CN105807150A - 永磁取向环检测系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种永磁取向环检测方法,其包括以下步骤:⑴启动计算机,并设定永磁取向环的测试条件和驱动模式;⑵将待测的永磁取向环安装于测试装置中;⑶根据设定的永磁取向环的驱动模式,分别设置定子线圈和伺服电机的工作方式,以使所述永磁取向环经由伺服电机带动或电流驱动而进行旋转运动;⑷获取所述永磁取向环的转动数据或电流数据并将转动或电流数据传至计算机;⑸所述计算机将所述电流或转动数据与所述设定的测试条件进行分析,得到所述永磁取向环旋转状态下的性能。本发明还提供一种永磁取向环检测系统。
Description
技术领域
本发明涉及磁环检测系统及方法,尤其涉及一种永磁取向环检测系统及方法。
背景技术
现有的永磁取向环的检测多以静态分析和检测为主,但是,永磁取向环大多用于电机等提供磁场,在电机等中永磁取向环会进行旋转运动。因而,永磁取向环在静态时获取的性能数据与实际应用时旋转状态下的性能数据有很大差距。而为每一种永磁取向环都相应设计一款电机,以得到应用于电机时永磁取向环的性能数据,这存在设计复杂、制作困难、成本较高的缺陷,因而难以实现在永磁取向环旋转状态下测试其性能。
发明内容
有鉴于此,确有必要提供一种可在永磁取向环旋转状态下进行检测的永磁取向环检测系统以及方法。
本发明提供一种永磁取向环检测系统,该系统包括:
测试装置,用于安装待测的永磁取向环,所述测试装置包括定子线圈,所述永磁取向环设置于定子线圈内;
计算机,用于设定永磁取向环的测试条件以及驱动模式;
伺服电机,其连有伺服电机控制电路;
伺服电机控制电路,用以根据设定的永磁取向环的驱动模式来设置伺服电机的工作方式;
定子线圈控制电路,用于根据所述永磁取向环的驱动模式设置定子线圈的工作方式;
其中,当永磁取向环设定为伺服电机带动时,所述定子线圈控制电路调节定子线圈中的线圈为发电状态,线圈与外部电路形成闭合回路,以使所述永磁取向环旋转时,所述线圈产生电流,再通过所述定子线圈控制电路获取所述定子线圈的电流数据并将获得的电流数据传至计算机;
当所述永磁取向环设定为电流驱动时,所述定子线圈控制电路调节定子线圈中的线圈为电动状态以及施加于线圈的电压的大小与方向,以使在所述线圈形成变化的磁场,从而带动所述永磁取向环旋转,再通过所述伺服电机及传感器控制电路获取所述永磁取向环的转动数据并将该转动数据传至计算机;
所述计算机还用于将所述电流数据及转动数据与所述设定的测试条件进行分析,以得到所述永磁取向环在旋转状态下的性能。
其中,所述定子线圈控制电路包括一功率开关,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节定子线圈中的线圈为发电状态或电动状态。
其中,还包括一安全保护模块,所述安全保护模块与所述定子线圈以及伺服电机相连,所述安全保护模块用于当所述永磁取向环的转动不流畅时自动切断所述定子线圈或伺服电机的电压。
其中,所述设定的测试条件包括永磁取向环的极数、测试时间和静态表面磁通。
其中,所述测试装置还包括定子外壳、转子以及转子转轴,所述定子线圈嵌于所述定子外壳的内部,所述转子转轴具有相对设置的第一端和第二端,所述转子固定于所述转子转轴的第一端,所述永磁取向环安装于所述转子的表面并与所述转子共置于所述定子线圈的内部,所述伺服电机与所述转子转轴的第二端相连。
其中,所述测试装置还包括滑槽,所述定子外壳设于所述滑槽内并通过所述滑槽移动。
本发明还提供一种永磁取向环检测方法,其包括以下步骤:
⑴启动计算机,并设定永磁取向环的测试条件和驱动模式;
⑵将待测的永磁取向环安装于测试装置中;
⑶根据设定的永磁取向环的驱动模式,通过定子线圈控制电路和伺服电机控制电路分别设置定子线圈和伺服电机的工作方式,以使所述永磁取向环经由伺服电机带动或电流驱动而进行旋转运动;
⑷判断所述永磁取向环旋转是否流畅,如果是,继续进行;如果否,通过安全保护模块自动切断电压,并调整定子线圈的电流或伺服电机的参数,再返回至步骤⑶;
⑸通过伺服电机控制电路及传感器获取所述永磁取向环的转动数据并将该转动数据传至计算机,或通过定子线圈控制电路获取所述定子线圈的电流数据并将获得的电流数据传至计算机;
⑹所述计算机将所述电流数据及转动数据与所述设定的测试条件进行分析,得到所述永磁取向环旋转状态下的性能。
其中,在步骤⑶中,所述定子线圈控制电路包括多个功率开关,所述通过定子线圈控制电路和伺服电机控制电路分别设置定子线圈和伺服电机的工作方式具体为:
当所述永磁取向环的驱动模式设定为经由伺服电机带动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈中的线圈为发电状态,所述线圈与外部电路形成闭合回路,以使所述永磁取向环旋转时,所述线圈产生电流;
当所述永磁取向环的驱动模式设定为经由电流驱动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈中的线圈为电动状态以及施加于所述线圈的电压的大小与方向,以使所述定子线圈形成与所述永磁取向环的极数相符的电流相数以及与其静态磁力大小相符的电流大小,进而在所述线圈形成变化的磁场,从而带动所述永磁取向环旋转。
与现有技术相比,本发明提供的所述永磁取向环检测系统以及方法,通过设置所述定子线圈以及伺服电机的工作方式,使得所述永磁取向环经由伺服电机带动或电流驱动而旋转,以得到永磁取向环在旋转状态下的性能。具体的,通过定子线圈控制电路控制所述定子线圈的电流,以形成不同磁场,进而驱动所述永磁取向环转动,并由伺服电机控制电路测得所述永磁取向环的转矩和转速等转动数据;也可通过伺服电机控制电路控制伺服电机的转动,以带动永磁取向环进行旋转,而在所述定子线圈产生电流,由定子线圈控制电路测得在所述定子线圈的产生的电流的数据,以得到永磁取向环在旋转状态下的性能。通过该系统和方法可获得永磁取向环在实际应用于电机时的动态数据。
而且,可通过调整转子转轴与转子的大小,而以固定及测试具有不同内径的永磁取向环。还可针对不同极数的永磁取向环,通过定子线圈控制电路调整所述定子线圈中线圈的接线方式,以形成对应永磁取向环极数的驱动电流相数,与永磁取向环静态磁力大小相符的电流大小。即,通过本系统和方法,可对不同规格的永磁取向环进行动态测试。本系统和方法的实用性强,适合工业应用。
另外,当所述永磁取向环旋转不流畅,还可通过安全保护模块自动切断定子线圈或伺服电机的电压,保护磁环检测装置。
附图说明
图1为本发明所述永磁取向环检测系统的结构图。
图2为本发明所述磁环检测装置的剖面示意图。
图3为本发明所述永磁取向环检测方法的流程图。
图4为本发明实施例(1)永磁取向环在旋转状态下的反电势图(其中实线为a相,虚线为b相)。
图5为本发明实施例(1)永磁取向环在旋转状态下的阻力矩图。
图6为本发明实施例(1)永磁取向环在旋转状态下的磁链图(其中,实线为a相,虚线为b相)。
图7为本发明实施例(2)永磁取向环在旋转状态下的输出转矩图。
图8为本发明实施例(2)永磁取向环在旋转状态下的转速曲线。
图9为本发明实施例(2)永磁取向环在旋转状态下的两相线圈电势曲线图(其中,实线为a相,虚线为b相)。
在图1至图2中,1表示转子转轴,2表示转子,3表示定子线圈,4表示定子外壳,5表示永磁取向环,6表示伺服电机,7表示滑槽,8表示联轴器。
如下具体实施例将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
以下将结合附图对本发明提供的永磁取向环检测系统以及方法作进一步说明。
本发明提供一种永磁取向环检测系统。请参阅图1,该系统包括测试装置、计算机、伺服电机6以及控制电路。所述计算机用于设定永磁取向环5的测试条件以及所述永磁取向环5的驱动模式。所述测试装置,用于安装待测的永磁取向环5。所述测试装置包括定子线圈3。所述永磁取向环5设置于定子线圈3内。根据永磁取向环5的驱动模式,所述定子线圈3可用于产生电流或产生变化的磁场。所述伺服电机6可用于带动所述永磁取向环5进行旋转或收集永磁取向环5转动产生的性能数据。所述控制电路用于根据永磁取向环5的驱动模式来设置所述伺服电机6以及定子线圈3的工作方式以及获取相应的数据并传至计算机。所述计算机还用于将获得的数据与所述设定的测试条件进行分析,以得到所述永磁取向环5旋转状态下的性能。
