CN105865367A - 一种腐蚀坑深度的显微检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种腐蚀坑深度的显微检测方法，包括确定腐蚀区域、清理腐蚀区域、用无水酒精棉擦拭腐蚀区域、对测量标尺和显微镜进行校准、测量显微镜物镜对准腐蚀坑周围的表面图像和底部图像最清晰时的两个刻度、将两次测得刻度值做差得到腐蚀坑深度值并取平均值的步骤。本发明的腐蚀坑深度的显微检测方法，能较准确的进行腐蚀坑深度进行测量，控制了产品质量，同时避免破坏产品，提高了检测速度。

Description

一种腐蚀坑深度的显微检测方法

技术领域

本发明属于理化检测领域，具体涉及一种腐蚀坑深度的显微检测方法。

背景技术

在现有高温合金材料的理化检测中，对于腐蚀坑深度显微测量，一直是采用将产品切割后进行检测。切割时选择腐蚀坑最严重位置划线平行于坑深方向，垂直坑表面切割，将腐蚀坑周围10mm左右方形面积切割取样，金相镶嵌，磨抛制样，在显微镜下测量腐蚀坑最大深度。不论产品重要程度，或产品腐蚀程度如何，都要将产品破坏，使许多装在结构上的被腐蚀零件无法检测，或破坏结构。

发明内容

本发明克服了现有技术的不足，提供了一种不破坏产品，而进行腐蚀坑深度测量的腐蚀坑深度的显微检测方法，解决装在结构上的被腐蚀件腐蚀坑深度的测量，为是否更换零件提供参考数据。

考虑到现有技术的上述问题，根据本发明公开的一个方面，本发明采用以下技术方案：

一种腐蚀坑深度的显微检测方法，所述方法包括以下步骤：

1)目视检查产品表面，确定腐蚀区域；

2)对腐蚀区域进行清理，将腐蚀区域表面轻轻打磨，不损伤零件表面，清理掉腐蚀坑内的腐蚀产物和异物；

3)用无水酒精棉对腐蚀区域进行擦拭；

4)将测量标尺与显微镜调整焦距的旋钮相连，测量之前，对测量标尺和显微镜进行校准；

5)将显微镜物镜对准腐蚀坑周围的表面进行对焦，使腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰；

6)将显微镜物镜对准腐蚀坑，调焦距，使腐蚀坑底部图像达到最清晰；

7)调整焦距时，调整焦距的旋钮旋转带动测量标尺的刻度发生变化，记录测量标尺在腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰时与腐蚀坑底部图像达到最清晰时的刻度，将两次测得刻度值做差，得到腐蚀坑深度值；

8)执行步骤5)-7)三次，求腐蚀坑深度值的平均值，即为腐蚀坑深度值最终测量值。

通过本发明的腐蚀坑深度的显微检测方法，能较准确的进行腐蚀坑深度进行测量，控制了产品质量，同时避免破坏产品，提高了检测速度。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步地详细说明，但本发明的实施方式不限于此。

本发明方法的一个具体示例，对于2024铝合金支架表面腐蚀坑深度检测：

1)目视检查产品表面，确定腐蚀区域；

2)对腐蚀区域进行清理，利用砂毡将腐蚀区域表面轻轻打磨，不损伤零件表面，用细针状物将腐蚀坑内的腐蚀产物清理掉；

3)用无水酒精棉对腐蚀区域进行擦拭；

4)将测量标尺与显微镜调整焦距的旋钮相连，测量之前，对测量标尺和显微镜进行校准；

5)将显微镜物镜对准腐蚀坑周围的表面进行对焦，使腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰；

6)将显微镜物镜对准腐蚀坑，调焦距，使腐蚀坑底部图像达到最清晰；

7)调整焦距时，调整焦距的旋钮旋转带动测量标尺的刻度发生变化，记录测量标尺在腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰时与腐蚀坑底部图像达到最清晰时的刻度，将两次测得刻度值做差，得到腐蚀坑深度值；

8)执行步骤5)-7)三次，取腐蚀坑深度值的平均值，三次腐蚀坑深度值分别为0.31mm，0.25mm，0.33mm，三次腐蚀坑深度值的平均值为0.297mm，即为腐蚀坑深度值最终测量值。

Claims (1)

1.一种腐蚀坑深度的显微检测方法，所述方法包括以下步骤：

1)目视检查产品表面，确定腐蚀区域；

2)对腐蚀区域进行清理，将腐蚀区域表面轻轻打磨，不损伤零件表面，清理掉腐蚀坑内的腐蚀产物和异物；

3)用无水酒精棉对腐蚀区域进行擦拭；

4)将测量标尺与显微镜调整焦距的旋钮相连，测量之前，对测量标尺和显微镜进行校准；

5)将显微镜物镜对准腐蚀坑周围的表面进行对焦，使腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰；

6)将显微镜物镜对准腐蚀坑，调焦距，使腐蚀坑底部图像达到最清晰；

7)调整焦距时，调整焦距的旋钮旋转带动测量标尺的刻度发生变化，记录测量标尺在腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰时与腐蚀坑底部图像达到最清晰时的刻度，将两次测得刻度值做差，得到腐蚀坑深度值；

8)执行上述步骤5)-7)三次，求腐蚀坑深度值的平均值，即为腐蚀坑深度值最终测量值。