CN105628984A - 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法 - Google Patents

用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105628984A
CN105628984A CN201610181719.9A CN201610181719A CN105628984A CN 105628984 A CN105628984 A CN 105628984A CN 201610181719 A CN201610181719 A CN 201610181719A CN 105628984 A CN105628984 A CN 105628984A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pressure
laser diode
bar
fixed
single die
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610181719.9A
Other languages
English (en)
Inventor
孔金霞
祁琼
仲莉
井红旗
刘素平
马骁宇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Institute of Semiconductors of CAS
Original Assignee
Institute of Semiconductors of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institute of Semiconductors of CAS filed Critical Institute of Semiconductors of CAS
Priority to CN201610181719.9A priority Critical patent/CN105628984A/zh
Publication of CN105628984A publication Critical patent/CN105628984A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0425Test clips, e.g. for IC's

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

一种用于单管芯激光二极管的测试老化夹具,包括:一水座,其上表面有一个定位凹槽,该水座两端开有入水口和出水口;一底座,其上有施压片,施压片的一端有两个施压杆;一施压模块,其主体呈U形结构,施压模块主要由两部分组成,施压杆和固定杆,固定杆主体为U型结构,其上有操作杆和固定孔,施压杆由定位杆、横轴、横梁、压力作用杆、操作杆组成,定位杆通过底部的固定孔固定在水座上,定位杆上端开有通孔,用于支撑横轴,横轴用于支撑施压杆的横梁,横梁另一端开一U型槽,用于放置固定杆,横梁中部有一固定孔,用于放置压力作用杆,压力作用杆呈上端细,下端粗,细杆上固定一弹簧,弹簧的作用是施加压力时施压横梁可以下移到设定位置。

Description

用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法
技术领域
本发明涉及半导体激光二极管技术领域,具体来说是对封装在陶瓷过渡热沉或金属热沉上的单管芯激光二极管进行光电性能测试和老化的夹具。
背景技术
光电性能测试及寿命考核是研制半导体激光二极管过程中非常关键的一步,也是检验工艺过程是否合格的手段。大功率单管芯激光二极管应用非常广泛,比如用作泵浦源、材料加工、医疗设备、红外照明等。单管芯激光二极管体积小,尤其是直接烧结在陶瓷过渡热沉上的单管芯激光二极管体积更小,不方便固定,必须将其固定在经过特殊设计的夹具上方可进行性能测试和寿命考核。
发明内容
本发明的目的在于提供一种单管芯激光二极管的测试老化夹具,它适用于大功率单管芯激光二极管的光电性能检测和老化,该夹具方便灵活,结构简单,安全可靠,对器件的定位准确,固定牢靠,器件底部与夹具贴合紧密,可以提高长期老化的安全性和可靠性。
为了实现上述目的,本发明提供一种用于单管芯激光二极管的测试老化夹具,包括:
一水座,该水座上表面有一个定位凹槽,用于对单管芯激光二极管进行定位,该水座两端开有入水口和出水口;
一底座,该底座上有施压片,施压片的一端有两个施压杆,用于固定单管芯激光二极管并引出其正负极;
一施压模块,施压模块主体呈U形结构,施压模块主要由两部分组成,施压杆和固定杆,固定杆主体为U型结构,其上有操作杆和固定孔,施压杆由定位杆、横轴、横梁、压力作用杆、操作杆组成,定位杆通过底部的固定孔固定在水座上,定位杆上端开有通孔,用于支撑横轴,横轴用于支撑施压杆的横梁,横梁另一端开一U型槽,用于放置固定杆,横梁中部有一固定孔,用于放置压力作用杆,压力作用杆呈上端细,下端粗,细杆上固定一弹簧,弹簧的作用是施加压力时施压横梁可以下移到设定位置。
本发明还提供一种单管芯激光二极管测试老化夹具的使用方法,包括如下步骤:
首先,将待测试老化的单管芯激光二极管放入水座上的定位槽内,轻轻压下施压片,使施压杆底部与单管芯激光二极管的过渡热沉或热沉轻轻接触;
其次,右手轻握施压模块上的操作杆将横梁下压至压力作用杆与施压片紧密接触,然后左手轻握固定杆上的操作杆将固定杆移动至U型槽内压紧横梁;
最后,将水座的入水口和出水口与水冷机的循环水相连,即可对单管芯激光二极管进行测试或老化。
本发明的有益效果是,具有方便灵活,结构简单,安全可靠,对器件的定位准确,固定牢靠,器件底部与夹具贴合紧密,可以提高长期老化的安全性和可靠性。
附图说明
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明作进一步的详细说明,其中:
图1是采用过渡热沉或热沉封装的单管芯激光二极管结构示意图;
图2本发明中底座的结构示意图;
图3本发明中施压模块的结构示意图;
图4本发明用于单管芯激光二极管测试老化夹具组装后的结构示意图;
图5本发明用于单管芯激光二极管测试老化夹具组装后的结构示意图的左视图。
具体实施方式
请参阅图1至图5所示,本发明提供一种单管芯激光二极管测试老化夹具,用于单管芯激光二极管的测试及老化,所述单管芯激光二极管2包括(参见图1):一过渡热沉或热沉21,一单管芯激光二极管芯片22。
所述老化夹具包括:
水座1,其上表面有一个定位凹槽13,要求凹槽13底部和侧边尽量光滑平整,用于放置单管芯激光二极管2,放置单管芯激光二极管2时要让其底部、右侧和背光一侧与定位凹槽13的底部、右侧和内侧紧密想贴,以达到准确定位和充分散热的目的,水座1两端开有入水口11和出水口12,定位凹槽13下面是水道,水流从入水口11进入并布满整个待测或老化的激光二极管2底部平面并从出水口12流出。
底座3,底座3主体部分为L形件,其上有固定孔31,通过螺钉311将其固定在水座1上,所述底座3上有施压片34,施压片34的一端有两个施压杆33,用于固定单管芯激光二极管2,同时引出单管芯激光二极管2的正负极,施压片34的另一端的侧面有一固定孔,底座3上有定位杆36,所述定位杆36中部有一固定孔35,通过螺钉351将施压片34固定在定位杆36上,定位杆36底部有一固定孔37,用螺钉371将定位杆36固定在底座3底板上,底座3侧臂的两侧均开有一固定孔32,用于固定施压模块4的固定杆41。
施压模块4,施压模块4主要由两大部分组成,施压杆和固定杆41,固定杆41主体为U型结构,其底部有两个固定孔42,通过螺钉421将其固定在底座3的侧臂上,固定杆41主体的上部有一个操作杆43,方便抓握,施压杆主要由定位杆47、横轴45、横梁46、压力作用杆49、操作杆50组成,所述两根定位杆47底部有固定孔,用螺钉将其固定在水座1上,所述定位杆47上端开有通孔,用于支撑横轴45,横轴45用于支撑施压杆的横梁46,横梁46一端开有通孔,方便横轴45穿过,所述横梁46另一端开一U型槽51,用于放置固定杆41,防止固定杆41移位,所述横梁46中部有一固定孔44,用于放置压力作用杆49,所述压力作用杆49上端细,下端粗,上面细杆的中部有螺纹,螺母48固定在压力作用杆49上防止压力作用杆49脱落,压力作用杆49的细杆放入横梁46中的部分固定一弹簧,弹簧的作用是施加压力时横梁46可以下移到设定位置,横梁46上有一操作杆50,方便抓握。
请再参阅图1至图5所示,本发明单管芯激光二极管测试老化夹具的使用方法如下:
首先,将待测试老化的单管芯激光二极管2放入水座上的定位槽13内,轻轻压下施压片34,使施压杆33底部与单管芯激光二极管2的过渡热沉或热沉21轻轻接触。
其次,右手轻握施压模块4上的操作杆50将横梁46下压至压力作用杆49与施压片34紧密接触,然后左手轻握固定杆41上的操作杆43将固定杆41移动至U型槽51内压紧横梁46。
最后,将水座1的入水口11和出水口12与水冷机的循环水相连,即可对单管芯激光二极管2进行测试或老化。
所述的单管芯激光器测试老化夹具具有结构简单、加工容易、取放方便、安全可靠等特点,可以有效保证的单管芯激光器测试和老化。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步的详细说明,应理解的是,以上所述仅为本发明具体实施例,并不限于本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种用于单管芯激光二极管的测试老化夹具,包括:
一水座,该水座上表面有一个定位凹槽,用于对单管芯激光二极管进行定位,该水座两端开有入水口和出水口;
一底座,该底座上有施压片,施压片的一端有两个施压杆,用于固定单管芯激光二极管并引出其正负极;
一施压模块,施压模块主体呈U形结构,施压模块主要由两部分组成,施压杆和固定杆,固定杆主体为U型结构,其上有操作杆和固定孔,施压杆由定位杆、横轴、横梁、压力作用杆、操作杆组成,定位杆通过底部的固定孔固定在水座上,定位杆上端开有通孔,用于支撑横轴,横轴用于支撑施压杆的横梁,横梁另一端开一U型槽,用于放置固定杆,横梁中部有一固定孔,用于放置压力作用杆,压力作用杆呈上端细,下端粗,细杆上固定一弹簧,弹簧的作用是施加压力时施压横梁可以下移到设定位置。
2.如权利要求1所述的用于单管芯激光二极管的测试老化夹具,其中底座主体部分为L形;施压片的另一端的侧面有一固定孔,将其固定在底座主体上的定位杆上,定位杆底部有一固定孔,将其固定在底座主体上,底座侧臂的两侧均开有一固定孔。
3.如权利要求1所述的单管芯激光二极管测试老化夹具的使用方法如下:
首先,将待测试老化的单管芯激光二极管放入水座上的定位槽内,轻轻压下施压片,使施压杆底部与单管芯激光二极管的过渡热沉或热沉轻轻接触;
其次,右手轻握施压模块上的操作杆将横梁下压至压力作用杆与施压片紧密接触,然后左手轻握固定杆上的操作杆将固定杆移动至U型槽内压紧横梁;
最后,将水座的入水口和出水口与水冷机的循环水相连,即可对单管芯激光二极管进行测试或老化。
CN201610181719.9A 2016-03-28 2016-03-28 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法 Pending CN105628984A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610181719.9A CN105628984A (zh) 2016-03-28 2016-03-28 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610181719.9A CN105628984A (zh) 2016-03-28 2016-03-28 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105628984A true CN105628984A (zh) 2016-06-01

