CN105865757A - 基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪 - Google Patents

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徐观
袁静
苏建
张立斌
潘洪达
刘玉梅
戴建国
单红梅
林慧英
陈熔
李晓韬
吴广为
张馨元
郑安琪
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Jilin University
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties

Abstract

本发明公开了一种基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪，旨在解决汽车灯光可靠、低成本检测的问题。基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪主要包括有检测室(1)与光敏电阻(2)，一组光敏电阻(2)穿入在检测室(1)内侧钢板表面加工的一组圆形通孔与检测室(1)内侧钢板过盈固定连接。系统提供了一种结构简单、检测精度高、操作简便、易于安装、成本较低、性能可靠的基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪。

Description

基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪
技术领域
本发明涉及一种汽车照明系统的检测设备，更具体的说，它是一种基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪。
背景技术
为保证汽车的安全行驶，需要定期合理快速的检测汽车车灯的光轴位置和光照强度，目前对汽车车灯的检测主要是通过菲涅尔透镜实现，设备昂贵，结构复杂。因此，需要设计一种基于新的检测原理的、结构简单、性能可靠的汽车车灯检测仪。
发明内容
本发明针对现有采用透镜检测汽车灯光结构复杂设备昂贵的问题，提供了一种结构简单、操作简便、易于安装、成本较低、性能可靠的基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪，实现低成本条件下的汽车车灯检测。
参阅图1至图3，为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案予以实现。本发明所提供的基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪包括有检测室与光敏电阻。
一组光敏电阻穿入在检测室内侧钢板表面加工的一组圆形通孔与检测室内侧钢板过盈固定连接。
技术方案中所述的检测室为五块矩形钢板焊接而成的中空六面体零件，在检测室未焊接钢板一面的对面钢板的内表面加工有一组圆形通孔。
技术方案中所述的光敏电阻是圆柱形零件。
本发明的有益效果是：
(1)本发明采用光敏电阻阵列方式进行检测，无需采用电机等驱动设备对透镜进行驱动，减少了中间环节，提高了系统的可靠性。
(2)本发明的检测室为五块矩形钢板焊接而成，加工成本低，性能可靠。
(3)本发明采用了光敏电阻作为感光元件，与透镜相比，具有可靠性高、维护简单、价格低廉等特点。
附图说明
图1是基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪及待检汽车3的轴侧图；
图2是基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪的检测室1和光敏电阻2的轴测图；
图3是基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪中光敏电阻2的轴测图；
图中：1.检测室，2.光敏电阻，3.待检汽车。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步的详细描述:
参阅图1至图3，基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪包括有检测室1与光敏电阻2。
检测室1为五块矩形钢板焊接而成的中空六面体零件，在检测室1未焊接钢板一面的对面钢板的内表面加工有一组圆形通孔，光敏电阻2是圆柱形零件，一组光敏电阻2穿入在检测室1内侧钢板的表面加工的一组圆形通孔与检测室1内侧钢板过盈固定连接。
基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪的使用方法：
待检汽车驶入基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪的检测室1，打开车灯，获取光敏电阻阵列的阻值变化和分布的规律，根据阻止分布规律获得光轴位置和光照强度，从而实现对汽车车灯检测的功能。

Claims (3)

1.一种基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪，其特征在于，所述的基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪包括有检测室(1)与光敏电阻(2)；
一组光敏电阻(2)穿入在检测室(1)内侧钢板表面加工的一组圆形通孔与检测室(1)内侧钢板过盈固定连接。
2.按照权利要求1所述的基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪，其特征在于所述的检测室(1)为五块矩形钢板焊接而成的中空六面体零件，在检测室(1)未焊接钢板一面的对面钢板的内表面加工有一组圆形通孔。
3.按照权利要求1所述的基于光敏电阻阵列的汽车车灯检测仪，其特征在于所述的光敏电阻(2)是圆柱形零件。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20160817