CN105652140B - 一种漏电流检测电路 - Google Patents

一种漏电流检测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN105652140B
CN105652140B CN201610046655.1A CN201610046655A CN105652140B CN 105652140 B CN105652140 B CN 105652140B CN 201610046655 A CN201610046655 A CN 201610046655A CN 105652140 B CN105652140 B CN 105652140B
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
resistance
voltage
current
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610046655.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105652140A (zh
Inventor
吴建安
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Avd Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Avd Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Avd Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Avd Technology Co Ltd
Priority to CN201610046655.1A priority Critical patent/CN105652140B/zh
Publication of CN105652140A publication Critical patent/CN105652140A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105652140B publication Critical patent/CN105652140B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

本发明提供一种漏电流检测电路,该电路是基于激磁线圈电流平均值检测的闭环磁通门原理设计,该漏电流检测电路包括自激方波振荡电路、有源滤波积分器电路、反馈电阻、第一滤波电路和电流检测电阻,所述自激方波振荡电路分别和所述第一滤波电路、所述有源滤波积分器电路、所述电流检测电阻、所述反馈电阻连接,所述第一滤波电路分别与所述反馈电阻、所述电流检测电阻连接,所述有源滤波积分器电路与所述反馈电阻连接,所述反馈电阻与所述电流检测电阻连接,所述电流检测电阻接地,所述自激方波振荡电路中包括激磁线圈。本发明提高了漏电流检测精度,电路简单,不受磁芯磁导率影响,产品精度一致性好,降低了成本。

Description

一种漏电流检测电路
技术领域
本发明涉及电子技术领域,特别涉及一种漏电流检测电路。
背景技术
漏电流检测在设备安全和人身安全方面发挥重要作用。目前,市面上的漏电流传感器原理普遍基于偶次谐波分量或相位差磁调制原理的方法来测量流经原边线圈的漏电流,其检测电路较复杂且成本较高,同时这两种方法均为开环检测,其批量精度受铁芯的磁导率影响较大,产品精度一致性较差,如批量应用,为保证精度的一致性,后端的调校环节较费工时,生产成本较高。
发明内容
本发明实施例中提供一种漏电流检测电路,该电路是基于激磁线圈电流平均值检测的闭环磁通门原理设计,提高了漏电流检测精度,降低了成本。
第一方面,本发明实施例中提供一种漏电流检测电路,包括自激方波振荡电路、有源滤波积分器电路、反馈电阻、第一滤波电路和电流检测电阻;
所述自激方波振荡电路分别和所述第一滤波电路、所述有源滤波积分器电路、所述电流检测电阻、所述反馈电阻连接,所述第一滤波电路分别与所述反馈电阻、所述电流检测电阻连接,所述有源滤波积分器电路与所述反馈电阻连接,所述反馈电阻与所述电流检测电阻连接,所述电流检测电阻接地,所述自激方波振荡电路中包括具有第一匝数的激磁线圈,所述激磁线圈绕于一个闭合的磁环上,所述磁环上还包括具有第二匝数的原边线圈;
在所述漏电流检测电路连接待测设备时,所述自激方波振荡电路用于在所述激磁线圈上产生激磁线圈电流,所述激磁线圈电流流向所述电流检测电阻,并在所述电流检测电阻上产生第一电压,所述第一滤波电路用于对所述第一电压进行滤波提取直流分量,所述有源滤波积分器电路用于对所述直流分量进行积分,输出目标电压,所述目标电压施加在所述反馈电阻产生补偿电流,使得所述电流检测电阻上的电流和电压平均值为零,通过所述目标电压、所述第一匝数、所述第二匝数可计算得到所述原边线圈上流过的漏电流值。
可选的,在一些实施例中,当所述原边线圈上流过漏电流不为0时,在所述原边线圈上流过漏电流,所述漏电流计算方式如下:
Ip=Vout*Ns/R9*Np;
其中,Vout为所述目标电压,Ns为所述第一匝数,Np为所述第二匝数,R9为所述反馈电阻的阻值。
在第一方面的一些可能实现方式中,所述自激方波振荡电路的第一端连接所述第一滤波电路的第一端,所述自激方波振荡电路的第二端为所述激磁线圈的第二端,所述自激方波振荡电路的第三端连接正电源,所述自激方波振荡电路的第四端连接负电源,所述激磁线圈的第二端分别连接所述有源滤波积分器电路的第一端和所述电流检测电阻的第一端,所述有源滤波积分器电路的第二端连接所述反馈电阻的第一端,所述电流检测电阻的第二端接地;
可选的,所述反馈电阻的第二端分别连接所述电流检测电阻的第一端和所述第一滤波电路的第二端,或者,所述磁环上还绕有补偿线圈,所述反馈电阻的第二端连接所述补偿线圈的第一端,所述补偿线圈的第二端接地。
在第一方面的一些可能实现方式中,所述自激方波振荡电路还包括比较器电路、稳压电路、功率放大电路,所述比较器电路一个输入端接地,另一个输入端连接所述第一滤波电路的第一端,所述比较器的输出端连接所述稳压电路的第一端和所述功率放大电路的第一端,所述稳压电路的第二端接地,所述稳压电路的第一端还连接所述功率放大电路的第一端,所述功率放大电路的第二端连接所述激磁线圈的第一端,所述功率放大电路的第三端连接正电源,所述功率放大电路的第四端连接负电源,所述激磁线圈的第二端分别连接所述有源滤波积分器电路的第一端和所述电流检测电阻的第一端,所述有源滤波积分器电路的第二端连接所述反馈电阻的第一端,所述反馈电阻的第二端分别连接所述电流检测电阻的第一端和所述第一滤波电路的第二端,所述电流检测电阻的第二端接地。
在第一方面的另一些可能实现方式中,所述有源滤波积分器电路包括第二滤波电路和与反相积分器电路,所述第二滤波电路的第一端为所述有源滤波积分器电路的第一端,所述第二滤波电路的第二端连接所述反相积分器电路的第一端,所述反相积分器电路的第二端为所述有源滤波积分器电路的第二端,所述第二滤波电路用于对所述第一电压进行滤波,提取所述第一电压的直流分量,所述反相积分器电路用于对所述直流分量进行积分,输出目标电压,所述目标电压施加在所述反馈电阻产生补偿电流,使得所述电流检测电阻上的电流和电压均为零。
可选的,所述第二滤波电路包括第七电阻和第二电容,所述第七电阻的第一端为所述第二滤波电路的第一端,所述第七电阻的第二端和所述第二电容的第二端,共同作为所述第二滤波电路的第二端。
可选的,所述反相积分器电路包括第八电阻、放大器和第三电容,所述第八电阻的第一端作为所述反相积分器电路的第一端,所述第八电阻的第二端分别连接所述第三电容的第一端、所述放大器的第一输入端,所述第三电容的第二端连接所述放大器的输出端,所述放大器的第二输入端接地,所述放大器的输出端为所述反相积分器电路的第二端。
在第一方面的另一些可能实现方式中,所述比较器电路包括第一电阻、比较器、第二电阻和第三电阻,所述第一电阻的第一端接地,所述第一电阻的第二端分别连接所述比较器的第一输入端、所述第二电阻的第一端,所述比较器的第二输入端连接所述第一滤波电路,所述比较器的输出端连接所述第三电阻的第一端,所述第二电阻的第二端和所述第三电阻的第二端,共同作为所述比较器电路的输出端。
可选的,本发明实施例中,所述比较器和所述放大器可以均为双电源运算放大器,工作在比较器模式,工作在线性放大器模式。
在第一方面的另一些可能实现方式中,所述功率放大电路包括第四电阻、第一三极管和第二三极管,所述第一三极管为NPN管,所述第二三极管为PNP管,所述第四电阻的第一端为所述功率放大电路的第一端,所述第四电阻的第二端分别连接所述第一三极管的基级、所述第二三极管的基级,所述第一三极管的集电极为所述自激方波振荡电路的第三端,所述第一三极管的发射机和所述第二三极管的发射极,共同作为所述功率放大电路的第二端,所述第二三极管的集电极为所述自激方波振荡电路的第四端。
在第一方面的另一些可能实现方式中,所述第一滤波电路包括第一电阻和第一电容,所述第一电阻的第一端和所述第一电容的第一端,共同作为所述第一滤波电路的第一端,所述第一电阻的第二端为所述第一滤波电路的第二端、所述第一电容的第二端接地。
在第一方面的另一些可能实现方式中,所述稳压电路包括第一稳压管和第二稳压管,所述第一稳压管的负极为所述稳压电路的第一端,所述第一稳压管的正极连接所述第二稳压管的正极,所述第二稳压管的负极为所述稳压电路的第二端。
本发明实施例具有以下优点:
在漏电流检测电路连接待测设备时,自激方波振荡电路在激磁线圈上产生激磁线圈电流,并分别将所述激磁线圈电流的一部分向有源滤波积分器电路和电流检测电阻输出,电流检测电阻在激磁线圈电流的一部分流经时产生第一电压,第一滤波电路对第一电压进行滤波提取直流分量,有源滤波积分器电路对所述直流分量进行积分,输出目标电压,目标电压施加在所述反馈电阻产生补偿电流,使得所述电流检测电阻上的电流和电压均为零,根据目标电压、原边线圈匝数、激磁线圈匝数即可计算得到原边线圈上的漏电流,达到检测设备漏电流的目的。本发明实施例实现了基于激磁线圈电流平均值检测的闭环磁通门漏电流检测,提高了漏电流检测精度,电路简单,不受磁芯磁导率影响,产品精度一致性好,降低了成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例中漏电流检测的一个实施例示意图;
图2是本发明实施例中一种磁环上线圈缠绕示意图;
图3是本发明实施例中漏电流检测的另一个实施例示意图;
图4是本发明实施例中一种磁环上线圈缠绕示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面首先介绍本发明实施例中漏电流检测电路。
本发明实施例中,一种漏电流检测电路的实施例包括:自激方波振荡电路101、有源滤波积分器电路102、反馈电阻R9、第一滤波电路103和电流检测电阻R6;
所述自激方波振荡电路101分别和所述第一滤波电路103、所述有源滤波积分器电路102、所述电流检测电阻R6、所述反馈电阻R9连接,所述第一滤波电路103分别与所述反馈电阻R9、所述电流检测电阻R6连接,所述有源滤波积分器电路102与所述反馈电阻R9连接,所述反馈电阻R9与所述电流检测电阻R6连接,所述电流检测电阻R6接地,所述自激方波振荡电路101中包括激磁线圈;
在所述漏电流检测电路连接待测设备时,所述自激方波振荡电路用于在所述激磁线圈上产生激磁线圈电流,所述激磁线圈电流流向所述电流检测电阻,并在所述电流检测电阻上产生第一电压,所述第一滤波电路用于对所述第一电压进行滤波提取直流分量,所述有源滤波积分器电路用于对所述直流分量进行积分,输出目标电压,所述目标电压施加在所述反馈电阻产生补偿电流,使得所述电流检测电阻上的电流和电压平均值为零,通过所述目标电压、所述第一匝数、所述第二匝数可计算得到所述原边线圈上流过的漏电流值。
本发明实施例实现了基于激磁线圈电流平均值检测的闭环磁通门漏电流检测,提高了漏电流检测精度,电路简单,不受磁芯磁导率影响,产品精度一致性好,降低了成本。
可选的,在一些实施例中,当所述原边线圈上流过漏电流不为0时,在所述原边线圈上流过漏电流,所述漏电流值计算方式如下:
Ip=Vout*Ns/R9*Np;
其中,Vout为所述目标电压,Ns为所述第一匝数,Np为所述第二匝数,R9为所述反馈电阻的阻值。
可选的,当所述原边线圈上流过漏电流为0时,所述激磁线圈电流为0。
