CN105699176A - 拉拔测试机构 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种拉拔测试机构，包含支架和测试片，该测试片设置在该支架上且与该支架枢接，以使该测试片相对该支架转动，当该支架相对该待测试元件沿该待测试元件的排列方向移动时，该测试片与一行待测试元件滚动接触且在接触时该测试片抵顶该待测试元件，以施加第二方向上的拉拔力于该待测试元件上，以测试该待测试元件的结合强度，当该待测试元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待测试元件脱离该本体，该测试片与该待测试元件之间是滚动接触，该测试片所受的摩擦力为滚动摩擦力，因此该测试片所受的摩擦力较小且摩擦区域较大，大大降低了该测试片的磨损，延长了该测试片的使用寿命。

Description

拉拔测试机构
技术领域
本发明描述一种拉拔测试机构，尤指一种键帽的拉拔测试机构。
背景技术
一般来说，键帽会因组装不良以及结合力不足等情况而发生脱落，为了确保键帽组装在键盘上后可与键盘稳定的结合在一起，防止使用过程中键帽发生脱离，需要对键帽进行拉拔力测试，即需要对每个键帽的结合情况进行逐一检查，从而保证键盘的质量。
现有的对键帽进行拉拔测试的装置采用拨片以预设的力来拉拔键帽，其测试的原理为：拨片设置于键帽与键盘之间，且拨片与键帽的底部(键帽朝向底板的部位)相配合，藉由拨片对键帽施加一预设的作用力，并根据键帽在该作用力的作用下是否能脱离键盘，来判断键帽的拉拔力是否符合标准，其中，若键帽在预设的作用力下脱离键盘，则判断该键帽的拉拔力测试不合格，相反的，若键帽在预设的作用力下仍能固定在键盘，则判断拉拔力测试合格。然而，目前，为了检测效率的提升，通常使用同一拨片检测多个键帽，且与检测时，拨片以固定的方式安装在支架上，在进行键帽的拉拔力测试时，拨片随着支架的移动在键帽之间移动，并与键帽之间滑动摩擦，但是由于拨片与支架采用固定连接，拨片与键帽之间摩擦力大，摩擦面小，且因拨片与多个键帽相接触的部位是固定的，因此使得拨片的磨损严重，使用寿命较短，例如，一般4个小时，从而提高了成本。且对于工作人员而言，工作人员需要经常更换拨片，提高了工作人员的劳动强度和人力成本。
因此，有必要提供一种新的拉拔测试机构，以克服上述缺陷。
发明内容
本发明的目的在于提供一种拉拔测试机构，其测试片与键帽之间采用滚动摩擦，减小了该测试片的磨损，延长了测试片的使用寿命。
为达上述目的，本发明提供一种拉拔测试机构，用于检测待测试装置的待测试元件的拉拔力，该待测试装置具有本体和设置于该本体上的沿第一方向排列的至少一行待测试元件，该拉拔测试机构包含：
支架；
测试片，设置在该支架上且与该支架枢接，以使该测试片相对该支架转动；
其中，当该支架相对该待测试元件沿该第一方向移动时，该测试片与一行待测试元件滚动接触且在接触时该测试片抵顶该待测试元件，以施加第二方向上的拉拔力于该待测试元件上，当该待测试元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待测试元件脱离该本体，其中，该第二方向为该待测试元件脱离该本体的方向。
较佳的，该支架上具有两个支撑部和转轴，该两个支撑部之间具有容置空间以容置该测试片，该测试片具有通孔以及相背的第一表面与第二表面，该通孔贯穿该第一表面和该第二表面，该转轴穿设该通孔且该转轴的两端分别与该两个支撑部固定连接，以使该测试片可相对该支架绕该转轴的轴心旋转。
较佳的，该一行待测试元件包括相邻的第一待测试元件和第二待测试元件，当该支架沿该第一方向移动时，该测试片依次与该第一待测试元件和该第二待测试元件滚动接触，且接触该第一待测试元件的该测试片的部位与接触该第二待测试元件的该待测试片的部位不同。
较佳的，当该支架沿该第一方向移动时，该测试片相对该待测试装置所在的平面倾斜第一预设角度，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第一预设角度小于90度大于等于0度。
较佳的，该第一预设角度为45度。
较佳的，该待测试元件具有向第三方向延伸的凸起部，当该测试片与该待测试元件接触时，该测试片位于该凸起部和该本体之间且抵顶该凸起部，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第三方向平行于该待测试装置所在的平面；或者，该待测试元件与该本体之间具有第一间隙，当该测试片与该待测试元件接触时，该测试片位于该第一间隙内且该测试片抵顶该待测试元件，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力。
较佳的，该测试片为圆形，该测试片于其圆心位置处与该支架枢接，该测试片绕该圆心转动。
较佳的，该测试片中心区域的厚度大于其边缘区域的厚度，其中该中心区域指的是接近该圆心的位置，边缘区域为远离圆心的位置。
较佳的，还包括底座，该底座用于放置待检测的待测试装置，该支架设置于该底座上。
较佳的，当该支架相对该待测试元件沿该第一方向移动时，该测试片与该待测试装置接触，使得该测试片受该待测试装置施加的摩擦力而产生滚动；或者，拉拔测试机构还包括第一驱动电机，该第一驱动电机带动该测试片相对该支架旋转。
较佳的，拉拔测试机构还包括第二驱动电机，该第二驱动电机驱动该支架沿该第一方向匀速移动。
较佳的，该待测试装置为键盘，该待测试元件为键帽。
与现有技术相比，本发明提供一种拉拔测试机构，包含支架和测试片，该测试片设置在该支架上且与该支架枢接，以使该测试片相对该支架转动，当该支架相对该待测试装置沿该待测试元件的排列方向移动时，该测试片与一行待测试元件滚动接触且在接触时该测试片抵顶该待测试元件，以施加第二方向上的拉拔力于该待测试元件上，以测试该待测试元件的结合强度，当该待测试元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待测试元件脱离该本体，当该待测试元件与该本体的实际结合力大于等于该拉拔力时，该待测试元件维持结合于该本体，且，该测试片与该键帽之间是滚动接触，该测试片所受的摩擦力为滚动摩擦力，因此该测试片所受的摩擦力较小且摩擦区域较大，大大降低了该测试片的磨损，延长了该测试片的使用寿命，降低了成本，同时也大大降低了测试片的更换频率，降低工作人员的劳动强度。
附图说明
图1为本发明实施例的拉拔测试机构的结构示意图。
图2为本发明实施例的拉拔测试机构的工作状态意图。
图3为本发明实施例的拉拔测试机构的局部结构示意图。
图4为本发明实施例的拉拔测试机构于另一方向的局部结构示意图。
具体实施方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。
参照图1至图4所示，揭示了本发明拉拔测试机构100的结构示意图。图1为本发明实施例的拉拔测试机构的结构示意图，图2为本发明实施例的拉拔测试机构的工作状态意图，图3为本发明实施例的拉拔测试机构的局部结构示意图，图4为本发明实施例的拉拔测试机构于另一方向的局部结构示意图。本发明拉拔测试机构100用于检测待测试装置的待测试元件的拉拔力，本实施例中，该待测试装置为键盘10，该待测试元件为键帽101，但不以此为限，拉拔测试机构100亦可以用于检测其它元件与其本体的结合牢固程度，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。其中，键盘10具有本体102和设置于本体102上的沿第一方向排列的至少一行键帽101，较佳的，该第一方向平行于该本体102所在的平面，但不以此为限。
本发明拉拔测试机构100包含支架11和测试片12，测试片12设置在支架11上且与支架11枢接，以使测试片12可相对支架11转动；其中，当支架11相对键盘10沿第一方向F1移动时，测试片12与一行键帽101滚动接触，且在接触时测试片12抵顶键帽101，以施加第二方向上的拉拔力于键帽101上，若键帽101与本体102的实际结合力小于该拉拔力时键帽101会脱离本体102，若键帽101与本体102的实际结合力大于等于该拉拔力，则键帽101会维持结合于本体102上，以此测试键帽101与本体102的结合力是否满足要求，其中，该第二方向为键帽101脱离本体102的方向，例如为垂直于本体102所在平面的方向F2，但不以此为限。本发明中，因测试片12与键帽101是滚动接触，因此，本发明测试片所受的摩擦力为滚动摩擦力，较传统的拉拔测试机构的测试片所受的滑动摩擦力，本发明测试片12所受的摩擦力较小；且检测过程中，因测试片12与键帽的接触部位是沿测试片的边缘变化，使得测试片12的实际承受的摩擦力的面积也较大，大大降低了测试片12的局部部位磨损，延长了测试片12整体的使用寿命，降低了使用成本，同时也大大降低了测试片12的更换频率，降低工作人员的劳动强度。
进一步的，如图1和图2所示，支架11上具有两个支撑部111和转轴112，两个支撑部111之间具有容置空间以容置测试片12，测试片12具有通孔121以及相背的第一表面124和第二表面125，通孔121贯穿第一表面124和第二表面125，转轴112穿设通孔121，且转轴112的两端分别与两个支撑部111固定连接，以使测试片12相对支架11绕转轴112的轴心旋转。从而使得，当支架11沿该第一方向移动时，测试片12与每一行的多个键帽101之间始终滚动接触，测试片12上与键帽相接触位置不断变化，以增大接触面积、减小摩擦力，从而减小测试片12的磨损，延长使用寿命。例如图1和图2所示，一行键帽101包括相邻的第一键帽1011和第二键帽1012，当支架11沿该第一方向移动时，测试片12与一行键帽101滚动接触，测试片12依次与第一键帽1011和第二键帽1012滚动接触，且测试片12接触第一键帽1011的位置为位置A，测试片12接触第二键帽1012的位置为位置B，位置A不同于位置B。
进一步的，当支架11沿第一方向F1移动时，测试片12相对键盘10所在的平面倾斜第一预设角度，以向键帽101提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第一预设角度小于90度大于等于0度，即使得测试片12相对键盘10倾斜设置，以向键帽101提供第二方向上的拉拔力。进一步的，该第一预设角度小于60度大于等于0度，较佳的，该第一预设角度为45角度，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定。
进一步的，键帽101与本体102之间具有第一间隙103，当测试片12与键帽101接触时，测试片12位于该第一间隙103内且抵顶键帽101，以向键帽101提供该第二方向上的拉拔力。当然，于其它实施例中，键帽101具有向第三方向延伸的凸起部，例如巧克力键盘的键帽，当测试片12与键帽101接触时，测试片12位于该凸起部和本体102之间且测试片12抵顶该凸起部，以向键帽101提供该第二方向上的拉拔力,其中，该第三方向平行于本体102所在的平面。
进一步的，当支架11相对键帽101沿第一方向F1移动时，测试片12与键盘10接触，使得测试片12受键盘10施加的摩擦力而产生滚动，进而使得测试片12与键帽101滚动接触，测试片12接触键帽101的部位不断发生变化；或者，还包括第一驱动电机，该第一驱动电机带动测试片12相对支架11旋转，使得测试片12接触键帽101的部位不断发生变化，较佳的，测试片12自身旋转的速度与支架11沿该第一方向移动的速度相匹配，例如，测试片12自身的旋转速度不能过快，否则会导致测试片12和键帽101的同时磨损。例如，该第一驱动电机设置在支架11上，但不以此为限。
进一步的，还包括第二驱动电机，该第二驱动电机驱动支架11沿该第一方向匀速移动。
本实施例中，如图2至图4所示，测试片12为圆形，于其圆心位置与转轴112相配合，使得测试片12绕其圆心转动，但不以此为限，测试片12亦可以是棒状，且可绕其轴心旋转，使其接触键帽101的部位不断发生变化。此外，测试片12还可以是椭圆形或者多边形(该多边形的边长与键帽的尺寸相匹配)，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
进一步的，如图3和图4所示，测试片12中心区域122的厚度大于边缘区域123的厚度，以便于稳定测试片12的检测过程中的运动(沿第一方向的移动同时沿其圆心的转动)稳定性，其中中心区域122指的是接近该圆心的位置，边缘区域为远离圆心的位置，本实施例中，中心区域122为圆形，且该圆形的半径为测试片12半径的一半；并且，测试片12边缘区域123的厚度要小于第二预设值，例如该第二预设值为该第一间隙的宽度，但不以此为限，以满足测试需求且有一定的厚度以尽可能延长使用寿命为准，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。例如，测试片12的直径为40毫米，中心区域122的半径为20毫米，中心区域122的厚度为2.5毫米，测试片12的边缘区域123的厚度为1毫米，通孔121的直径为8毫米，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定。
进一步的，测试片12的边缘区域123与键帽101滚动接触。
进一步的，该拉拔力为第三预设值或者位于第三预设范围内，其中，该第三预设值或者该第三预设范围可以为本领域规范所要求的键帽的结合强度，或者为大于本领域规范所要求的键帽的结合强度，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
于实际应用中，还包括底座，该底座用于放置待检测的键盘10，支架11设置于该底座上。
于实际应用中，测试片12由塑料制成，但不以此为限，测试片12亦可以由满足测试需求，且耐磨的其它材料制成，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
综上，本发明提供一种拉拔测试机构，包含支架和测试片，该测试片设置在该支架上且与该支架枢接，以使该测试片相对该支架转动，当该支架相对该待测试元件沿该待测试元件的排列方向移动时，该测试片与一行待测试元件滚动接触且在接触时该测试片抵顶该待测试元件，以施加第二方向上的拉拔力于该待测试元件上，以测试该待测试元件的结合强度，当该待测试元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待测试元件脱离该本体，且，该测试片与该待测试元件之间是滚动接触，该测试片所受的摩擦力为滚动摩擦力，因此该测试片所受的摩擦力较小且摩擦区域较大，大大降低了该测试片的磨损，延长了该测试片的使用寿命，降低了成本，同时也大大降低了测试片的更换频率，降低工作人员的劳动强度。
本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。

Claims (12)

1.一种拉拔测试机构，用于检测待测试装置的待测试元件的拉拔力，该待测试装置具有本体和设置于该本体上的沿第一方向排列的至少一行待测试元件，其特征在于，该拉拔测试机构包含：
支架；
测试片，设置在该支架上且与该支架枢接，以使该测试片相对该支架转动；
其中，当该支架相对该待测试元件沿该第一方向移动时，该测试片与一行待测试元件滚动接触且在接触时该测试片抵顶该待测试元件，以施加第二方向上的拉拔力于该待测试元件上，当该待测试元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待测试元件脱离该本体，其中，该第二方向为该待测试元件脱离该本体的方向。
2.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该支架上具有两个支撑部和转轴，该两个支撑部之间具有容置空间以容置该测试片，该测试片具有通孔以及相背的第一表面与第二表面，该通孔贯穿该第一表面和该第二表面，该转轴穿设该通孔且该转轴的两端分别与该两个支撑部固定连接，以使该测试片可相对该支架绕该转轴的轴心旋转。
3.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该一行待测试元件包括相邻的第一待测试元件和第二待测试元件，当该支架沿该第一方向移动时，该测试片依次与该第一待测试元件和该第二待测试元件滚动接触，且接触该第一待测试元件的该测试片的部位与接触该第二待测试元件的该待测试片的部位不同。
4.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，当该支架沿该第一方向移动时，该测试片相对该待测试装置所在的平面倾斜第一预设角度，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第一预设角度小于90度大于等于0度。
5.如权利要求4所述的拉拔测试机构，其特征在于，该第一预设角度为45度。
6.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该待测试元件具有向第三方向延伸的凸起部，当该测试片与该待测试元件接触时，该测试片位于该凸起部和该本体之间且抵顶该凸起部，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第三方向平行于该待测试装置所在的平面；或者，该待测试元件与该本体之间具有第一间隙，当该测试片与该待测试元件接触时，该测试片位于该第一间隙内且该测试片抵顶该待测试元件，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力。
7.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该测试片为圆形，该测试片于其圆心位置处与该支架枢接，该测试片绕该圆心转动。
8.如权利要求7所述的拉拔测试机构，其特征在于，该测试片中心区域的厚度大于其边缘区域的厚度，其中该中心区域指的是接近该圆心的位置，边缘区域为远离圆心的位置。
9.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，还包括底座，该底座用于放置待检测的待测试装置，该支架设置于该底座上。
10.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，当该支架相对该待测试元件沿该第一方向移动时，该测试片与该待测试装置接触，使得该测试片受该待测试装置施加的摩擦力而产生滚动；或者，拉拔测试机构还包括第一驱动电机，该第一驱动电机带动该测试片相对该支架旋转。
11.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，拉拔测试机构还包括第二驱动电机，该第二驱动电机驱动该支架沿该第一方向匀速移动。
12.如权利要求1-11任一项所述的拉拔测试机构，其特征在于，该待测试装置为键盘，该待测试元件为键帽。
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