CN105628525A - Ic卡高速扭曲测试装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种IC卡高速扭曲测试装置和方法。该装置包括:四组IC卡测试装置和一个升降装置,每组测试装置由两个能双向转动的滚轮上下摆放,其中一个滚轮并以另一个滚轮的中心同心转动,使IC卡在传送过程中以滚轮外径弯曲变形实现了弯曲变形测试。其中中间两组测试装置根据弯曲量的多少由升降电机或和液压升降装置控制进行调节,使IC卡传输方向回到原方向。改变滚轮转动方向能实现IC卡逆向传送,该方案实现以偏移角度控制IC卡弯曲变形量,能进行一组四次或按四次的倍数次数的弯曲测试,两组设备联机可以同时实现IC卡双面弯曲测试,便于在收发卡设备中集成,适于IC卡批量自动化检测和弯曲疲劳测试。
Description
技术领域
本发明涉及IC卡(IntegratedCircuitCard,集成电路卡)测试技术领域,尤其涉及一种IC卡高速扭曲测试装置和方法。
背景技术
IC卡在我们的生活中使用越来越普遍,使用数量越来越大,但是在使用过程中,经常出现IC卡使用一段时间后不能继续使用的现象。对损坏后返回的IC卡进行分析,除去人为损坏的IC卡,大部分是芯片虚接、虚焊或线圈变形造成线与线之间虚接,造成IC卡使用一段时间后出现不能继续使用的现象。
目前,现有技术中的一种IC卡扭曲测试方法为:将IC卡放在两个卡槽中,通过两个卡槽之间距离变化强迫IC卡弯曲变形,弯曲测试设备卡槽之间距离变化的大小确定IC卡弯曲量的大小,卡弯曲量是两个固定不变的参数。
上述现有技术中的IC卡扭曲测试方法的缺点为:该测试方法测试数量少,测试误差大,测试效率低,并且是破坏性测试,测试后就不能在成为产品出厂。该方法对IC卡在生产过程中和出厂前进行抽样测试,能对批量生产的IC卡进行在线批量测试。
发明内容
本发明的实施例提供了一种IC卡高速扭曲测试装置和方法,以实现对IC卡进行有效的扭曲测试。
本发明提供了如下方案:
一种IC卡高速弯曲测试装置,包括:
四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降的升降装置,所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机,所述两个转动装置分别为定轮装置和动轮装置,所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机组成,所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。
所述各个测试装置之间的距离间隔相同。
所述偏转电机与所述动轮装置同心,所述偏转电机通过连接装置和所述动轮装置连接。
所述升降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的连接梁组成。
当所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动时,所述定轮圆轴顺时针转动,所述动轮圆轴逆时针转动;或者,所述定轮圆轴逆时针转动,所述动轮圆轴顺时针转动。
一种IC卡高速弯曲测试方法,包括:
将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之间的间隔中,所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动,利用摩擦力将所述IC卡向前移动,使所述IC卡依次经过各个测试装置;所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度做偏转运动,迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。
所述中间两个测试装置的升降高度H由相邻测试装置之间的距离L、定轮圆轴的半径r和设定的动轮偏转角度θ确定,
H=Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。
所述IC卡弯曲量v由所述定轮圆轴的半径r和所述动轮偏转角度θ确定,
所述的方法还包括:
将从左到右的4个测试装置分别称为第一个测试装置、第二个测试装置、第三个测试装置和第四个测试装置,当IC卡由左向右传输时,第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向右偏转设定的动轮偏转角度θ;
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动;
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向右偏转设定的动轮偏转角度θ,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动;
第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,不发生偏转。
当IC卡由右向左传输时,第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向左偏转设定的动轮偏转角度θ;
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动。
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向左偏转设定的动轮偏转角度θ,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动。
第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,不发生偏转。
所述的方法还包括:
将第一个IC卡高速弯曲测试装置正向安装,将第二个IC卡高速弯曲测试装置倒立反方向安装,将IC卡从左向右或者从右向左同时经过所述第一个IC卡高速弯曲测试装置和第二个IC卡高速弯曲测试装置,同时对所述IC卡进行双面弯曲测试。
由上述本发明的实施例提供的技术方案可以看出,本发明实施例的装置提供了一种能实现在生产中对IC卡进行在线测试和抽样数量大的IC卡进行弯曲疲劳压力测试,也能实现对小批量IC卡进行弯曲疲劳压力测试的测试方法,该方法测试方案灵活多变,实用性强,既能满足大批量IC卡生产在线进行弯曲测试,又能对抽样样卡进行弯曲疲劳压力测试。通过改变中间两个测试装置的升降高度H和动轮偏转角度θ实现改变IC卡的弯曲量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种IC卡高速扭曲测试装置的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的通过偏转电机的转动角度θ实现对IC卡弯曲量的改变的示意图;
图3为本发明实施例提供的中间两个测试装置的升降高度H的计算原理示意图。
具体实施方式
为便于对本发明实施例的理解,下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明,且各个实施例并不构成对本发明实施例的限定。
实施例一
本发明解决的问题是针对现有的IC卡弯曲测试方法的不足,提供一种能实现在生产中对IC卡进行在线测试和抽样数量大的IC卡进行弯曲疲劳压力测试,也能实现对小批量IC卡进行弯曲疲劳压力测试的测试方案。
本发明实施例的工作原理是:将两个转动装置组成一个测试装置,上述两个转动装置分别为定轮装置和动轮装置。本发明实施例提供的IC卡高速扭曲测试装置的结构示意图如图1所示,该装置包括:四个测试装置,一个使中间两个测试装置进行高度升降的升降装置。所述测试装置中的定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机组成,所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。
将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之间的间隔中,所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动,利用摩擦力将所述IC卡向前移动,使所述IC卡依次经过各个测试装置;所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度做偏转运动,迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。
动轮装置设置在定轮装置的外侧,定轮圆轴和动轮圆轴之间有能通过IC卡厚度的间隔,IC卡设置在定轮装置和动轮装置之间,动轮装置能自身转动,并且可以以半径R为中心、与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度做偏转运动。动轮装置转动压迫IC卡按定轮圆轴外径轮廓弯曲变形。IC卡弯曲后IC卡传输方向发生改变,经过多次弯曲传输后使传输方向又回到原来的初始方向。
在IC卡依次经过四个测试装置时,每个IC卡弯曲量相同。IC卡经过一个测试装置后,由于IC卡弯曲后IC卡传输方向发生改变,经过四个测试装置后,使IC卡的传输方向又回到原来的传输方向。每个测试装置之间的距离间隔相同,能保证IC卡弯曲量相等,并易于设计和生产。
每个测试装置有一个使动轮装置偏转的偏转电机,偏转电机通过连接装置与动轮装置连接,所述偏转电机与所述动轮装置同心。当定轮装置的圆轴半径r确定后,偏转电机的转动角度θ决定了IC卡弯曲量,本发明实施例提供的通过偏转电机的转动角度θ实现对IC卡弯曲量的改变的示意图如图2所示,上述转动角度θ由下述公式1计算:
公式1
上述公式1中的H为中间两个测试装置的升降高度,r为定轮圆轴的半径,每个带动动轮装置偏转的偏转电机与动轮装置同心,偏转电机通过连接装置使动轮装置以半径R为轨迹偏转。
测试装置的升降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的连接梁组成,升降电机或液压装置转动,进而通过升降杆、连接梁控制中间两个测试装置进行上升或下降。当中间两个测试装置之间的距离L和定轮圆轴的半径r确定后,偏转电机的转动角度θ决定了中间两个测试装置的升降高度H的计算原理示意图如图3所示,升降高度H由下述公式2计算:
H=Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]公式2
实施例二
基于上述图1所示的IC卡高速扭曲测试装置,本发明实施例的IC卡高速弯曲测试方法的处理过程包括:
本发明实施例将图1中从左到右的4个测试装置分别称为第一个测试装置、第二个测试装置、第三个测试装置和第四个测试装置。定轮装置和动轮装置的转动方向由IC卡传输方向确定,下面分别以IC卡的两个传输方向来说明:
1:当IC卡由左向右传输时,第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向右偏转到上述公式1计算出的角度。
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动。
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向右偏转到上述公式1计算出的角度,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动。
第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,不发生偏转。
利用动轮装置转动的圆轴迫使IC卡按定轮装置的圆轴的轮廓形状弯曲,同时定轮圆轴和动轮转动利用摩擦力将IC卡移动,第一个测试装置的偏转电机将动轮装置按IC卡的弯曲量从初始位置向右偏移到θ角位置后停止不动,第三个测试装置的偏转电机将动轮装置按IC卡的弯曲量从初始位置向右偏移到θ角位置后停止不动,升降装置将第二个和第三个测试装置升到上述公式2计算出的H值位置,设备就可正常运转工作,IC卡在传输线上即进行了流水传输,并进行了四次弯曲试验。
2:当IC卡由右向左传输时,第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向左偏转到上述公式1计算出的角度。
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动。
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向左偏转到上述公式1计算出的角度,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动。
第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,不发生偏转。
实施例三
实施例提供一种IC卡大批量抽样进行弯曲试验的测试方法,见图1。该方法同实施例二基本相同,只是在设备两端应有IC卡收发盒。设备运转第一遍是同实施例二,将IC卡从左边移动到右边,然后第一个和第三个偏转电机将第一个与第三个的动轮装置回到初始位置,第二个和第三个偏转电机将动轮装置向左偏转到θ角位置,所有传送电机反向转动,实现了IC卡从右向左传输。如此反复N次,实现了IC卡N×4次的弯曲实验和测试。
测试停止后将卡盒中的IC卡翻面从新放入卡盒中即可进行另一面的测试。
该实施例还提供了一种对IC卡进行双面弯曲疲劳压力测试方法。该方法将第一个IC卡高速弯曲测试装置正向安装,将第二个IC卡高速弯曲测试装置倒立反方向安装,将IC卡从左向右或者从右向左同时经过所述第一个IC卡高速弯曲测试装置和第二个IC卡高速弯曲测试装置,同时对所述IC卡进行双面弯曲测试。
综上所述,本发明实施例的装置提供了一种能实现在生产中对IC卡进行在线测试和抽样数量大的IC卡进行弯曲疲劳压力测试,也能实现对小批量IC卡进行弯曲疲劳压力测试的测试方法,该方法测试方案灵活多变,实用性强,既能满足大批量IC卡生产在线进行弯曲测试,又能对抽样样卡进行弯曲疲劳压力测试。通过改变中间两个测试装置的升降高度H和动轮偏转角度θ实现改变IC卡的弯曲量。
本发明实施例的装置适应性:即能单独实现IC卡弯曲测试设备,又能易于与其它IC卡设备集成;成本低,用该方法生产制造设备的零配件易于制造和加工,测试费用少;生产测试效率高,能对IC卡进行批量测试,大幅度提高了生产测试效率;自动化程度高,用该方法生产制造设备自动化程度高。
本领域普通技术人员可以理解:附图只是一个实施例的示意图,附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。
通过以上的实施方式的描述可知,本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置或系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及系统实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (11)
1.一种IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,包括:
四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降的升降装置,所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机,所述两个转动装置分别为定轮装置和动轮装置,所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机组成,所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。
2.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,所述各个测试装置之间的距离间隔相同。
3.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,所述偏转电机与所述动轮装置同心,所述偏转电机通过连接装置和所述动轮装置连接。
4.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,所述升降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的连接梁组成。
5.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,当所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动时,所述定轮圆轴顺时针转动,所述动轮圆轴逆时针转动;或者,所述定轮圆轴逆时针转动,所述动轮圆轴顺时针转动。
6.一种基于权利要求1至5任一项所述的装置的IC卡高速弯曲测试方法,其特征在于,包括:
将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之间的间隔中,所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动,利用摩擦力将所述IC卡向前移动,使所述IC卡依次经过各个测试装置;所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度做偏转运动,迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述中间两个测试装置的升降高度H由相邻测试装置之间的距离L、定轮圆轴的半径r和设定的动轮偏转角度θ确定,
H=Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述IC卡弯曲量v由所述定轮圆轴的半径r和所述动轮偏转角度θ确定,
9.根据权利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,所述的方法还包括:
将从左到右的4个测试装置分别称为第一个测试装置、第二个测试装置、第三个测试装置和第四个测试装置,当IC卡由左向右传输时,第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向右偏转设定的动轮偏转角度θ;
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动;
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向右偏转设定的动轮偏转角度θ,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动;
第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,不发生偏转。
10.根据权利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,当IC卡由右向左传输时,第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向左偏转设定的动轮偏转角度θ;
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动。
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向左偏转设定的动轮偏转角度θ,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动。
第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,不发生偏转。
11.根据权利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,所述的方法还包括:
将第一个IC卡高速弯曲测试装置正向安装,将第二个IC卡高速弯曲测试装置倒立反方向安装,将IC卡从左向右或者从右向左同时经过所述第一个IC卡高速弯曲测试装置和第二个IC卡高速弯曲测试装置,同时对所述IC卡进行双面弯曲测试。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160601 |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |