CN106257257B - 一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪 - Google Patents

一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪,解决了现有技术中使用仪表检测星座图需要拆开光模块测量模块内部信号,有可能造成光模块内部器件或光纤的损伤的问题。该检测光模块星座图的方法包括:发送检测命令到待测光模块;获取待测光模块的内部数据;对所述内部数据进行解析,得到解析结果;根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。该方法保护了光模块的完整性,节约了资源,且采用该方法分析光模块星座图,可对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析,更有益于检测光模块发送信号的质量。

Description

一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪
技术领域
本发明涉及光模块调试领域,具体涉及一种光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪。
背景技术
目前,在光模块调试过程中,需要使用仪表检测光模块的星座图,以便确认光模块的发送信号质量,但很多情况下,仪表相对比较紧缺,且仪表的使用也相对比较繁琐和麻烦。许多仪表还需要定期维护和校准。更为重要的是在使用仪表检测星座图需要拆开光模块测量模块内部信号,有可能造成光模块内部器件或光纤的损伤。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪,解决了现有技术中使用仪表检测星座图需要拆开光模块测量模块内部信号,有可能造成光模块内部器件或光纤的损伤的问题,保护了光模块的完整性,节约了资源,且采用该方法分析光模块星座图,可对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析,更有益于检测光模块发送信号的质量。
为了实现上述目的,本发明实施例提供的一种检测光模块星座图的方法,包括:
发送检测命令到待测光模块;
获取待测光模块的内部数据;
对所述内部数据进行解析,得到解析结果;
根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。
其中,发送检测命令到待测光模块的步骤包括:
配置待测光模块的文件的类型及数据块的大小;
发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到载有待测光模块的单板上,并由单板将所述检测命令发送给所述待测光模块。
其中,所述待测光模块的文件的类型为星座图文件。
其中,所述发送检测命令到载有待测光模块的单板上之后,还包括:
所述单板将收到的检测命令转为符合光模块管理接口规范协议的管理数据输入输出MDIO命令,并将所述MDIO命令发送给待测光模块。
其中,获取待测光模块的内部数据的步骤包括:
通过单板获取待测光模块的当前数据块;
读取待测光模块包数计数器;
与虚拟矢量分析仪本地的包数计数器比较,若一致,则继续读取下一个数据块。
其中,通过单板获取待测光模块的当前数据块之后,还包括:
对当前数据块的数据进行校验;
根据校验结果在第一寄存器相应的比特位上置位;
根据当前数据块的结束标志,在第二寄存器相应的比特位上置位。
其中,所述读取待测光模块包数计数器步骤包括:
待测光模块根据设置的数据块的大小,将数据依次写入空闲的寄存器中,其中首个寄存器写入数据块的数据长度,后两个寄存器写入数据块中的数据经算法校验得出的校验结果;
当写完待测光模块中的当前数据块后,对所述数据块中的数据进行校验;
将校验结果写入到所述后两个寄存器中,同时对待测模块包数计数器计数并对第二寄存器中相应的比特位置位;
读取待测光模块包数计数器中的数据。
其中,所述数据块中的数据是经DP-QPSK调制后的X偏振态和Y偏振态数据。
其中,所述数据块中的X偏振态和Y偏振态数据交叉写入寄存器中。
其中,对所述内部数据进行解析,得到解析结果的步骤包括:
将获取待测光模块星座图的数据的进行奇偶分离,提取X偏振态和Y偏振态数据;
分别获取X偏振态和Y偏振态数据的高8位和低8位;
分别判断X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值的正负;
获取带极性的X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值。
其中,根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图的步骤包括:
画网格和坐标轴并确定坐标原点;
获取对所述内部数据解析后的X偏振态和Y偏振态的数据;
根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图。
其中,根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图步骤包括:
根据所获取的X偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面上X偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图;
根据所获取的Y偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面上Y偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图。
本发明实施例还提供一种检测光模块星座图的装置,包括:
发送模块,用于发送检测命令到载有待测光模块上;
获取模块,用于获取待测光模块的内部数据;
解析模块,用于对所述内部数据进行解析,得到解析结果;
绘制模块,用于根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。
本发明实施例还提供一种虚拟矢量分析仪,包括如上述实施例所述的检测光模块星座图的装置。
本发明的上述技术方案的有益效果如下:
本发明实施例的检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪,通过分析光模块星座图,对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析,从而实现对光模块发送信号质量的检测。且该检测光模块星座图的方法无需拆开光模块测量模块内部信号,不会对光模块内部器件或光纤造成损伤,保护了光模块的完整性,节约了资源。
附图说明
图1为本发明实施例的检测光模块星座图的方法的基本步骤示意图;
图2为本发明实施例的检测光模块星座图的装置的组成结构示意图;
图3为本发明实施例的光模块管理接口规范协议中规定的标识寄存器B04A和B04B中的具有特殊功能的比特位的说明图;
图4为本发明实施例的光模块管理接口规范协议中规定的标识寄存器B050中的具有特殊功能的比特位的说明图;
图5为本发明实施例的单板上的光模块与上位机间信息交互图;
图6为本发明实施例的虚拟矢量分析仪绘制界面示意图;
图7为本发明实施例的装置应用于网管上的操作流程图;
图8为本发明实施例的装置应用在工程使用过程时的连接示意图;
图9为本发明实施例的装置应用在光模块生产过程中时的连接示意图;
图10为本发明实施例的装置应用在光模块研制调试过程中时的连接示意图;
图11为本发明实施例的虚拟矢量分析仪在绘制界面X偏振态的星座图示意图;
图12为本发明实施例的虚拟矢量分析仪在绘制界面Y偏振态的星座图示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明针对现有技术中使用仪表检测星座图需要拆开光模块测量模块内部信号,有可能造成光模块内部器件或光纤的损伤的问题,提供了一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪,通过分析光模块星座图,对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析,从而实现对光模块发送信号质量的检测。且该检测光模块星座图的方法无需拆开光模块测量模块内部信号,不会对光模块内部器件或光纤造成损伤,保护了光模块的完整性,节约了资源。
如图1所示,本发明实施例提供一种检测光模块星座图的方法,包括:
步骤11,发送检测命令到待测光模块;
步骤12,获取待测光模块的内部数据;
步骤13,对所述内部数据进行解析,得到解析结果;
步骤14,根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。
本发明实施例的检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪中,通过分析光模块星座图,对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析,从而实现对光模块发送信号质量的检测。且该检测光模块星座图的方法无需拆开光模块测量模块内部信号,不会对光模块内部器件或光纤造成损伤,保护了光模块的完整性,节约了资源。
进一步的,本发明的上述实施例中提供的发送检测命令到待测光模块的方法中,步骤11可以包括:
步骤111,配置待测光模块的文件的类型及数据块的大小;
步骤112,发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到载有待测光模块的单板上,并由单板将所述检测命令发送给所述待测光模块。
具体的,步骤111所述的待测光模块的文件的类型为星座图文件。
进一步的,步骤112中将所述的发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到载有待测光模块的单板上之后,所述方法还包括:
步骤1121,所述单板将收到的检测命令转为符合光模块管理接口规范协议的管理数据输入输出MDIO命令,并将所述MDIO命令发送给待测光模块。
进一步的,本发明的实施例中提供的获取待测光模块的内部数据的方法中,步骤12可以包括:
步骤121,通过单板获取待测光模块的当前数据块;
步骤122,读取待测光模块包数计数器;
步骤123,与虚拟矢量分析仪本地的包数计数器比较,若一致,则继续读取下一个数据块。
进一步的,步骤121中通过单板获取待测光模块的当前数据块之后,所述方法还包括:
步骤1211,对当前数据块的数据进行校验;
步骤1212,根据校验结果在第一寄存器相应的比特位上置位;
步骤1213根据当前数据块的结束标志,在第二寄存器相应的比特位上置位。
具体的,所述步骤1212中所述第一寄存器相应的比特位具体为B04A的11-12比特位。
具体的,所述步骤1213中的所述第二寄存器相应的比特位具体为B050的15比特位。
进一步的,步骤122中读取待测光模块包数计数器,所述方法还包括:
步骤1221,待测光模块根据设置的数据块的大小,将数据依次写入空闲的寄存器中,其中首个寄存器写入数据块的数据长度,后两个寄存器写入数据块中的数据经算法校验得出的校验结果;
步骤1222,当写完待测光模块中的当前数据块后,对所述数据块中的数据进行校验;
步骤1223,将校验结果写入到所述后两个寄存器中,同时对待测模块包数计数器计数并对第二寄存器中相应的比特位置位;
步骤1224,读取待测光模块包数计数器中的数据。
具体的,步骤1221中所述数据块中的数据是经DP-QPSK调制后的X偏振态和Y偏振态数据。
具体的,步骤1221中所述数据块中的X偏振态和Y偏振态数据交叉写入寄存器中。
具体的,步骤1223中所述的第二寄存器中相应的比特位为B050的8比特位。
下面结合一具体实施例来详细说明本发明检测光模块星座图的方法的步骤11和步骤12。
如图3和图4所示,为对光模块管理接口规范协议中规定的标识寄存器中的具有特殊功能的比特位的说明图。
图3是标识寄存器为B04A和B04B中的比特位说明。
B04A相关比特位标识说明:
比特位0~7用于定义所要传送的文件类型;
比特位11、12用于定义所传送数据块的校验结果;
其中,0表明没有错误,1表明CRC校验结果错误。
比特位13用于标识数据块传送过程中的异常情况;
其中,1表明异常传送,0表明正常传送。
比特位14用于定义所传送的数据块过程;
其中,1表明本数据块完成传送,0表明本数据块未完成传送。
比特位15用于启动数据传送。其中该比特位可自动清零。
B04B相关比特位标识说明:
比特位0~14用于定义所传送的数据块的大小;
图4是标识寄存器为B050中的比特位说明。
B050相关比特位标识说明:
比特位7用于所要传送的数据的完成情况;
其中,1表明数据完成传送,0表明数据未完成传送。
比特位8用于标识数据的准备情况;
其中,1表明所传送的数据已准备好,0表明数据未准备好。
如图5所示,为本发明实施例的单板上的光模块与上位机间信息交互图,上位机上的虚拟矢量分析仪通过单板发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到待测光模块,具体为本发明的方法步骤112;
具体的,上位机将待测光模块的文件的类型、数据块的大小及数据启动传送的检测命令分别发送给待测光模块;
其中,上述检测命令中的内容是由光模块预先定义,当发送待测光模块的文件的类型的检测命令时,光模块中的寄存器地址为B04A中的0~7比特位识别文件类型,查找本待测光模块是否设置有该文件类型,同时通过对寄存器地址为B050的寄存器的14比特位置位来给出应答信息,具体为:
当上位机检测到寄存器地址为B050的寄存器的14比特位为1,表明出错,光模块未识别出所发送的文件类型信息,上位机侧重新发送文件类型检测命令;
当上位机检测到寄存器地址为B050的寄存器的14比特位为0,表明光模块正确识别出所发送的文件类型信息。
当发送待测光模块星座图文件的数据包大小的检测命令时,光模块中的寄存器地址为B04B中的0~14比特位识别文件的数据包大小,同时通过对寄存器地址为B050的寄存器的14比特位置位来给出应答信息,具体为:
当上位机检测到寄存器地址为B050的寄存器的14比特位为1,表明出错,光模块未识别出所发送的文件的数据包大小,上位机侧重新发送文件的数据包大小的检测命令;
当上位机检测到寄存器地址为B050的寄存器的14比特位为0,表明光模块正确识别出所发送的文件中的数据包大小。
当发送待测光模块星座图文件的数据启动传送检测命令时,光模块识别星座图文件的数据启动传送命令,对寄存器地址为B04A中的15比特位置位,同时通过对寄存器地址为B050的寄存器的14比特位置位来给出应答信息,具体为:
当上位机检测到寄存器地址为B050的寄存器的14比特位为1,表明出错,即寄存器地址为B04A中的15比特位置1,光模块未识别出所发送的星座图文件的数据启动传送命令,上位机侧重新发送星座图文件的数据启动传送的检测命令;
当上位机检测到寄存器地址为B050的寄存器的14比特位为0,表明正确,即寄存器地址为B04A中的15比特位清零,光模块正确识别并接收所发送的星座图文件的数据启动传送的检测命令。
本发明实施例中的检测光模块星座图的方法中的步骤12获取待测光模块的内部数据,光模块端内部数据的准备具体操作为:
待测光模块将星座图文件的数据包的数据放入寄存器地址为BE00~BFFF的寄存器内,其中,BE00寄存器用于存放整个数据块的大小,后两个寄存器BFFE和BFFF用于存放CRC校验结果;
在数据存放过程中,上位机侧会一直检测光模块的状态,当写完一个数据包的数据后,若寄存器地址为B050的8比特位置1,表明已经准备好数据,若寄存器地址为B050的8比特位置0,表明数据没有准备好,则返回上一步骤继续写入数据;
当寄存器地址为B050的8比特位置1,确认数据准备好,同时B050寄存器地址为B050的7比特位置0,置光模块中的包数计数器;
上位机查询光模块中的包数计数器,与本上位机上的包数计数器比较,判断是否一致,若一致,则进行数据的读取,若不一致,则光模块返回上一步骤继续准备数据。
当上位机查询光模块中的包数计数器,与本上位机上的包数计数器比较一致时,上位机读取光模块中星座图文件的数据块中的数据。
当光模块中星座图文件的一个数据块中的数据传送完毕后,寄存器地址为B04A中的14比特位置1,同时光模块中星座图文件的一个数据块中的数据进行校验,将其校验结果在寄存器地址为B04A的寄存器中的11、12比特位置位;若校验结果正确,置寄存器地址为B04A中的14比特位为1,继续传送下一个数据包;若校验结果错误,则重新传送该数据包。若重传的次数超过3次,则寄存器地址为B04A中的13比特位置1,数据包中的数据中止传输,异常结束。
当然上位机端在数据读取过程中,上位机一直检测寄存器地址为B04A中的14比特位,若其为0,则表明数据正在读取,若寄存器地址为B04A中的14比特位为1,表明光模块中星座图文件的一个数据块中的数据读取完毕。
当上位机检测光模块中星座图文件的一个数据块中的数据校验结果在寄存器地址为B04A的寄存器中的11、12比特位为1时,表明校验结果正确,则继续读取下一个数据块中的数据;当上位机检测光模块中星座图文件的一个数据块中的数据校验结果在寄存器地址为B04A的寄存器中的11、12比特位为0时,表明校验结果错误,则丢掉已经读取的本数据包中的数据,重新读取光模块传送的重新一遍的数据包中的数据,直到正确读取为止或收到异常结束消息。
进一步的,本发明的实施例中提供的将所述内部数据进行解析,得到解析结果的方法中,步骤13可以包括:
步骤131,将获取待测光模块星座图的数据的进行奇偶分离,提取X偏振态和Y偏振态数据;
步骤132,分别获取X偏振态和Y偏振态数据的高8位和低8位;
步骤133,分别判断X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值的正负;
步骤134,获取带极性的X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值。
进一步的,本发明的实施例中提供的根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图的方法中,步骤14可以包括:
步骤141,画网格和坐标轴并确定坐标原点;
步骤142,获取对所述内部数据解析后的X偏振态和Y偏振态的数据;
步骤143,根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图。
进一步的,步骤143中根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图中,所述方法还包括:
步骤1431,根据所获取的X偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面上X偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图;
步骤1432,根据所获取的Y偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面上Y偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图。
本发明的上述方法,通过分析光模块星座图,对光模块星座图数据分为X偏振态和Y偏振态两路进行分析,从而实现对光模块发送信号质量的检测。且该检测光模块星座图的方法无需拆开光模块测量模块内部信号,不会对光模块内部器件或光纤造成损伤,保护了光模块的完整性,节约了资源。
如图2所示,本发明实施例还提供一种检测光模块星座图的装置,包括:
发送模块21,用于发送检测命令到载有待测光模块上;
获取模块22,用于获取待测光模块的内部数据;
解析模块23,用于对所述内部数据进行解析,得到解析结果;
绘制模块24,用于根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。
具体的,本发明的上述实施例中所述的发送模块21还包括:
配置子模块,用于配置待测光模块的文件的类型及数据块的大小;
第一发送子模块,用于发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到载有待测光模块的单板上,并由单板将所述检测命令发送给所述待测光模块。
具体的,本发明的上述实施例中所述的发送模块21的配置子模块中的待测光模块的文件的类型为星座图文件。
具体的,本发明的上述实施例中所述的发送模块21的第一发送子模块中的所述发送检测命令到载有待测光模块的单板上之后,还包括:
命令转换子模块,用于将所述单板将收到的检测命令转为符合光模块管理接口规范协议的管理数据输入输出MDIO命令,并将所述MDIO命令发送给待测光模块。
具体的,本发明的上述实施例中的所述获取模块22还包括:
第一获取子模块,用于通过单板获取待测光模块的当前数据块;
第一读取子模块,用于读取待测光模块包数计数器;
第一比较子模块,用于与虚拟矢量分析仪本地的包数计数器比较,若一致,则继续读取下一个数据块。
具体的,本发明的上述实施例中所述的获取模块22的第一获取子模块在通过单板获取待测光模块的当前数据块之后,还包括:
第一校验单元,用于对当前数据块的数据进行校验;
第一置位单元,用于根据校验结果在第一寄存器相应的比特位上置位;
第二置位单元,用于根据当前数据块的结束标志,在第二寄存器相应的比特位上置位。
具体的,所述第一置位单元中所述第一寄存器相应的比特位具体为B04A的11-12比特位。
具体的,所述第二置位单元中的所述第二寄存器相应的比特位具体为B050的15比特位。
具体的,本发明的上述实施例中所述的获取模块22的第一读取子模块在读取待测光模块包数计数器中,还包括:
数据写入单元,用于待测光模块根据设置的数据块的大小,将数据依次写入空闲的寄存器中,其中首个寄存器写入数据块的数据长度,后两个寄存器写入数据块中的数据经算法校验得出的校验结果;
第二校验单元,用于当写完待测光模块中的当前数据块后,对所述数据块中的数据进行校验;
第一计数单元,用于将校验结果写入到所述后两个寄存器中,同时对待测模块包数计数器计数并对第二寄存器中相应的比特位置位;
第一读取单元,用于读取待测光模块包数计数器中的数据。
具体的,本发明的上述实施例中所述的获取模块22的第一读取子模块中的数据写入单元中所述数据块中的数据是经DP-QPSK调制后的X偏振态和Y偏振态数据。
具体的,本发明的上述实施例中所述的获取模块22的第一读取子模块中的数据写入单元中所述数据块中的X偏振态和Y偏振态数据交叉写入寄存器中。
具体的,本发明的上述实施例中所述的获取模块22的第一读取子模块中第一计数单元中所述的第二寄存器中相应的比特位为B050的8比特位。
具体的,本发明的上述实施例中的所述解析模块23还包括:
数据分离子模块,用于将获取待测光模块星座图的数据的进行奇偶分离,提取X偏振态和Y偏振态数据;
第二获取子模块,用于分别获取X偏振态和Y偏振态数据的高8位和低8位;
第一判断的子模块,用于分别判断X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值的正负;
第三获取子模块,用于获取带极性的X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值。
具体的,本发明的上述实施例中的所述绘制模块24还包括:
坐标子模块,用于画网格和坐标轴并确定坐标原点;
第四获取子模块,用于获取对所述内部数据解析后的X偏振态和Y偏振态的数据;
第一绘制子模块,用于根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图。
具体的,本发明的上述实施例中的所述绘制模块24的第一绘制子模块还包括:
X绘制单元,用于根据所获取的X偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面(如图6所示)上X偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图;
Y绘制单元,用于根据所获取的Y偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面(如图6所示)上Y偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图。
需要说明的是:该装置是与上述方法对应的装置,上述方法的所有实现实施例均适用于该装置的实施例中,也能达到相同的技术效果。
下面结合一具体该发明装置应用于网管上的操作流程图来具体描述该发明方法的操作流程。
如图7所示,为该发明装置应用于网管上的操作流程步骤,具体为:
准备环境,具体为上位机准备检测环境;
网络通信连接,具体上位机与软件的连接及上位机通过网口及S口与待测模块的连接;
检查连接是否正常,具体为:若连接不正常,则返回上一步,继续进行网络通信连接,若连接正常,则执行下一步,即网管下发检测星座图命令;
网管下发检测星座图命令,具体为方法步骤11;
单板将命令转为符合光模块管理接口规范协议的管理数据输入输出MDIO命令,并将所述MDIO命令发送给待测光模块。
待测模块收到命令后开始上传星座图数据,具体为方法步骤12;
数据传输结束,网管绘制星座图,具体为方法步骤13;
星座图绘制完成;
结束。
下面结合本发明实施例的具体应用场景来更清楚的描述本申请的检测光模块星座图的方法。
应用场景一
如图8所示,本应用场景为该发明装置应用在工程使用过程时的连接示意图。
工程使用过程中,在业务传输过程中需检测光模块的星座图,具体为:
上位机中包含网管系统和虚拟矢量分析仪,在业务传输过程中,通过网口与对端的业务传输系统连接,所述业务传输系统通过S口与单板连接,待测光模块安装在单板上。
在业务传输过程中检测光模块星座图时,具体操作为:
网管系统上的虚拟矢量分析仪通过网口发送检测命令到待测光模块,具体为本发明方法的步骤11;
单板上的待测光模块收到检测命令后开始上传星座图数据,具体为本发明方法的步骤12;
数据传输结束后,虚拟矢量分析仪开始绘制星座图,具体为本发明方法的步骤13、14;
星座图绘制完成。
应用场景二
如图9所示,本应用场景为为该发明装置应用在光模块生产过程中时的连接示意图。
在光模块生产过程中检测星座图时,具体操作为:
上位机上的虚拟矢量分析仪,在光模块生产过程中,通过网口与对端的生产工装系统中的待测光模块连接。
网管系统上的虚拟矢量分析仪通过网口发送检测命令到待测光模块,具体为本发明方法的步骤11;
待测光模块收到检测命令后开始上传星座图数据,具体为本发明方法的步骤12;
数据传输结束后,虚拟矢量分析仪开始绘制星座图,具体为本发明方法的步骤13、14;
星座图绘制完成。
应用场景三
如图10所示,本应用场景为该发明装置应用在光模块研制调试过程中时的连接示意图。
在光模块研制调试过程中检测星座图时,具体操作为:
上位机上的虚拟矢量分析仪,在光模块研制调试过程中,通过网口与对端的调试系统中的待测光模块连接。
网管系统上的虚拟矢量分析仪通过网口发送检测命令到待测光模块,具体为本发明方法的步骤11;
待测光模块收到检测命令后开始上传星座图数据,具体为本发明方法的步骤12;
数据传输结束后,虚拟矢量分析仪开始绘制星座图,具体为本发明方法的步骤13、14;
星座图绘制完成。
当然,本发明还可有其他多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
本发明实施例还提供一种虚拟矢量分析仪,包括如上述实施例所述的检测光模块星座图的装置。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种检测光模块星座图的方法,其特征在于,包括:
发送检测命令到待测光模块,包括:配置待测光模块的文件的类型及数据块的大小;发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到载有待测光模块的单板上,并由单板将所述检测命令发送给所述待测光模块;所述数据块中的数据是经DP-QPSK调制后的X偏振态和Y偏振态数据;
获取待测光模块的内部数据;
对所述内部数据进行解析,得到解析结果;
根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。
2.根据权利要求1所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,所述待测光模块的文件的类型为星座图文件。
3.根据权利要求1所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,所述发送检测命令到载有待测光模块的单板上之后,还包括:
所述单板将收到的检测命令转为符合光模块管理接口规范协议的管理数据输入输出MDIO命令,并将所述MDIO命令发送给待测光模块。
4.根据权利要求1所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,获取待测光模块的内部数据的步骤包括:
通过单板获取待测光模块的当前数据块;
读取待测光模块包数计数器;
与虚拟矢量分析仪本地的包数计数器比较,若一致,则继续读取下一个数据块。
5.根据权利要求4所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,通过单板获取待测光模块的当前数据块之后,还包括:
对当前数据块的数据进行校验;
根据校验结果在第一寄存器相应的比特位上置位;
根据当前数据块的结束标志,在第二寄存器相应的比特位上置位。
6.根据权利要求4所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,所述读取待测光模块包数计数器步骤包括:
待测光模块根据设置的数据块的大小,将数据依次写入空闲的寄存器中,其中首个寄存器写入数据块的数据长度,后两个寄存器写入数据块中的数据经算法校验得出的校验结果;
当写完待测光模块中的当前数据块后,对所述数据块中的数据进行校验;
将校验结果写入到所述后两个寄存器中,同时对待测模块包数计数器计数并对第二寄存器中相应的比特位置位;
读取待测光模块包数计数器中的数据。
7.根据权利要求6所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,所述数据块中的X偏振态和Y偏振态数据交叉写入寄存器中。
8.根据权利要求1所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,对所述内部数据进行解析,得到解析结果的步骤包括:
将获取待测光模块星座图的数据的进行奇偶分离,提取X偏振态和Y偏振态数据;
分别获取X偏振态和Y偏振态数据的高8位和低8位;
分别判断X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值的正负;
获取带极性的X偏振态和Y偏振态数据的高8位数值和低8位数值。
9.根据权利要求8所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图的步骤包括:
画网格和坐标轴并确定坐标原点;
获取对所述内部数据解析后的X偏振态和Y偏振态的数据;
根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图。
10.根据权利要求9所述的检测光模块星座图的方法,其特征在于,根据所获取的X偏振态和Y偏振态的数据绘制星座图步骤包括:
根据所获取的X偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面上X偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图;
根据所获取的Y偏振态的数据,在虚拟矢量分析仪绘制星座图界面上Y偏振图的坐标区域内,在其相对应的位置上画点绘图。
11.一种检测光模块星座图的装置,其特征在于,包括:
发送模块,用于发送检测命令到载有待测光模块的单板上,包括:配置待测光模块的文件的类型及数据块的大小;发送包括有待测光模块的文件的类型及数据块的大小的检测命令到载有待测光模块的单板上,并由单板将所述检测命令发送给所述待测光模块;所述数据块中的数据是经DP-QPSK调制后的X偏振态和Y偏振态数据;
获取模块,用于获取待测光模块的内部数据;
解析模块,用于对所述内部数据进行解析,得到解析结果;
绘制模块,用于根据所述解析结果,绘制待测光模块的表示待测光模块的信号质量的星座图。
12.一种虚拟矢量分析仪,其特征在于,包括如权利要求11所述的检测光模块星座图的装置。
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