CN105430678B - Ptn设备接口测试的方法及装置 - Google Patents

Ptn设备接口测试的方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种PTN设备接口测试的方法及装置,该方法包括：将板卡插进测试子框与测试背板相连接；将测试软件加载到板卡内存里运行并进行自动化测试；操作板卡中寄存器，设置TOD初始值；选择由板卡中寄存器产生的TOD值和来自外时间接口1的秒脉冲送出到外时间同步输出接口，之后选择接收来自外时间接口1的PPS和TOD；测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器值，若该值大于之前设定的TOD初始值且测试背板能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿则认定外时间接口1硬件通道正常，否则认定外时间接口1硬件通道存在故障。本发明测试过程简单，成本较低，且自动化测试方式大大提高了接口测试的效率。

Description

PTN设备接口测试的方法及装置
技术领域
本发明涉及接口测试领域，具体涉及PTN设备接口测试的方法及装置。
背景技术
PTN(Packet Transport Network，分组传送网)是一个分布时间同步的网络，通过与基站之间的时间同步接口向基站传输时间信息。其中，PTN网络与外部设备或网络的时间同步接口有两处：与时间同步源(RNC或GPS等时间服务器)之间的时间同步接口，与基站之间的时间同步接口。每处时间同步接口又可分为带内时间同步接口和外时间同步接口，外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD。
目前测试板卡外部的TOD和PPS时间同步输入通道时，通常是测试人员进行测试或用时间同步分析仪产生符合中国移动标准的1PPS+TOD信号，测试外时间同步输出通道时，在没有时间同步分析仪时需要测试人员对板卡输出的TOD帧进行解析，这样测试外时间同步通道的方法比较繁琐和复杂，测试效率较低，同时，仅为了验证板卡外时间接口硬件通道是否正常而使用时间同步分析仪进行测试的成本较高，因此，现有的接口测试方法存在如下问题：
(1)测试过程较繁琐、复杂；
(2)测试的成本较高；
(3)测试的效率较低。
由此可见，现有的接口测试方法成本较高、效率较低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是解决当对外时间同步接口进行测试时，通过测试人员或用时间同步分析仪测试的方式成本较高、效率较低的问题。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种PTN设备接口测试的方法，包括以下步骤：
步骤101：将板卡插进测试子框与测试背板相连接，板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1；
步骤102：测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS；
步骤103：板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测；
步骤104：将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行；
步骤105：关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能，向寄存器2中依次写入32位TOD初始值；
步骤106：关闭TOD的初始值状态，并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能；
步骤107：设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD；
步骤108：等待五秒钟之后，设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD；
步骤109：测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值，并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值，如果是，则执行步骤111；否则，则执行步骤110；
步骤110：认定外时间接口1的硬件通道存在故障；
步骤111：判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，如果是，则执行步骤112；否则，返回步骤110；
步骤112：认定外时间接口1的硬件通道正常。
在上述方法中，外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD。
在上述方法中，所述秒脉冲信号，采用上升沿作为准时沿，上升时间小于50ns，脉宽为20ms-200ms。
在上述方法中，所述TOD信息波特率默认为9600，无奇偶校验，1个起始位，1个停止位，空闲帧为高电平，8个数据位，在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息，并在500ms内传完，此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间，TOD协议报文发送频率为每秒1次。
本发明还提供了一种PTN设备接口测试的装置，包括：
连接单元，用于将板卡插进测试子框与测试背板相连接，板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1；
第一发送单元，用于测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS；
第二发送单元，用于板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测；
加载单元，用于将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行；
写入单元，用于关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能，向寄存器2中依次写入32位TOD初始值；
关闭单元，用于关闭TOD的初始值状态，并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能；
第一设置单元，用于设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD；
第二设置单元，用于等待五秒钟之后，设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD；
读取单元，用于测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值，并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值，如果是，则执行判断单元；否则，则执行第一认定单元；
第一认定单元，用于认定外时间接口1的硬件通道存在故障；
判断单元，用于判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，如果是，则执行第二认定单元；否则，返回第一认定单元；
第二认定单元，用于认定外时间接口1的硬件通道正常。
在上述装置中，外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD。
在上述装置中，所述秒脉冲信号，采用上升沿作为准时沿，上升时间小于50ns，脉宽为20ms-200ms。
在上述装置中，所述TOD信息波特率默认为9600，无奇偶校验，1个起始位，1个停止位，空闲帧为高电平，8个数据位，应在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息，并在500ms内传完，此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间，TOD协议报文发送频率为每秒1次。
本发明，通过将板卡插进测试子框与测试背板相连接，将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行，进行自动化测试，操作板卡中寄存器，设置TOD初始值，选择由板卡内部寄存器产生的TOD值和来自外时间接口1的秒脉冲送出到外时间同步输出接口，之后选择接收来自外时间接口1的PPS和TOD，测试软件读取板卡中收到TOD寄存器的值，若收到的TOD值大于设置的初始值，且测试背板能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，则PTN设备外时间接口1的硬件通道正常，该测试方法过程简单，成本较低，而且自动化测试的方式大大提高了接口测试的效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种PTN设备接口测试的方法流程图；
图2为本发明实施例中外时间接口测试结构框图；
图3为本发明实施例提供的一种PTN设备接口测试的装置结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图和具体实施方式对本发明做出详细的说明。
本发明实施例提供了一种PTN设备接口测试的方法，如图1所示，所述方法包括以下步骤：
步骤101、将板卡插进测试子框与测试背板相连接，板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1。
如图2所示，图2为外时间接口测试结构框图。
需要说明的是，所述外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD，1PPS和TOD信息传送采用RS422电平方式，物理接头采用RJ45和DB9。
步骤102、测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS。
需要说明的是，所述秒脉冲信号，采用上升沿作为准时沿，上升时间小于50ns，脉宽为20ms-200ms。
步骤103、板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测。
步骤104、打开电源，将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行。
步骤105、关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能，向寄存器2中依次写入32位TOD初始值。
需要说明的是，所述TOD信息波特率默认为9600，无奇偶校验，1个起始位(用低电平表示)，1个停止位(用高电平表示)，空闲帧为高电平，8个数据位，应在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息，并在500ms内传完，此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间，TOD协议报文发送频率为每秒1次。
步骤106、关闭TOD的初始值状态，并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能。
步骤107、设置PPS&TOD选择寄存器，并选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD。
需要说明的是，当板卡输入的外时间接口1的PPS有秒脉冲时，寄存器的TOD值可以在初始值基础上连续自动加一。
步骤108、等待五秒钟之后，设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD。
步骤109、测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值，并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值，如果是，则执行步骤111；否则，则执行步骤110。
步骤110、认定外时间接口1的硬件通道存在故障。
步骤111、判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，如果是，则执行步骤112；否则，返回步骤110。
步骤112、认定外时间接口1的硬件通道正常。
可选的，测试人员可以直接根据电脑屏幕上打印的测试结果判定外时间接口的硬件通道是否正常。
本发明，通过将板卡插进测试子框与测试背板相连接，将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行，进行自动化测试，操作板卡中寄存器，设置TOD初始值，选择由板卡内部寄存器产生的TOD值和来自外时间接口1的秒脉冲送出到外时间同步输出接口，之后选择接收来自外时间接口1的PPS和TOD，测试软件读取板卡中收到TOD寄存器的值，若收到的TOD值大于设置的初始值，且测试背板能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，则PTN设备外时间接口1的硬件通道正常，该测试方法过程简单，成本较低，而且自动化测试的方式大大提高了接口测试的效率。
本发明实施例还提供了一种PTN设备接口测试的装置，如图3所示，包括：
连接单元10，用于将板卡插进测试子框与测试背板相连接，板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1；
第一发送单元20，用于测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS；
第二发送单元30，用于板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测；
加载单元40，用于将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行；
写入单元50，用于关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能，向寄存器2中依次写入32位TOD初始值；
关闭单元60，用于关闭TOD的初始值状态，并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能；
第一设置单元70，用于设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD；
第二设置单元80，用于等待五秒钟之后，设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD；
读取单元90，用于测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值，并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值，如果是，则执行判断单元；否则，则执行第一认定单元；
第一认定单元110，用于认定外时间接口1的硬件通道存在故障；
判断单元111，用于判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，如果是，则执行第二认定单元；否则，返回第一认定单元；
第二认定单元112，用于认定外时间接口1的硬件通道正常。
在上述装置中，外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD。
在上述装置中，所述秒脉冲信号，采用上升沿作为准时沿，上升时间小于50ns，脉宽为20ms-200ms。
在上述装置中，所述TOD信息波特率默认为9600，无奇偶校验，1个起始位，1个停止位，空闲帧为高电平，8个数据位，在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息，并在500ms内传完，此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间，TOD协议报文发送频率为每秒1次。
本发明不局限于上述最佳实施方式，任何人应该得知在本发明的启示下作出的结构变化，凡是与本发明具有相同或相近的技术方案，均落入本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.PTN设备接口测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤101：将板卡插进测试子框与测试背板相连接，板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1；
步骤102：测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS；
步骤103：板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测；
步骤104：将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行；
步骤105：关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能，向寄存器2中依次写入32位TOD初始值；
步骤106；关闭TOD的初始值状态，并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能；
步骤107：设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD；
步骤108：等待五秒钟之后，设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD；
步骤109：测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值，并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值，如果是，则执行步骤111；否则，则执行步骤110；
步骤110：认定外时间接口1的硬件通道存在故障；
步骤111：判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，如果是，则执行步骤112；否则，返回步骤110；
步骤112：认定外时间接口1的硬件通道正常；
其中，所述TOD信息波特率默认为9600，无奇偶校验，1个起始位，1个停止位，空闲帧为高电平，8个数据位，在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息，并在500ms内传完，此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间，TOD协议报文发送频率为每秒1次。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述秒脉冲信号，采用上升沿作为准时沿，上升时间小于50ns，脉宽为20ms-200ms。
4.PTN设备接口测试的装置，其特征在于，包括：
连接单元，用于将板卡插进测试子框与测试背板相连接，板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1；
第一发送单元，用于测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS；
第二发送单元，用于板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测；
加载单元，用于将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行；
写入单元，用于关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能，向寄存器2中依次写入32位TOD初始值；
关闭单元，用于关闭TOD的初始值状态，并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能；
第一设置单元，用于设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD；
第二设置单元，用于等待五秒钟之后，设置PPS&TOD选择寄存器，选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD；
读取单元，用于测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值，并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值，如果是，则执行判断单元；否则，则执行第一认定单元；
第一认定单元，用于认定外时间接口1的硬件通道存在故障；
判断单元，用于判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿，如果是，则执行第二认定单元；否则，返回第一认定单元；
第二认定单元，用于认定外时间接口1的硬件通道正常；
所述TOD信息波特率默认为9600，无奇偶校验，1个起始位，1个停止位，空闲帧为高电平，8个数据位，在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息，并在500ms内传完，此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间，TOD协议报文发送频率为每秒1次。
5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，外时间同步接口的接口类型为：1PPS+TOD。
6.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述秒脉冲信号，采用上升沿作为准时沿，上升时间小于50ns，脉宽为20ms-200ms。
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