检测和数据处理单元300包括沿探测光轴依次设置偏振分析器301、聚焦透镜302、第三遮光器303、单色仪304和示波器305。
实施列1
本实施例中第一全波可调相移器104和第二全波可调相移器206均为全波液晶相位延迟器。第一起偏器103和第一全波可调相移器104组成第一偏振调控模块a,第二起偏器205和第二全波可调相移器206组成第二偏振调控模块b。由计算机209控制的角度控制器208精确调节第一起偏器103与第一全波可调相移器104之间的夹角,并且计算机209控制的液晶控制器207调控第一全波可调相移器104两主轴(O、E轴)之间的相位差,从而对出射泵浦光的偏振态进行调控。同时,由计算机209操控角度控制器208精确调节第二起偏器205与第二全波可调相移器206之间的夹角,并且计算机209操控液晶控制器207调控第二全波可调相移器206两主轴(O、E轴)之间的相位差,从而对出射探测光的偏振态进行调控。
本实施列中采用功率为450mJ、波长为1064nm的ns固态激光器作为泵浦光源101,经过倍频放大器105后能够实现二倍频532nm(200mJ)或三倍频355nm(100mJ)的泵浦光输出,经倍频放大器105出射的泵浦光经反射镜106反射后与探测光路200相垂直,第一遮光器102对待测样品400进行保护,防止高能量泵浦光对待测样品长时间辐照而导致其变性,随后泵浦光经由第一偏振调控模块a后辐照于待测样品400。探测光源201采用450W高功率氙灯(光谱范围为200~900nm),输出光束经过光阑202和聚焦透镜203进行光束准直,随后通过第二遮光器204(防止待测样品长时间经探测光辐照而变性)后到达第二偏振调控模块b,经第二偏振调控模块b调制成偏振光后辐照于待测样品400。
待测样品400在泵浦偏振光的作用下,其原子/分子由单重基态跃迁到单重激发态,随后信号检测和数据处理单元300实时监测通过待测样品的偏振探测光,由偏振分析器301通过角度控制器208选择特定的偏振方向进行检测,然后经过聚焦透镜302和第三遮光器303进行偏振探测光的收集,通过单色仪/光谱仪304筛选出特定的探测光波长,再由光电倍增管PMT和示波器305对光信号进行放大并转换为电压数字信号,随后由计算机306进行数据采集和分析。信号检测和数据处理单元300用于接收检测指定偏振方向上的光学密度变化的时间动力学信息。配合泵浦光和探测光的偏振信息,可以进行不同偏振态之间的差值光谱检测,例如垂直和水平线偏振瞬态吸收光谱的差值光谱,左右旋圆(椭圆)偏振瞬态吸收光谱的差值光谱。通过差值偏振光谱,能够进一步放大由于待测样品本征结构的各向异性对偏振吸收光谱的影响,从而推断待测样品400的结构特征。最终处理的信号包括偏振探测光在待测样品受到偏振泵浦光激发前后指定波长处随时间变化的吸光度(光学密度)动力学信息,偏振探测光在待测样品受到偏振泵浦光激发前后的瞬态偏振光谱信息,在指定探测波长处对光学密度动力学曲线的e指数拟合,并由此得到瞬态偏振吸收寿命信息。
偏振分析器301是为了检测待测样品400在不同偏振泵浦条件下对不同偏振态探测光的光谱响应,需要对经待测样品散射后的探测光进行不同偏振态的选择提取,从而达到对待测样品不同偏振态的时间分辨瞬态吸收光谱的测量。偏振分析器301核心是双折射偏振晶体,能够在不同偏振主轴分量(O轴、E轴)间产生附加相位差。同时,偏振分析器301还包括角度调谐装置,计算机209通过角度调谐装置控制双折射晶体相对光轴的夹角,实现对出射光偏振态的选择,进行指定方向的散射探测光偏振分量的提取。例如,通过第一偏振调控模块a使线偏振光泵浦待测样品,利用第二偏振调控模块b产生某一特定方向的线偏振光入射经线偏振泵浦激发后的待测样品400,利用偏振分析器301可以提取同入射探测光偏振方向相同的样品散射分量,从而研究线偏振光激发的瞬态中间体在相同偏振方向上的瞬态吸收光谱特征;另一方面,还可以利用偏振分析器301提取同入射探测光相垂直偏振方向的样品散射分量,从而可以研究偏振激发的瞬态中间体正交方向上的瞬态吸收情况,进而可以推断待测样品形貌或结构的各向异性对于瞬态偏振吸收光谱的影响。
本实施例中,通过角度控制器208使第一全波可调相移器104和第一起偏器103之间的夹角为45度,通过液晶控制器207输出电压为0,即控制第一全波可调相移器104两主轴(O、E主轴)之间的相位差为0,由此可以产生水平线偏振泵浦光(P偏振)激发;通过液晶控制器207输出电压为半波电压,即控制第一全波可调相移器104两主轴(O、E主轴)之间的相位差为π,由此可以产生垂直线偏振泵浦光(S偏振)激发。通过角度控制器208使第二全波可调相移器206和第二起偏器205之间的夹角为45度,通过液晶控制器207输出电压为0,即控制第二全波可调相移器206两主轴(O、E主轴)之间的相位差为0,由此可以产生水平线偏振探测光(P偏振)探测;通过液晶控制器207输出电压为半波电压,即控制第二全波可调相移器206两主轴(O、E主轴)之间的相位差为π,由此可以产生垂直线偏振探测光(S偏振)探测。通过角度控制器208使偏振分析器301的偏振选择方向同水平偏振方向一致(0度),从而能够实现线偏振泵浦、水平P偏振探测瞬态吸收光谱和偏振吸光度(光学密度)动力学变化信息;通过角度控制器208使偏振分析器301的偏振选择方向同垂直偏振方向一致(90度),从而能够实现线偏振泵浦、垂直S偏振探测瞬态吸收光谱和偏振吸光度(光学密度)动力学变化信息;进而通过P和S偏振瞬态吸收光谱信息,能够得到差值线偏振瞬态吸收光谱和差值线偏振吸光度(光学密度)动力学变化信息。
实施列2
使用实施例1中所述的偏振态可调控的激光闪光光解仪系统,通过角度控制器208使第一全波可调相移器104和第一起偏器103之间的夹角为45度,通过液晶控制器207输出电压为3/4波电压,即控制第一全波可调相移器104两主轴(O、E主轴)之间的相位差为3π/2,由此可以产生左旋圆偏振泵浦光激发;通过液晶控制器207输出电压为1/4波电压,即控制第一全波可调相移器104两主轴(O、E主轴)之间的相位差为π/2,由此可以产生右旋圆偏振泵浦光激发。通过角度控制器208使第二全波可调相移器206和第二起偏器205之间的夹角为45度,通过液晶控制器207输出电压为3/4波电压,即控制第二全波可调相移器206两主轴(O、E主轴)之间的相位差为3π/2,由此可以产生左旋圆偏振探测光探测;通过液晶控制器207输出电压为1/4波电压,即控制第二全波可调相移器206两主轴(O、E主轴)之间的相位差为π//2,由此可以产生右旋圆偏振探测光探测。通过角度控制器208使偏振分析器301的偏振选择方向成45度。其他安排相同与实施例1中相同,从而能够实现在特定方向上圆偏振泵浦、左右旋圆偏振差值探测瞬态吸收光谱和差值偏振吸光度(光学密度)动力学变化信息。
实施例3
使用实施例1中所述的偏振态可调控的激光闪光光解仪系统,通过角度控制器208使第一全波可调相移器104和第一起偏器103之间的夹角为45度,通过液晶控制器207输出电压为7/8波电压,即控制第一全波可调相移器104两主轴(O、E主轴)之间的相位差为7π/4,由此可以产生左旋椭圆偏振泵浦光激发;通过液晶控制器207输出电压为1/8波电压,即控制第一全波可调相移器104两主轴(O、E主轴)之间的相位差为π/4,由此可以产生右旋椭圆偏振泵浦光激发。通过角度控制器208使第二全波可调相移器206和第二起偏器205之间的夹角为45度,通过液晶控制器207输出电压为7/8波电压,即控制第二全波可调相移器206两主轴(O、E主轴)之间的相位差为7π//4,由此可以产生左旋椭圆偏振探测光探测;通过液晶控制器207输出电压为1/8波电压,即控制第二全波可调相移器206两主轴(O、E主轴)之间的相位差为π/4,由此可以产生右旋椭圆偏振探测光探测。通过角度控制器208使偏振分析器301的偏振选择方向成45度。其他安排与实施例1中相同,从而能够实现在特定方向上椭圆偏振泵浦、左右旋椭圆偏振差值探测瞬态吸收光谱和差值偏振吸光度(光学密度)动力学变化信息。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动,这里无法对所有的实施方式予以穷举,凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。
Claims (10)
1.一种瞬态偏振吸收光谱测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
制备偏振调控模块,将所述偏振调控模块耦合进泵浦光路中,所述偏振调控模块将非偏振泵浦光调制成偏振泵浦光后入射到待测样品上;
将所述偏振调控模块耦合进探测光路中,所述偏振调控模块将非偏振探测光调制成偏振探测光后入射到待测样品上;
将信号检测和数据处理单元置于探测光路上且位于待测样品之后,使经待测样品散射的探测光能被所述信号检测和数据处理单元检测到,所述信号检测和数据处理单元包括一偏振分析器,所述偏振分析器能够使经待测样品散射的探测光实现不同方向偏振态的选择检测。
2.根据权利要求1所述的一种瞬态偏振吸收光谱测量方法,其特征在于:所述偏振态包括P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态和右旋椭圆偏振态。
3.根据权利要求1所述的一种瞬态偏振吸收光谱测量方法,其特征在于:所述信号检测和数据处理单元根据选定偏振态的泵浦光和探测光的瞬态偏振吸收光谱和偏振吸光度,进行对偏振光学密度动力学变化的e指数拟合。
4.一种激光闪光光解仪系统,包括:
泵浦光路,用于对待测样品的偏振激发;
探测光路,用于对待测样品的偏振照射;
信号检测和数据处理单元,用于检测和分析待测样品的瞬态偏振光谱;
其特征在于:所述泵浦光路上依次设有泵浦光源和将泵浦光源的出射光调制成偏振光的第一偏振调控模块,所述探测光路上依次设有探测光源和将探测光源的出射光调制成偏振光的第二偏振调控模块;所述信号检测和数据处理单元包括一偏振分析器,所述偏振分析器能使经待测样品散射的探测光实现不同方向偏振态的选择检测。
5.根据权利要求4所述的一种激光闪光光解仪系统,其特征在于:所述第一偏振调控模块和第二偏振调控模块分别将泵浦光源的出射光和探测光源的出射光调制成P偏振态、S偏振态、左旋圆偏振态、右旋圆偏振态、左旋椭圆偏振态或右旋椭圆偏振态。
6.根据权利要求5所述的一种激光闪光光解仪系统,其特征在于:所述第一偏振调控模块包括沿光路依次设置的第一起偏器和第一全波可调相移器,所述第一起偏器与第一全波可调相移器主轴之间的夹角可调节,所述第一全波可调相移器能够进行不同波长下主轴间的相位差调控,所述第一起偏器和第一全波可调相移器的工作波长覆盖泵浦光范围;
所述第二偏振调控模块包括沿光路依次设置的第二起偏器和第二全波可调相移器,所述第二起偏器与第二全波可调相移器主轴之间的夹角可调节,所述第二全波可调相移器能够进行不同波长下主轴间的相位差调控,所述第二起偏器和第二全波可调相移器的工作波长覆盖探测光范围。
7.根据权利要求6所述的一种激光闪光光解仪系统,其特征在于:该系统还包括用于控制第一起偏器与第一全波可调相移器主轴之间夹角调节和第二起偏器与第二全波可调相移器主轴之间夹角调节的角度控制器。
8.根据权利要求6所述的一种激光闪光光解仪系统,其特征在于:所述第一全波可调相移器为第一全波液晶相位延迟器,所述第二全波可调相移器为第二全波液晶相位延迟器;该系统还包括用于控制第一全波液晶相位延迟器和第二全波液晶相位延迟器的液晶控制器。
9.根据权利要求4所述的一种激光闪光光解仪系统,其特征在于:所述偏振分析器包括能够在不同偏振分量间产生附加相位差的双折射偏振晶体和调节所述双折射偏振晶体与光轴夹角的角度调谐装置。
10.根据权利要求4所述的一种激光闪光光解仪系统,其特征在于:所述信号检测和数据处理单元能够接收检测指定偏振方向上的光学密度变化的时间动力学信息或不同偏振态之间的差值光谱检测。
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