CN105445221A - 大颗粒物料的近红外光谱分析装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置及方法，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。本发明具有精度高等优点。
Description
技术领域
本发明涉及近红外光谱分析领域，特别涉及一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置及方法。
背景技术
工业生产过程中，利用近红外光谱分析方法对非均匀的固态样品进行在线检测存在如下问题：1不能建立良好的近红外光谱在线分析模型；2近红外在线检测值与抽样后离线检测值不一致，在线分析结果准确度低。(实际生产中，一般以抽样离线检测数据为基准，衡量在线检测数据的准确性，因此认为在线分析数据准确度低。)
产生上述问题的原因在于：光谱在线扫描的样品与抽样分析的样品不是同一个样品。因生产过程的连续性，近红外在线仪器扫描到的是一段时间内的样品，而抽样则只是其中一个时间点的样品，在线分析的样品与抽样分析的样品不一致，同时由于样品自身不均匀，更扩大了在线样品与抽样样品的差异。
发明内容
为了解决上述现有技术方案中的不足，本发明提供了一种精度高的大颗粒物料的近红外光谱分析装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：
一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；所述近红外光谱分析装置进一步包括：
采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；
粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；
留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。
根据上述的近红外光谱分析装置，优选地，所述采样单元的一端安装在竖直或倾斜设置的物料管道上。
根据上述的近红外光谱分析装置，可选地，所述近红外光谱分析装置进一步包括：
收集单元，所述收集单元用于收集采样后的待测样品，并送粉碎单元；
阀门，所述阀门安装在所述收集单元和粉碎单元的连接通道上。
根据上述的近红外光谱分析装置，优选地，所述收集单元是料斗。
根据上述的近红外光谱分析装置，可选地，所述近红外光谱分析装置进一步包括：
传送机，所述传送机设置在所述粉碎单元的下方；
限位板，所述限位板设置在所述传送机的上方，且处于所述分析仪表和粉碎单元的出口之间。
根据上述的近红外光谱分析装置，可选地，所述近红外光谱分析装置进一步包括：
混匀单元，所述混匀单元设置在所述粉碎单元内，用于混匀粉碎后的待测样品。
本发明还提供了一种大颗粒物料的近红外光谱分析方法，该发明目的是通过以下技术方案实现的：
一种大颗粒物料的近红外光谱分析方法，所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A1)取样待测样品；
(A2)粉碎取样后的待测样品；
(A3)使用近红外光谱分析仪表分析粉碎后的待测样品；
(A4)留样分析后的待测样品。
根据上述的近红外光谱分析方法，可选地，所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A5)离线分析留样的待测样品，获得的数据用于完善所述近红外光谱分析仪表的分析模型。
与现有技术相比，本发明具有的有益效果为：
1.在线分析所获得的光谱与抽样离线参考数据具有较好的对应性，可建立的具有良好预测能力的分析模型；
2.在线分析数据与抽样离线参考数据可进行良好对照，能充分说明在线分析方法及装置的有效性；
3.粉料在线检测结果误差小、精度高，能较好地反映生产参数变化或生产过程物料质量变化情况，便于指导调整生产工艺参数；
4.粉碎混匀、在线分析等单元均不在生产管路上，安装维护不影响正常生产过程，便于在工厂实施。
附图说明
参照附图，本发明的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是：这些附图仅仅用于举例说明本发明的技术方案，而并非意在对本发明的保护范围构成限制。图中：
图1是根据本发明实施例1的近红外光谱分析装置的结构简图；
图2是根据本发明实施例2的近红外光谱分析装置的结构简图；
图3是根据本发明实施例3的近红外光谱分析装置的结构简图。
具体实施方式
图1-3和以下说明描述了本发明的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本发明。为了教导本发明技术方案，已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本发明的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本发明的多个变型。由此，本发明并不局限于下述可选实施方式，而仅由权利要求和它们的等同物限定。
实施例1：
图1示意性地给出了本发明实施例的大颗粒物料的近红外光谱分析装置的结构简图，如图1所示，所述近红外光谱分析装置包括：
采样单元2，所述采样单元用于从物料输送机1上间歇性地抓取采样待测样品，并传送到收集单元；
收集单元3，如料斗，所述收集单元用于收集采样后的待测样品，并送粉碎单元；
阀门31，所述阀门安装在所述收集单元和粉碎单元的连接通道上；
粉碎单元4，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；
混匀单元，如搅拌器，所述混匀单元设置在所述粉碎单元内，用于混匀粉碎后的待测样品；
分析仪表5，所述分析仪表利用近红外光谱分析技术分析粉碎混匀后的待测样品；安装分析仪表的管道上设置观察窗6，用于观察样品的流动状态；
留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，采样倒“Y”形结构，将分析后的样品分为两路34、7，一路用作留样，另一路将多余的样品送回到物料输送机上，每一路上均设置阀门33、32。
本发明实施例的一种大颗粒物料的近红外光谱分析方法，即上述近红外光谱分析装置的工作过程，所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A1)利用采样单元抓取待测样品，并送到收集单元；
(A2)收集单元收集一定时间内的待测样品，之后打开阀门，粉碎混匀取样后的待测样品；
(A3)使用近红外光谱分析仪表分析粉碎后的待测样品；
(A4)分析后的样品一部分留样，另一部分送回到物料输送机上；
(A5)离线分析留样的样品，获得的数据用于完善所述近红外光谱分析仪表的分析模型。
实施例2：
图2示意性地给出了本发明实施例的大颗粒物料的近红外光谱分析装置的结构简图，如图2所示，所述近红外光谱分析装置包括：
采样单元12，所述采样单元倾斜设置，输入口设置在竖直的物料管道11内，用于采样待测样品，并传送到收集单元；采样单元12上安装阀门13，用于间歇性取样；
收集单元3，如料斗，所述收集单元用于收集采样后的待测样品，并送粉碎单元；
阀门31，所述阀门安装在所述收集单元和粉碎单元的连接通道上；
粉碎单元4，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；
混匀单元，如搅拌器，所述混匀单元设置在所述粉碎单元内，用于混匀粉碎后的待测样品；
分析仪表5，所述分析仪表利用近红外光谱分析技术分析粉碎混匀后的待测样品；安装分析仪表的管道上设置观察窗6，用于观察样品的流动状态；
留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，采样倒“Y”形结构，将分析后的样品分为两路34、7，一路用作留样，另一路将多余的样品送回到物料输送机上，每一路上均设置阀门33、32。
本发明实施例的一种大颗粒物料的近红外光谱分析方法，即上述近红外光谱分析装置的工作过程，所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A1)利用采样单元采样待测样品，并送到收集单元；
(A2)收集单元收集一定时间内的待测样品，之后打开阀门，粉碎混匀取样后的待测样品；
(A3)使用近红外光谱分析仪表分析粉碎后的待测样品；
(A4)分析后的样品一部分留样，另一部分送回到物料输送机上；
(A5)离线分析留样的样品，获得的数据用于完善所述近红外光谱分析仪表的分析模型。
实施例3：
图3示意性地给出了本发明实施例的大颗粒物料的近红外光谱分析装置的结构简图，如图3所示，所述近红外光谱分析装置包括：
采样单元12，所述采样单元倾斜设置，输入口设置在竖直的物料管道11内，用于采样待测样品，并传送到收集单元；采样单元12上安装阀门13，用于间歇性取样；
收集单元3，如料斗，所述收集单元用于收集采样后的待测样品，并送粉碎单元；
阀门31，所述阀门安装在所述收集单元和粉碎单元的连接通道上；
粉碎单元4，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；
混匀单元，如搅拌器，所述混匀单元设置在所述粉碎单元内，用于混匀粉碎后的待测样品；
物料输送机22，所述物料输送机22设置在所述粉碎单元的出口下方，使得从所述出口输出的待测样品落在所述物料输送机上，并向前输送；
分析仪表5，所述分析仪表设置在所述物料输送机的上方，利用近红外光谱分析技术分析粉碎混匀后的待测样品；
限位板21，所述限位板设置在所述分析仪表的侧部，用于将输送到分析仪表下方的物料输送机上的待测样品刮平；
留样单元23，所述留样单元为容器，安装在所述物料输送机22的尾端；当输送机上的被分析仪表分析后的样品运动到尾端时，落在所述容器内。
本发明实施例的一种大颗粒物料的近红外光谱分析方法，即上述近红外光谱分析装置的工作过程，所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A1)利用采样单元采样待测样品，并送到收集单元；
(A2)收集单元收集一定时间内的待测样品，之后打开阀门，粉碎混匀取样后的待测样品；
(A3)使用近红外光谱分析仪表分析粉碎后的待测样品；
(A4)分析后的样品一部分留样；
(A5)离线分析留样的样品，获得的数据用于完善所述近红外光谱分析仪表的分析模型。
Claims (8)
1.一种大颗粒物料的近红外光谱分析装置，所述近红外光谱分析装置包括分析仪表；其特征在于：所述近红外光谱分析装置进一步包括：
采样单元，所述采样单元用于采样待测样品，并送粉碎单元；
粉碎单元，所述粉碎单元用于粉碎传送来的待测样品，粉碎后的待测样品送分析仪表分析；
留样单元，所述留样单元安装在所述粉碎单元的下游，用于留样分析后的待测样品。
2.根据权利要求1所述的近红外光谱分析装置，其特征在于：所述采样单元的一端安装在竖直或倾斜设置的物料管道上。
3.根据权利要求1所述的近红外光谱分析装置，其特征在于：所述近红外光谱分析装置进一步包括：
收集单元，所述收集单元用于收集采样后的待测样品，并送粉碎单元；
阀门，所述阀门安装在所述收集单元和粉碎单元的连接通道上。
4.根据权利要求3所述的近红外光谱分析装置，其特征在于：所述收集单元是料斗。
5.根据权利要求1所述的近红外光谱分析装置，其特征在于：所述近红外光谱分析装置进一步包括：
传送机，所述传送机设置在所述粉碎单元的下方；
限位板，所述限位板设置在所述传送机的上方，且处于所述分析仪表和粉碎单元的出口之间。
6.根据权利要求1所述的近红外光谱分析装置，其特征在于：所述近红外光谱分析装置进一步包括：
混匀单元，所述混匀单元设置在所述粉碎单元内，用于混匀粉碎后的待测样品。
7.一种大颗粒物料的近红外光谱分析方法，所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A1)取样待测样品；
(A2)粉碎取样后的待测样品；
(A3)使用近红外光谱分析仪表分析粉碎后的待测样品；
(A4)留样分析后的待测样品。
8.根据权利要求7所述的近红外光谱分析方法，其特征在于：所述近红外光谱分析方法包括以下步骤：
(A5)离线分析留样的待测样品，获得的数据用于完善所述近红外光谱分析仪表的分析模型。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20160330 |
|
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |