CN105551415B - 显示装置和控制装置 - Google Patents

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Abstract

显示装置和控制装置。本发明提供了一种显示装置，该显示装置包括：显示面板，其包括数据线、选通线、形成在所述选通线和所述数据线交叉的每个点中的子像素以及形成在每个子像素行或者每两个或更多个子像素行中的感测线，所述感测线连接到所述子像素行中的电路；数据驱动单元，其向所述数据线提供数据电压；模拟数字转换器ADC，其将通过与各个感测线对应的感测通道测量的感测电压转换为数字类型的感测数据；以及定时控制器，其控制所述数据驱动单元，并且执行基于所述感测数据改变提供给对应子像素的数据的像素补偿，并且当所述感测数据异常时，该定时控制器基于先前感测数据改变提供给所述对应子像素的数据。

Description

显示装置和控制装置
技术领域
本发明涉及显示图像的显示装置。
背景技术
随着信息社会的发展，越来越需要各种形式的用于显示图像的显示装置，近年来，已使用诸如液晶显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)和有机发光二极管(OLED) 显示装置的各种显示装置。
显示装置包括显示面板、数据驱动单元和选通驱动单元。显示面板包括数据线和选通线，像素被限定在数据线和选通线相交的各个点处。数据驱动单元向数据线提供数据信号。选通驱动单元向选通线提供扫描信号。
晶体管被设置在显示面板中限定的各个子像素处。可以改变各个子像素中的晶体管的特性值，或者可能生成各个子像素中的晶体管的特性值的偏差。并且，当显示装置是OLED显示装置时，可能生成各个子像素中的OLED的劣化的偏差。这种现象可能产生子像素之间的亮度不均匀性，并且可能使显示质量劣化。
因而，为了解决子像素之间的亮度不均匀性，提出了一种用于对电路中的元件(例如，薄膜晶体管和OLED)的特性值改变或特性值偏移进行补偿的像素补偿技术。
像素补偿技术是一种感测子像素中的电路的特定节点，利用感测的结果改变提供给各个子像素的数据，进而防止或减少子像素的亮度不均匀性的技术。
尽管正在提供根据现有技术的像素补偿技术，仍然产生没有进行子像素的亮度补偿或者子像素之间的亮度偏差补偿的现象。
发明内容
在该背景下，本发明的一方面在于提供一种提供像素补偿功能并且在像素补偿失败时基于先前感测数据对数据进行补偿的技术。
根据本发明的一方面，一种显示装置包括：显示面板，其包括数据线、选通线、形成在选通线和数据线交叉的每个点中的子像素以及形成在每个子像素行或者每两个或更多个子像素行中的感测线，感测线连接到子像素行中的电路；数据驱动单元，其向数据线提供数据电压；模拟数字转换器(ADC)，其将通过与各个感测线对应的感测通道测量的感测电压转换为数字类型的感测数据；以及定时控制器，其控制数据驱动单元，并且执行基于感测数据改变提供给对应子像素的数据的像素补偿，并且当感测数据异常时，基于先前感测数据改变提供给对应子像素的数据。
根据本发明的另一方面，一种控制装置包括：定时控制器，其控制数据驱动单元，执行基于感测数据改变提供给对应子像素的数据的像素补偿，并且当感测数据异常时，基于先前感测数据改变提供给对应子像素的数据；以及存储器，其存储感测数据。
如上所述，根据本发明，可以提供像素补偿功能，并且可以在像素补偿失败时基于先前感测数据对数据进行补偿。
附图说明
本发明的以上和其它目的、特征和优点将从结合附图进行的以下详细描述而变得更明显，附图中：
图1是根据实施方式的显示装置的示意性系统构造图。
图2是例示根据实施方式的显示装置中的数据驱动单元的数据驱动集成电路的视图。
图3和图4是例示根据实施方式的显示装置的像素补偿的图。
图5是例示根据实施方式的显示装置中的ADC的感测和转换功能的图。
图6例示存储器的实施方式。
图7是例示根据另一实施方式的执行OFF-RS补偿的方法的流程图。
图8和图9是例示根据图7的另一实施方式的执行OFF-RS的特定方法的流程图。
图10A、图10B和图10C例示当图像被损坏进而在屏幕中产生问题时删除最近 OFF-RS数据并且恢复图像的处理。
图11A、图11B、图11C和图11D例示根据另一实施方式的存储器。
图12例示根据另一实施方式的存储器。
图13是根据另一实施方式的显示装置的数据驱动单元和控制装置的构造图。
具体实施方式
以下，将参照附图描述本发明的实施方式。在附图的按照附图标记的指定元件中，相同的元件即使出现在不同的图中也将由相同的标号指代。另外，在本发明的以下描述中，本文包含的已知功能和构造的详细描述在可能使本发明的主题不清楚时将被省略。
另外，本文中在描述本发明的组件时可能使用诸如第一、第二、A、B、(a)、(b) 等的术语。这些术语中的每一个并非用于限定对应组件的本质、顺序或次序，而是仅用于将对应组件与其它组件相区分。在描述特定结构元件“连接到”另一结构元件、“耦合到”另一结构元件或者“与”另一结构元件“接触”的情况下，应该解释为另一结构元件可“连接到”结构元件、“耦合到”结构元件或者“与”结构元件“接触”以及所述特定结构元件直接连接到另一结构元件或者与另一结构元件直接接触。
图1是根据实施方式的显示装置100的示意性系统构造图。
参照图1，根据实施方式的显示装置100包括显示面板110、数据驱动单元120、选通驱动单元130、定时控制器140等。
在显示面板110中，形成数据线DL1、DL2…和DLm以及选通线GL1、GL2…和GLn，并且在数据线DL1、DL2…和DLm与选通线GL1、GL2…和GLn相交的每个点中形成子像素(SP)。
数据驱动单元120向数据线提供数据电压。
数据驱动单元120包括两个或更多个数据驱动集成电路(DIC)200。
选通驱动单元130向选通线顺序地提供扫描信号。
定时控制器140控制数据驱动单元120和选通驱动单元130。
此外，在形成在显示面板110的子像素中，构造包括至少一个晶体管的电路。
这里，除了至少一个晶体管以外，根据电路设计方法、显示装置类型等，子像素中的电路还可包括至少一个电容器和有机发光二级管(OLED)。
根据实施方式的显示装置100可以提供像素补偿功能。像素补偿功能用于对根据子像素的电路中的晶体管的特性(例如，阈值电压、迁移率等)的改变或偏差产生的子像素之间的亮度偏差进行补偿。
根据实施方式的显示装置100需要用于感测子像素的电路中的晶体管的特性值的构造，以便提供像素补偿功能。
因而，在显示面板110中，每一个或更多个子像素行中可以形成连接到子像素中的电路的感测线(SL)。
例如，在每两个或更多个子像素行中存在一个感测线的共享结构的情况下，每三个子像素行(例如，红色子像素行、绿色子像素行和蓝色子像素行)中可以存在一个感测线。
也就是说，当一个像素包括三个子像素(即，红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素)时，每个像素行中可以存在一个感测线。
另选地，每四个子像素行(例如，红色子像素行、白色子像素行、绿色子像素行和蓝色子像素行)中可以存在一个感测线。也就是说，当一个像素包括四个子像素(即，红色子像素、白色子像素、绿色子像素和蓝色子像素)时，每个像素行中可以存在一个感测线。
此外，为了提供像素补偿功能，除了感测线以外，根据实施方式的显示装置100 还可以包括感测单元和像素补偿单元。感测单元将通过各个感测线SL测量的感测电压Vsen转换为数字类型的感测数据Dsen。像素补偿单元基于由感测单元感测到并且从感测单元输出的感测数据改变提供给子像素的数据，以对像素进行补偿。
下文中，上述感测单元被称为模拟数字转换器(ADC)。
ADC可以位于显示装置100的任何位置中，但是ADC被包括在数据驱动集成电路中，作为本说明书和附图中的实施方式。
此外，上述的像素补偿单元可以位于显示装置100的任何位置中，但是像素补偿单元被包括在定时控制器140中，作为本说明书和附图中的实施方式。
图2是例示根据实施方式的显示装置100中的数据驱动单元120的数据驱动集成电路200的视图。
参照图2，各个数据驱动电路200包括用于向多个对应子像素提供数据电压Vdata的驱动构造以及用于多个对应子像素的感测构造。
参照图2，驱动构造包括将从定时控制器140输入的数据Data转换为模拟类型的数据电压Vdata的数字模拟转换器(DAC)210。
参照图2，感测构造可以包括ADC 220。ADC 220通过两个或更多个感测线(其概念可以等于感测通道)感测多个对应子像素的电路中的感测节点的电压Vsen，将电压Vsen转换为数字类型的感测数据Dsen，并且输出感测数据Dsen。
如图2所示，一个ADC 220被包括在一个数据驱动集成电路200中。因而，如果两个或更多个数据驱动集成电路200位于显示装置100中，则两个或更多个ADC 220也被包括在显示装置100中。
包括在一个数据驱动集成电路200中的一个ADC 220连接到两个或更多个感测线SL，并且通过各个感测线感测电压Vsen。
这里，一个感测线GL将ADC 220与一个或更多个子像素行连接。也就是说，连接到一个ADC 220的两个或更多个感测线中的每一个可以是同时或顺序地感测两个或更多个子像素中的电路的感测节点的电压的线。
包括在一个数据驱动集成电路200中的ADC 220将通过分别与两个或更多个感测线对应的感测通道测量的感测电压Vsen转换为数字类型的感测数据Vsen。
图3是例示根据实施方式的显示装置100的像素补偿的图。
参照图3，数据驱动集成电路200中的ADC 220通过连接到子像素SP中的电路的感测线SL感测子像素SP的电路中的感测节点(例如，晶体管的源节点或漏节点) 的电压Vsen，将电压Vsen转换为数字类型的感测数据Dsen，并且输出感测数据Dsen。
定时控制器140利用感测数据Dsen改变提供给对应子像素SP的数据Data并且输出经改变的数据Data’，以便对子像素SP中的晶体管TR的特性值(例如，阈值电压(Vth)、迁移率(μ)等)进行补偿。因而，数据驱动集成电路220中的DAC 210 将经改变的数据Data’改变为数据电压Vdata’，并且输出数据电压Vdata’。
因此，对应像素SP接收能够对晶体管TR的特性值进行补偿的数据电压Vdata’，并且可以防止或减少对应子像素SP的亮度不均匀性。
参照图4和图5详细描述参照图3示意性描述的像素补偿。
图4是用于描述根据实施方式的显示装置100的像素补偿的图。图5是例示根据实施方式的显示装置100中的ADC 220的感测和转换功能的图。
在图4的示例中，一个ADC 220具有三个感测通道CH1、CH2和CH3。三个感测通道CH1、CH2和CH3分别连接到三个感测线SL1、SL2和SL3。三个感测线SL1、 SL2和SL3中的每一个连接到四个子像素SP。四个子像素SP可以形成一个像素P。例如，四个子像素SP可以包括红色子像素、白色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。
参照图4，ADC 220可以一次通过各个感测线SL1、SL2和SL3感测一个子像素 SP中的感测节点的电压Vsen。
此外，参照图4和图5，三个感测线SL1、SL2和SL3分别连接到锁存器(latch) L1、L2和L3。锁存器L1、L2和L3存储对应子像素中的感测节点的感测电压Vsen。上述锁存器L1、L2和L3可以实现为图4所示的电容器。
参照图4和图5，ADC 220将通过三个感测通道CH1、CH2和CH3感测的电压 Vsen1、Vsen2和Vsen3转换为数字类型，并且输出经转换的感测数据Dsen1、Dsen2 和Dsen3，以存储在存储器400中。
参照图4，如上所述，定时控制器140读取由ADC 220感测的并且存储在存储器 400的所有感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3，改变提供给子像素的数据Data，并且向数据驱动集成电路200输出经改变的数据Data’。
因而，数据驱动集成电路200接收经改变的数据Data’，将经改变的数据Data’转换为模拟类型的数据电压Vdata’，并且通过输出缓冲(未示出)向对应子像素提供数据电压Vdata’。
此外，当显示装置100的电力开启时，还可以实时执行对子像素中的晶体管的迁移率(μ)进行补偿的像素补偿。
这里，当显示装置100的电力开启时实时执行对各个子像素中的晶体管的迁移率(μ)进行补偿的像素补偿被称作实时(下文称为RT)补偿。
针对上述RT补偿，定时控制器140可以进行控制，以在垂直同步信号的空白时间期间执行对各个子像素中的晶体管的迁移率(μ)进行补偿的像素补偿(即，RT补偿)。
此外，定时控制器140可以进行控制，以在生成显示装置100的断电信号时执行对各个子像素中的晶体管的阈值电压(Vth)进行补偿的像素补偿。
这里，当生成显示装置100的断电信号时，对各个子像素中的晶体管的阈值电压进行补偿的像素补偿被称作OFF实时感测(下文称作OFF-RS)。
图6例示存储器的实施方式。
参照图6，存储器400可以包括第三存储区域430、第一存储区域410和第二存储区域420。第三存储区域430存储在对各个子像素中的晶体管的迁移率进行补偿的像素补偿(例如，RT补偿)时要使用的RT感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3。第一存储区域410存储在对各个子像素中的晶体管的阈值电压进行补偿的像素补偿(例如，OFF-RS补偿)时要使用的OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3。第二存储区域420存储在对子像素SP中的特性值(例如，阈值电压(Vth)、迁移率(μ)等) 进行补偿时要使用的初始感测数据以及用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据 Data’，补偿数据Data’是通过RT补偿(即，迁移率补偿)和OFF-RS补偿(即，阈值电压补偿)从数据Data转换而来的。
第一存储区域410、第二存储区域420和第三存储区域430可以将数据存储在查找表中。例如，第三存储区域430可以将在对各个子像素中的晶体管的迁移率进行补偿的像素补偿(例如，RT补偿)时要使用的OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3 存储在第一查找表中。
接着，数据Data可以通过RT补偿(即，迁移率补偿)和OFF-RS补偿(阈值电压补偿)改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。
如上所述，当生成显示装置100的断电信号时，执行对各个子像素中的晶体管的阈值电压进行补偿的OFF-RS补偿。此时，显示装置100应当设计功率序列，以便适当地执行OFF-RS补偿。
在正常OFF-RS补偿的情况下，当显示装置100的电力被关闭并且进行控制以执行OFF-RS的OFF-RS信号被施加到显示装置100时，如参照图3和图4所述，感测各个子像素的阈值电压，并且所感测的电压Vsen1、Vsen2和Vsen3被改变为数字类型，所改变的OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3被输出以将经改变的OFF-RS 感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3存储在存储器400的第一存储区域410中。此时，先前存储的OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3在存储器400的第一存储区域 410中被删除。
此时，在显示装置100的电力被异常关闭的情况下，当没有执行OFF-RS并且显示装置100的电力开启时，数据Data可以利用先前存储的OFF-RS感测数据被改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。
此外，可以根据显示面板110或诸如数据集成电路120的电路的状态异常执行OFF-RS。此时，不存在确定感测数据是否处于异常状态的方法。此时，如上所述，由于删除了先前的OFF-RS感测数据，不存在当产生问题时将状态恢复为先前状态的方法。因此，根据可靠性问题、电路EMI或FPGA驱动漏洞，可能产生异常驱动问题。
为了解决这些问题，定时控制器140在感测数据异常时执行基于先前感测数据改变提供给对应子像素的数据Data的像素补偿。
具体地，定时控制器140在图6所示的第二存储区域420中对先前OFF-RS感测数据进行备份。接着，定时控制器140确定各个子像素的感测数据是否异常。即，定时控制器140利用OFF-RS操作期间感测的结果值(即，感测数据)确定OFF-RS是否正常操作。
为了确定感测数据是否异常，指定各个子像素的最大阈值电压和阈值电压高于该最大阈值电压的子像素的最大数量。定时控制器140记录感测数据高于最大阈值电压的子像素的数量。当感测数据高于最大阈值电压的子像素的数量高于最大数量时，定时控制器140确定感测数据异常或者OFF-RS失败。
为了确定感测数据是否异常，定时控制器140确定特定写入数据而不是通过对对应子像素的亮度进行补偿而生成的补偿值是否在补偿数据Data’中。当补偿数据Data’中的特定写入数据(而不是补偿值)的数量高于指定的最大数量时，定时控制器140 确定感测数据异常并且OFF-RS失败。
当感测数据异常时，定时控制器140可以基于先前感测数据将提供给对应子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。为此，定时控制器 140将备份在第二存储区域420中的先前OFF-RS感测数据移位到第一存储区域410。因此，当显示装置100的电力开启时，定时控制器140基于存储在第一存储区域410 中的OFF-RS感测数据(其是存储在第二存储区域420中然后被移位到第一存储区域 410的先前OFF-RS感测数据)将提供给各个子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。
当感测数据异常时，定时控制器140可以基于在对应OFF-RS操作中获得的感测数据将提供给对应子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据 Data’。也就是说，当显示装置100的电力开启时，定时控制器140基于存储在第一存储区域410中的OFF-RS感测数据将提供给各个子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。
在上述实施方式中，当感测数据异常时，定时控制器140将备份在第二存储区域420中的先前OFF-RS感测数据移位到第一存储区域410中，并且当显示装置100的电力开启时，定时控制器140基于存储在第二存储区域420中并且然后移位到第一存储区域410的先前OFF-RS感测数据将提供给各个子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’，但是本发明不限于此。
例如，当诸如用户输入的外部输入被输入时，除了异常感测数据的情况，定时控制器140可以将备份在第二存储区域420中的先前OFF-RS感测数据移位到第一存储区域410，并且当显示装置100的电力开启时，定时控制器140可以基于存储在第二存储区域420中的并且然后移位到第一存储区域410的先前OFF-RS感测数据将提供给各个子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。
图7是例示根据另一实施方式的执行OFF-RS补偿的方法的流程图。
参照图7，根据另一实施方式的执行OFF-RS的方法包括以下步骤：存储先前OFF-RS感测数据(S710)，感测阈值电压(S720)，确定感测数据异常(S730)，当感测数据异常时，删除OFF-RS感测数据并且维持所存储的先前OFF-RS感测数据 (S740)，并且当感测数据正常时，存储OFF-RS感测数据并且删除先前OFF-RS感测数据(S750)。
图8和图9是例示根据图7的另一实施方式的执行OFF-RS的特定方法的流程图。
参照图8，首先，先前OFF-RS感测数据被备份在图6所示的第二存储区域420 中(S810)。
接着，通过ADC 220检测OFF-RS感测数据(S820)。
接着，为了确定特定写入数据而不是通过对对应子像素的亮度进行补偿而生成的补偿值是否在补偿数据Data’中，BPC码的生成数是显示在补偿数据中的代码(S825)。
接着，为了确定感测数据是否异常，确定感测数据高于各个子像素的最大阈值电压的子像素的数量是否高于执行OFF-RS时的最大数或者BPC的生成数是否高于指定的最大BPC码生成数(S830)。
如果在步骤S830中确定感测数据高于各个子像素的最大阈值电压的子像素的数量高于执行OFF-RS时的最大数或者BPC的生成数高于所指定的最大BPC码生成数时，OFF-RS误差数加一(S840)。确定OFF-RS误差数高于最大OFF-RS误差数(S850)。也就是说，在步骤S850中，感测数据异常或者OFF-RS失败。例如，最大OFF-RS 误差数可以是一或二，但是不限于此。
如果在步骤S850中确定OFF-RS误差数高于最大OFF-RS误差数(即，确定感测数据异常或者OFF-RS失败)时，开始OFF-RS恢复(S860)。
在步骤S860中，如果确定感测数据高于各个子像素的最大阈值电压的子像素的数量不高于执行OFF-RS时的最大数或者BPC的生成数不高于所指定的最大BPC码生成数(即，确定感测数据正常或者OFF-RS成功)时，OFF-RS感测数据被存储在存储器400的第一存储区域410中，并且备份在第二存储区域420中的现有OFF-RS 感测数据被删除(S870)。
参照图9，当开始OFF-RS恢复时，存储在第一存储区域410中的OFF-RS感测数据被删除，并且存储在第二存储区域420中的先前OFF-RS感测数据被移位到第一存储区域410(S880)。
当独立于感测数据的正常或异常或者OFF-RS的成功或失败开启显示装置100的电力时，定时控制器140基于存储在第一存储区域410中的OFF-RS感测数据将提供给各个子像素的数据Data改变为用于对应子像素的亮度补偿的补偿数据Data’。
根据上述实施方式，当执行OFF-RS像素补偿时，可以预先检测到问题，并且可以再次执行OFF-RS像素补偿。另外，根据上述实施方式，当正常执行OFF-RS像素补偿，但是屏幕上存在问题时，可以基于先前感测数据对数据进行补偿。
如图6所示，存储器400包括：第一存储区域410，其存储OFF-RS感测数据 Dsen1、Dsen2和Dsen3；第三存储区域430，其存储RT感测数据Dsen1、Dsen2和 Dsen3；以及第二存储区域420，其存储初始感测数据或补偿数据Data’。
此时，第二存储区域420未校正，在OFF-RS补偿的情况下仅更新OFF-RS感测数据。然而，如参照图7至图9所述，当OFF-RS感测数据异常或者OFF-RS失败时，由于存储在第二存储区域420中的感测数据或补偿数据是初始感测数据或补偿数据，存储在第二存储区域420中的感测数据或补偿数据不能反映晶体管的特性值的改变。
作为显示面板110的许多缺陷中的一个，存在OFF-RS操作之后图像被损坏的问题。在多数情况下，OFF-RS被删除并且然后再次执行OFF-RS操作，屏幕被正常恢复。
因而，当图像被损坏进而在屏幕上产生问题时，提供了能够删除最近OFF-RS数据并且恢复图像的功能。
图10A、图10B和图10C例示当图像被损坏进而在屏幕中产生问题时删除最近 OFF-RS数据并且恢复图像的处理。
当定时控制器140执行OFF-RS补偿时，定时控制器140将存储在第一存储区域 410中的现有的OFF-RS感测数据存储在第二存储区域420中，如图10A所示。
当定时控制器140从外部主机系统接收用于删除OFF-RS感测数据的信号时，定时控制器140删除存储在第一存储区域410中的最近的OFF-RS感测数据，如图10B 所示。此时，当被包括在显示装置100或者包括显示装置100的电子设备中的用于删除OFF-RS感测数据的按钮被按压时，外部主机系统通过特定接口(例如，I2C)将用于删除OFF-RS感测数据的信号提供给定时控制器140。根据本发明的电子设备是指包括显示装置100的电子设备，诸如电视系统、家庭影院系统、机顶盒、导航系统、 DVD播放器、蓝光播放器、个人计算机(PC)、电话系统、笔记本计算机、监视器等。
定时控制器140将存储在第二存储区域420中的先前OFF-RS感测数据移位到第一存储区域410，如图10C所示。因此，OFF-RS感测数据被存储在第一存储区域410 中，但是先前OFF-RS感测数据而不是最近OFF-RS感测数据被存储。因此，当显示装置100的接下来的电力被开启时，定时控制器140基于存储在第一存储区域410 中的OFF-RS感测数据将各个子像素的数据Data改变为补偿数据Data’。
当OFF-RS失败时，利用图10A至图10C所示的存储器结构，基于先前OFF-RS 感测数据将各个子像素的数据Data改变为补偿数据Data’，进而可以使用现有的存储器结构。
图11A至图11D例示根据另一实施方式的存储器。
参照图11A至图11D，存储器400(包括第一存储区域1010，其存储OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3；第三存储区域1030，其存储RT感测数据Dsen1、 Dsen2和Dsen3；以及第二存储区域1020，其存储初始感测数据或补偿数据Data’) 的构造与图6所示的存储器400的构造相同。在图11A至图11D所示的存储器400 中，存储OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3的第一存储区域1010(图11A中示出)被划分为两个存储区域1010a和1010b。
当定时控制器140执行OFF-RS补偿时，定时控制器140将两个存储区域1010a 和1010b中的存储区域1010a中的感测数据存储在第一存储区域1010中，如图11A 所示。当定时控制器140执行下一次OFF-RS补偿时，定时控制器140将两个存储区域1010a和1010b中的存储区域1010b中的感测数据存储在第一存储区域1010中，并且从存储区域1010a删除先前感测数据，如图11B所示。
当定时控制器140执行OFF-RS补偿时，定时控制器140将存储在第一存储区域1010b中的现有的OFF-RS感测数据存储在第二存储区域420中，如图11C所示。
当定时控制器140从外部主机系统接收用于删除OFF-RS感测数据的信号时，定时控制器140删除存储在第一存储区域1010a中的最近的OFF-RS感测数据。此时，当被包括在显示装置100或者包括显示装置100的电子设备中的用于删除OFF-RS感测数据的按钮被按压时，外部主机系统通过特定接口(例如，I2C)将用于删除OFF-RS 感测数据的信号提供给定时控制器140。
定时控制器140将存储在第二存储区域1020中的先前的OFF-RS感测数据移位到第一存储区域1010的存储区域1010a，如图11D 所示。因此，OFF-RS感测数据被存储在第一存储区域1010的存储区域1010a中，但是先前的OFF-RS感测数据而不是最近的OFF-RS感测数据被存储。因此，当显示装置100的接下来的电力被开启时，定时控制器140基于存储在第一存储区域1010的存储区域1010a中的OFF-RS感测数据将各个子像素的数据Data改变为补偿数据Data’。
当最近的OFF-RS感测数据应当被存储在第一存储区域1010的存储区域1010b 中时，定时控制器140删除存储在第一存储区域1010的存储区域1010b中的最近的 OFF-RS感测数据，并且将存储在第二存储区域1020中的现有的OFF-RS感测数据移位到第一存储区域1010中的存储区域1010b。
当显示装置100的接下来的电力被开启时，定时控制器140基于存储在第一存储区域1010的存储区域1010b中的OFF-RS感测数据将各个子像素的数据Data改变为补偿数据Data’。
当如上所述执行OFF-RS操作时，由于删除了最近的OFF-RS感测数据，先前的 OFF-RS感测数据被存储并且各个子像素的数据被补偿，去除了OFF-RS期间产生的问题。尤其是，用户或电子设备制造公司可以解决OFF-RS操作期间产生的问题。
图12例示根据另一实施方式的存储器。
参照图12，存储器400(包括第一存储区域1210，其存储OFF-RS感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3；第三存储区域1230，其存储RT感测数据Dsen1、Dsen2和Dsen3；以及第二存储区域1220，其存储初始感测数据或补偿数据Data’)的构造与图11A至图11D所示的存储器400的构造相同。在图12所示的存储器400中，存储感测数据 Dsen1、Dsen2和Dsen3的第一存储区域1010被划分为三个存储区域1010a、1010b 和1010c。
定时控制器利用图11A至图11D所示的存储器结构在第二存储区域1220中对先前的OFF-RS感测数据进行备份。然而，当使用图12所示的存储器结构时，定时控制器140将先前的OFF-RS感测数据存储在第一存储区域中的存储区域1210c，在 OFF-RS缺陷(例如单个OFF-RS缺陷)的情况下，定时控制器140删除存储在两个第一存储区域1210a和1210b中的一个中的最近的OFF-RS感测数据，并且将存储在第一存储区域中的存储区域1210c中的先前OFF-RS感测数据移位到对应的第一存储区域。
通过这样，可以减少由于单个OFF-RS缺陷导致的显示装置的废弃成本，当删除最近的OFF-RS感测数据时，可以不删除存储在第二存储区域1220中的初始感测数据或补偿数据，并且在单个OFF-RS缺陷的情况下，可以利用所备份的OFF-RS感测数据解决由于阈值电压移动导致的图像改变问题。
在以上实施方式中，独立于定时控制器140构造存储器400，但是本发明不限于此。
图13是根据另一实施方式的显示装置的数据驱动单元和控制装置的构造图。
参照图13，控制装置1300包括定时控制器140’和存储器400’。控制装置1300 可以被实现为一个集成电路。
定时控制器140’与上述实施方式中的基于存储在存储器400中的感测数据对数据进行补偿的定时控制器140基本上相同。
存储器400’与以上参照图6、图10A至图10C、图11A至图11D以及图12所述的存储器400基本上相同。
在以上实施方式中，基于OFF-RS感测数据改变提供给对应子像素的数据Data，并且当OFF-RS感测数据异常时，执行基于先前的OFF-RS感测数据改变提供给对应子像素的数据Data的OFF-RS补偿，但是本发明不限于此。本发明可以执行基于RT 感测数据改变提供给对应子像素的数据Data，并且当RT感测数据异常时，改变提供给对应子像素的数据Data的RT补偿。
此时，按照与图10A至图10C中的OFF-RS感测数据被存储在第二存储区域420 中，并且当OFF-RS感测数据异常时，先前的OFF-RS感测数据被移位到第一存储区域410的情况相同的方式，RT感测数据可以被存储在第二存储区域420中，并且当 RT感测数据异常时，先前的RT感测数据可以被移位到第三存储区域430。
在图11A至图11D以及图12中，第一存储区域1010和1230分别被划分为两个存储区域和三个存储区域，并且按照相同的方式，第三存储区域1030和1230也可以被划分为两个存储区域和三个存储区域。
根据上述实施方式，可以预先检测在像素补偿的情况下产生的问题，并且可以再次执行像素补偿。
此外，根据上述实施方式，当像素补偿正常执行，但是在屏幕上产生问题时，可以基于先前感测数据对数据进行补偿。
仅针对例示性目的，以上描述和附图提供了本发明的技术构思的示例。本发明所属技术领域的普通技术人员将理解，在不脱离本发明的实质特征的情况下，可以进行形式上的各种修改和改变，诸如构造的组合、分离、替换和改变。因此，本发明中公开的实施方式旨在例示本发明的技术构思的范围，本发明的范围不限于这些实施方式。本发明的范围应当基于所附权利要求书来理解，使得包括在权利要求书的等同范围内的所有技术构思属于本发明。
相关申请的交叉引用
本申请要求2014年10月22日提交的韩国专利申请No.10-2014-0143633的优先权和权益，针对所有目的，通过引用将其并入本文，如同在此充分阐述一样。

Claims (12)

1.一种显示装置，该显示装置包括：
显示面板，其包括数据线、选通线、形成在所述选通线和所述数据线交叉的每个点中的子像素以及形成在每个子像素行或者每两个或更多个子像素行中的感测线，所述感测线连接到所述子像素行中的电路；
数据驱动单元，其向所述数据线提供数据电压；
模拟数字转换器ADC，其将通过与各个感测线对应的感测通道测量的感测电压转换为数字类型的感测数据；
存储器，其包括存储各个子像素的所述感测数据的第一存储区域以及存储各个子像素的初始感测数据或补偿数据的第二存储区域；以及
定时控制器，其控制所述数据驱动单元，并且执行基于所述第一存储区域中的所述感测数据改变提供给对应子像素的数据的像素补偿，
其中，在所述像素补偿的情况下，所述定时控制器在所述第二存储区域中对先前感测数据执行备份，并且当所述感测数据异常时，所述定时控制器执行将存储在所述第二存储区域中的所述先前感测数据移位到所述第一存储区域并且基于移位到所述第一存储区域的所述先前感测数据改变提供给所述对应子像素的数据的所述像素补偿。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当生成所述显示装置的断电信号时，所述定时控制器进行控制以执行对各个子像素中的晶体管的阈值电压进行补偿的所述像素补偿。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当从外部主机系统接收到信号时，所述定时控制器在所述第二存储区域中对所述先前感测数据执行备份。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述第一存储区域被划分为两个存储区域，并且所述两个存储区域在每次像素补偿中依次存储最近的感测数据。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述第一存储区域被划分为存储各个子像素的所述感测数据的三个存储区域，并且
其中，所述定时控制器在每次像素补偿中将最近的感测数据依次存储在所述第一存储区域中的三个存储区域当中的两个存储区域中，在所述第一存储区域中的三个存储区域当中的一个中对所述先前感测数据执行备份，并且当所述感测数据异常时，所述定时控制器执行将存储在所述第一存储区域中的三个存储区域当中的一个中的所述先前感测数据移位到所述第一存储区域中的两个存储区域中的一个并且基于存储在所述第一存储区域中的两个存储区域中的一个中的所述感测数据改变提供给所述对应子像素的数据的所述像素补偿。
6.根据权利要求1所述的显示装置，其中，当各个子像素的所述感测数据的数量高于电压高于最大阈值电压的子像素的最大数量，进而特定写入数据而不是补偿值在补偿数据中时，所述定时控制器确定所述感测数据异常。
7.一种控制装置，该控制装置包括：
定时控制器，其控制数据驱动单元，执行基于感测数据改变提供给对应子像素的数据的像素补偿；以及
存储器，其存储所述感测数据，
其中，所述存储器包括存储各个子像素的所述感测数据的第一存储区域以及存储各个子像素的初始感测数据或补偿数据的第二存储区域，并且，在所述像素补偿的情况下，所述定时控制器在所述第二存储区域中对先前感测数据执行备份，并且当所述感测数据异常时，所述定时控制器执行将存储在所述第二存储区域中的所述先前感测数据移位到所述第一存储区域并且基于移位到所述第一存储区域的所述先前感测数据改变提供给所述对应子像素的数据的所述像素补偿。
8.根据权利要求7所述的控制装置，其中，当生成显示装置的断电信号时，所述定时控制器进行控制以执行对各个子像素中的晶体管的阈值电压进行补偿的所述像素补偿。
9.根据权利要求8所述的控制装置，其中，当从外部主机系统接收到信号时，所述定时控制器在所述第二存储区域中对所述先前感测数据执行备份。
10.根据权利要求7所述的控制装置，其中，所述第一存储区域被划分为两个存储区域，并且所述两个存储区域在每次像素补偿中依次存储最近的感测数据。
11.根据权利要求7所述的控制装置，其中，所述定时控制器在每次像素补偿中将最近的感测数据依次存储在所述第一存储区域中的三个存储区域当中的两个存储区域中，在所述第一存储区域中的三个存储区域当中的一个中对所述先前感测数据执行备份，并且当所述感测数据异常时，所述定时控制器执行将存储在所述第一存储区域中的三个存储区域当中的一个中的所述先前感测数据移位到所述第一存储区域中的两个存储区域中的一个并且基于存储在所述第一存储区域中的两个存储区域中的一个中的所述感测数据改变提供给所述对应子像素的数据的所述像素补偿。
12.根据权利要求7所述的控制装置，其中，当各个子像素的所述感测数据的数量高于电压高于最大阈值电压的子像素的最大数量，进而特定写入数据而不是补偿值在补偿数据中时，所述定时控制器确定所述感测数据异常。
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