CN105676104B - 一种老化处理装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种老化处理装置及方法，上述方法包括以下步骤：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路；测试控制设备按照预设策略，在温度控制设备提供的目标温度下对所述不同类型板卡进行老化；其中，所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、加热器、散热器；其中，所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、所述散热器相连。本发明大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间，控制老化设备内的温度，使其达到恒温的效果，进一步提升了老化板卡的可靠性。

Description

一种老化处理装置及方法

技术领域

本发明属于老化处理领域，尤其涉及一种老化处理装置及方法。

背景技术

现有技术中，将单块模拟功能板卡通过Cable线接到校准板卡进行单通道的串行老化，即同一块模拟功能板卡上有2、4、8三种通道组合的板卡，当老化完第一通道后再老化下一个通道；同时连接不同的Cable线时需修改底层的测试软件；另外，老化一块板卡循环测试15000次的时间要达到18～20个小时。

因此上述方案存在以下缺点：

1、单块模拟功能板卡的老化串行老化时间长，时间达到18～20个小时，有的甚至更长，达到24个小时，并且由于是单块板卡老化，无法提高老化设备的利用率；

2、由于Cable线的连接不同需要修改底层的程序，容易出现改错位置等问题不利于生产使用；

3、老化设备的温度只能达到28°，远低于老化标准要求的45℃并且无法控制在恒温状态下；

4、加直流偏压进行的静态老化，对板卡、器件的功能未进行老化。

发明内容

本发明提供一种老化处理装置及方法，以解决上述问题。

本发明还提供一种老化处理装置，包括：老化设备；地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度控制设备；所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连；所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连。

本发明提供一种老化处理方法。上述方法包括以下步骤：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路；

测试控制设备按照预设策略，在温度控制设备提供的目标温度下对所述不同类型板卡进行老化；其中，所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、加热器、散热器；其中，所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、所述散热器相连。

相较于先前技术，根据本发明提供的一种老化处理装置及方法，通过以下方案：老化设备；地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度控制设备；所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连；所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连；大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间，控制老化设备内的温度，使其达到恒温的效果，进一步提升了老化板卡的可靠性。

通过以下方案：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路之前，还包括：将同类型板卡的不同通道编辑入同一个测试组Group；测试控制设备按照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化的过程为：循环老化一个Group后再老化另一个Group。通过将同类型的板卡编组的方式，按组进行循环老化，组内同时进行老化，大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间。

通过以下方案：测试控制设备按照设定循环次数，控制所述不同类型板卡老化过程；不仅大大保证了保证老化板卡的稳定性、可靠性，并且达到老化标准要求的次数。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1所示为本发明实施例1的设备老化处理装置结构图；

图2所示为本发明实施例2的设备老化处理方法流程图；

图3为负载电路具体结构图；

图4为双路电压电流源接口定义图；

图5为四路电压电流源接口定义图；

图6为八路电压电流源接口定义图；

图7为地址数据信号驱动电路的具体结构图；

图8为数据线接口定义图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

图1所示为本发明实施例1的设备老化处理装置结构图，包括老化设备；地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度控制设备、显示设备；所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连；所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连；所述显示设备与所述测试控制设备相连。

老化设备包括：16组负载电路(负载电路1、负载电路2、负载电路3、负载电路4、负载电路5、…负载电路16)；4个双路电压电流源接口(双路电压电流源接口1…双路电压电流源接口4)、4个四路电压电流源接口(四路电压电流源接口1…四路电压电流源接口4)、4个八路电压电流源接口(八路电压电流源接口1…八路电压电流源接口4)；

其中，16组负载电路即16路老化通道通过PCB走线连接到4个双路电压电流源接口(双路电压电流源接口1…双路电压电流源接口4)、4个四路电压电流源接口(四路电压电流源接口1…四路电压电流源接口4)、4个八路电压电流源接口(八路电压电流源接口1…八路电压电流源接口4)。

所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、加热器、散热器；其中，所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、所述散热器相连。

测试控制设备与显示设备相连。其中，所述显示设备可以是液晶显示器。

负载电路具体结构，请参照图3；双路电压电流源接口定义图，请参照图4；四路电压电流源接口定义图，请参照图5；八路电压电流源接口定义图，请参照图6；地址数据信号驱动电路的具体结构，请参照图7；数据线接口定义图，请参照图8。

如图7所示，A0\A1\A2为地址信号通过74HC138扩展8个选通信号WR1-WR8，16位数据信号线连接16个TPIC6B273(如图8所示)最多可锁存住128个Relay驱动信号，用来驱动老化设备中的16组负载电路(如图3所示)。

由于板卡有三种，双路电压电流板卡、四路电压电流板卡、八路电压电流板卡，可以通过接入上述装置中的老化设备中的负载电路，进行同时老化。

由于老化设备中有16组负载电路即16路老化通道，因此可以同时并行老化4块双路电压电流板卡，或2块四路电压电流板卡，或2块八路电压电流板卡。

为实现充分利用时间可以随意搭配不同种类板卡，使用软件中组测试功能，将同类板卡的不同通道编辑入同一个测试Group(Group是将同种类的板卡资源编为一个组，实现同时老化功能)中,循环老化一个Group后再老化另一个Group，达到不同类板卡串行老化的效果。

测试程序使用不同的Group功能达到串行功能老化，即将双路电压电流板卡资源编为一个Group，四路电压电流板卡编为一个Group，八路电压电流板卡编为一个Group，三个Group串行测试，实现串行功能老化的效果。

注意：老化设备上有三类不同板卡的接口，接线时切勿接错。

老化方式包括：板卡加电压、板卡加电流、板卡测电压、板卡测电流、板卡钳电压、板卡钳电流、DGS输入。

通过测试控制设备，选择循环测试模式，设定循环次数(15005pcs)，当测试次数达到设定次数时测试软件会自动停止功能老化，无需人为的额外操作。

测试控制设备比较监控到的老化数据与预设数据，若大于预设数据，则通过显示设备进行显示。

温度控制设备中的温度控制仪连接温度传感器、散热器和加热器进行温度控制，确保老化设备内空间温度在恒温状态下。

散热器即出风口风扇。

当温度低于老化温度时，温度控制仪上控制加热器的继电器闭合，控制风扇的继电器断开，风扇不转，加热器开始工作进行加热，温度上升；

当温度高于老化温度时，温度控制仪上控制加热器的继电器断开，控制风扇的继电器闭合，加热器不工作，风扇开始工作进行散热，温度下降。

当板卡插入老化设备内时板卡的温度比较低，需预热一定时间，例如30分钟。

图2所示为本发明实施例2的设备老化处理方法流程图，包括以下步骤：

步骤201：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路；

不同类型板卡包括：双路电压电流板卡、四路电压电流板卡、八路电压电流板卡。

步骤202：测试控制设备按照预设策略，在温度控制设备提供的目标温度下对所述不同类型板卡进行老化；其中，所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、加热器、散热器；其中，所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、所述散热器相连。

其中，散热器即出风口风扇。

所述温度控制设备获取目标温度的过程为：

当温度低于目标温度时，温度控制仪控制加热器的继电器闭合，控制风扇的继电器断开，风扇不转，加热器开始工作进行加热，温度上升，获取目标温度；

当温度高于目标温度时，温度控制仪控制加热器的继电器断开，控制风扇的继电器闭合，加热器不工作，风扇开始工作进行散热，温度下降，获取目标温度。

老化方式包括：板卡加电压、板卡加电流、板卡测电压、板卡测电流、板卡钳电压、板卡钳电流、DGS输入。

多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路之前，还包括：将同类型板卡的不同通道编辑入同一个测试组Group。

将双路电压电流板卡编为一个Group，四路电压电流板卡编为一个Group，八路电压电流板卡编为一个Group。

测试控制设备按照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化的过程为：循环老化一个Group后再老化另一个Group。

测试控制设备按照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化的过程为：测试控制设备按照设定循环次数，控制所述不同类型板卡老化过程。

步骤203：测试控制设备比较监控到的老化数据与预设数据，若大于预设数据，则通过显示设备进行显示。

所述显示设备是指液晶显示器。

相较于先前技术，根据本发明提供的一种老化处理装置及方法，通过以下方案：老化设备；地址数据信号驱动电路；数据线接口；测试控制设备；温度控制设备；所述老化设备分别与所述地址数据信号驱动电路、所述温度控制设备相连；所述测试控制设备通过所述数据线接口与所述地址数据信号驱动电路相连；大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间，控制老化设备内的温度，使其达到恒温的效果，进一步提升了老化板卡的可靠性。

通过以下方案：多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路之前，还包括：将同类型板卡的不同通道编辑入同一个测试组Group；测试控制设备按照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化的过程为：循环老化一个Group后再老化另一个Group。通过将同类型的板卡编组的方式，按组进行循环老化，组内同时进行老化，大大提升了老化的效率，缩短了老化的时间。

通过以下方案：测试控制设备按照设定循环次数，控制所述不同类型板卡老化过程；不仅大大保证了保证老化板卡的稳定性、可靠性，并且达到老化标准要求的次数。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种老化处理方法，其特征在于，包括以下步骤：

多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路；

测试控制设备按照预设策略，在温度控制设备提供的目标温度下对所述不同类型板卡进行老化；多个不同类型板卡接入老化设备中的多组负载电路之前，还包括：将同类型板卡的不同通道编辑入同一个测试组Group；测试控制设备按照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化的过程为：循环老化一个Group后再老化另一个Group或测试控制设备按照设定循环次数，控制所述不同类型板卡老化过程；其中，所述温度控制设备包括温度控制仪、温度传感器、加热器、散热器；其中，所述温度控制仪分别与所述温度传感器、所述加热器、所述散热器相连。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述散热器是指出风口风扇。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：所述温度控制设备获取目标温度的过程为：

当温度低于目标温度时，所述温度控制仪控制所述加热器的继电器闭合，控制风扇的继电器断开，风扇不转，所述加热器开始工作进行加热，温度上升，获取目标温度；

当温度高于目标温度时，所述温度控制仪控制所述加热器的继电器断开，控制风扇的继电器闭合，加热器不工作，风扇开始工作进行散热，温度下降，获取目标温度。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：测试控制设备按照预设策略，对所述不同类型板卡进行老化后，还包括：

测试控制设备比较监控到的老化数据与预设数据，若大于预设数据，则通过显示设备进行显示。