所述测试装置还包括转子转轴1、转子2以及定子外壳4。所述定子线圈3嵌于所述定子外壳4的内部。所述转子转轴1具有相对设置的第一端和第二端。所述转子2固定于转子转轴1的第一端。请参阅图2,待测的永磁取向环5安装于所述转子2的表面,并与所述转子2和转子转轴1的第一端组成磁环测试装置而共置于所述定子线圈3的内部。可以理解,通过将所述永磁取向环5紧密安装于所述转子2的表面,可使所述永磁取向环5与定子线圈3之间的气隙宽度控制在一个合适的范围。所述转子2、转子转轴1与所述永磁取向环5的旋转状态保持一致。所述伺服电机6可通过一联轴器8与转子转轴1的第二端相连。
所述永磁取向环5的驱动模式可为伺服电机6带动或电流驱动。当所述永磁取向环5经由伺服电机6带动时,所述伺服电机6驱动所述转子转轴1从而带动所述永磁取向环5旋转,以在所述定子线圈3中产生电流。当所述永磁取向环5经由电流驱动时,所述定子线圈3被施加变化的电流而形成变化的磁场,以驱动所述永磁取向环5进行转动,以带动伺服电机6进而得到转动数据。
所述控制电路包括伺服机控制电路和定子线圈控制电路。所述伺服机控制电路与所述伺服电机6相连。所述定子线圈控制电路与所述定子线圈3相连。所述定子线圈控制电路包括多个功率开关。
具体的,当设定所述永磁取向环5经由伺服电机6带动时,所述伺服机控制电路设定所述伺服电机6的转动参数而带动所述转子转轴1进行转动,进而使所述永磁取向环5旋转。同时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈3中的线圈为发电状态,所述线圈与外部电路形成闭合回路,当所述永磁取向环5旋转时,所述线圈产生电流。此时,通过所述定子线圈控制电路获取所述定子线圈3的电流数据并将获得的电流数据传至计算机。所述计算机将所述电流数据与所述设定的测试条件进行分析,以得到所述永磁取向环5旋转状态下的性能。
当所述永磁取向环5经由电流驱动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈3中的线圈为电动状态、以及施加于所述线圈的电压的大小与方向,以使所述定子线圈3形成与所述永磁取向环5的极数相符的电流相数以及与其静态磁力大小相符的电流大小,进而在所述线圈形成变化的磁场,从而驱动所述永磁取向环5进行转动。同时,通过所述伺服机控制电路及传感器获取所述永磁取向环5的转动数据并将该转动数据传至计算机。所述计算机将所述转动数据与所述设定的测试条件进行分析,以得到所述永磁取向环5旋转状态下的性能。
该系统还包括一安全保护模块。所述安全保护模块与所述定子线圈控制电路以及伺服电机控制电路相连。当所述永磁取向环5的转动不流畅时,所述安全保护模块可自动切断所述定子线圈或伺服电机的电压,保护所述磁环检测装置。
所述定子外壳4还可通过一滑槽7来实现移动。所述磁环测试装置安放于所述定子线圈3内后,可通过滑槽7将测试装置移至预设的位置。
本发明还提供一种永磁取向环检测方法。请参阅图3,所述方法包括以下步骤:
S1,启动计算机,并设定永磁取向环5的测试条件以及驱动模式;
S2,将待测的永磁取向环5安装于测试装置中;
S3,启动定子线圈控制电路以及伺服电机控制电路,所述定子线圈控制电路以及伺服电机控制电路根据设定的永磁取向环5的驱动模式来分别设置定子线圈3以及伺服电机6的工作方式,以使所述永磁取向环5经由伺服电机6带动或电流驱动而进行旋转运动;
S4,判断所述永磁取向环5旋转是否流畅,如果是,继续进行步骤S5至S6;如果否,通过安全保护模块自动终止测试,并调整定子线圈3的电流或伺服电机6的参数,再返回至步骤S3;
S5,通过伺服电机控制电路及传感器获取所述永磁取向环5的转动数据并将该转动数据传至计算机,或通过定子线圈控制电路获取所述定子线圈3的电流数据并将获得的电流数据传至计算机;
S6,所述计算机将所述电流数据及转动数据与所述设定的测试条件进行分析,得到所述永磁取向环5旋转状态下的性能。
