CN105518781A - 全息图再现装置、全息图再现方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种适于对全息图进行再现的全息图再现装置、全息图再现方法。通过对光信息记录介质照射参考光来再现信息信号的全息图再现装置，包括：偏振变换部，对在上述光信息记录介质上照射上述参考光时产生的衍射光的偏振进行变换；受光部，接收由上述偏振变换部进行了偏振变换的衍射光；和伺服信号生成电路部，使用由上述受光部接收到的衍射光，生成使上述光信息记录介质或上述偏振变换部移动的信号。通过使用该全息图再现装置和上述全息图再现装置的全息图再现方法能够实现上述目的。

Description

全息图再现装置、全息图再现方法
技术领域
本发明涉及使用全息术进行再现的全息图再现装置、全息图再现方法。
背景技术
作为本技术领域的背景技术，例如有日本特开2007-304263号公报(专利文献1)。该公报中作为技术问题记载如下，“提供一种全息存储装置，能够进行控制而使从再现对象全息图出射的再现光恰当地通过Polytopic滤波器。”，作为解决手段记载如下，“从全息存储器10发出的再现光的一部分被分束器分束出来。分束后的再现光在经会聚透镜126和柱状透镜127引入了像散之后，由4象限PD128接收。基于来自4象限PD128的信号，由运算电路生成FE信号、RE信号和TE信号。然后，基于这些信号在聚焦方向、半径方向和切线方向上驱动全息存储器10，将再现对象全息图的位置修正为恰当的位置。”
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2007-304263
发明内容
发明要解决的技术问题
全息存储器是使信号光与参考光干涉，将其干涉条纹作为全息图记录在介质中的系统。例如，在双光束角度复用方式中，在介质上的同一位置处改变参考光的介质入射角度进行全息图的复用记录。然后，在再现时，使参考光以与记录时相同的介质入射角度入射，利用摄像机等检测从全息图衍射的再现光来再现记录在介质中的信息。
对于全息存储器而言，一般通过增加复用数、减小介质上的全息图的尺寸来提高记录密度。另外，在双光束角度复用方式中，通过减小介质上的全息图之间的间隔，能够提高记录密度。不过，在再现时需要高精度的介质位置控制。
针对该问题，专利文献1中使从光盘衍射的再现光在Polytopic滤波器前分束，通过检测一部分再现光来检测表示光信息记录介质的位置偏差的位置误差信号，控制介质的位置。然而，专利文献1的高精度控制介质的方法不适合高速再现。
于是，本发明的目的在于提供一种适于对全息图进行再现的全息图再现装置、全息图再现方法。
解决问题的技术手段
上述目的能够通过权利要求书中记载的技术方案来实现。举其一例如下，一种通过对光信息记录介质照射参考光来再现信息信号的全息图再现装置，其特征在于，包括：偏振变换部，对在上述光信息记录介质上照射上述参考光时产生的衍射光的偏振进行变换；受光部，接收由上述偏振变换部进行了偏振变换的衍射光；和伺服信号生成电路部，使用由上述受光部接收到的衍射光，生成使上述光信息记录介质或上述偏振变换部移动的信号。通过使用该全息图再现装置能够实现上述目的。
发明效果
根据本发明，能够提供一种适于对全息图进行再现的全息图再现装置、全息图再现方法。
附图说明
图1是表示实施例1中的全息图再现装置的图。
图2是表示实施例1中的光学系统的图。
图3是表示实施例1中的开口的图。
图4是表示实施例1中的分割波片的图。
图5是表示实施例1中的光检测器的图。
图6是说明实施例1中的位置误差信号的检测方法的图。
图7是说明实施例1中的光信息记录介质位置偏差的修正方法的图。
图8是表示实施例1中的移动光信息记录介质时的流程的图。
图9是表示实施例1中的其它分割波片的图。
图10是表示实施例1中的其它光检测器的图。
图11是表示实施例2中的光学系统的图。
图12是表示实施例3中的光学系统的图。
图13是表示实施例3中的偏振分割衍射元件的图。
图14是表示实施例3中的光检测器的图。
图15是说明实施例3中的位置误差信号的检测方法的图。
图16是表示实施例4中的光学系统的图。
图17是表示实施例5中的光学系统的图。
图18是表示实施例5中的光检测器的图。
图19是说明实施例5中的位置误差信号的检测方法的图。
图20是表示实施例6中的光学系统的图。
图21是表示实施例7中的光学系统的图。
图22是表示实施例7中的波片分割衍射元件的图。
图23是表示实施例8中的光学系统的图。
具体实施方式
实施例1
图1示出了本发明第一实施例的全息图再现装置的整体结构。本实施例的全息图再现装置还具有在光信息记录介质上记录信息的功能。例如包括如图2所示的结构的光拾取器装置60、相位共轭光学系统512、光信息记录介质Cure(固化)光学系统513、光信息记录介质驱动元件70。
光拾取器装置60的作用是对光信息记录介质300出射参考光和信号光而利用全息图记录数字信息。此时，要记录的信息信号由控制器89经信号生成电路86发送到光拾取器装置60内的空间光调制器中，信号光被空间光调制器调制。在对记录在光信息记录介质300中的信息进行再现的情况下，利用相位共轭光学系统512生成从光拾取器装置60出射的参考光的相位共轭光。此处，相位共轭光学系统512例如在图2的情况下表示为电流计式反射镜(galvanometermirror)50。另外，相位共轭光指的是保持与输入光相同的波前但反方向行进的光波。
对于相位共轭光所再现的再现光，使用光拾取器装置60内的摄像元件53进行检测，由信号处理电路85再现信号。对光信息记录介质300照射的参考光和信号光的照射时间，能够由控制器89通过快门控制电路87控制光拾取器装置60内的快门13的开闭时间而进行调整。光信息记录介质Cure光学系统513的作用是生成光信息记录介质300的预Cure和后Cure中使用的光束。
此处，预Cure指的是，在要于光信息记录介质300内的期望位置记录信息时，在对期望位置照射参考光和信号光之前预先照射规定的光束的前处理。另外，后Cure指的是，在光信息记录介质300内的期望位置上记录了信息之后，为了使期望位置不再能追加记录而照射规定的光束的后处理。
从光源驱动电路82对光拾取器装置60、光信息记录介质Cure光学系统513内的光源供给规定的光源驱动电流，从而能够从各光源以规定的光量发射光束。
