CN105486943A - 一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法 - Google Patents

一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法 Download PDF

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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

Abstract

本发明公开了一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法，涉及电子检测领域，该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法步骤分为：绘制待测电子部件轮廓线、中心原点O点、坐标x轴、坐标y轴；绘制圆周形测线；绘制辐射形测线；绘制测试点；测试点磁场测量；计算各测试点的干扰磁场，对某一测试点测量时采用固定磁探头不动，而通过挪动电子部件的方法完成两次测量，在满足背景磁场在时域上稳定条件下即可得到干扰磁场值，不需要背景磁场在空域上均匀稳定，具有更强的环境适应能力。

Description

一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法
技术领域
本发明涉及一种电子部件干扰磁场测量方法，尤其是在复杂地磁场环境下的电子部件干扰磁场测量方法。
背景技术
地磁匹配导航能否实现飞行器高精度定位，其中一个重要方面取决于能否在飞行器载体磁干扰下实现地磁场的实时精确探测。飞行器中各电子部件会在其周围空间产生极其复杂的干扰磁场，这些干扰磁场会叠加在地磁场信号上，严重影响地磁场的高精度测量。为了从磁测结果中将干扰磁场剥离出去，还原出真实的地球磁场，需要将飞行器中各电子部件通过测试建立干扰磁场模型，然后将其在地磁磁测结果中加以补偿。
电子部件干扰磁场传统的测量方法为：不放置电子部件，将磁测仪放置在各测量点（Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ……）处进行背景磁场测量，然后将电子部件放置在O点后，再将磁探头放置在各测量点处对背景磁场和部件干扰磁场的叠加场进行测量，比较不放置和放置电子部件两种情况下同一测量点的测量值即可得到部件在空间上分布的干扰磁场。这种测量方法要求试验场地的背景磁场均匀稳定，但对于地质结构复杂，地面、地下设备包含的铁磁质较多的试验场地，其背景磁场较为复杂，磁探头微小的位置变化都会引起背景磁场很大变化，导致测量结果失效。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法，在背景磁场空间分布不够均匀，甚至分布变化剧烈的复杂环境下，准确、有效地测得电子部件的干扰磁场的测量方法。
为实现上述目的，本发明提供以下的技术方案：一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法，其特征在于：所述复杂环境下电子部件干扰磁场的测量设备包括磁探头和待测电子部件，该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法的步骤如下：
（1）绘制待测电子部件轮廓线、中心原点O点、坐标x轴、坐标y轴：按部件外形画出部件的轮廓线，取中心位置点为中心原点O点，并且绘制出相互垂直的坐标x轴和坐标y轴；
（2）绘制圆周形测线：从中心原点O点开始，内而外绘制7条圆周形测线，分别记作测线Ⅰ、测线Ⅱ、……、测线Ⅶ，设定测线Ⅰ的半径为20cm，测线Ⅱ与测线Ⅲ之间、测线Ⅲ和测线Ⅳ之间间隔为10cm，测线Ⅳ与测线Ⅴ之间、测线Ⅴ与测线Ⅵ之间、测线Ⅵ与测线Ⅶ之间间隔为20cm；
（3）绘制辐射形测线：均匀绘制8条射形测线A-H，相邻两测线之间夹角为45°，所有部件的长轴沿着A、E测线方向，宽轴沿着C、G测线方向；
（4）绘制测试点：圆形测线Ⅰ-Ⅶ与辐射形测线A-H的交点即为设定的测试点，测试点记为XY，其中X为辐射形测线编号，范围从A-H，Y为圆形测线编号，范围从Ⅰ-Ⅶ；
（5）测试点磁场测量：将磁探头放置在AⅠ测点，测量没有部件时该点的磁场值并记录，保持磁探头不动，将待测部件放置在中心位置，使其四条边与画好的轮廓线重合，测量有部件时的磁场值并记录，按照此方法依次在AⅡ……HⅦ等其他测试点进行测量并记录数据；
（6）计算各测试点的干扰磁场：将各测试点处有部件和无部件时的磁场测量值进行作差，得到部件在各测试点处的干扰磁场值。
采用以上技术方案的有益效果是：该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法在对某一测试点测量时采用固定磁探头不动，而通过挪动电子部件的方法完成两次测量，在满足背景磁场在时域上稳定条件下即可得到干扰磁场值，不需要背景磁场在空域上均匀稳定，具有更强的环境适应能力；根据弹载电子部件外形设计规则、对称的特点，采用圆周-辐射线对称布点方式、近密远疏分布规律来布置测试点，符合弹载电子部件干扰磁场的分布特点，科学、合理，更利于开展弹载电子部件的干扰磁场数学建模。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。
图1是本发明一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法的电子部件干扰磁场测量测试点示意图。
其中，1—待测电子部件、2—坐标中心原点O、3—坐标x轴、4—坐标y轴、5—圆周形测线、6—辐射形测线、7—测试点。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法的优选实施方式。
图1出示本发明一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法的具体实施方式：该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量设备包括磁探头和待测电子部件1。
将磁探头放置在某一测试点7处固定不变，对不放置部件和放置部件两种情况下进行测量，对比两种情况下的测量结果，从而得到部件在该测量点处的干扰磁场。然后将磁探头放置在下一测试点7，重复上述工作，直至测完所有测试点7，最终得到该电子部件在空间上的干扰磁场分布。
该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法的步骤如下：
（1）绘制待测电子部件1轮廓线、中心原点O点2、坐标x轴3、坐标y轴4：按部件外形画出部件的轮廓线，取中心位置点为中心原点O点2，并且绘制出相互垂直的坐标x轴3和坐标y轴4；
（2）绘制圆周形测线5：从中心原点O点2开始，内而外绘制7条圆周形测线，分别记作测线Ⅰ、测线Ⅱ、……、测线Ⅶ，设定测线Ⅰ的半径为20cm，测线Ⅱ与测线Ⅲ之间、测线Ⅲ和测线Ⅳ之间间隔为10cm，测线Ⅳ与测线Ⅴ之间、测线Ⅴ与测线Ⅵ之间、测线Ⅵ与测线Ⅶ之间间隔为20cm；
（3）绘制辐射形测线6：均匀绘制8条射形测线A-H，相邻两测线之间夹角为45°，所有部件的长轴沿着A、E测线方向，宽轴沿着C、G测线方向，如图1中的方式绘制；
（4）绘制测试点7：圆形测线Ⅰ-Ⅶ与辐射形测线A-H的交点即为设定的测试点，测试点记为XY，其中X为辐射形测线编号，范围从A-H，Y为圆形测线编号，范围从Ⅰ-Ⅶ，例如测点AⅠ；
（5）测试点7磁场测量：将磁探头放置在AⅠ测点，测量没有部件时该点的磁场值并记录，保持磁探头不动，将待测部件放置在中心位置，使其四条边与画好的轮廓线重合，测量有部件时的磁场值并记录，按照此方法依次在AⅡ……HⅦ等其他测试点进行测量并记录数据；
（6）计算各测试点7的干扰磁场：将各测试点7处有部件和无部件时的磁场测量值进行作差，得到部件在各测试点7处的干扰磁场值。
该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法在对某一测试点7测量时采用固定磁探头不动，而通过挪动待测电子部件1的方法完成两次测量，在满足背景磁场在时域上稳定条件下即可得到干扰磁场值，不需要背景磁场在空域上均匀稳定，具有更强的环境适应能力；根据弹载电子部件外形设计规则、对称的特点，采用圆周-辐射线对称布点方式、近密远疏分布规律来布置测试点7，符合弹载待测电子部件1干扰磁场的分布特点，科学、合理，更利于开展弹载待测电子部件1的干扰磁场数学建模。
以上的仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (1)

1.一种复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法，其特征在于：复杂环境下电子部件干扰磁场的测量设备包括磁探头和待测电子部件（1），该复杂环境下电子部件干扰磁场的测量方法的步骤如下：
步骤一、绘制待测电子部件（1）轮廓线、中心原点O点（2）、坐标x轴（3）、坐标y轴（4）：按部件外形画出部件的轮廓线，取中心位置点为中心原点O点（2），并且绘制出相互垂直的坐标x轴（3）和坐标y轴（4）；
步骤二、绘制圆周形测线（5）：从中心原点O点（2）开始，内而外绘制7条圆周形测线，分别记作测线Ⅰ、测线Ⅱ、……、测线Ⅶ，设定测线Ⅰ的半径为20cm，测线Ⅱ与测线Ⅲ之间、测线Ⅲ和测线Ⅳ之间间隔为10cm，测线Ⅳ与测线Ⅴ之间、测线Ⅴ与测线Ⅵ之间、测线Ⅵ与测线Ⅶ之间间隔为20cm；
步骤三、绘制辐射形测线（6）：均匀绘制8条射形测线A-H，相邻两测线之间夹角为45°，所有部件的长轴沿着A、E测线方向，宽轴沿着C、G测线方向；
步骤四、绘制测试点（7）：圆形测线Ⅰ-Ⅶ与辐射形测线A-H的交点即为设定的测试点，测试点记为XY，其中X为辐射形测线编号，范围从A-H，Y为圆形测线编号，范围从Ⅰ-Ⅶ；
步骤五、测试点（7）磁场测量：将磁探头放置在AⅠ测点，测量没有部件时该点的磁场值并记录，保持磁探头不动，将待测部件放置在中心位置，使其四条边与画好的轮廓线重合，测量有部件时的磁场值并记录，按照此方法依次在AⅡ……HⅦ等其他测试点进行测量并记录数据；
步骤六、计算各测试点（7）的干扰磁场：将各测试点（7）处有部件和无部件时的磁场测量值进行作差，得到部件在各测试点（7）处的干扰磁场值。
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