CN1055559C

CN1055559C - 光盘装置

Info

Publication number: CN1055559C
Application number: CN96110534A
Authority: CN
Inventors: 相马康人; 芝野正行
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1995-07-07
Filing date: 1996-07-08
Publication date: 2000-08-16
Anticipated expiration: 2016-07-08
Also published as: CN1147126A

Abstract

一种把数据记录到光盘或从光盘重现数据的光盘装置，该光盘含有由凹坑沿轨迹记录数据的坑型区和沿轨迹形成记录数据的槽的槽型区。光盘装置包括：光盘头(104)，用于投射光束到光盘上；和光检测器阵列(119)，用于接收反射光。预放大器(107)被连接到光检测器阵列，用于产生跟踪误差信号和表征凹坑的RF信号。跟踪误差信号在触发器(204，205)中用作时钟信号而RF信号用作起始设定信号，以便触发器(205)产生指示光盘头处在坑型区的信号。

Description

光盘装置

本发明是关于用于对光盘进行录/放数据的光盘装置，光盘具有通过凹抗进行记录的坑型区和通过诸如克尔效应变化的表面物理变化进行记录的槽型区。

例如，在美国专利No.4999825中提出了具有槽的光盘，表示在图7(A)中。如图7(A)所示，所提出的光盘具有坑型区101A和槽型区101B，坑型区101A中的轨迹由坑P构成，而槽型区101B中的轨迹由槽G构成，其中，为记录用于小型光盘的8到14调制编码(EFM-Coded)的数据提出诸如克尔效应变化标记的表面标记。

众所周知，在光盘的最内周缘设置控制区，以便储存控制数据。利用在光盘的预定位置(例如，在最内周缘)的凸式和凹式坑来记录所述控制数据。因此，通常在坑型区101A形成控制区。除了控制区以外，设置使用户能记录数据的记录区。通常在槽型区101B形成记录区。控制区内的控制数据包括：指示记录区开始点的地址；指示记录UTOC(用户内容表格)(下文称为UTOC区域)区的开始点的地址；指示记录用户数据区域的标题的地址；记录时推荐的光强度等等。

如果坑的宽度窄于轨迹间距的一半，而槽的宽度宽于轨迹间距的一半，那么，跟踪误差信号的极性会在坑型区101A和槽型101B之间反转，如图7(B)中所示。

在坑型区101A的情况下，如果射束点向光盘的外侧偏离轨迹，那么，跟踪误差信号TE变成大于0并保持正值，而如果射束点向光盘的内侧偏离轨迹，那么，跟踪误差信号TE变为小于0并且保持负值。

然而，在槽型区101B的情况下，如果射束点向光盘的外侧偏离轨迹，那么，跟踪误差信号TE变成小于0并且保持负极，而如果射束点向光盘内侧偏离轨迹，那么，跟踪误差信号TE变成大于0并保持正值。

上面的误差信号的极性反转会引起不正确的伺服控制。因为，为了解决这个问题，例如普通光盘装置已能够通过读出地址数据的方法来测定射束点正照射在二个区域(坑型区和槽型区)中的哪一个区域，从而确定与该区域相应的跟踪误差信号的极性。然而，光盘装置的这种安排有一个问题：地址数据并不总能快速读出，因为，必须区分二种不能立即读出地址的情况。第一种情况是未正确地实行跟踪伺服(因此要求反转跟踪误差信号的极性)，第二种情况是光盘有缺陷或故障或者由外来物污染(不要求反转跟踪误差信号的极性)。结果，光盘装置不能以高速度进行。

当记录整个光盘的控制信号的坑型区和UTOC区域分别处于光盘的最内周缘的附近和光盘的接近所述坑型区的内周缘部分时，上面讨论的问题就引起特别的注意。开始时，光盘装置读出整个光盘的控制数据和UTOC的目录，以便用户进行准备操作。要求该装置进行下面的程序步骤才能在读出控制数据后读出UTOC：1)把光盘头移到记录控制数据的光盘内圆周区；2)读出控制数据；3)根据控制数据中UTOC区域的标题的地址把光盘头移到槽型区；4)反转跟踪误差信号的极性；5)执行伺服跟踪并读出地址；6)访问UTOC区域的标题。因为，除非确实使光盘头位于槽型区、跟踪伺服是不能正确地执行的，因此，普通光盘装置已经设计成能把光盘头移动到比由控制数据内UTOC区域的标题的地址指定的位置更靠外的很小范围内。因此，在普通装置中不能减小在上面的步骤3)和6)中光盘头的移动距离，结果，启开该装置就要花费时间。

因此，本发明的目的是提供在启动跟踪伺服以前能确切地识别光盘的坑型区和槽型区的光盘装置。

为了达到上述目的，用于把数据记录到光盘或从光盘重现数据的光盘装置的光盘具有沿着轨迹通过坑记录数据的坑型区和沿着轨迹构成槽以便记录数据的槽型区，所述光盘装置包括：盘光头装置，它把光束投射到所述光盘并根据从光盘反射的光产生电信号；第一发生装置，用于基于所述电信号产生视频(RF)信号，所述RF信号表征所述坑；第二发生装置，用于产生跟踪误差信号，后者是基于所述电信号产生的波动信号并且每个波代表横过所述轨迹；时钟产生装置，用于使用所述波动信号产生时钟信号；检测装置用于检测所述RF信号并且产生指示RF信号存在的RF检测信号；以及区域检测装置，用于接收所述时钟信号和所述RF信号，并且当所述光盘头装置横过预定数目的轨迹时产生坑型区检测信号。

用上述的本发明的光盘装置，即使当光束横过各轨迹时，也能稳定地进行坑型区和槽型区之间的区分或识别。当具有坑型区和槽型区的光盘在该光盘装置上记录或再现数据时，由于上述的稳定的区别坑型区和槽型区的缘故，达到了按区域的最佳的跟踪伺服。而且，能高速稳定地访问二种区域的边界附近。

从下面结合最佳实施例并参考附图所进行的描述，本发明的上述和其他目的和特征将一清二楚。所有附图中，相同的部分标以相同的标号，并且，其中：

图1是按照本发明的第一实施例的光盘装置的方块图；

图2是图1中所示的预放大器和坑型区检测电路的详细方块图；

图3(A)、3(B)、3(C)、3(D)、3(E)、3(F)和3(G)是在图1和图2线路中不同点观察的波形图；

图4是表示由图1所示的系统控制器执行的步骤的流程图；

图5是按照本发明的第二实施例的光盘装置的方块图；

图6是表示由图5所示的系统控制器执行的步骤的流程图；

图7(A)、7(B)和7(C)是表示坑型区和槽型区的结构的图。

下面将参考图1-4描述按照本发明第一实施例的光盘装置起始时间的操作。

图1是按本发明的第一实施例的光盘装置的方块图。如图7(A)所示，光盘101具有从其内圆周看到的坑型区101A和槽型区101B。UTOC区分配在槽型101B的最内圆周的附近。由马达驱动电路103驱动并运转的主轴马达使光盘101旋转。光盘头104具有：用于会聚光束的透镜108，用于在光盘头104内径向移动透镜作为微调的跟踪调节器117，以及用于把从光盘反射的光转变成电信号的光检测器阵列119。由横移驱动电路106驱动的横移机构105使光盘头104径向移动。预放大器107加或者减去从光盘头104内的光检测器阵列119输出的信号，从而产生和输出跟踪误差信号TE(C)或RF信号(A)。

参考图2，图中示出光检测器阵列119和预放大器107的细节。光测器阵列119有八个光检测元件P1，P2，P3，P4，P5，P6，P7和P8。在跟踪方向的前和后位置分别设置元件P1和P2，在跟踪方向的两侧分别设置元件P3和P4。中心部分设置其他元件P5，P6，P7和P8。预放大器107具有加法器107a和减法器107b。三束光从光盘反射且照射到光检测器阵列119上。加法器107a把从P3和P4得到的信号相加，从而产生与RF信号(A)相同的和信号P3+P4。减法器107b从来自元件P1的信号中减去来自元件P2的信号，从而产生与跟踪误差信号(C)相同的差信号P1-P2。

参考图1，跟踪误差信号被TE反向电路108反转，即，乘-1。TE开关电路109在接收反转的跟踪误差信号的实线位置和接收非返转跟踪误差信号的虚线位置之间转换，并且把信号输入到TR环形滤波器110。输入到TR环形滤波器的信号受到相位补偿，解释如下：

当加到TR环形滤波器110的信号为正信号(+信号)时，环形滤波器110产生正驱动信号给跟踪调节器117，从而使光盘头104内的透镜118向光盘内测漂移。

另一方面，当加到环形滤波器110的信号为负信号(-信号)时，环形滤波器110产生负驱动信号给跟踪调节器117，从而使光盘头104内的透镜118向光盘外侧漂移。其漂移程度正比于跟踪驱动信号的幅值，即，正比于跟踪误差信号的幅值。

当光盘头104处于坑型101A时，开关电路109应该转到虚线位置，而当光盘头104处于槽型区101B时，开关电路109应该转向实线位置。这进一步说明如下：

在坑型区101A的情况下，开关电路109转向虚线位置。如图7(B)所示，当光盘头104偏离轨迹向光盘外侧偏离时(外偏离轨迹状态)，跟踪误差信号从零电平变为正电平。因为开关电路109处于虚线位置，TR环形滤波器101产生正驱动信号加到跟踪调节器117，从而使光盘头104内的透镜118向光盘的内侧漂移。因此，光盘头104返回到轨迹的中心(在轨迹状态)，如图7(C)所示。当光盘头104出现偏离并落入内偏离轨迹的状态时，跟踪误差信号就从零电平变为负电平。因此，TR环形滤波器110产生负驱动信号加到跟踪调节器117，从而使光盘头104内的透镜118向光盘外侧漂移。因此，光盘头104就返回到在轨迹状态。

另一方面，在槽型区101B的情况下，开关电路109转到实线位置。如图7(B)所示，当光盘头104出现偏离并落入外偏离轨迹的状态时，跟踪误差信号从零电平变为负电平，但被倒相器108变为正电平。因此，TR环形滤波器110产生正驱动信号加到跟踪调节器117，从而使光盘光104内的透镜118向光盘的内侧漂移。因此，光盘头104返回到在轨迹状态，如图7(C)所示。当光盘头104出现偏离并落入内偏离轨迹的状态时，跟踪误差信号从零电平变为正电平，但被倒相器108改变为负电平。因此，TR环形滤波器110产生负驱动信号加到跟踪调节器117，从而使光盘头104内的透镜118向光盘的外侧移动，因此，光盘头104返回在轨迹状态。

开关电路109由能检测出光盘头104是处于坑型区101A或处于槽型区101B的系统控制器112控制转换。

开关116连接到TR环形滤波器110的输出端，当开关116转换到实线位置时，TR环形滤波器110的输出被连接到跟踪调节器117。当开关116转换到虚线位置时，TR环形滤波器110和跟踪调节器117的连接断开，并且到跟踪调节器117的输入端被接地。当光盘头104跟随轨迹时，(即，处于播放或记录方式)开关116转换到实线，但当光盘头104横过轨道时(即处于搜索方式)开关116转换到虚线位置。

把跟踪误差信号(C)和RF信号(A)输入到坑型区检测线路111，后者产生坑检测信号(F)。系统控制器112接收坑检测信号(F)，并且，控制TE开关电路109，横移驱动电路106和主轴驱动电路103。

图2表示坑型区检测电路111的详图，该电路包括：RF检测电路201，比较器202；分频器203；触发器204和205。当光盘头104不跟随轨迹，而是在横移驱动器106或者在后面将联系图5和6说明的强制横移驱动器501的促使下横过轨迹时，坑型区检测电路111工作。

RF检测电路201具有高通滤波器201a，包络检测器201b和比较器201c。高通滤波器201a接收RF信号(A)(图3(A))，当光盘头104在坑型区101A时就产生以正弦曲线逐渐变化的RF信号，而当光盘头104在槽型区101B时则产生低频正弦曲线。

换句话说，因为当不实行跟踪伺服时，例如，在访问时间或类似情况，轨迹与光束的相对位置不固定，因此，RF信号的幅值变化就如图3(A)所示。RF信号包括在坑型区101A的高频分量，因为那里的坑在轨迹部分呈现大幅值，而在偏离轨迹部分呈现小幅值。同时，在槽型区101B不存在凹坑时RF信号不包括高频分量，但相应地每次横过一条轨道而出现高和低变化。