从光拾取器装置60输出用于生成分割波片200与光信息记录介质300的位置误差信号的信号。使用该信号，能够利用伺服信号生成电路83生成位置误差信号，通过位置控制电路88对光信息记录介质300的位置进行粗调整。另外，同样地，通过伺服控制电路84进行分割波片200的微调整。此外，伺服控制电路还执行对开口(aperture，孔径)100和分割波片200进行切换的控制。
其中，对于光拾取器装置60、相位共轭光学系统512、光信息记录介质Cure光学系统513，也可以将某些光学系统结构或者所有的光学系统结构合并为一个来实现简化。
图2示出了本实施例的双光束角度复用方式的全息图记录再现装置内的光拾取器装置60和相位共轭光学系统512的光学系统。使用图2说明本实施例的记录方法、再现方法。首先，说明本实施例的记录方法。
从光源11出射的光束透过准直透镜12，在被变换为期望的束径之后，通过快门13入射到偏振变换元件14。然后，光束由偏振变换元件14变换为包括P偏振成分和S偏振成分的偏振光。偏振变换元件14是根据处于记录时或再现时将光束的偏振变换为规定的偏振的元件。本实施例中在记录时变换为包括P偏振成分和S偏振成分的偏振光，在再现时变换为S偏振光。
从偏振变换元件14出射的光束入射到PBS棱镜15上，P偏振成分透射，S偏振成分反射。此处，将从PBS棱镜15透射的光束称为信号光，将反射的光束称为参考光。从PBS棱镜15透射的信号光被扩束器25变换为期望的束径。经扩束器25透射的信号光，经过相位掩模26、中继透镜27、PBS棱镜28后入射到空间光调制器29中。空间光调制器29是通过偏振变换而对信号光附加二维数据的光学元件。
然后，由空间光调制器29附加了信息的信号光，在PBS棱镜28上反射，经过偏振变换元件52、PBS棱镜51、中继透镜30入射到开口100。此处，PBS棱镜51、检测透镜54、光检测器55相对于图在垂直方向上配置，所以在PBS棱镜28上反射的信号光从PBS51透射。
图3示出了开口100。开口100是为了提高光记录介质的记录密度，出于除去由空间光调制器52附加的信号光的高频成分之目的而配置的。其中，开口100包括区域100A和区域100B，区域100A是透射区域，区域100B是遮光区域。从开口100出射的信号光经物镜32会聚在光信息记录介质300内。
另一方面，在PBS棱镜15上反射的参考光，经过反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39，入射到光信息记录介质300。
电流计式反射镜38能够改变反射镜的角度，能够改变参考光对光信息记录介质300的入射角度。另外，扫描透镜39是能够使在电流计式反射镜38上反射的角度不同的参考光对光信息记录介质300的大致相同的位置以改变了参考光的角度的状态入射的透镜。因此，通过使用电流计式反射镜38、扫描透镜39能够在大致相同的位置上实现角度复用。
此处，在光信息记录介质300内，信号光和参考光彼此叠加着入射。由此，在光信息记录介质300内形成干涉条纹，该干涉条纹被作为全息图记录在光信息记录介质300中。
接着，在信息记录到光信息记录介质300中之后，快门13关闭，通过空间光调制器29显示下一个要记录的信息。同时，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。之后，在快门13打开时，在光信息记录介质300的同一位置上，以与之前进行记录的角度不同的参考光角度记录下一个信息。反复该处理进行角度复用记录。然后，在达到规定复用度的情况下，移动位置进一步进行记录。此处，将以规定的角度记录的信息称为页(page，信息页)，将通过角度复用方式记录的区域称为册(book，信息册)。
接着说明再现方法。首先，在再现时，控制器89执行对光拾取器装置60的开口100与分割波片200进行切换的控制。其中，关于具体的切换方式，可以使用步进电机等改变位置来进行切换，也可以使用这之外的方法进行切换。
从光源11出射的光束透过准直透镜12，在变换为期望的束径之后，通过快门13入射到偏振变换元件14。然后，光束被偏振变换元件14变换为S偏振光在PBS棱镜15上发生反射。PBS棱镜15上反射的参考光经反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39、光信息记录介质300入射到电流计式反射镜50。电流计式反射镜50由控制器89控制成使得入射光相对于电流计式反射镜50大致垂直，从而入射的参考光向大致相反方向反射，再次向光信息记录介质300入射。然后，由于参考光入射到光信息记录介质300中，从而作为规定的册所含的页的衍射光产生再现光。另外，从要再现的规定的册所含的页以外的、位于要再现的册附近的册所含的页也会同时产生衍射光。此处，将要再现的规定的册所含的页以外的再现光称为其它衍射光。
再现光和其它衍射光经过物镜32向中继透镜30内的分割波片200入射。中继透镜30由至少2片透镜构成，再现光和其它衍射光大致会聚在中继透镜30内的分割波片200的位置上。其中，分割波片200能够在光轴方向和与光轴垂直的平面方向上驱动。此处，分割波片200是为了使再现光与其它衍射光分离而配置的。
图4示出了分割波片200。分割波片200包括区域200A和区域200B，区域200A是透射区域，区域200B是1/2波片区域，从区域200A出射的再现光以与入射的偏振相同的状态出射，从区域200B出射的再现光以与入射的偏振不同的偏振出射。其中，再现时再现光入射到区域200A，以与入射偏振相同的偏振出射。其它衍射光入射到区域200B，以与入射偏振正交的偏振出射。分割波片200是使再现光和衍射光中规定的光的偏振改变的偏振部。
从分割波片200出射的再现光，经过中继透镜30、PBS棱镜51入射到偏振变换元件52。偏振变换元件52是在再现时将S偏振变换为P偏振的元件。因此，从偏振变换元件52出射的再现光透过PBS棱镜28，对摄像元件53入射。
然后，基于入射到摄像元件53的再现光生成再现图像数据。另外，从分割波片200出射的其它衍射光在PBS棱镜51上反射，经过检测透镜54入射到光检测器55。不过，此时其它衍射光不入射到光检测器55上的受光部中。如上所述，本实施例中使再现光与其它衍射光分离。
接着，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。由此再现同一册所含的记录角度不同的页的图像数据。然后，在完成了规定的页数的再现的情况下，基于位置误差信号控制光信息记录介质300、分割波片200，进行下一册的再现。
此处，说明本实施例的位置误差信号检测方法。当包括要再现的页的册的位置相对于物镜32有偏差时，再现光会入射到分割波片200的区域200B上。因此，再现光的偏振被变换，结果在PBS棱镜51上反射，经过检测透镜54入射到光检测器55。
图5示出了光检测器55。光检测器55包括4个受光部Da、Db、Dc、Dd。本实施例采用了根据分割波片200的区域200B上的再现光入射的位置，再现光相应地入射到受光部Da、Db、Dc、Dd的结构。令受光部Da、Db、Dc、Dd检测出的信号为信号A、B、C、D时，表示光信息记录介质300与分割波片200的相对位置偏差的位置误差信号XPES、YPES、ZPES如下所示。
[式1]
XPES＝A-C
YPES＝B-D
ZPES＝A+B+C+D
图6示出了要再现的册的位置相对于物镜32有偏差的情况下的分割波片200和光检测器55。其中，图6(A)、(B)、(C)、(D)分别表示要再现的册位置相对于物镜最佳的情况、在x方向上有偏差的情况、在y方向上有偏差的情况、在z方向上有偏差的情况。另外，图中的斜线区域表示再现光。
例如，如图6(B)所示再现光相对于分割波片200在x方向的正向上偏离的情况下，从分割波片200的区域200B透射的再现光入射到光检测器55的受光部Da，信号A产生电压。因此，通过式1记载的运算方法进行XPES的运算(A-C)能够得到正的电压。与此相对，再现光相对于分割波片200在x方向的负向上偏离的情况下，从分割波片200的区域200B透射的再现光入射到光检测器55的受光部Dc，所以信号C产生电压，进行XPES的运算能够得到负的电压。在分割波片200与再现光在x方向上一致的情况下(图6(A))，不存在从区域200B透射的再现光，所以进行XPES的运算得到电压为零。
根据以上所述，只要在x方向上驱动分割波片200以使XPES的电压成为零即可。由此，能够使分割波片200的区域200A与再现光的相对位置一致。关于这一点，y方向(图6(C))上也是同样的。
接着，在z方向的正向上偏离的情况下，分割波片200上的再现光的形状相对于区域200A变大，再现光的一部分入射到分割波片200B。由此，光检测器55的4个受光部Da、Db、Dc、Dd有再现光入射，通过式1记载的运算方法进行ZPES的运算能够得到正的电压。另外，在z方向的负向上偏离的情况下，ZPES也能够得到正的电压。而在z方向没有偏差的情况下(图6(A))，不存在入射到区域200B的再现光，所以进行ZPES的运算得到电压为零。
根据以上所述，只要在z方向上驱动分割波片200以使ZPES的电压成为零即可。由此，能够使分割波片200的区域200A与再现光一致。这样的位置误差信号的检测利用伺服信号生成电路83进行，并将检测出的位置误差信号发送给控制器89。分割波片200由伺服控制电路84使用发送到控制器89的位置误差信号进行驱动。关于具体的驱动方法，例如使用步进电机或磁路的驱动元件等即可。
接着，说明对分割波片200的位置进行控制时的效果。图7示意性地示出了再现光的状态。其中，为了简化说明，省略了再现时必要的部件以外的部件。另外，(A)表示要再现的册的位置相对于物镜32一致的情况，(B)、(C)表示不一致的情况。而且，(C)表示基于位置误差信号对分割波片200进行了控制的情况，(B)表示没有进行控制的情况。此处，分割波片200本不具有遮光功能，但为了简化说明，以其为开口进行说明。
如图7(B)、(C)所示，当要再现的册的位置相对于物镜32有偏差时，再现光会入射到分割波片200的区域200B。因此，存在入射到摄像元件53的再现光的光量减少，不能够进行稳定的再现的问题。与此相对，如图7(A)所示，通过对分割波片200进行位置控制，所有再现光都入射到分割波片200的区域200A。由此，足够的再现光入射到摄像元件53，能够进行稳定的再现。图7中，对于分割波片200以平面方向的位置偏差进行了说明，但对于分割波片200在光轴方向上有偏差的情况下也是相同的。
这样，本实施例中，使用XPES、YPES、ZPES进行分割波片200的控制。专利文献1中对光信息记录介质300进行了控制，但本实施例的情况下，主要特征在于对分割波片200的位置进行控制。本实施例的情况下，相对于光信息记录介质300，分割波片200更轻，所以即使使用相同的驱动元件也能够高速地进行控制。另外，通过使用上述位置误差信号能够高精度地进行控制。并且，本实施例的分割波片200优选按以下顺序控制。
(1)使用XPES、YPES进行分割波片200的平面方向的控制
(2)使用ZPES进行分割波片200的光轴方向的控制
即使顺序相反也能够进行控制，但该情况下，ZPES中残留有较大信号的状态成为最佳位置，所以从控制的角度来看不稳定，这成为问题。通过按上述顺序控制，可以进行更稳定的控制。但控制也可以同时进行。
此处，本实施例的结构中，在减小册间隔的情况下会担心来自邻接的册的衍射光入射到光检测器55。该情况下，通过以在进行规定册的再现的参考光入射角度时不产生来自邻接册的衍射光的方式进行邻接册的记录，能够应对这样的问题。此时，因为来自相距2册以上的册的衍射光不会入射到受光部，所以不会成为问题。另外，分割波片200的位置按每个册改变即可，因此也可以预先在册内决定用于进行位置控制的页。这样，能够仅在规定页上使邻接册之间的记录角度错开，所以即使错开不产生其它衍射光的程度的较大角度进行记录，也不会使容量大幅减少，而能够避免来自邻接册的衍射光。
进而，也可以以来自邻接册的衍射光相同的方式进行记录，该情况下，其它衍射光会入射到受光部，但因为计算的是差分信号，所以其它衍射光被抵消。
接着，说明再现时的控制流程。图8示出了再现时的控制流程。
(S1)初始调整：控制器89对光拾取器装置60中包括的电流计式反射镜38和相位共轭光学系统512中包括的电流计式反射镜50等进行驱动来执行初始调整。该初始调整中，以再现光的光量在摄像元件53中成为最大的方式，驱动上述电流计式反射镜38、50调整参考光对光信息记录介质300的入射角。另外，使用此时产生的再现光，利用伺服信号生成电路83生成位置误差信号。
(S2)粗调整：控制器89将S1的初始调整时生成的位置误差信号发送至位置控制电路88，位置控制电路88驱动光信息存储介质驱动元件70，调整(粗调整)光信息记录介质300的位置。
(S3)微调整：控制器89将S2的粗调整时生成的位置误差信号发送至伺服控制电路84，驱动分割波片200的位置进行调整(微调整)。
(S4)微调整之后，控制器89对光拾取器装置60中包括的电流计式反射镜38和相位共轭光学系统512中包括的电流计式反射镜50等进行驱动，再现册内的页数据。
(S5)控制器89使用从再现的页数据中得到的信息确认是否存在下一册，在存在下一册的情况下，进行光信息记录介质300的调整。
该控制流程中，位置误差信号是表示光信息记录介质300与分割波片200的相对位置的误差信号，所以用光信息记录介质300进行位置的粗调整，用分割波片200进行位置的微调整。但是，对于光信息记录介质300，例如也可以按机械精度或者传感器等的精度进行控制。
如上所述，本实施例中，通过使用分割波片200和PBS棱镜51使再现光与其它衍射光分离。并且，通过使用分割波片200分离、检测再现光，不仅能够高精度地控制光信息记录介质300，也能够高精度地控制分割波片200。例如，如专利文献1所示，在开口前使再现光分束而生成位置误差信号时，存在信号对于开口(分割波片)的位置偏差不发生变化，所以不能得知实际的位置的问题。因此，存在例如发生驱动元件的热等外部干扰时，再现信号的一部分不能够检测出的问题。因此，优选像本实施例这样，在开口(分割波片200)之后检测位置误差信号。
另外，本实施例的特征在于对分割波片200进行驱动。由此，相对于实施例1的高精度地驱动光信息记录介质300的方法，具有可以实现高速化的优点。其中，本实施例中，在图4中示出了分割波片200，但不限于此，例如如图9(A)所示地设置区域200C的区域，使区域200C成为遮光区域也可以得到同样的效果。另外，如图9(B)所示也可以形成为区域200B1、200B2、200B3、200B4。该情况下，可以使区域200B1、200B2、200B3、200B4为偏振性的衍射元件、全息元件，利用光检测器55检测在区域200B1、200B2、200B3、200B4衍射的再现光。通过这样，能够增大检测区域200B1、200B2、200B3、200B4的衍射光的受光部，所以能够放宽对光检测器55的因温度或经时变化引起的位置偏差的容许量。
进而，也可以对入射到区域200B1、200B2、200B3、200B4的再现光的偏振进行变换，并且用分割波片的结构使其折射。通过这样，也能够放宽对光检测器55的因温度或经时变化引起的位置偏差的容许量。其中，如衍射、折射这样改变再现光的传播方向的情况下，根据衍射、折射的量、方向决定受光部图案即可，可以是任意的受光部图案。另外，不是如图9(B)所示4个区域，而是检测至少2个区域的再现光，就能够得到同样的效果。另外，本实施例中，为了使从分割波片200的区域200A透射的光与从区域200B或区域200B1、区域200B2、区域200B3、区域200B4透射的光分束，使用了PBS棱镜51，但不限定于此，例如也可以是偏振性的反射镜。
此处，本实施例中，分割波片200的区域200A是透射区域，区域200B是1/2波片区域，但不限定于此，只要是相同再现光入射时出射大致正交的2个偏振光的分割波片就可以得到同样的效果。
另外，本实施例中使用了如图5所示的受光部图案，但不限定于此，例如也可以是如图10所示的受光部图案。而且，图5、10具有4个受光部，但只要有至少2个受光部就能够得到同样的效果。
进而，分割波片200的具体的驱动方法，也可以是步进电机或磁驱动方法等。而且，本实施例中，示出了如图2所示的光学系统，但例如也可以将PBS棱镜51和检测系统配置在分割波片200与中继透镜30之间。通过采用这样的光学系统，具有能够实现小型化的优点。另外，也能够通过在分割波片200后立即配置PBS棱镜51而省去检测透镜54。
进而，也可以使分割波片200的区域200A的宽度小于开口100的开口宽度。由此，在再现时再现光也入射到光检测器55，所以能够提高位置误差信号的S/N。
而且，本实施例中，说明了分割波片200能够在光轴方向、与光轴垂直的平面方向上驱动的情况，但只要在至少1轴上驱动，就可以得到本实施例的效果。进而，本实施例中，用光检测器的4个受光部的和信号计算ZPES，但即使以信号A、B、C、D中的1个信号成为最小的方式进行控制也可以得到同样的效果。
实施例2
图11示出了本发明的第二实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置60的光学系统。实施例1是对开口100与分割波片200进行切换的结构，但本实施例中，特征在于采用分割波片200与偏振元件56的结构。另外，也具备对光信息记录介质记录信息的功能。除此以外与实施例1相同，所以本实施例中，对于与实施例1不同的记录方法用图11进行说明。
从光源11出射的光束入射到准直透镜12、快门13、偏振变换元件14、PBS棱镜15。被PBS棱镜15分束为信号光和参考光。
透过PBS棱镜15后的信号光，经过扩束器25、相位掩模26、中继透镜27、PBS棱镜28、空间光调制器29、PBS棱镜28、偏振变换元件52、PBS棱镜51、中继透镜30入射到分割波片200。
图4示出了分割波片200。分割波片200包括区域200A和区域200B，区域200A是透射区域，区域200B是1/2波片区域，从区域200A出射的再现光以与入射的偏振相同的状态出射，从区域200B出射的再现光以与入射的偏振不同的偏振出射。从分割波片200出射的信号光，经过中继透镜30入射到偏振元件56。偏振元件56是仅使规定偏振透射的光学元件。因此，仅有从分割波片200的区域200A透射的信号光透过偏振元件56。透过偏振元件56后的信号光，经过物镜32会聚在光信息记录介质300内。
另一方面，在PBS棱镜15上反射的参考光，与实施例1同样地，经过反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39入射到光信息记录介质300。
在光信息记录介质300内，信号光和参考光形成干涉条纹图案，该干涉条纹图案被作为全息图记录在光信息记录介质300内。
然后，在信息记录到光信息记录介质300中之后，快门13关闭，通过空间光调制器29显示下一个要记录的信息。同时，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。之后，在快门13打开时，在光信息记录介质300的同一位置上，以与之前进行记录的角度不同的角度记录下一个要记录的信息。反复该处理进行角度复用记录。
如上所述地进行记录。另外，本实施例的再现与实施例1同样地基于来自图5的光检测器55的信号生成位置误差信号，对分割波片200进行控制。其中，关于分割波片200的控制的顺序和再现时的控制流程，与实施例1同样即可。
如上所述，本实施例中基于位置误差信号控制分割波片200，使再现光与其它衍射光分离。另外，本实施例的情况下，通过使用分割波片200和偏振元件56来除去记录时由空间光调制器52附加的信号光的高频成分。因此，相对于实施例1具有能够小型化的优点。
其中，本实施例的结构除了分割波片200和偏振元件56以外与实施例1相同，所以即使与实施例1同样地改变结构也可以得到同样的效果。
进而，为了使在光信息记录介质300上反射的参考光不会入射到摄像元件53和光检测器55，也可以在光信息记录介质300与电流计式反射镜50之间配置1/4波片。由此，能够使在光信息记录介质300上反射的光与再现光的偏振正交，所以能够用偏振元件56阻挡光信息记录介质300上的反射光。该情况下，为了使再现光入射到摄像元件53上，在从PBS棱镜15到光信息记录介质300的光路中或者从光信息记录介质300到PBS棱镜51的光路中配置偏振变换元件即可。
另外，图11中将偏振元件56记载为板状，但不限定于此，例如也可以使用PBS棱镜。并且，也可以使用在PBS棱镜上反射的光进行其它光学部件的控制。例如，使用光信息记录介质300的反射光控制半导体激光器11的出射光量等就相当于这样的情况。
实施例3
图12示出了本发明的第三实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置60的光学系统。本实施例的特征在于，将实施例1的分割波片200更改为偏振分割衍射元件250，并在光信息记录介质300与电流计式反射镜50之间配置波片150。除此以外与实施例1相同，所以本实施例中，对于与实施例1不同的内容——即再现方法，使用图12及其它附图进行说明。
首先，从开口100切换成偏振分割衍射元件250。从光源11出射的光束经过准直透镜12、快门13、偏振变换元件14、PBS棱镜15、反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39、光信息记录介质300、波片150、电流计式反射镜50、波片150，再次入射到光信息记录介质300。此处，2次透过波片150，参考光的S偏振成分被变换为S偏振和P偏振的偏振成分。
然后，从光信息记录介质300产生再现光和其它衍射光。此时，再现光和其它衍射光的偏振与参考光相同，所以具有P偏振和S偏振的偏振成分。
再现光和其它衍射光经过物镜32入射到中继透镜30内的偏振分割衍射元件250。此处，偏振分割衍射元件250能够在光轴方向、与光轴垂直的平面方向上驱动。
偏振分割衍射元件250是偏振衍射光栅或偏振性全息元件，是仅使规定的偏振光衍射的元件。图13示出了偏振分割衍射元件250的图案。偏振分割衍射元件250包括区域250A和区域250B，区域250A是偏振分割衍射元件区域，区域250B是遮光区域。另外，区域250A被分割为区域Ga、Gb、Gc、Gd这4部分。
入射到偏振分割衍射元件250的再现光的S偏振成分保持原状透过偏振分割衍射元件250，P偏振成分按偏振分割衍射元件250的区域Ga、Gb、Gc、Gd各区域发生衍射。另外，其它衍射光入射到区域250B，所以不会从偏振分割衍射元件250透射。由此，能够使再现光与其它衍射光分离。
然后，从偏振分割衍射元件250出射的再现光透过中继透镜30，入射到PBS棱镜51。此时，从偏振分割衍射元件250透射的再现光，经过PBS棱镜51、偏振变换元件52、PBS棱镜28，入射到摄像元件53。
然后，基于入射到摄像元件53的再现光生成再现图像数据。另外，在偏振分割衍射元件250中衍射的再现光，在PBS棱镜51上反射，经过检测透镜54入射到光检测器55。
接着，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。由此，对光信息记录介质内的角度不同的下一页的再现图像数据进行再现。然后，在完成了规定册的再现的情况下，基于位置误差信号控制光信息记录介质300、偏振分割衍射元件250，进行下一册的再现。
此处，说明本实施例的位置误差信号的检测方法。图14示出了光检测器55。光检测器55具有4个受光部Da、Db、Dc、Dd。而且，在偏振分割衍射元件250的区域Ga、Gb、Gc、Gd中衍射的再现光分别入射到受光部Da、Db、Dc、Dd。令受光部Da、Db、Dc、Dd检测出的信号为信号A、B、C、D时，光信息记录介质300的位置误差信号XPES、YPES、ZPES如下所示。
[式1]
XPES＝A-C
YPES＝B-D
ZPES＝A+B+C+D
图15示出了要再现的册的位置相对于物镜有偏差的情况下的偏振分割衍射元件250。其中，图15(A)、(B)、(C)、(D)分别表示要再现的册位置相对于物镜最佳的情况、在x方向上有偏差的情况、在y方向上有偏差的情况、在z方向上有偏差的情况。另外，图中的斜线区域表示再现光。
最佳的情况下，再现光入射到偏振分割衍射元件250的区域250A，但在x方向、y方向上有偏差的情况下，再现光会入射到偏离区域250A的位置。因此，在区域Ga、Gb、Gc、Gd中发生衍射的再现光量产生差异。通过将该光量差作为XPES、YPES进行运算，能够生成位置误差信号。XPES、YPES控制为对称即可，所以优选控制偏振分割衍射元件250以使它们成为零。
另外，在z方向上有偏差的情况下，再现光也会入射到偏振分割衍射元件250的区域250B，所以在区域Ga、Gb、Gc、Gd中发生衍射的再现光量减小。因此，对于ZPES的位置误差信号，优选控制偏振分割衍射元件250以使其成为最大值。
这样，本实施例中，使用XPES、YPES、ZPES进行偏振分割衍射元件250的控制。由此，本实施例相对于专利文献1能够更高速地进行控制。另外，实施例1的情况下，再现时光检测器55的光量减小，而本实施例的情况下，特征在于再现时光检测器的光量最大，从S/N的角度来看，本实施例更为有利。
另外，关于偏振分割衍射元件250的控制的顺序和再现时的控制流程，与实施例1相同即可。
如上所述，本实施例中基于位置误差信号控制偏振分割衍射元件250，使再现光与其它衍射光分离。其中，本实施例的结构除了偏振分割衍射元件250以外与实施例1相同，所以即使与实施例1同样地改变结构也可以得到同样的效果。
此处，偏振分割衍射元件250的区域250A和区域250B也可以是将偏振衍射元件与开口组合而成的元件。另外，本实施例中，在图14中示出了光检测器55，但不限定于此，只要能检测出经偏振分割衍射元件250分束后的再现光，就可以是任意的图案。另外，本实施例中，偏振分割衍射元件250的区域250A被分割为4部分，但只要至少分割为2部分就能够得到同样的效果。进而，为了使在光信息记录介质300上反射的参考光不会入射到摄像元件53和光检测器55，也可以在光信息记录介质300与电流计式反射镜50之间配置1/4波片。
由此，能够使在光信息记录介质300上反射的光与再现光的偏振正交，所以能够用偏振元件56阻挡光信息记录介质300上的反射光。该情况下，为了使再现光入射到摄像元件53上，在从PBS棱镜15到光信息记录介质300的光路中或者从光信息记录介质300到PBS棱镜51的光路中配置偏振变换元件即可。
实施例4
图16示出了本发明的第四实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置60的光学系统。实施例3采用了对开口100与偏振分割衍射元件250进行切换的结构，但本实施例中，特征在于仅有偏振分割衍射元件250。除此以外与实施例3相同，所以本实施例中对于与实施例3不同的记录方法用图16进行说明。
从光源11出射的光束入射到准直透镜12、快门13、偏振变换元件14、PBS棱镜15，被PBS棱镜15分束为信号光和参考光。
透过PBS棱镜15后的信号光，经过扩束器25、相位掩模26、中继透镜27、PBS棱镜28、空间光调制器29、PBS棱镜28、偏振变换元件52、PBS棱镜51、中继透镜30入射到偏振分割衍射元件250。
偏振分割衍射元件250是偏振衍射光栅或偏振性全息元件，是仅使规定的偏振光衍射的元件。图13示出了偏振分割衍射元件250的图案。偏振分割衍射元件250包括区域250A和区域250B，区域250A是偏振分割衍射元件区域，区域250B是遮光区域。另外，区域250A被分割为区域Ga、Gb、Gc、Gd这4部分。
入射到偏振分割衍射元件250的信号光是S偏振光，所以保持原状透过偏振分割衍射元件250，经过中继透镜30、物镜32会聚在光信息记录介质300内。
另一方面，在PBS棱镜15上反射的参考光，与实施例1同样地，经过反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39，入射到光信息记录介质300。
在光信息记录介质300内，信号光和参考光形成干涉条纹图案，该干涉条纹图案被作为全息图记录。
然后，在信息记录到光信息记录介质300中之后，快门13关闭，通过空间光调制器29显示下一个要记录的信息。同时，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。之后，在快门13打开时，在光信息记录介质300的同一位置上，以与之前进行记录的角度不同的角度记录下一个要记录的信息。反复该处理进行角度复用记录。
如上所述地进行记录。另外，本实施例的再现与实施例3同样地基于来自图14的光检测器55的信号生成位置误差信号，对偏振分割衍射元件250进行控制。其中，关于偏振分割衍射元件250的控制的顺序和再现时的控制流程，与实施例1同样即可。
如上所述，本实施例中基于位置误差信号控制偏振分割衍射元件250，使再现光与其它衍射光分离。另外，本实施例的情况下，通过使用偏振分割衍射元件250来除去记录时由空间光调制器52附加的信号光的高频成分。因此，相对于实施例3，具有能够小型化的优点。
另外，本实施例的结构除了偏振分割衍射元件250以外与实施例3相同，所以即使与实施例3同样地改变结构也可以得到同样的效果。
实施例5
图17示出了本发明的第五实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置60的光学系统。本实施例的特征在于将实施例3的检测透镜54更改为扩束器65。
除此以外与实施例3相同，所以本实施例中，对于与实施例3不同的再现方法，使用图16及其它附图进行说明。
首先，对开口100与偏振分割衍射元件250进行切换。从光源11出射的光束经过准直透镜12、快门13、偏振变换元件14、PBS棱镜15、反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39、光信息记录介质300、波片150、电流计式反射镜50、波片150，再次入射到光信息记录介质300。此处，透过波片150时，参考光的S偏振成分被变换为S偏振和P偏振的偏振成分。
然后，从光信息记录介质300产生再现光和其它衍射光。此时，再现光和其它衍射光的偏振与参考光相同，所以具有P偏振和S偏振的偏振成分。
再现光和其它衍射光经过物镜32入射到中继透镜30内的偏振分割衍射元件250。此处，偏振分割衍射元件250能够在光轴方向、与光轴垂直的平面方向上驱动。
偏振分割衍射元件250是偏振衍射光栅或偏振性全息元件，是仅使规定的偏振光衍射的元件。图13示出了偏振分割衍射元件250的图案。
入射到偏振分割衍射元件250的再现光的S偏振成分保持原状透过偏振分割衍射元件250，P偏振成分按偏振分割衍射元件250的区域Ga、Gb、Gc、Gd各区域发生衍射。另外，其它衍射光入射到区域250B，所以不会从偏振分割衍射元件250透射。由此，能够使再现光与其它衍射光分离。
然后，从偏振分割衍射元件250出射的再现光透过中继透镜30，入射到PBS棱镜51。此时，从偏振分割衍射元件250透射的再现光，经过PBS棱镜51、偏振变换元件52、PBS棱镜28，入射到摄像元件53。
然后，基于入射到摄像元件53的再现光生成再现图像数据。另外，在偏振分割衍射元件250中衍射的再现光，在PBS棱镜51上反射，经过扩束器65入射到光检测器55。
接着，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。由此，对光信息记录介质300内的角度不同的下一页的再现图像数据进行再现。然后，在完成了规定册的再现的情况下，基于位置误差信号控制光信息记录介质300、偏振分割衍射元件250，进行下一册的再现。
此处，说明本实施例的位置误差信号的检测方法。图18示出了光检测器55。光检测器55具有8个受光部Da1、Da2、Db1、Db2、Dc1、Dc2、Dd1、Dd2。在偏振分割衍射元件250的区域Ga中衍射的再现光入射到受光部Da1、Da2，在区域Gb中衍射的再现光入射到受光部Db1、Db2，在区域Gc中衍射的再现光入射到受光部Dc1、Dc2，在区域Gd中衍射的再现光入射到受光部Dd1、Dd2。此处，令受光部Da1、Da2、Db1、Db2、Dc1、Dc2、Dd1、Dd2检测出的信号为信号A1、A2、B1、B2、C1、C2、D1、D2时，光信息记录介质300的位置误差信号XPES、YPES、ZPES如下所示。
[数2]
XPES＝(A1+A2)-(C1+C2)
YPES＝(B1+B2)-(D1+D2)
ZPES＝(A1+B1+C1+D1)-(A2+B2+C2+D2)
此处，对于偏振分割衍射元件250的x方向、y方向偏差，因为与实施例3同样的理由，能够检测出位置误差信号。另外，关于z方向在以下说明。
图19是示意性地表示偏振分割衍射元件250的区域Ga与光检测器55的受光部Da1、Da2的关系的图。图19(A)、(B)、(C)示出了偏振分割衍射元件250在z方向上偏离的情况。(A)表示向正侧偏离的情况，(B)表示无偏离的情况，(C)表示向负侧偏离的情况。其中，光束SP、SZ、SM表示不同入射角度的光束。
首先，如(B)所示在偏振分割衍射元件250没有偏差的情况下，光束SP、SZ、SM各自透过区域Ga，所以光检测器55的Da1、Da2检测出的像，是原本的通过空间调制器29记录的图像。与此相对，当如(A)所示偏振衍射元件250在正向上偏离时，相应地光束SP难以透过区域Ga。因此，光检测器55的受光部Da1、Da2检测出的像中，单侧的区域被裁剪。同样地，如(C)所示偏振衍射元件250在负向上偏离时，光检测器55的受光部Da1、Da2检测出的像中，相反一侧的区域被裁剪。
此处说明了偏振衍射元件250的区域Ga，但区域Gb、Gc、Gd也是同样的。因此，通过利用光检测器55的受光部Da1、Da2、Db1、Db2、Dc1、Dc2、Dd1、Dd2对该状况进行检测，能够生成z方向的位置误差信号。本实施例中，通过进行这样的检测，与实施例1～4相比能够检测出位置偏离的方向。因此，优选进行控制以使ZPES成为零。
其中，本说明中针对偏振分割衍射元件250进行了说明，但即使在偏振分割衍射元件250固定的状态下，光信息记录介质300在Z方向上偏离，也是同样的。
本实施例与实施例3同样地，基于来自图17的光检测器55的信号生成位置误差信号，对偏振分割衍射元件250进行控制。其中，关于偏振分割衍射元件250的控制的顺序和再现时的控制流程，与实施例1同样即可。
如上所述，本实施例中基于位置误差信号控制偏振分割衍射元件250，使再现光与其它衍射光分离。另外，本实施例的结构除了偏振分割衍射元件250以外与实施例3相同，所以即使与实施例3同样地改变结构也可以得到同样的效果。
实施例6
图20示出了本发明的第六实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置的光学系统。实施例5采用了对开口100与偏振分割衍射元件250进行切换的结构，但本实施例中，特征在于仅有偏振分割衍射元件250。除此以外与实施例4、实施例5相同。其中，本实施例的记录方法与实施例4相同，再现方法与实施例5相同。
本实施例与实施例5同样地，基于来自图20的光检测器55的信号生成位置误差信号，对偏振分割衍射元件250进行控制。其中，关于偏振分割衍射元件250的控制的顺序和再现时的控制流程，与实施例1同样即可。
如上所述，本实施例中基于位置误差信号控制偏振分割衍射元件250，使再现光与其它衍射光分离。另外，本实施例的情况下，通过使用偏振分割衍射元件250来除去记录时由空间光调制器52附加的信号光的高频成分。因此，相对于实施例5，具有能够小型化的优点。
其中，本实施例的结构除了偏振分割衍射元件250以外与实施例5相同，所以即使与实施例5同样地改变结构也可以得到同样的效果。
实施例7
图21示出了本发明的第七实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置60的光学系统。本实施例的特征在于将实施例3的偏振分割衍射元件250更改为具有波片的功能和衍射光栅的功能的光学元件275。本实施例将该元件称为波片分割衍射元件275。
除此以外与实施例3相同，所以本实施例中，对于与实施例3不同的再现方法，使用图21及其它附图进行说明。
首先，在再现时，对开口100与波片分割衍射元件275进行切换。从光源11出射的光束经过准直透镜12、快门13、偏振变换元件14、PBS棱镜15、反射镜36、反射镜37、电流计式反射镜38、扫描透镜39、光信息记录介质300、电流计式反射镜50，再次入射到光信息记录介质300。由此，从光信息记录介质300产生再现光和其它衍射光。
再现光和其它衍射光经过物镜32，对中继透镜30内的波片分割衍射元件275入射。此处，波片分割衍射元件275能够在光轴方向、与光轴垂直的平面方向上驱动。
图22示出了波片分割衍射元件275的图案。波片分割衍射元件275包括区域275A和区域275B、区域275C，区域275A是透射区域，区域275B是遮光区域，区域275C是具有1/2波片和衍射元件的功能的区域。另外，区域275C被分割为区域Ka、Kb、Kc、Kd这4部分。
对波片分割衍射元件275入射的再现光入射到区域275A，保持原状出射。接着，从波片分割衍射元件275出射的再现光，透过中继透镜30，经过PBS棱镜51、偏振变换元件52、PBS棱镜28，入射到摄像元件53。然后，基于入射到摄像元件53的再现光生成再现图像数据。
另外，对波片分割衍射元件275入射的来自1个邻接册的衍射光入射到区域275C，除此以外的衍射光入射到区域275B。因此，其它衍射光中，仅有来自1个邻接册的衍射光从波片分割衍射元件275出射。
此处，入射到区域275C的来自邻接册的衍射光的偏振被变换并且发生衍射。然后，从区域275C出射的衍射光在PBS棱镜51上反射，经过检测透镜54入射到光检测器55。
接着，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。由此对光信息记录介质300内的角度不同的下一页的再现图像数据进行再现。然后，在完成了规定册的再现的情况下，基于位置误差信号控制光信息记录介质300、波片分割衍射元件275，进行下一册的再现。此时，调整电流计式反射镜38的旋转角度以使邻接册成为大致最大。
此处，说明本实施例的位置误差信号的检测方法。本实施例的检测器可以采用实施例3所示的图14的受光部配置。光检测器55包括4个受光部Da、Db、Dc、Dd。而且，在偏振分割衍射元件250的区域Ka、Kb、Kc、Kd中衍射的再现光分别入射到受光部Da、Db、Dc、Dd。令受光部Da、Db、Dc、Dd检测出的信号为信号A、B、C、D时，光信息记录介质300的位置误差信号XPES、YPES、ZPES如下所示。
[式1]
XPES＝A-C
YPES＝B-D
ZPES＝A+B+C+D
其中，运算方法等与实施例3相同。实施例3中，使用再现光生成位置误差信号，但本实施例的特征在于使用来自邻接册的衍射光生成位置误差信号。通过采用这样的检测方法，本实施例相对于实施例3能够增大由摄像元件53得到的再现光量，所以具有可以进行稳定的再现的优点。另外，关于波片分割衍射元件275的控制的顺序和再现时的控制流程，与实施例1同样即可。不过，关于再现时的控制流程，在S1的初始调整中，调整电流计式反射镜38、50以使邻接册的衍射光产生这一点与实施例1不同。此处，本实施例中，仅检测邻接册中的1个册，但也可以检测多个册用于位置控制。
另外，本实施例的结构除了波片分割衍射元件275以外与实施例3几乎相同，所以即使与实施例3同样地改变结构也可以得到同样的效果。进而，本实施例中，对于来自邻接册的衍射光使用与实施例3相同的方法检测位置误差信号，但例如也可以对于来自邻接册的衍射光使用与实施例5相同的方法进行检测。
另外，波片分割衍射元件275不限于1个元件，例如也可以由波片和分割衍射元件这2个光学元件构成。另外，也可以使区域275C成为受光部。而且，本实施例中，用衍射元件说明了波片分割衍射元件275的区域275C，但也可以使用引起折射的结构。
实施例8
图23示出了本发明的第八实施例的双光束角度复用方式的全息图再现装置内的光拾取器装置60的光学系统。实施例7采用对开口100与波片分割衍射元件275进行切换的结构，但本实施例中，特征在于采用波片分割衍射元件275与偏振元件56的结构。除此以外与实施例4、实施例7相同。其中，本实施例的记录方法与实施例4相同，再现方法与实施例7相同。
如上所述，本实施例中基于位置误差信号控制波片分割衍射元件275，使再现光与其它衍射光分离。另外，本实施例的情况下，通过使用波片分割衍射元件275来除去记录时由空间光调制器52附加的信号光的高频成分。因此，相对于实施例7，具有能够小型化的优点。
另外，本实施例的结构除了波片分割衍射元件275和偏振元件56以外与实施例7相同，所以即使与实施例7同样地改变结构也可以得到同样的效果。
这样，本发明特征在于，利用偏振元件或者偏振元件和偏振分束元件，使来自要再现的全息图的再现光与来自这之外的全息图的衍射光分离。另外，其特征还在于利用偏振元件和偏振分束元件，使再现用的光束与位置误差信号用的光束分离。进而，本发明的特征还在于使用偏振元件和偏振分束元件检测位置误差信号。而且，本发明特征还在于使用检测出的位置误差信号驱动偏振元件。
实施例1至实施例8中，通过使用分割波片200、偏振分割衍射光栅250、波片分割衍射元件275作为偏振元件，而避免再现时来自邻接册的衍射光对再现的影响，同时检测位置误差信号。
另外，本发明不限定于上述实施例，包括各种变形例。例如，上述实施例是为了使本发明易于理解而进行的详细说明，并不限定于必须具备说明的所有结构。另外，能够将某个实施例的结构的一部分置换为其它实施例的结构，或者也能够在某个实施例的结构上添加其它实施例的结构。另外，对于各实施例的结构的一部分，能够追加、删除、置换其它结构。
附图标记说明
11：光源，12：准直透镜，13：快门，14：偏振变换元件，15：PBS棱镜，25：扩束器，26：相位掩模，27：中继透镜，28：PBS棱镜，29：空间光调制器，30：中继透镜，32：物镜，36：反射镜，37：反射镜，38：电流计式反射镜，39：扫描透镜，50：电流计式反射镜，51：PBS棱镜，52：偏振变换元件，53：摄像元件，54：检测透镜，55：光检测器，65：扩束器，60：光拾取器装置，70：光信息记录介质驱动元件，82：光源驱动电路，83：伺服信号生成电路，84：伺服控制电路，85：信号处理电路，86：信号生成电路，87：快门控制电路，88：位置控制电路，89：控制器，99：波片，100：开口，200：分割波片，250：偏振分割衍射光栅250，275：波片分割衍射元件，300：光信息记录介质，512：相位共轭光学系统，513：光信息记录介质Cure光学系统

Claims (10)

1.一种通过对光信息记录介质照射参考光来再现信息信号的全息图再现装置，其特征在于，包括：
偏振变换部，对在所述光信息记录介质上照射所述参考光时产生的衍射光的偏振进行变换；
受光部，接收由所述偏振变换部进行了偏振变换的衍射光；和
伺服信号生成电路部，使用由所述受光部接收到的衍射光，生成使所述光信息记录介质或所述偏振变换部移动的信号。
2.如权利要求1所述的全息图再现装置，其特征在于：
所述衍射光是再现光。
3.如权利要求1所述的全息图再现装置，其特征在于：
包括偏振分束部，该偏振分束部使由所述偏振变换部进行了偏振变换的衍射光的行进方向分支，
所述受光部接收由所述偏振分束部分束后的衍射光。
4.如权利要求1所述的全息图再现装置，其特征在于：
所述偏振变换部使从所述偏振变换部透射的衍射光的偏振方向在彼此不同的方向上。
5.如权利要求4所述的全息图再现装置，其特征在于：
所述偏振变换部使从所述偏振变换部透射的衍射光的偏振彼此大致正交。
6.如权利要求1所述的全息图再现装置，其特征在于：
所述偏振变换部包括偏振衍射光栅的区域。
7.如权利要求6所述的全息图再现装置，其特征在于：
所述受光部接收从所述偏振变换部包括的偏振衍射光栅的区域透射的所述衍射光。
8.如权利要求1所述的全息图再现装置，其特征在于：
所述偏振变换部包括不使衍射光通过的遮光区域。
9.一种全息图再现装置的再现方法，通过对光信息记录介质内的全息图照射参考光来再现信息信号，其特征在于，包括：
对在所述光信息记录介质上照射所述参考光时从光信息记录介质内的全息图产生的衍射光中的规定的衍射光进行偏振变换的步骤；
接收进行了偏振变换的衍射光的步骤；和
使用接收到的衍射光生成使所述光信息记录介质或所述偏振变换部移动的信号的步骤。
10.如权利要求9所述的全息图再现装置的再现方法，其特征在于：
所述使用接收到的衍射光生成使所述光信息记录介质或所述偏振变换部移动的信号的步骤包括：
使从所述受光部得到的信号成为X成分、Y成分、Z成分的步骤；
以使所述X成分、Y成分、Z成分分别成为规定量的方式进行运算的步骤；和
检测用于使所述X成分、Y成分、Z成分成为所述规定量所需的值作为位置误差信号的步骤。
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