CN105744537A - 一种天线覆盖性能评估方法及装置 - Google Patents
一种天线覆盖性能评估方法及装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供一种天线覆盖性能评估方法及装置,涉及无线技术领域。该方法包括:按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。本发明的方案,解决了现有的天线覆盖性能评估采用传播模型、统计模型等实现而引起的操作复杂、成本消耗大以及误差较大等问题。
Description
技术领域
本发明涉及无线技术领域,特别是指一种天线覆盖性能评估方法及装置。
背景技术
移动终端网络中运行有大量的天线,如果天线的覆盖性能指标不及格,将会对网络的信号质量造成影响。
现有技术中,主要是基于道路测试数据(如扫频数据、路测数据)及链路预算数据,对比实测信号场强和理论信号场强,对天线覆盖性能参数进行评估。路测一般要用到路测仪、手机等设备实现测试,主要测试的是信号强度和通话质量等无线环境。而链路预算,首先要确定在链路预算中使用的传播模型,传播模型主要有确定性模型(如射线跟踪法)和统计模型(如Okumura-hata模型,COST231模型)两类;其次,根据无线环境的特点,将无线环境分为如下几类:密集城区、一般城区、城中村和郊区等;然后,对传播模型进行校正,即针对每种类型的无线环境,通过实地的测试获取实际的传输耗损值,以此校正不同类型的无线环境所对应的传播模型;最后,使用校正后的传播模型计算无线网络的理论覆盖情况。
但是,这种方法在天线覆盖性能参数评估中,存在如下问题:确定的传播模型虽然是一种高精度的规划仿真传播模型,但对精度要求较高,至少5m精度,1m精度更好,应用比较复杂,建模比较昂贵,计算量很大;统计模型在进行模型校正过程中往往需要进行区域划分、站点架设、路测、数据处理、模型校正及建立仿真模型库等环节,步骤复杂,需要耗费大量人力物力,另外,统计模型往往是针对较大区域内的几十个基站(或者几百个),然而区域内无线环境的种类多种多样,比如密集城区中又可细分为高楼密集的商业区、不规则密集城区、规则的密集城区等等,传统的统计模型无法完全反映区域内部网络的实际环境;传播模型校正与测试仪表、测试终端的误差及测试人员有关,也与GPS、测试终端的布放位置有关,这些因素也会影响覆盖评估的精度。
发明内容
本发明的目的是提供一种天线覆盖性能评估方法及装置,实现简单高效、高准确度的性能评估,有效降低无线环境、测试仪表等多因素的影响,且不需要进行昂贵的高精度建模。
为达到上述目的,本发明的实施例提供一种天线覆盖性能评估方法,包括:
按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;
获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。
其中,获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
获取当前待评估区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平;
获取所述各个扫频点在能够搜索到的非服务小区的实测电平;其中,所述非服务小区是一个或多个小区;
根据所述扫频点在所述服务小区的实测电平和在所述非服务小区的实测电平,得到第一平均实测电平和第二平均实测电平,将所述第一平均实测电平、所述第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数;其中,所述第一平均实测电平是所述扫频点在所述服务小区的实测电平的平均值;所述第二平均实测电平是所述扫频点在所述非服务小区的实测电平的平均值。
其中,获取每个待评估区域中的评估参数包括:
获取当前待评估区域的各个扫频点在所述服务小区的理论电平;
获取在所述服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值,确定第一差值小于第一门限值的扫频点的个数;
根据待评估区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将所述第一差错率作为评估参数。
其中,获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
获取当前待评估区域的各个扫频点在所述非服务小区的理论电平;
获取在所述非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值;
根据所述第二差值对所述第一门限值修正得到第二门限值,确定所述第一差值小于所述第二门限值的扫频点的个数;
根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将所述第二差错率作为评估参数。
其中,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
其中,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第一差错率小于等于第二阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
其中,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第二差错率小于等于第三阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
为达到上述目的,本发明的实施例还提供了一种天线覆盖性能评估装置,包括:
区域划分模块,用于按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;