在步骤S1中,所述永磁取向环5的测试条件包括永磁取向环的极数、测试时间及静态表面磁通。所述永磁取向环5的驱动模式可为伺服电机6带动或电流驱动。当所述永磁取向环5经由伺服电机6带动时,所述伺服电机6驱动转子转轴1从而带动所述永磁取向环5旋转,以在定子线圈3中产生电流。当所述永磁取向环5经由电流驱动时,所述定子线圈3被施加变化的电流而形成变化的磁场,以驱动所述永磁取向环5进行转动。
在步骤S2中,所述测试装置包括转子转轴1、转子2、定子线圈3以及定子外壳4。所述定子线圈3嵌于所述定子外壳4的内部。所述转子转轴1具有相对设置的第一端和第二端。所述转子2固定于转子转轴1的第一端。待测的永磁取向环5安装于所述转子2的表面。可将永磁取向环5安装于所述转子2,并可调整所述转子转轴与转子的大小,以固定具有不同内径的永磁取向环5。所述永磁取向环5与所述转子2和转子转轴1的第一端组成磁环测试装置,并放置于所述定子线圈3的内部。
所述转子转轴1的第二端通过一联轴器8与一伺服电机6相连。所述伺服电机6可用来带动所述转子转轴1转动,进而带动所述永磁取向环5进行旋转。所述定子外壳4还可通过一滑槽7来实现移动。所述磁环测试装置安放于所述定子线圈3内后,可通过滑槽7将测试装置移至预设的位置。即磁环测试装置通过滑槽7调整其位置,使磁环测试装置与伺服电机6共轴连接。
在步骤S3中,根据设定的所述永磁取向环5的驱动模式,所述定子线圈3可通过所述定子线圈控制电路来设置不同的工作方式。所述定子线圈控制电路包括多个功率开关。具体的,当所述永磁取向环5的驱动模式设定为伺服电机6带动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈3中的线圈为发电状态,所述线圈与外部电路形成闭合回路,以使所述永磁取向环5旋转时,所述线圈产生电流。当所述永磁取向环5的驱动模式设定为电流驱动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈3中的线圈为电动状态以及施加于所述线圈的电压的大小与方向,以使所述定子线圈3形成与所述永磁取向环5的极数相符的电流相数以及与其静态磁力大小相符的电流大小,进而在所述线圈形成变化的磁场,从而带动所述永磁取向环5旋转。
可以理解,针对所述永磁取向环5的极数,所述定子线圈3可通过所述定子线圈控制电路而改变所述线圈的接线方式。
在步骤S4中,当所述永磁取向环的转动不流畅时,所述安全保护模块自动切断所述定子线圈或伺服电机的电压。
与现有技术相比,本发明提供的所述永磁取向环检测系统以及方法,通过设置所述定子线圈3以及伺服电机6的工作方式,使得所述永磁取向环5经由伺服电机6带动或电流驱动而旋转,以得到永磁取向环5在旋转状态下的性能。具体的,通过定子线圈控制电路控制所述定子线圈3的电流,以形成不同磁场,进而驱动所述永磁取向环5转动,并由伺服电机控制电路测得所述永磁取向环5的转矩和转速等转动数据;也可通过伺服电机控制电路控制伺服电机6的转动,以带动永磁取向环5进行旋转,而在所述定子线圈3产生电流,由定子线圈控制电路测得在所述定子线圈3的产生的电流的数据,以得到永磁取向环5在旋转状态下的性能。通过该系统和方法可获得永磁取向环5在实际应用于电机时的动态数据。
而且,可通过调整转子转轴与转子的大小,而测试具有不同内径的永磁取向环5。还可针对不同极数的永磁取向环5,通过定子线圈控制电路调整所述定子线圈3中线圈的接线方式,以形成对应永磁取向环极数的驱动电流相数,与永磁取向环静态磁力大小相符的电流大小。即,通过本系统和方法,可对不同规格的永磁取向环5进行动态测试。本系统和方法的实用性强,适合工业应用。
另外,当所述永磁取向环5旋转不流畅,还可通过安全保护模块自动切断定子线圈3或伺服电机6的电压,保护磁环检测装置。
以下,将结合具体的实施例进一步说明。
实施例(1)
首先通过计算机设置永磁取向环的检测条件,所述永磁取向环为四极径向永磁取向环,所述永磁取向环的驱动模式为伺服电机带动空载运动。通过伺服电机控制电路设定伺服电机的运动参数。定子线圈置于初始位置。定子线圈为24个,分为四相,每相六个线圈。四相线圈对应永磁取向环的四极动作,如附图2的右图。其中图2中线圈浅色(白色)为a相,深色(灰色)为b相。将待测的永磁取向环与转子转轴紧密夹紧,组成磁环测试装置,并放入定子线圈的内部。通过滑轨将定子线圈和磁环测试装置移至预设位置,方便与伺服电机的转轴相连。转子转轴通过联轴器与伺服电机相连。
启动系统,通过伺服电机得到永磁取向环旋转空载下的转矩、转速、空载反电动势、空载磁链等数据。所述数据经过传感器回传至计算机。所述计算机将所述数据与所述设定的测试条件进行分析。
若永磁取向环旋转不流畅,则安全防护模块自动切断伺服电机的电压,保护磁环检测装置。最后输出在初始设置下永磁取向环在旋转状态下的动态性能数据。
本实施例所述永磁取向环在旋转状态下的动态性能的数据请参见图4至图6。
实施例(2)
首先通过计算机设置永磁取向环的检测条件,所述永磁取向环为四极径向永磁取向环,所述永磁取向环的驱动模式为电流驱动。通过定子线圈控制电路设置定子线圈的电流等参数。定子线圈置于初始位置。定子线圈为24个,此次分为四相,每相六个线圈。四相线圈对应永磁取向环的四极动作,如附图2的右图。将待测永磁取向环与转子转轴紧密夹紧,组成磁环测试装置,并放入定子线圈内部。通过滑轨将定子线圈和磁环测试装置移至预设位置,方便与伺服电机的转轴相连。转子转轴通过联轴器并与伺服电机相连。
启动系统。通过伺服电机得到磁环旋转电动装置的输出转矩和转速等数据。所述数据经过传感器回传至计算机。所述计算机将所述输出转矩和转速与线圈电势进行分析。
若永磁取向环旋转不流畅,则安全防护模块自动切断定子线圈的电压,保护磁环检测装置。最后输出在初始设置下永磁取向环在旋转状态下的动态性能数据。
本实施例所述永磁取向环在旋转状态下的动态性能数据请参见图7至图9。
以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (8)
1.一种永磁取向环检测系统,其特征在于,该系统包括:
测试装置,用于安装待测的永磁取向环,所述测试装置包括定子线圈,所述永磁取向环设置于定子线圈内;
计算机,用于设定永磁取向环的测试条件以及驱动模式;
伺服电机,其连有伺服电机控制电路;
伺服电机控制电路,用以根据设定的永磁取向环的驱动模式来设置伺服电机的工作方式;
定子线圈控制电路,用于根据所述永磁取向环的驱动模式设置定子线圈的工作方式;
其中,当永磁取向环设定为伺服电机带动时,所述定子线圈控制电路用于调节定子线圈中的线圈为发电状态,线圈与外部电路形成闭合回路,以使所述永磁取向环旋转时,所述线圈产生电流,再通过所述定子线圈控制电路获取所述定子线圈的电流数据并将获得的电流数据传至计算机;
当所述永磁取向环设定为电流驱动时,所述定子线圈控制电路用于调节定子线圈中的线圈为电动状态以及施加于线圈的电压的大小与方向,以使在所述线圈形成变化的磁场,从而带动所述永磁取向环旋转,再通过所述伺服电机控制电路及传感器获取所述永磁取向环的转动数据并将该转动数据传至计算机;
所述计算机还用于将所述电流数据及转动数据与所述设定的测试条件进行分析,以得到所述永磁取向环在旋转状态下的性能。
2.如权利要求1所述的永磁取向环检测系统,其特征在于,所述定子线圈控制电路包括多个功率开关,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节定子线圈中的线圈的电流大小和方向以形成不同的磁路,来适应不用极数的永磁取向环。
3.如权利要求1所述的永磁取向环检测系统,其特征在于,还包括一安全保护模块,所述安全保护模块与所述定子线圈以及伺服电机相连,所述安全保护模块用于当所述永磁取向环的转动不流畅时自动切断所述定子线圈或伺服电机的电压。
4.如权利要求1所述的永磁取向环检测系统,其特征在于,所述设定的测试条件包括永磁取向环的极数、测试时间和静态表面磁通。
5.如权利要求1所述的永磁取向环检测系统,其特征在于,所述测试装置还包括定子外壳、转子以及转子转轴,所述定子线圈嵌于所述定子外壳的内部,所述转子转轴具有相对设置的第一端和第二端,所述转子固定于所述转子转轴的第一端,所述永磁取向环安装于所述转子的表面并与所述转子共置于所述定子线圈的内部,所述伺服电机与所述转子转轴的第二端相连。
6.如权利要求5所述的永磁取向环检测系统,其特征在于,所述测试装置还包括滑槽,所述定子外壳设于所述滑槽内并通过所述滑槽移动。
7.一种永磁取向环检测方法,其包括以下步骤:
⑴启动计算机,并设定永磁取向环的测试条件和驱动模式;
⑵将待测的永磁取向环安装于测试装置中;
⑶根据设定的永磁取向环的驱动模式,通过定子线圈控制电路和伺服电机控制电路分别设置定子线圈和伺服电机的工作方式,使所述永磁取向环经由伺服电机带动或电流驱动而进行旋转运动;
⑷判断所述永磁取向环旋转是否流畅,如果是,继续进行;如果否,通过安全保护模块自动切断定子线圈或伺服电机的电压,并调整定子线圈的电流或伺服电机的参数,再返回至步骤⑶;
⑸通过伺服电机控制电路及传感器获取所述永磁取向环的转动数据并将该转动数据传至计算机,或通过定子线圈控制电路获取所述定子线圈的电流数据并将获得的电流数据传至计算机;
⑹所述计算机将所述电流数据及转动数据与所述设定的测试条件进行分析,得到所述永磁取向环旋转状态下的性能。
8.如权利要求7所述的永磁取向环检测方法,其特征在于,在步骤⑶中,所述定子线圈控制电路包括多个功率开关,所述通过定子线圈控制电路和伺服电机控制电路分别设置定子线圈和伺服电机的工作方式具体为:
当所述永磁取向环的驱动模式设定为经由伺服电机带动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈中的线圈为发电状态,所述线圈与外部电路形成闭合回路,以使所述永磁取向环旋转时,所述线圈产生电流;
当所述永磁取向环的驱动模式设定为经由电流驱动时,所述定子线圈控制电路通过所述功率开关调节所述定子线圈中的线圈为电动状态以及施加于所述线圈的电压的大小与方向,以使所述定子线圈形成与所述永磁取向环的极数相符的电流相数以及与其静态磁力大小相符的电流大小,进而在所述线圈形成变化的磁场,从而带动所述永磁取向环旋转。
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CN201410835149.1A Active CN105807150B (zh) | 2014-12-29 | 2014-12-29 | 永磁取向环检测系统及方法 |
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CN (1) | CN105807150B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111366774A (zh) * | 2020-03-19 | 2020-07-03 | 上海梓一测控技术有限公司 | 一种汽车eps马达的反向电动势测试设备及其测试方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59137812A (ja) * | 1983-01-27 | 1984-08-08 | Yunikasu Kogyo Kk | 方位センサ |
CN1462363A (zh) * | 2001-05-11 | 2003-12-17 | 索尼公司 | 伺服传动机构及其位置检测器 |
CN103926508A (zh) * | 2014-04-24 | 2014-07-16 | 上海奥波电子有限公司 | 一种用于电机定子绕组的检测系统及方法 |
-
2014
- 2014-12-29 CN CN201410835149.1A patent/CN105807150B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59137812A (ja) * | 1983-01-27 | 1984-08-08 | Yunikasu Kogyo Kk | 方位センサ |
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CN105807150B (zh) | 2018-10-26 |
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