可选的,在所述电流检测电阻上的电流和电压均为零时,所述补偿电流等于所述激磁线圈电流。
可选的,所述自激方波振荡电路101的第一端连接所述第一滤波电路103的第一端,所述自激方波振荡电路101的第二端为所述激磁线圈的第二端,所述自激方波振荡电路101的第三端连接正电源,所述自激方波振荡电路101的第四端连接负电源,所述激磁线圈的第二端分别连接所述有源滤波积分器电路102的第一端和所述电流检测电阻R6的第一端,所述有源滤波积分器电路102的第二端连接所述反馈电阻R9的第一端,所述电流检测电阻R6的第二端接地;可选的,所述磁环可以由软磁材料制成,具体的,磁环可以由那些高初始磁导率、低饱和磁感应强度的软磁材料构成;
其中,如图1、图2所示,本发明实施例中,可以通过激磁线圈产生补偿电流,所述反馈电阻R9的第二端分别连接所述电流检测电阻R6的第一端和所述第一滤波电路的第二端,如图2所示,磁环上可以仅缠绕原边线圈L2和激磁线圈L1。
如图1所示,为本发明实施例中漏电流检测电路的一种具体实施例。
在本发明的一些实施例中,所述自激方波振荡电路101还包括比较器电路、稳压电路、功率放大电路,所述比较器电路一个输入端接地,另一个输入端连接所述第一滤波电路103的第一端,所述比较器的输出端连接所述稳压电路的第一端和所述功率放大电路的第一端,所述稳压电路的第二端接地,所述稳压电路的第一端还连接所述功率放大电路的第一端,所述功率放大电路的第二端连接所述激磁线圈的第一端,所述功率放大电路的第三端连接正电源,所述功率放大电路的第四端连接负电源,所述激磁线圈的第二端分别连接所述有源滤波积分器电路的第一端和所述电流检测电阻R6的第一端,所述有源滤波积分器电路的第二端连接所述反馈电阻的第一端,所述反馈电阻的第二端分别连接所述电流检测电阻R6的第一端和所述第一滤波电路的第二端,所述电流检测电阻R6的第二端接地。
在本发明的另一些实例中,所述有源滤波积分器电路包括第二滤波电路和与反相积分器电路,所述第二滤波电路的第一端为所述有源滤波积分器电路的第一端,所述第二滤波电路的第二端连接所述反相积分器电路的第一端,所述反相积分器电路的第二端为所述有源滤波积分器电路的第二端,所述第二滤波电路用于对所述第一电压UR6进行滤波,提取所述第一电压UR6的直流分量(平均值),所述反相积分器电路用于对所述直流分量(平均值)进行积分,输出目标电压Vout,所述目标电压施加在所述反馈电阻产生补偿电流Is,使得所述电流检测电阻上的电流和电压均为零,在所述电流检测电阻上的电流和电压均为零时,所述补偿电流等于所述激磁线圈电流。
可选的,所述第二滤波电路包括第七电阻R7和第二电容C2,所述第七电阻R7的第一端为所述第二滤波电路的第一端,所述第七电阻R7的第二端和所述第二电容C2的第二端,共同作为所述第二滤波电路的第二端。
进一步可选的,所述反相积分器电路包括第八电阻R8、放大器U2和第三电容C3,所述第八电阻R8的第一端作为所述反相积分器电路的第一端,所述第八电阻R8的第二端分别连接所述第三电容C3的第一端、所述放大器U2的第一输入端,所述第三电容C3的第二端连接所述放大器U2的输出端,所述放大器U2的第二输入端接地,所述放大器U2的输出端为所述反相积分器电路的第二端。
在本发明的另一些实施例中,所述比较器电路包括第一电阻R1、比较器U1、第二电阻R2和第三电阻R3,所述第一电阻R1的第一端接地,所述第一电阻R1的第二端分别连接所述比较器U1的第一输入端、所述第二电阻R2的第一端,所述比较器U1的第二输入端连接所述第一滤波电路,所述比较器U1的输出端连接所述第三电阻R3的第一端,所述第二电阻R2的第二端和所述第三电阻R3的第二端,共同作为所述比较器电路的输出端。
在本发明的另一些实施例中,所述功率放大电路包括第四电阻R4、第一三极管Q1和第二三极管Q2,所述第一三极管Q1为NPN管,所述第二三极管Q2为PNP管,所述第四电阻R4的第一端为所述功率放大电路的第一端,所述第四电阻的第二端分别连接所述第一三极管Q1的基级、所述第二三极管Q2的基级,所述第一三极管Q1的集电极为所述自激方波振荡电路的第三端,所述第一三极管Q1的发射机和所述第二三极管Q2的发射极,共同作为所述功率放大电路的第二端,所述第二三极管Q2的集电极为所述自激方波振荡电路的第四端。