Family

ID=56044111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610181719.9A Pending CN105628984A (zh) 2016-03-28 2016-03-28 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105628984A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107643165A (zh) * 2017-11-06 2018-01-30 吉林省长光瑞思激光技术有限公司 一种线阵激光器老化检测装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1619899A (zh) * 2004-02-26 2005-05-25 惠州市中科光电有限公司 一种半导体激光器老化方法
JP2006153584A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 Chichibu Fuji Co Ltd 半導体パッケージ用エージングボード
CN102129022A (zh) * 2010-11-19 2011-07-20 无锡亮源激光技术有限公司 一种半导体激光器的测试和老化适配器
CN104166020A (zh) * 2014-08-26 2014-11-26 中国科学院半导体研究所 一种激光二极管测试老化夹具
CN104638510A (zh) * 2013-11-14 2015-05-20 山东浪潮华光光电子股份有限公司 一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1619899A (zh) * 2004-02-26 2005-05-25 惠州市中科光电有限公司 一种半导体激光器老化方法
JP2006153584A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 Chichibu Fuji Co Ltd 半導体パッケージ用エージングボード
CN102129022A (zh) * 2010-11-19 2011-07-20 无锡亮源激光技术有限公司 一种半导体激光器的测试和老化适配器
CN104638510A (zh) * 2013-11-14 2015-05-20 山东浪潮华光光电子股份有限公司 一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法
CN104166020A (zh) * 2014-08-26 2014-11-26 中国科学院半导体研究所 一种激光二极管测试老化夹具

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
TSO YEE FAN 等: "Diode Laser-Pumped Solid-state Lasers", 《JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS》 *
荣宝辉 等: "大功率半导体激光器加速寿命测试方法", 《封装、测试与设备》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107643165A (zh) * 2017-11-06 2018-01-30 吉林省长光瑞思激光技术有限公司 一种线阵激光器老化检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101897638B1 (ko) 반도체 소자의 전기적 특성 자동 측정용 고정밀 테스트 장치
CN113865835B (zh) 一种基于双积分球的芯片测试设备及测试方法
CN104638510B (zh) 一种半导体激光器堆栈小单元测试、老化的装置及方法
KR102108594B1 (ko) 시험기
CN107976618B (zh) 一种bga封装测试插座的工作方法
CN111948513A (zh) 一种芯片控温设备
CN105628984A (zh) 用于单管芯激光二极管测试老化夹具及使用方法
CN204514688U (zh) 一种电化学测试试样夹具
CN212434585U (zh) 封装芯片的开封装置
CN105699709A (zh) 单管芯激光二极管测试老化夹具
CN208333976U (zh) 食品检验用取样装置
CN207502694U (zh) 用于电池的内阻跳变值测试装置
JP2013024794A (ja) 半導体検査装置及び半導体検査方法
CN111458623B (zh) 一种半导体芯片的测试装置
JP2017026381A (ja) 検体採取管シール取り外し装置
CN108732482A (zh) 大功率igct器件测试夹具滑台定位机构
CN214125242U (zh) 太阳能电池测试装置
CN108680580A (zh) 一种全自动硅片检测分选装置
CN210835104U (zh) 一种电子材料导电性能测试装置
KR102700787B1 (ko) 디바이스 검사용 리드 장치
CN208477069U (zh) 大功率igct器件测试夹具滑台定位机构
CN216051411U (zh) 一种玻璃检测台
CN218674489U (zh) 一种测试装置
CN221805438U (zh) 一种半导体晶片盒的自动压合装置
CN221148732U (zh) 一种晶圆检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20160601