处理模块,用于获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。
其中,所述处理模块包括:
第一获取子模块,用于获取当前待评估区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平;
第二获取子模块,用于获取所述各个扫频点在能够搜索到的非服务小区的实测电平;其中,所述非服务小区是一个或多个小区;
第一评估参数获取子模块,用于根据所述扫频点在所述服务小区的实测电平和在所述非服务小区的实测电平,得到第一平均实测电平和第二平均实测电平,将所述第一平均实测电平、所述第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数;其中,所述第一平均实测电平是所述扫频点在所述服务小区的实测电平的平均值;所述第二平均实测电平是所述扫频点在所述非服务小区的实测电平的平均值。
其中,所述处理模块包括:
第三获取子模块,用于获取当前待评估区域的各个扫频点在所述服务小区的理论电平;
第四获取子模块,用于获取在所述服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值,确定第一差值小于第一门限值的扫频点的个数;
第二评估参数获取子模块,用于根据待评估区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将所述第一差错率作为评估参数。
其中,所述处理模块包括:
第五获取子模块,用于获取当前待评估区域的各个扫频点在所述非服务小区的理论电平;
第六获取子模块,用于获取在所述非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值;
第七获取子模块,用于根据所述第二差值对所述第一门限值修正得到第二门限值,确定所述第一差值小于所述第二门限值的扫频点的个数;
第三评估参数获取子模块,用于根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将所述第二差错率作为评估参数。
本发明的上述技术方案的有益效果如下:
本发明实施例的天线覆盖性能评估方法,在按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域后,分别获取每个待评估区域中的评估参数,根据评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估,实现了在不影响现网运行的基础上,准确快捷地对天线的性能进行评估,有效降低无线环境、测试仪表等多因素的影响。
附图说明
图1表示本发明实施例的天线覆盖性能评估方法的流程示意图;
图2表示主瓣区域的划分示意图;
图3表示天线参数示意图;
图4表示上旁瓣区域的划分示意图;
图5表示后瓣区域的划分示意图;
图6表示水平旁瓣区域的划分示意图;
图7表示本发明实施例的天线覆盖性能评估方法的具体步骤示意图一;
图8表示本发明实施例的天线覆盖性能评估方法的具体步骤示意图二;
图9表示本发明实施例的天线覆盖性能评估方法的具体步骤示意图三;
图10表示本发明实施例的天线覆盖性能评估装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明针对现有的天线覆盖性能评估采用传播模型、统计模型等实现而引起的操作复杂、成本消耗大以及误差较大等问题,提供一种天线覆盖性能评估方法,实现简单高效、高准确度的性能评估。
如图1所示,本发明实施例的一种天线覆盖性能评估方法,包括:
步骤11,按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;
步骤12,获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。
按照上述步骤11,首先要对天线覆盖的区域进行区域划分,在本发明实施例中,优选是将天线评估区域划分为主瓣区域、上旁瓣区域、后瓣区域、水平旁瓣区域四个区域,随后对这四个区域分别进行评估,以达到能够准确快捷地对天线的性能进行评估。
在本发明实施例中,主瓣区域的划分如图2所示,以小区方向角左右Z度(如32.5°)为主瓣方向。图中小区方向角为180°,因此,主瓣方向为147.5°-212.5°,如图2中扇形方向。主瓣方向确认后,进行距离的确定,如图3所示,通过待测天线的参数可知该天线的高度H、下倾角α和垂直波瓣角Φ,通过公式D1=H*TAN((90-(α+Φ/2))*3.14/180)和D2=H*TAN((90-(α-Φ/2))*3.14/180)得到距离天线的最近距离也就是第一距离D1和最远距离也就是第二距离D2,因此,主瓣区域距离长度L=D1-D2,最终得到主瓣区域为图2中V区域。当然,为了更准确地获取到主瓣区域的距离长度L,利用主瓣方向的左右2Z度(如65°)为界,基于天线小区的经纬度信息,计算该天线小区与主瓣方向左右2Z范围内其他附近天线小区的距离,也就是说图2中点M到最近的三个不同位置的、待测天线主瓣方向左右2Z范围内的天线的距离长度,取这三个距离长度的平均值MAD,对主瓣方向的最第二距离进行修正,修正后的第二距离D2’取D2和MAD中的最小值,从而修正后的主瓣区域距离长度L’=D2’-D1。
再说,上旁瓣区域的划分,如图4所示,在主瓣方向上,超出主瓣区域V的范围,但是最远距离应少于预先设定的门限值(如1000米),最终得到图4中的上旁瓣区域W。
之后,后瓣区域的划分,如图5所示,后瓣方向是主瓣方向的反方向,然后通过预设范围界定门限值后瓣最小距离(如500米)与后瓣最大距离(如3000米)对后瓣区域的范围进行界定,得到后瓣区域X。
最后,水平旁瓣区域的划分,如图6所示,水平旁瓣方向是在主瓣方向左右P1度~P2度(如32.5°~60°),通过预设范围界定门限值水平旁瓣最小距离与水平旁瓣最大距离对水平旁瓣区域的范围进行界定,得到水平旁瓣区域Y的左水平旁瓣和右水平旁瓣区域(左右水平旁瓣的区分以天线小区为中心向覆盖区域进行观察)。
上述方法仅是对天线评估区域划分的具体实现方式,当然也是能够通过其他实现方式来达到区域划分的要求,在此不一一列举。
在完成步骤11天线评估区域划分之后,按照步骤12分别获取每个待评估区域中的评估参数,根据评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。该方案实现了在不影响现网运行的基础上,准确快捷地对天线的性能进行评估。
在本发明的实施例中,如图7所示,步骤12中获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
步骤12a1,获取当前待评估区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平;
步骤12a2,获取所述各个扫频点在能够搜索到的非服务小区的实测电平;其中,所述非服务小区是一个或多个小区;
步骤12a3,根据所述扫频点在所述服务小区的实测电平和在所述非服务小区的实测电平,得到第一平均实测电平和第二平均实测电平,将所述第一平均实测电平、所述第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数;其中,所述第一平均实测电平是所述扫频点在所述服务小区的实测电平的平均值;所述第二平均实测电平是所述扫频点在所述非服务小区的实测电平的平均值。
扫频点是操作人员采用扫平仪在天线覆盖区域如主瓣区域、上旁瓣区域、后瓣区域、水平旁瓣区域进行道路扫频确定的,同时根据实测数据获得扫频点的实测电平。以主瓣区域为例,通过上述步骤,根据扫频数据,获取在主瓣区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平,假设服务小区是小区1,在小区1的主瓣区域内实测扫频点有a,b,c,d,e五个扫频点,当然扫频点也包括没有搜到服务小区信号的扫频点。同时在这五个扫频点有可能扫频到非服务小区如小区2、小区3、小区4,在服务小区和非服务小区的实测电平如下表所示:
a | b | c | d | e | |
小区1 | -70 | -80 | -75 | -76 | -110 |
小区2 | -80 | -90 | -78 | -110 | -110 |
小区3 | -110 | -110 | -110 | -80 | -75 |
小区4 | -110 | -110 | -80 | -78 | -79 |
表1
这样如果在小区1中扫描到扫频点a,a点同时有小区2的实测电平数据,但是没有小区3和4的实测电平数据,此时默认a点接收到当前小区的实测电平为预设值(如表中-110dBm)。之后根据得到的各个数据,得到每个小区的平均实测电平也就是实测电平的平均值,即可将在小区1的扫频点总数和每个小区的平均实测电平作为评估参数。如小区1的平均实测电平(第一平均实测电平)=(-70-80-75-76-110)/5=-82.2;小区2的平均实测电平=(-80-90-78-110-110)/5=-93.6;小区3的平均实测电平=(-110-110-110-80-75)/5=-97;小区4的平均实测电平=(-110-110-80-78-79)/5=-91.4,小区2、小区3、小区4的平均实测电平都属于第二平均实测电平。
上述评估参数仅是本发明实施例的一种实现方式,在上述实施例的基础,本发明实施例的天线覆盖性能评估方法,如图8所示,步骤12中获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
步骤12a4,获取当前待评估区域的各个扫频点在所述服务小区的理论电平;
步骤12a5,获取在所述服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值,确定第一差值小于第一门限值的扫频点的个数;
步骤12a6,根据待评估区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将所述第一差错率作为评估参数。
按照上述步骤,仍然以主瓣区域为例,由于步骤12a1,已获取在主瓣区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平,之后,根据天线相关参数也是容易获取到在主瓣区域各个扫频点在服务小区的理论电平的,以宏基站为例,理论电平的获取公式为:
PRX=PTX+k1+k2log(d)+k3log(Heff)+k4Diffraction+k5log(Heff)log(d)+k6(Hmeff)+kCLUTTER
其中,各参量的含义为:PRX接收功率、PTX发射功率、d基站与移动终端之间的距离、Diffraction绕射损耗、Hmeff终端的高度、Heff基站有效天线高度、k1参考点损耗常量、k2地物坡度修正因子、k3有效天线高度增益、k4绕射因子、k5奥村哈塔乘性修正因子、k6移动天线高度修正因子、kCLUTTER移动台所处的地物损耗。当然,理论电平的获取不仅是通过这种方式获得的,也能够通过其他的方式实现,在此不一一列举。
下一步,获取到在服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值后,就可确定第一差值小于第一门限值(如-10)的扫频点的个数。这样,最后可根据主瓣区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将第一差错率作为评估参数。
然而往往这种方式得到的第一差错率存在较大误差,因此,在上述实施例的基础,本发明实施例的天线覆盖性能评估方法,如图9所示,步骤12中获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
步骤12a7,获取当前待评估区域的各个扫频点在所述非服务小区的理论电平;
步骤12a8,获取在所述非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值;
步骤12a9,根据所述第二差值对所述第一门限值修正得到第二门限值,确定所述第一差值小于所述第二门限值的扫频点的个数;
步骤12a10,根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将所述第二差错率作为评估参数。
在之前步骤中,已获取了待评估区域各个扫频点在服务小区的实测电平、理论电平,为了避免第一差错率误差较大的问题,获取在非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值对第一门限值进行修正,再确定第一差值小于第二门限值的扫频点的个数,根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将第二差错率作为评估参数,从而得到更准确的评估结果。
仍然以主瓣区域为例,假设小区1(服务小区)的主瓣区域内实测扫频点有A,B,C,D,E五个扫频点,这些扫频点也可能搜到小区2-7(非服务小区)按照小区2-7统计是扫频数排序得到下表,其中表2是扫频点A-E的理论电平:
A | B | C | D | E | 扫频点数 | |
小区1 | -42 | -42 | -52 | -78 | ||
小区2 | -55 | -65 | -75 | -78 | -79 | 5 |
小区3 | -45 | -75 | -68 | -79 | 4 | |
小区4 | -61 | -68 | -75 | 3 | ||
小区5 | -70 | -76 | 2 | |||
小区6 | -72 | 1 | ||||
小区7 | -68 | -79 | 2 |
表2
表3是扫频点A-E的实测电平:
A | B | C | D | E | 扫频点数 | |
小区1 | -50 | -60 | -70 | -90 | ||
小区2 | -70 | -80 | -90 | -90 | -90 | 5 |
小区3 | -60 | -90 | -80 | -90 | 4 | |
小区4 | -70 | -80 | -90 | 3 | ||
小区5 | -85 | -90 | 2 | |||
小区6 | -85 | 1 | ||||
小区7 | -80 | -90 | 2 |
表3
通过表2、3可知,在这一实施例中,与上述实施例不同,对扫频点未收到小区信号的实测电平不进行预设值的确定。那么,得到小区2-7的对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值,如:
(55-70)+(65-80)+(75-90)+(78-90)+(79-90)+(45-60)+(75-90)+(68-80)+(79-90)+(61-70)+(68-80)+(75-90)+(70-85)+(76-90)+(72-85)+(68-80)+(79-90))/17≈-13
第二差值即为-13,之后根据第二差值对第一门限值修正得到第二门限值,第二门限值=第一门限值+第二差值,如第二门限值=-10-13=-23。对比分析小区1-7的实测电平和理论电平可以发现,7个小区的实测值基本小于理论值10dB左右,这种情况可能是由测试仪表的原因导致小区域内的实测值整体偏低。
小区1范围内A、B、C、D4个点的实测值与预测值的差值分别为-8、-18、-18、-18,如果采用修正前的第一门限(小于-10dB),则B、C、D4个点满足要求,差错率为3/4=75%。采用修正后的第二门限(小于-23dB),则A、B、C、D,4个点均不满足要求,差错率为0/4=0%,由此可见,修正后得到的评估参数第二差错率准确性更高。
至此,在本发明实施例中,能够获取到多种天线覆盖性能的评估参数,随后就需要根据这些评估参数进行评估。
在获取第一平均实测电平、第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数时,步骤12中根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
步骤12b,将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
同时满足条件1扫频点总数大于等于第一阈值,条件2服务小区的第一平均实测电平大于第二平均实测电平,就能够认为天线在待评估区域的覆盖性能较高。延用表1对应的示例,小区1的平均实测电平作为评估参数中的第一平均实测电平-82.2大于第二平均实测电平小区2、小区3、小区4的平均实测电平-93.6、-97、-91.4,小区1的平均实测电平是所有小区中最大的,此时若第一阈值为4,那么5>4,就可以得出结论天线在主瓣区域覆盖性能较高。
更多的获取到第一差错率作为评估参数时,步骤12中根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
步骤12b’,将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第一差错率小于等于第二阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
此时,需要同时满足条件1扫频点总数大于等于第一阈值,条件2服务小区的第一平均实测电平大于第二平均实测电平,条件3第一差错率小于等于第二阈值,才能够认为天线在待评估区域的覆盖性能较高,增加了差错率作为参考,提升评估的准确性。
由于第一差错率的准确性较差,将其修正后的第二差错率作为评估参数时,步骤12中根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
步骤12b”,将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第二差错率小于等于第三阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
此时,需要同时满足条件1扫频点总数大于等于第一阈值,条件2服务小区的第一平均实测电平大于第二平均实测电平,条件3第二差错率小于等于第三阈值,才能够认为天线在待评估区域的覆盖性能较高,第二差错率是对第一差错率修正后得到的,进一步提升了评估的准确性。
当然,在本发明实施例中,根据评估参数单一地对天线覆盖性能进行评估也是可以实现的,但由于约束条件较少,评估结果的误差会相对较大。
综上所述,本发明实施例的天线覆盖性能评估方法,在按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域后,分别获取每个待评估区域中的评估参数,根据评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估,实现了在不影响现网运行的基础上,准确快捷地对天线的性能进行评估;在获取评估参数中,综合考虑了服务小区、非服务小区的实测和理论值,以及提出门限值误差修正,有效降低了测试仪及无线环境带来的评估偏差。
如图10所示,本发明的实施例还提供了一种天线覆盖性能评估装置,包括:
区域划分模块10,用于按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;
处理模块20,用于获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。
其中,处理模块包括:
第一获取子模块,用于获取当前待评估区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平;
第二获取子模块,用于获取所述各个扫频点在能够搜索到的非服务小区的实测电平;其中,所述非服务小区是一个或多个小区;
第一评估参数获取子模块,用于根据所述扫频点在所述服务小区的实测电平和在所述非服务小区的实测电平,得到第一平均实测电平和第二平均实测电平,将所述第一平均实测电平、所述第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数;其中,所述第一平均实测电平是所述扫频点在所述服务小区的实测电平的平均值;所述第二平均实测电平是所述扫频点在所述非服务小区的实测电平的平均值。
其中,处理模块包括:
第三获取子模块,用于获取当前待评估区域的各个扫频点在所述服务小区的理论电平;
第四获取子模块,用于获取在所述服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值,确定第一差值小于第一门限值的扫频点的个数;
第二评估参数获取子模块,用于根据待评估区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将所述第一差错率作为评估参数。
其中,所述处理模块包括:
第五获取子模块,用于获取当前待评估区域的各个扫频点在所述非服务小区的理论电平;
第六获取子模块,用于获取在所述非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值;
第七获取子模块,用于根据所述第二差值对所述第一门限值修正得到第二门限值,确定所述第一差值小于所述第二门限值的扫频点的个数;
第三评估参数获取子模块,用于根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将所述第二差错率作为评估参数。
其中,所述处理模块包括:
第一评估子模块,用于将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
其中,所述处理模块包括:
第二评估子模块,用于将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第一差错率小于等于第二阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
其中,所述处理模块包括:
第三评估子模块,用于将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第二差错率小于等于第三阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
本发明实施例的天线覆盖性能评估装置,在区域划分模块按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域后,处理模块分别获取每个待评估区域中的评估参数,根据评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估,实现了在不影响现网运行的基础上,准确快捷地对天线的性能进行评估,有效降低无线环境、测试仪表等多因素的影响,且不需要进行昂贵的高精度建模。
需要说明的是,该天线覆盖性能评估装置是应用了上述天线覆盖性能评估方法的装置,上述天线覆盖性能评估方法的实现方式适用于该装置,也能达到相同的技术效果。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (11)
1.一种天线覆盖性能评估方法,其特征在于,包括:
按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;
获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。
2.根据权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法,其特征在于,获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
获取当前待评估区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平;
获取所述各个扫频点在能够搜索到的非服务小区的实测电平;其中,所述非服务小区是一个或多个小区;
根据所述扫频点在所述服务小区的实测电平和在所述非服务小区的实测电平,得到第一平均实测电平和第二平均实测电平,将所述第一平均实测电平、所述第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数;其中,所述第一平均实测电平是所述扫频点在所述服务小区的实测电平的平均值;所述第二平均实测电平是所述扫频点在所述非服务小区的实测电平的平均值。
3.根据权利要求2所述的天线覆盖性能评估方法,其特征在于,获取每个待评估区域中的评估参数包括:
获取当前待评估区域的各个扫频点在所述服务小区的理论电平;
获取在所述服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值,确定第一差值小于第一门限值的扫频点的个数;
根据待评估区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将所述第一差错率作为评估参数。
4.根据权利要求3所述的天线覆盖性能评估方法,其特征在于,获取每个待评估区域中的评估参数,包括:
获取当前待评估区域的各个扫频点在所述非服务小区的理论电平;
获取在所述非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值;
根据所述第二差值对所述第一门限值修正得到第二门限值,确定所述第一差值小于所述第二门限值的扫频点的个数;
根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将所述第二差错率作为评估参数。
5.根据权利要求2所述的天线覆盖性能评估方法,其特征在于,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
6.根据权利要求3所述的天线覆盖性能评估方法,其特征在于,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第一差错率小于等于第二阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
7.根据权利要求4所述的天线覆盖性能评估方法,其特征在于,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,包括:
将所述第一平均实测电平和所述第二平均实测电平比较,在扫频点总数大于等于第一阈值,第二差错率小于等于第三阈值且所述第一平均实测电平大于所述第二平均实测电平时,确定天线在所述待评估区域的覆盖性能较高,反之,天线在所述待评估区域的覆盖性能较低。
8.一种天线覆盖性能评估装置,其特征在于,包括:
区域划分模块,用于按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分,得到多个待评估区域;
处理模块,用于获取每个待评估区域中的评估参数,根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能,依次对所述多个待评估区域评估,直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。
9.根据权利要求8所述的天线覆盖性能评估装置,其特征在于,处理模块包括:
第一获取子模块,用于获取当前待评估区域的扫频点总数以及各个扫频点在服务小区的实测电平;
第二获取子模块,用于获取所述各个扫频点在能够搜索到的非服务小区的实测电平;其中,所述非服务小区是一个或多个小区;
第一评估参数获取子模块,用于根据所述扫频点在所述服务小区的实测电平和在所述非服务小区的实测电平,得到第一平均实测电平和第二平均实测电平,将所述第一平均实测电平、所述第二平均实测电平以及扫频点总数作为评估参数;其中,所述第一平均实测电平是所述扫频点在所述服务小区的实测电平的平均值;所述第二平均实测电平是所述扫频点在所述非服务小区的实测电平的平均值。
10.根据权利要求9所述的天线覆盖性能评估装置,其特征在于,处理模块包括:
第三获取子模块,用于获取当前待评估区域的各个扫频点在所述服务小区的理论电平;
第四获取子模块,用于获取在所述服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第一差值,确定第一差值小于第一门限值的扫频点的个数;
第二评估参数获取子模块,用于根据待评估区域的扫频点总数和第一差值小于第一门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第一差错率,将所述第一差错率作为评估参数。
11.根据权利要求10所述的天线覆盖性能评估装置,其特征在于,处理模块包括:
第五获取子模块,用于获取当前待评估区域的各个扫频点在所述非服务小区的理论电平;
第六获取子模块,用于获取在所述非服务小区中对应各个扫频点的实测电平和理论电平的第二差值;
第七获取子模块,用于根据所述第二差值对所述第一门限值修正得到第二门限值,确定所述第一差值小于所述第二门限值的扫频点的个数;
第三评估参数获取子模块,用于根据待评估区域的扫频点总数和第二差值小于第二门限值的扫频点的个数,得到待评估区域的第二差错率,将所述第二差错率作为评估参数。
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