高通滤波器201a删除低频分量，包络检波器201B检出高频信号的包络曲线。因此，比较器201c把包络曲线与预定阀值相比较，从而在坑型区产生脉冲信号，而在槽型区没有脉冲信号，正如图3(B)所示。图3(B)表示的信号称为RF检测信号。当光盘头104在轨迹上横移时，在坑型区101AR RF检测信号表示出“高”电平信号。比较器202接收如图3(C)所示的跟踪误差信号。这里，因为光盘头104横过轨迹的缘故，跟踪误差信号是正弦曲线。比较器202把跟踪误差信号与预定阀值相比较，产生相应于每一轨迹的脉冲(图3(D))。所述阈值信号可以备有迟滞性以防抖动。图3(D)所示的信号称为轨迹交叉信号。分频器203把轨迹交叉信号的频率分成半频率。

触发器204具有接收RF检测信号的设定端子。当该设定端子的信号是“高”电平信号时，即使当把时钟信号加到时钟端子CK上时，触发器204的Q输出端也总是产生“高”电平信号。当设定端子的信号为“低”电平信号时，Q输出端保持已经产生的信号，但响应加到时钟端子CK的时钟信号的每个上升边缘而变化到加到数据输入端D的信号，在这种情况下该信号为低电平信号。时钟信号是分频器203的输出信号。因此，如图3(F)所示，当光盘头104处在坑型区时，触发器204的Q输出端产生“高”电平信号，但是响应槽型区的时钟信号(图3(E))的第一个上升边缘而变成“低”电平信号。

触发器205具有接收触发器204的Q输出信号的数据输入端D和接收来自分频器203的输出信号的时钟输入端CK。响应所述时钟信号的上升边缘，Q输出变化到数据输入端的信号。因此，如图3(G)所示，当触发器204的Q输出端产生“高”电平信号时，触发器205的Q输出端也产生高电平信号，但是响应槽型区时钟信号的第二上升边缘(图3(E))而变化到“低”电平信号。

光盘头104通常称为光盘头装置；比较器202和分解器203称为时钟发生装置，用于产生与横移过的轨迹有关的时钟信号；预放大器107称为RF信号发生装置；RF检测电路201称为RF检测装置；以及包含D触发器204和205的电路称为坑型区检测装置。

图4表示由第一实施例的系统控制器112执行的步骤的流程图。

工作时，首先将开关109转到虚线位置，并且将开关116转到虚线位置(步400)。然后主轴驱动电路103转动光盘101，同时，横移驱动电路106使光盘头104向光盘的内圆周方向移动(步401)，直到检测开关115接通为止(步402)。提前调节所述检测开关，使得当使光盘头到达能读出控制数据的位置时所述开关接通。然后，开关116转到实线位置(步403a)，为跟踪控制做准备。

当主轴驱动电路103驱动主轴马达105，接着光盘101以预定转速旋转时，系统控制器112开始聚焦/跟踪伺服，以便读出坑型区101A记录的控制数据(步403b)。在完成读控制数据以后，由于把开关116转到虚线位置，系统控制器112与跟踪伺服不相干(步403c)。然后，横移驱动电路106把光盘头104向外边缘移动(步404)，直到坑检测信号图3(G)变成低电平信号为止(步405)。

如上所述，在坑型区101A中坑检测信号为高电平信号，而当光盘头104进入槽型区101B变成低电平信号。因此，如果响应坑检测信号从高电平信号到低电平信号而使光盘头停止下来，那么，光盘头104能定位在坑型区101A和槽型区101B之间的边界近邻，即，在UTOC区的近邻。当光盘头停止时，开关109转变以实线位置(步406)，以便返转跟踪误差信号的极性，并且开关116也转到实线位置(步406)，以便开始跟踪伺服。最后进入UTOC区，并读出UTOC数据。

按照本发明，为了访问UTCO区，光盘头104不必向外圆周移动一段长距离，因此进入UTCO区就能在很短的时间的完成。这样开始启动必需的时间就能缩短，因此在能开始使用光盘以前，用户不必等待很长时间。

另外，即使跟踪伺服失效，也能稳定地得到坑检测信号，以稳定光盘装置的工作。而且，如果省略分频器202，那么，能够在每条轨迹上得到坑检测信号。在这种情况下，为了访问UTCO区，不必考虑光盘头横过二条轨迹的距离。因而，初始建立时间进一步缩短，光盘装置能在高速度下工作。

下面考虑光束为检测坑型区横过轨迹时的横移速度。上述坑型区检测电路111借助于轨迹交叉信号而得到横过的轨迹数目，以便检测坑型区。轨迹交叉信号是跟踪误差信号的二元信号，在零交叉点附近，如果移动速度减慢并且如果在比较器中发生抖动，那么，比较器输出的信号中常伴有毛刺状的的噪声信号。例如，在通过横移机构105而使光盘头104径向移动的同时读出坑检测信号是没有问题，如第一实施例中那样，但是，当光盘头停在光盘的中央位置并且当它终于必须辨别坑型区或槽型区时，问题就出现了。图5是计划消除这一问题的光盘装置的方块图。

参考图5和图6讨论第二实施例。

当与图1的实施例相比较时，图5所示实施例有如下不同点：设置一个强制型TR驱动电路501，它由诸如用于产生+V_C和-V_C的固定电源构成。提供开关502，用于选择性地进入三种位置中的一种：用于连接到TR环形滤波器110的实线位置；用于连接到地的虚线位置；以及用于连接到强制型TR驱动电路501的点划线位置。开关502的输出连接到跟踪调节器117。

当开关502处于点划线位置时，固定电压+V_C加到跟踪调节器117，用于使透镜118以由电压+V_C决定的速度向光盘的内侧移动。这样，光束强制横过轨迹，以便通过坑型区检测器111进行区域检测。当强制型TR驱动电路501保持固定电压-V_C而不是+V_C时，跟踪调节器117使透镜118向光盘的外侧移动，能得到相同的结果。

系统控制器503控制横移驱动电路106，TE开关电路109，以及TR驱动信号开关电路502。

图6是表示第二实施例的光盘装置的操作的流程图。

光盘头104中的物镜通常称为聚光装置；光盘头中的跟踪调节器称为跟踪调节装置；强制型TR驱动电路501称为强制型TR驱动装置；以及系统控制器503称为控制装置。

在其读出坑检测信号以前，系统控制器503使开关电路502转到点划线位置(步601)，以便把强制型TR驱动电路501与跟踪调节器117连接。从强制型TR驱动电路501输出的强制驱动信号，如+V_C，被加到光盘头104中的跟踪调节器117，以使物镜以相当高的速度径向移动(例如，5KHz的横向往返运动频率)。当物镜移动时，坑型区检测器111产生坑检测信号(步602)。然后开关502返回到实线位置，以把TR环形滤波器110与跟踪调节器117相连接。

在上述方法中，当读出检测信号时，强迫物镜径向移动，就能检测出坑型区，去除在轨迹交叉信号中的零交叉点近邻噪声的影响。

从强制型TR驱动电路501产生的强制驱动信号最好为所述跟踪调节器的一次谐波频率或较低频率的正弦信号，代替±V_C。如果应用上述频率的信号，就能消除由强制驱动信号的影响引起的透镜的振动。后来的工作快速和稳定地进行。不用说，另一种方法是加脉冲形状的电压。

当在第一实施例中每隔一条横过的轨迹检测坑型区时，希望按照偏心率的估算来设定分频器203的分割率。例如在具有轨迹间距为1.6微米，偏心量为100微米的情况下，分割率设定在不小于63(100/1.6＝62.5)。因此，在跟踪伺服完善之前，在读出坑检测信号从后，由于所述偏心目率的缘故，避免了光束从槽型区101B移动到坑型区101A。

虽然在第一和第二实施例中轨迹交叉信号用于检测横过的轨迹数目，但是，可以使用由高频信号的二元包络信号得到的信号等，即可以使用指示光束横过的轨迹数目的任何信号。

此外，虽然在第一和第二实施例中每隔一条横过的轨迹检测坑型区101A，但是，每隔任意横过的轨迹数目来检坑型区也是可以的。另外，横过的轨迹数目可以不是固定值，而可以按照RF检测信号或轨迹交叉信号的参量变化。例如，当光盘头104在坑型区101A径向移动时，监测RF检测信号和轨道交叉信号，以检测当横过轨迹时RF检测信号变化的次数。然后，根据检测到的次数确定区域检测时横过的轨迹数目。如果横过的速度很高，那么就可以减少用于区域检测的横过的轨迹数目；如果RF信号的幅值低，则增加用于区域检测的横过的轨迹数目。

按照第一和第二实施例，可以省去包络电路201b，而根据从RF信号中提取的高频分量来检测RF检测信号，或者，可以采用其他方法。

在上述第一和第二实施例是这样安排的，使得在检测坑型区时，产生高电平信号。而这样安排也是可以的，即，使得当检测坑型区时产生低电平信号。

在第一和第二实施例中涉及的光盘分别在其内圆周部分和外圆周部分有坑型区和槽型区。即使使用分别在其外圆周部分和内圆周部分具有坑型区和槽型区的光盘，或者使用具有多个坑型区和多个槽型区的光盘也能得到相同的效果。

第一实施例描述了坑型区检测电路的例子。所述电路是可以改变的，只要该电电适合于根据光束横过的轨迹数目来判断RT信号中存在/不存在高频分量。例如，RF信号能锁定在轨迹交叉信号的上升边缘，如果锁定的结果在高电平，那么，坑型检测信号就转变到高电平。或者，RF信号由轨迹交叉信号锁定预定的次数，而根据锁定结果为高电平时的所述预定的次数来检测坑型区。能够得到和第一实施例中相同的效果。

在第二实施例中，在读出坑检测信号后，开关502被转换到TR环形滤波器101。甚至当使开关502选择其他状态，例如，没有驱动信号的状态或者类似的状态，以及在读出坑检测信号之后使开关502进入其他状态，也能达到本发明的像上面一样的效果。

如上所述，当光盘具有坑型区和槽型区二种区域时，按照本发明能检测出坑型区和槽型区，所以保证了稳定的跟踪伺服。而且，按照本发明的光盘装置，能高速地进行对UTCO区的访问。

虽然已结合最佳实施例并参考附图对本发明进行了充分的描述，也应注意到，对本专业的普通技术人员来说，不同的变化和修改是很明显的。这种变化和修改应理解为包含在如权利要求书中所限定的本发明的范围内，除非它们越出该范围。

Claims

1.一种用于把数据记录到光盘或从光盘重现数据的光盘装置，所述光盘含有由凹坑沿轨迹记录数据的坑型区和沿轨迹形成用于记录数据的槽的槽型区，其特征在于所述光盘装置包括：

光盘头装置(104)，用于投射光束到所述光盘并根据从光盘反射的光产生电信号，

第一发生装置(107a)，用于基于所述电信号产生RF信号，所述RF信号表征所述凹坑，

第二发生装置(107b)，用于基于所述电信号而产生波动信号并且每一个波代表横过所述轨迹，

时钟产生装置(202，203)，用于使用所述波动信号产生时钟信号，

检测装置(201)，用于检测所述RF信号并且产生指示所述RF信号存在的RF检测信号，以及

区域检测装置(204，205)，用于接收所述时钟信号和所述RF信号，并且当所述光盘头装置(104)横过预定数目的轨迹时产生坑型区检测信号。

2.按照权利要求1的光盘装置，其特征在于所述光盘头包括径向移动光束源的跟踪调节装置(117)。

3.按照权利要求2的光盘装置，其特征在于进一步包含环形滤波装置(110)，用于接收所述波动信号作为跟踪误差信号和用于产生驱动信号，以便驱动所述跟踪调节装置，从而把所述光束保持在所述轨道上。

4.按照权利要求3的光盘装置，其特征在于所述坑型区检测信号用于在所述坑型区内的跟踪误差信号与所述槽型区的跟踪误差信号之间改变所述跟踪误差信号的极性。

5.按照如权利要求3的光盘装置，其特征在于进一步包括断路装置(116)，用于当所述光束横过轨迹时把所述跟踪调节装置(117)，与所述环形滤波装置(110)断开。

6.按照权利要求2的光盘装置，其特征在于进一步包括强制型跟踪装置驱动(501)，用于产生加到所述跟踪调节装置(117)的强制信号，以便强迫光束横过轨迹。

7.按照权利要求1的光盘装置，其特征在于所述轨迹预定数目大于光盘的偏心量复盖的轨迹数目。