在本发明的另一些实施例中,所述第一滤波电路包括第一电阻R5和第一电容C1,所述第一电阻R5的第一端和所述第一电容C1的第一端,共同作为所述第一滤波电路的第一端,所述第一电阻R5的第二端为所述第一滤波电路的第二端、所述第一电容C1的第二端接地。
在本发明的另一些实施例中,所述稳压电路包括第一稳压管Z1和第二稳压管Z2,所述第一稳压管Z1的负极为所述稳压电路的第一端,所述第一稳压管Z1的正极连接所述第二稳压管Z2的正极,所述第二稳压管Z2的负极为所述稳压电路的第二端。
本发明实施例中还可以通过单独提供补偿线圈来提供补偿电流,如图3和图4所示,所述磁环上还绕有补偿线圈Ls,所述反馈电阻R9的第二端连接所述补偿线圈Ls的第一端,所述补偿线圈Ls的第二端接地。
下面结合图1对本发明实施例中实现过程进行描述:
如图1所示,电路上电时,比较器U1的1脚会随机输出一个高电平或低电平,假如其先输出一个高电平,则经R3限流、Z1、Z2稳压后,在Z1的1脚得到一正电压Uz,Uz经R1、R2分压后在R1上得到一正电压UR1,UR1加到U1的同相输入端,同时Uz经R4限流和三极管Q1、Q2跟随后,在Q1、Q2的2脚得到一个比Uz约低0.7V的电压UL,UL加到激磁线圈L1上,在L1产生激磁线圈电流IL,IL刚开始时由于磁环的初始磁导高较高,电流较小,经过一定时间积累后,IL逐渐加大,当线圈的磁场强度NsIL达到一定值后,会使磁环的磁感应强度饱和,此时线圈电流会快速增大,同时此电流IL由电阻R6检出,在R6上产生电压UR6,UR6经R5、C1滤波后加到U1的反相输入端,当UR6>UR1时,比较器U1翻转,其1脚输出低电平,后经R3限流、Z1、Z2稳压后,在Z1的1脚得到一负电压-Uz,-Uz经R1、R2分压后在R1上得到一负电压-UR1,-UR1加到U1的同相输入端,同时-Uz经R4限流和三极管Q1、Q2跟随后,在Q1、Q2的2脚得到一个比Uz约高0.7V的电压-UL,-UL加到激磁线圈L1上,在L1产生电流-IL,-IL刚开始时由于磁环的初始磁导高较高,电流较小,经过一定时间积累后,-IL逐渐加大,当线圈的磁场强度-NsIL达到一定值后,会使磁环的磁感应强度饱和,此时线圈电流会快速增大,同时此电流-IL由电阻R6检出,在R6上产生电压-UR6,-UR6经R5、C1滤波后加到U1的反相输入端,当-UR6<-UR1时,比较器U1翻转,其1脚输出低电平,由此反复振荡。
如磁环没有通过原边电流Ip(即Ip=0),则上述振荡过程是正负对称的,R6上的电压UR6平均值为0,由于UR6=IL*R6,故相当于IL的平均值为0。
电路元件U2、R7、C2、R8、C3构成有源滤波积分器,实现对激磁线圈电流的平均值检测和积分。R7、C2是对电压UR6进行滤波,提取UR6的直流分量(平均值),U2、R8、C3构成反相积分器,为对电压UR6的平均值进行积分。由于UR6=IL*R6,故对UR6进行滤波,就相当于对IL进行滤波,提取IL的直流分量(平均值),对电压UR6的平均值进行积分就相当于对IL的平均值进行积分。
电路元件R9为反馈电阻,实现对整个电路的闭环控制。当漏电流传感器的输入电流Ip不为0时,IL会发生偏心现象,其平均值不为0,此平均值电流经上4)的滤波积分后,会输出目标电压Vout,这时电阻R9会流过补偿电流Is=(UR6-Vout)/R9=IL-UR6/R6,由于整个电路的负反馈作用,最终R6上的电压或电流平均为0,故Is=-Vout/R9=IL,即电阻R9上的电流Is等于线圈电流IL的平均值,Is与线圈匝数Ns的乘积Ns*Is用于补偿原边检测的漏电流Np*Ip,使磁芯处于零磁通状态(磁通平均值为0),此时在数值上有(不考虑方向性)Np*Ip=Ns*Is=Ns*Vout/R9,得Vout=R9*Np*Ip/Ns,即Ip=Vout*Ns/R9*Np;故选择合适的R9、Np和Ns值,可使Vout精确反映原边漏电流Ip的变化,因此,此发明电路可用于检测设备的直流和交流漏电流。
本发明实施例中还提供一种漏电流检测装置,所述漏电流检测装置中包括上述任一种漏电流检测电路。
以上对本发明实施例所提供的一种漏电流检测电路和装置,对于本领域的一般技术人员,依据本发明实施例的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,因此,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种漏电流检测电路,其特征在于,包括自激方波振荡电路、有源滤波积分器电路、反馈电阻、第一滤波电路和电流检测电阻;
所述自激方波振荡电路分别和所述第一滤波电路、所述有源滤波积分器电路、所述电流检测电阻、所述反馈电阻连接,所述第一滤波电路分别与所述反馈电阻、所述电流检测电阻连接,所述有源滤波积分器电路与所述反馈电阻连接,所述反馈电阻与所述电流检测电阻连接,所述电流检测电阻接地,所述自激方波振荡电路中包括具有第一匝数的激磁线圈,所述激磁线圈绕于一个闭合的磁环上,所述磁环上还包括具有第二匝数的原边线圈;
在所述漏电流检测电路连接待测设备时,所述自激方波振荡电路用于在所述激磁线圈上产生激磁线圈电流,所述激磁线圈电流流向所述电流检测电阻,并在所述电流检测电阻上产生第一电压,所述第一滤波电路用于对所述第一电压进行滤波提取直流分量,所述有源滤波积分器电路用于对所述直流分量进行积分,输出目标电压,所述目标电压施加在所述反馈电阻产生补偿电流,使得所述电流检测电阻上的电流和电压平均值为零,通过所述目标电压、所述第一匝数、所述第二匝数可计算得到所述原边线圈上流过的漏电流值;
其中,所述有源滤波积分器电路包括第二滤波电路和与反相积分器电路,所述第二滤波电路的第一端为所述有源滤波积分器电路的第一端,所述第二滤波电路的第二端连接所述反相积分器电路的第一端,所述反相积分器电路的第二端为所述有源滤波积分器电路的第二端,所述第二滤波电路用于对所述第一电压进行滤波,提取所述第一电压的直流分量。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,
所述自激方波振荡电路的第一端连接所述第一滤波电路的第一端,所述自激方波振荡电路的第二端为所述激磁线圈的第二端,所述自激方波振荡电路的第三端连接正电源,所述自激方波振荡电路的第四端连接负电源,所述激磁线圈的第二端分别连接所述有源滤波积分器电路的第一端和所述电流检测电阻的第一端,所述有源滤波积分器电路的第二端连接所述反馈电阻的第一端,所述电流检测电阻的第二端接地;
所述反馈电阻的第二端分别连接所述电流检测电阻的第一端和所述第一滤波电路的第二端,或者,所述磁环上还绕有补偿线圈,所述反馈电阻的第二端连接所述补偿线圈的第一端,所述补偿线圈的第二端接地。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,
所述自激方波振荡电路还包括比较器电路、稳压电路、功率放大电路,所述比较器电路一个输入端接地,另一个输入端连接所述第一滤波电路的第一端,所述比较器的输出端连接所述稳压电路的第一端和所述功率放大电路的第一端,所述稳压电路的第二端接地,所述稳压电路的第一端还连接所述功率放大电路的第一端,所述功率放大电路的第二端连接所述激磁线圈的第一端,所述功率放大电路的第三端连接正电源,所述功率放大电路的第四端连接负电源,所述激磁线圈的第二端分别连接所述有源滤波积分器电路的第一端和所述电流检测电阻的第一端,所述有源滤波积分器电路的第二端连接所述反馈电阻的第一端,所述反馈电阻的第二端分别连接所述电流检测电阻的第一端和所述第一滤波电路的第二端,所述电流检测电阻的第二端接地。
4.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,
所述第二滤波电路包括第七电阻和第二电容,所述第七电阻的第一端为所述第二滤波电路的第一端,所述第七电阻的第二端和所述第二电容的第二端,共同作为所述第二滤波电路的第二端。
5.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,
所述反相积分器电路包括第八电阻、放大器和第三电容,所述第八电阻的第一端作为所述反相积分器电路的第一端,所述第八电阻的第二端分别连接所述第三电容的第一端、所述放大器的第一输入端,所述第三电容的第二端连接所述放大器的输出端,所述放大器的第二输入端接地,所述放大器的输出端为所述反相积分器电路的第二端。
6.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,
所述比较器电路包括第一电阻、比较器、第二电阻和第三电阻,所述第一电阻的第一端接地,所述第一电阻的第二端分别连接所述比较器的第一输入端、所述第二电阻的第一端,所述比较器的第二输入端连接所述第一滤波电路,所述比较器的输出端连接所述第三电阻的第一端,所述第二电阻的第二端和所述第三电阻的第二端,共同作为所述比较器电路的输出端。
7.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,
所述功率放大电路包括第四电阻、第一三极管和第二三极管,所述第一三极管为NPN管,所述第二三极管为PNP管,所述第四电阻的第一端为所述功率放大电路的第一端,所述第四电阻的第二端分别连接所述第一三极管的基级、所述第二三极管的基级,所述第一三极管的集电极为所述自激方波振荡电路的第三端,所述第一三极管的发射机和所述第二三极管的发射极,共同作为所述功率放大电路的第二端,所述第二三极管的集电极为所述自激方波振荡电路的第四端。
8.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,
所述第一滤波电路包括第一电阻和第一电容,所述第一电阻的第一端和所述第一电容的第一端,共同作为所述第一滤波电路的第一端,所述第一电阻的第二端为所述第一滤波电路的第二端、所述第一电容的第二端接地。
9.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,
所述稳压电路包括第一稳压管和第二稳压管,所述第一稳压管的负极为所述稳压电路的第一端,所述第一稳压管的正极连接所述第二稳压管的正极,所述第二稳压管的负极为所述稳压电路的第二端。
CN201610046655.1A 2016-01-22 2016-01-22 一种漏电流检测电路 Active CN105652140B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610046655.1A CN105652140B (zh) 2016-01-22 2016-01-22 一种漏电流检测电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610046655.1A CN105652140B (zh) 2016-01-22 2016-01-22 一种漏电流检测电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105652140A CN105652140A (zh) 2016-06-08
CN105652140B true CN105652140B (zh) 2019-02-26

Family

ID=56484260

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610046655.1A Active CN105652140B (zh) 2016-01-22 2016-01-22 一种漏电流检测电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105652140B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6697745B2 (ja) * 2016-11-29 2020-05-27 パナソニックIpマネジメント株式会社 直流漏電検出装置、漏電検出装置
JP6900256B2 (ja) * 2017-06-30 2021-07-07 日置電機株式会社 電流検出装置および測定装置
CN109085410B (zh) * 2018-10-24 2023-09-05 深圳市艾华迪技术有限公司 一种自激型闭环磁通门电流传感器电路
CN117110693A (zh) * 2023-10-25 2023-11-24 南方电网科学研究院有限责任公司 一种自激型磁通门电流传感器、测量方法及电子设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101949987A (zh) * 2009-07-09 2011-01-19 株式会社田村制作所 磁通门漏电传感器
CN102680851A (zh) * 2012-05-30 2012-09-19 深圳市英威腾电气股份有限公司 一种漏电流检测方法及其装置
CN202770898U (zh) * 2012-09-14 2013-03-06 沈阳仪表科学研究院 高精度快响应直流漏电流传感器
CN205484631U (zh) * 2016-01-22 2016-08-17 深圳市艾华迪技术有限公司 一种漏电流检测电路

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003315374A (ja) * 2002-04-18 2003-11-06 Mitsubishi Electric Corp 直流漏電検出装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101949987A (zh) * 2009-07-09 2011-01-19 株式会社田村制作所 磁通门漏电传感器
CN102680851A (zh) * 2012-05-30 2012-09-19 深圳市英威腾电气股份有限公司 一种漏电流检测方法及其装置
CN202770898U (zh) * 2012-09-14 2013-03-06 沈阳仪表科学研究院 高精度快响应直流漏电流传感器
CN205484631U (zh) * 2016-01-22 2016-08-17 深圳市艾华迪技术有限公司 一种漏电流检测电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN105652140A (zh) 2016-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105652140B (zh) 一种漏电流检测电路
CN104931758B (zh) 直流剩余电流检测装置
CN100394199C (zh) 直流电流传感器
CN102680851B (zh) 一种漏电流检测方法及其装置
CN106771477B (zh) 大口径高灵敏度的高压直流电缆泄漏电流检测传感器
KR101329240B1 (ko) 플럭스 게이트 방식의 비접촉 전류 계측기
CN205484631U (zh) 一种漏电流检测电路
CN105304303B (zh) 一种精密交直流电流互感器
CN104934931A (zh) 剩余电流保护装置
CN210071931U (zh) B型剩余电流大小和种类自动检测装置
CN101949987A (zh) 磁通门漏电传感器
CN108169538A (zh) 磁通门电流传感器的多闭环控制电路
CN109085410A (zh) 一种自激型闭环磁通门电流传感器电路
CN105606963B (zh) 一种用于测量电缆泄漏高频电流的测试电路
CN102129059A (zh) 电流互感器校验用5ka零磁道式直流电流比较仪
CN112986654B (zh) 一种宽频带交直流的电流测量装置
CN108459193A (zh) 交变电流测量装置
CN110412336A (zh) 一种高精度电流传感器的检测探头
CN102072694B (zh) 电涡流式距离传感器
CN107979066A (zh) B型漏电断路器及其检测方法
CN105510673B (zh) 一种直流电流测量装置
CN203838223U (zh) 一种霍尔电流互感器
CN103364616A (zh) 一种反馈型磁隔离直流电流传感器
CN104614688B (zh) 用于直流偏磁动态磁通测量的c型传感器及其检测方法
CN110672916A (zh) 一种开启式数字化直流电流测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant