CN105427029A - 缺陷检测的校验系统及校验方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种缺陷检测的校验系统，包括：初始设定模块，用于设定各个样品的实际缺陷值；数据输入模块，用于接收输入的各样品的测量缺陷值；判定模块，用于将同一样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；计算模块，用于计算正判率、漏判率和误判率。本发明能够快速自动地对检验人员的样品缺陷检测进行校验，大大地节省了公司对检验人员的校验时间，提高了校验效率，同时也有效地提升了公司整体的质检水平。

Description

缺陷检测的校验系统及校验方法

技术领域

本发明涉及检验样品缺陷的技术领域，尤其是涉及一种缺陷检测的校验系统及校验方法。

背景技术

目前，各公司的产品质检通常由检验人员检测完成，质检的效果取决于检验人员的经验和能力。检验员的检验能力对产品的质量把关起着至关重要的作用，尤其是对于多种缺陷的样品，检验员必须将所有缺陷一一检验出，以保证问题产品不会流入市场。目前很多大公司需定期对检验员进行考核校验，以确保产品质量。现有的对检验员的考核主要是人工记录检测员的检测结果，并进行统计计算。当检验员较多，产品缺陷较为复杂的时候，简单的人工记录就显得非常麻烦，耗费大量的人工。

发明内容

基于此，本发明在于克服现有技术的缺陷，提供一种缺陷检测的校验系统及校验方法，其能够快速自动地对检验人员的样品缺陷检测进行校验，大大地节省了公司对检验人员的校验时间，提高了校验效率，同时也有效地提升了公司整体的质检水平。

其技术方案如下：

一种缺陷检测的校验系统，其特征在于，包括：

初始设定模块，用于设定各个样品的实际缺陷值；

数据输入模块，用于接收输入的各样品的测量缺陷值；

判定模块，用于将同一样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

计算模块，用于计算正判率、漏判率和误判率。

在其中一个实施例中，所述初始设定模块包括样品设定模块、传输模块和缺陷记录模块，其中，

所述样品设定模块用于接收设定的各样品名称；

所述传输模块用于接收外部检测机构所测得的各样品的实际缺陷值；

所述缺陷记录模块用于将所测得的实际缺陷值与样品一一对应记录。

在其中一个实施例中，所述数据输入模块包括姓名输入模块和缺陷输入模块，其中，

所述姓名输入模块用于接收输入检验人员的姓名；

所述缺陷输入模块用于接收输入的各样品的测量缺陷值，所述测量缺陷值与设定的样品名称一一对应。

在其中一个实施例中，还包括数据存储模块，所述数据存储模块用于统计并存储各样品的所述实际缺陷值，所述数据输入模块与所述数据存储模块电性连接，所述输入的各样品的测量缺陷值均从所述存储的所述实际缺陷值中进行不定项选择。

在其中一个实施例中，各样品的所述实际缺陷值和所述测量缺陷值均包括缺陷数量和与所述缺陷数量一一对应的缺陷种类；

所述判定模块包括正判模块、漏判模块和误判模块，其中，

所述正判模块，用于将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，且所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷种类相同时，则为正判，并记录正判的样品数；

所述漏判模块，用于将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值的缺陷数量小于所述实际缺陷值的缺陷数量或当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，但所述实际缺陷值和所述测量缺陷值的缺陷种类部分不相同时，则为漏判，并记录漏判的样品数；

所述误判模块，将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值的缺陷数量大于所述实际缺陷值的缺陷数量或当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，但所述实际缺陷值和所述测量缺陷值的缺陷种类全部不相同时，则为误判，并记录误判的样品数。

在其中一个实施例中，所述计算模块包括正判计算模块、漏判计算模块和误判计算模块，其中，

所述正判计算模块接收所述正判模块输出的正判的样品数，之后根据正判的样品数与样品总数之比计算获得正判率；

所述漏判计算模块接收所述漏判模块输出的漏判的样品数，之后根据漏判的样品数与样品总数之比计算获得漏判率；

所述误判计算模块接收所述误判模块输出的误判的样品数，之后根据误判的样品数与样品总数之比计算获得误判率。

在其中一个实施例中，还包括考核模块，所述考核模块根据预设正判率、预设漏判率和预设误判率确定检验人员缺陷检测是否合格，当正判率≥预设正判率，漏判率≤预设漏判率且误判率≤预设误判率时，则输出合格信息。

在其中一个实施例中，还包括显示模块，所述显示模块与所述判定模块电性连接，用于显示漏判或误判的样品的实际缺陷值。

一种缺陷检测的校验方法，包括以下步骤：

初始设定模块设定各样品，并根据检测机构测得的各样品的缺陷值，确定各样品的实际缺陷值；

数据输入模块接收输入的姓名值和各样品的测量缺陷值；

判定模块将各样品的实际缺陷值和测量缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

计算模块根据正确判定的样品数量与样品总量之比计算确定正判率，根据漏判的样品数量与样品总量之比计算确定漏判率，根据误判的样品数量与样品总量之比计算确定误判率。

本发明的有益效果在于：

本发明提供一种缺陷检测的校验系统，能够在短时间内对检验人员进行校验，只要检验人员在所述系统中对输入各样品的缺陷值即可最终确定检验人员的缺陷检测的正确率。其校验方式简单、快捷，占用时间较少。并且其能考察检验人员检测多缺陷样品的能力，同时也可安排多名检验人员同时进行校验评定，大大地节省了人工分析统计的计算量，校验过程简单、快速、高效。另外，本系统还可显示漏判或误判的样品的实际缺陷值，有利于检验人员及时了解自己对样品检测的不足，提高对样品的认知能力，进而提高检验能力。

附图说明

图1是本发明实施例所述的缺陷检测的校验系统的结构示意图；

图2是本发明实施例所述的缺陷检测的校验方法的流程示意图。

附图说明：

100、初始设定模块，110、样品设定模块，120、传输模块，130、缺陷记录模块，200、数据输入模块，210、姓名输入模块，220、缺陷输入模块，300、判定模块，310、正判模块，320、漏判模块，330、误判模块，400、计算模块，410、正判计算模块，420、漏判计算模块，430、误判计算模块，500、存储模块，600、考核模块，700、显示模块。

具体实施方式

下面对本发明的实施例进行详细说明：

如图1所示，一种缺陷检测的校验系统，用于校验人工检测样品缺陷的正确率，其包括：初始设定模块100，用于设定各个样品的实际缺陷值，实际缺陷值由负责校验的人员设定；数据输入模块200，用于接收输入的各样品的测量缺陷值，测量缺陷值由待校验的检验人员根据检测结果进行输入；判定模块300，用于将同一样品中的测量缺陷值与实际缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判(正确判定)、漏判和误判的样品数量；计算模块400，用于计算正判率、漏判率和误判率。本发明能够在短时间内对检验人员进行校验，能够自动地根据检验人员在系统中输入的各样品的测量缺陷值即可确定检验人员的缺陷检测的正判率、漏判率和误判率。其校验方式简单、快捷，占用时间较少，有利于公司及时了解检验人员的检测能力，便于对检测人员进行有针对性的培训，大大地提升公司整体检测水平。其可安排多名检验人员同时进行校验评定，大大地节省了人工分析统计的计算量，校验过程简单、快速、高效。

在本实施例中，初始设定模块100包括样品设定模块110、传输模块120和缺陷记录模块130，其中，样品设定模块110用于接收设定的各样品名称；传输模块120用于接收外部检测机构所测得的各样品的实际缺陷值；缺陷记录模块130用于将所测得的实际缺陷值与样品一一对应记录。例如，负责校验的人员进入系统界面后，输入一样品名称，之后将该样品放置于外部检测机构中进行检测，系统自动获取该样品的实际缺陷值。之后再输入其他的样品名称，并获取相应的实际缺陷值。本发明所述的初始设定模块100还可根据实际需要由资深的检验人员直接检测样品，之后将所检测到的实际检测缺陷输入设定。

数据输入模块200包括姓名输入模块210和缺陷输入模块220，其中，姓名输入模块210用于接收输入的检验人员的姓名；缺陷输入模块220用于接收输入的各样品的测量缺陷值，测量缺陷值与设定的样品名称一一对应。例如，待校验的检验人员在姓名栏输入姓名，之后根据所提供的样品名称一一输入自己检测的各样品所对应的测量缺陷值。

在本实施例中，本发明还包括数据存储模块500，数据存储模块500与缺陷记录模块130电性连接，用于统计并存储缺陷记录模块130中的各种实际缺陷值。数据输入模块200又与数据存储模块500电性连接，检验人员输入的各样品的测量缺陷值均是从存储的实际缺陷值中进行不定项选择。例如，存储模块中存储的样品缺陷有a，b和c等，缺陷输入栏中的下拉菜单中则有a，b和c等选项，检验人员可在其中进行不定项选择。

各样品的实际缺陷值和测量缺陷值均包括缺陷数量和与缺陷数量一一对应的缺陷种类。例如当缺陷数量为2时，则缺陷种类则为a，b；缺陷数量为3时，则缺陷种类为a，b和c。判定模块300包括正判模块310、漏判模块320和误判模块330。计算模块400包括正判计算模块410计算模块400、漏判计算模块420计算模块400和误判计算模块430计算模块400。

其中，正判模块310用于将各样品中的测量缺陷值与实际缺陷值进行对比。当样品的测量缺陷值和实际缺陷值的缺陷数量相等，且测量缺陷值和实际缺陷值的缺陷种类相同时，则为正判，并记录正判的样品数。例如，某样品的实际缺陷值为：缺陷数量为2，缺陷种类为a和b，其测量缺陷值为：缺陷数量为2，缺陷种类也为a和b，则为正判。之后正判计算模块410根据正判的样品数与样品总数之比计算获得正判率。

漏判模块320用于将各样品中的测量缺陷值与实际缺陷值进行对比。当样品的测量缺陷值的缺陷数量小于实际缺陷值的缺陷数量或当样品的测量缺陷值和实际缺陷值的缺陷数量相等，但测量缺陷值和实际缺陷值的缺陷种类部分不相同时，则为漏判，并记录漏判的样品数。例如，某样品的实际缺陷值的缺陷数量为3，其测量缺陷值的缺陷数量为2，则为漏判。或该样品的实际缺陷值为：缺陷数量为3，缺陷种类为a，b和c；其测量缺陷值为：缺陷数量也为3，但缺陷种类为a，b和d，则也为漏判。之后漏判计算模块420根据漏判的样品数与样品总数之比计算获得漏判率。

误判模块330，将各样品中的测量缺陷值与实际缺陷值进行对比。当样品的测量缺陷值的缺陷数量大于实际缺陷值的缺陷数量或当样品的测量缺陷值和实际缺陷值的缺陷数量相等，但实际缺陷值和测量缺陷值的缺陷种类全部不相同时，则为误判，并记录误判的样品数。例如，某样品的实际缺陷值的缺陷数量为3，其测量缺陷值的缺陷数量为4时，则为误判。或当该样品的实际缺陷值为：缺陷数量为3，缺陷种类为a，b和c；其测量缺陷值为：缺陷数量也为3，但缺陷种类为d，e和f时，则也为误判。之后，误判计算模块430根据误判的样品数与样品总数之比计算获得误判率。

本发明还包括考核模块600，考核模块600根据预设正判率、预设漏判率和预设误判率确定待校验人员缺陷检测是否合格，当正判率≥预设正判率，漏判率≤预设漏判率且误判率≤预设误判率时，则输出合格信息，否则输出不合格信息

本发明还包括显示模块700，显示模块700与判定模块300电性连接，用于显示漏判或误判的样品的实际缺陷值。有利于检验人员及时了解自己对样品判断的不足，提高对样品的认知能力，进而提高检测能力。

如图2所示，该缺陷检测的校验方法包括以下步骤：

步骤S10：初始设定模块100设定各样品，并根据检测机构测得的各样品的缺陷值，确定各样品的实际缺陷值；

步骤S20：数据输入模拟200接收输入的姓名值和各样品的测量缺陷值；

步骤S30：判定模块300将各样品的实际缺陷值和测量缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

步骤S40：计算模块400根据正确判定的样品数量与样品总量之比确定正判率，根据漏判的样品数量与样品总量之比确定漏判率，根据误判的样品数量与样品总量之比确定误判率；

步骤S50：考核模块600根据预设正判率、预设漏判率和预设误判率确定检验人员是否合格，当正判率≥预设正判率，漏判率≤预设漏判率且误判率≤预设误判率时，则输出考核合格信息。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种缺陷检测的校验系统，其特征在于，包括：

初始设定模块，用于设定各个样品的实际缺陷值；

数据输入模块，用于接收输入的各样品的测量缺陷值；

判定模块，用于将同一样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

计算模块，用于计算正判率、漏判率和误判率。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，所述初始设定模块包括样品设定模块、传输模块和缺陷记录模块，其中，

所述样品设定模块用于接收设定的各样品名称；

所述传输模块用于接收外部检测机构所测得的各样品的实际缺陷值；

所述缺陷记录模块用于将所测得的实际缺陷值与样品一一对应记录。

3.根据权利要求2所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，所述数据输入模块包括姓名输入模块和缺陷输入模块，其中，

所述姓名输入模块用于接收输入检验人员的姓名；

所述缺陷输入模块用于接收输入的各样品的测量缺陷值，所述测量缺陷值与设定的样品名称一一对应。

4.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，还包括数据存储模块，所述数据存储模块用于统计并存储各样品的所述实际缺陷值，所述数据输入模块与所述数据存储模块电性连接，所述输入的各样品的测量缺陷值均从所述存储的所述实际缺陷值中进行不定项选择。

5.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，各样品的所述实际缺陷值和所述测量缺陷值均包括缺陷数量和与所述缺陷数量一一对应的缺陷种类；

所述判定模块包括正判模块、漏判模块和误判模块，其中，

所述正判模块，用于将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，且所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷种类相同时，则为正判，并记录正判的样品数；

所述漏判模块，用于将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值的缺陷数量小于所述实际缺陷值的缺陷数量或当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，但所述实际缺陷值和所述测量缺陷值的缺陷种类部分不相同时，则为漏判，并记录漏判的样品数；

所述误判模块，将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值的缺陷数量大于所述实际缺陷值的缺陷数量或当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，但所述实际缺陷值和所述测量缺陷值的缺陷种类全部不相同时，则为误判，并记录误判的样品数。

6.根据权利要求5所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，所述计算模块包括正判计算模块、漏判计算模块和误判计算模块，其中，

所述正判计算模块接收所述正判模块输出的正判的样品数，之后根据正判的样品数与样品总数之比计算获得正判率；

所述漏判计算模块接收所述漏判模块输出的漏判的样品数，之后根据漏判的样品数与样品总数之比计算获得漏判率；

所述误判计算模块接收所述误判模块输出的误判的样品数，之后根据误判的样品数与样品总数之比计算获得误判率。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，还包括考核模块，所述考核模块根据预设正判率、预设漏判率和预设误判率确定检验人员缺陷检测是否合格，当正判率≥预设正判率，漏判率≤预设漏判率且误判率≤预设误判率时，则输出合格信息。

8.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，还包括显示模块，所述显示模块与所述判定模块电性连接，用于显示漏判或误判的样品的实际缺陷值。

9.一种缺陷检测的校验方法，特征在于，包括以下步骤：

初始设定模块设定各样品，并根据检测机构测得的各样品的缺陷值，确定各样品的实际缺陷值；

数据输入模块接收输入的姓名值和各样品的测量缺陷值；

判定模块将各样品的实际缺陷值和测量缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

计算模块根据正确判定的样品数量与样品总量之比计算确定正判率，根据漏判的样品数量与样品总量之比计算确定漏判率，根据误判的样品数量与样品总量之比计算确定误判率。