CN1053776C - 一种增加拨号器测试功能的装置及其控制方法 - Google Patents

Abstract

一种增加拨号器测试功能的装置，包括测试信号输出和振荡器输出/输入装置；听筒挂上/取下模拟、测试模式产生及抑制信号产生电路。一种增加拨号器测试功能的控制方法为：在听筒取下后，将系统时钟脉冲输入振荡器输出端并将振荡器输入端接至高电位，经过数个振荡器周期后进入测试模式；振荡器输出低电位时，从振荡器输入端输入一脉冲，系统模拟听筒挂上/取下；振荡器输出高电位时，从振荡器输入端输入一脉冲，系统进行下一测试模式。

Description

一种增加拨号器测试功能的装置及其控制方法

本发明是有关于一种增加拨号器测试功能的装置及其控制方法，特别是有关于一种利用振荡器输入与输出的相位关系决定系统各种测试模式的装置及其控制方法。

一般集成电路于制造完成后都必须经过测试以确定其功能正确无误。由于集成电路的功能日趋繁杂，测试成本占整个生产成本的比例逐渐上升，而集成电路的管脚愈多则封装成本愈高，因此如何在不增加集成电路的管脚前提下，方便快速地产生各种测试模式，即为制造者努力的目标之一。

在熟知技术中，关于拨号器测试功能电路的技术，主要有二种：

(1)在集成电路中增加一测试专用管脚，此种测试方式最为简易快速，但其缺点为管脚增加，使制造成本上升。

(2)利用键盘上某些按键的组合，经过一段时间的确认后进入测试模式。此熟知方式虽可在不增加管脚的情况下进行测试，但其缺点为：

使用者常在无意间进入测试模式，造成操作上的不便；其次，由于键盘按链必须等待一段时间，待噪声杂波消失后始能确认被按下键的位置，如此将延长测试时间，无法符合快速简易的要求。

有鉴于此，本发明的目的是为了解决上述问题而提供一种增加拨号器测试功能的控制方法，由于拨号器的原理是利用一振荡器输出/输入装置提供拨号器的系统时钟脉冲，因此本方法是利用将设定信号输入振荡器的输入端，并比较与振荡器输出的相位变化，进而将前述相位关系输入各测试装置以产生各种测试模式及模拟听筒挂上/取下的动作。本发明增加拨号器测试功能的装置包括：

一测试信号输出装置，系统欲进入测试模式，须有效测试信号为逻辑1电位的输出，始可执行各种测试模式；

一振荡器输出/输入装置，当有效测试信号为逻辑1并反馈至振荡器输出/输入装置时，将具有特定关系的信号输入振荡器的输入管脚，则振荡器的输入与输出靠不同的相应变化即可控制系统执行各种测试模式或模拟听筒挂上/取下的动作：

一听筒挂上/取下模似电路，由电位为逻辑1的有效测试信号负责启动该电路，并利用振荡器的输入与输出间的相位变化模拟听筒挂上/取下的动作；及

一测试模式产生电路，亦由电位为逻辑1的有效测试信号所启动，并利用振荡器的输入与输出间的相位变化进行各种测试模式的动作；及

一抑制信号产生电路，由听筒取下的信号启动，经过数个振荡器周期后，输出抑制信号，进而使系统不能进入测试模式。

由上述控制方法，配合本发明装置，本发明具有三项优点：

(1)因是利用振荡器输入/输出的相位关系使系统进入各种测试模式，故可不局限在电话系统中使用。

(2)不须额外增加一测试专用管脚，可降低生产成本。

(3)可避免使用者误入测试模式，且可缩短测试时间，增加测试功能。

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下：

图1是显示本发明的功能方块图；

图2为依照本发明一较佳实施例所实施的增加拨号器测试功能的装置电路图；及

图3是显示本发明的脉冲时序图。

现请参照图1，本发明的一种增加拨号器测试功能的装置，其构造如图1的功能方块图所示，其包括：

一测试信号输出装置20，用以输出测试信号TEST至各装置及其它测试电路，并决定系统是否进入测试模式；

一振荡器输出/输入装置10，于正常操作时，由外加振荡器与内部反馈电路产生系统时钟脉冲，而欲进行测试时，则由外部将系统时钟脉冲输入振荡器输出端以形成振荡器输出OSCO并依靠将设定信号输入振荡器输入端以形成振荡器输入OSCI，比较两者的相位变化，并将前述的相位关系输入其它测试装置以产生各种测试模式及模拟听筒挂上/取下的动作；

一听筒挂上/取下模拟电路30，由来自测试信号输出装置20的测试信号TEST启动，并依靠振荡器输入OSCI与输出OSCO间的相位关系决定听筒挂上/取下的动作；

一测试模式产生电路40，由来自测试信号输出装置20的测试信号TEST启动，并依靠振荡器输入OSCI与输出OSCO间的相位关系决定各种测试模式；及

一抑制信号产生电路50，由听筒取下信号PWDN启动，经过8个振荡器周期后，输出逻辑1的抑制信号INHIBIT，进而使系统不能进入测试模式。

又一种增加拨号器测试功能的控制方法，其控制方法如图1的功能方块图所示，是利用已有振荡器的输出/输入装置10，在不增加输入管脚且不影响正常操作的情况下，依靠振荡器输入OSCI与振荡器输出OSCO的相位关系控制测试信号输出装置20，并配合与信号HK同步的听筒取下信号PWDN，在抑制信号INHIBIT设定的振荡器周期数内使测试信号输出装置20产生有效测试信号TEST，该有效测试信号TEST配合振荡器输入OSCI与振荡器输出OSCO的相位变化控制听筒挂上/取下模拟电路30和测试模式产生电路40。

现请参照图2所示本发明增加拨号器测试功能的装置，其包括：

一测试信号输出装置20，其可在下列二状况操作：

(1)系统正常操作，测试信号TEST保持为逻辑0输出，各测试装置均不动作；

(2)系统欲进入测试模式，须先将听筒取下，此时，抑制信号会保持电位为逻辑0达8个振荡器周期，此为系统可用以进入测试模式的时间，之后，抑制信号INHIBIT提升至逻辑1，系统即被抑制而不能进入测试模式。当听筒又取下后，信号 HK将与听筒取下信号PWDN同步由逻辑1变成逻辑0，此时输入系统的振荡器输入OSCI保持在高电位，并于振荡器输出OSCO的第二个脉冲正沿激发时确认系统进入测试模式，并使测试信号TEST由逻辑0变为有效电位逻辑1，并反馈回测试信号输出装置20及振荡器输出/输入装置10，同时测试信号TEST亦被传送至其它测试装置；

而上述动作是通过门电路的传输组合，经触发器D1与D2的作用而由触发器D2的输出Q传送测试信号TEST至各装置。

一振荡器输出/输入装置10，其可在下列二状况操作：

(1)系统正常操作，反馈的测试信号TEST为逻辑0，且振荡器输入OSCI与振荡器输出OSCO的相位相反，并经内部振荡器线路的反馈产生振荡，其作用为提供系统时钟脉冲；

(2)系统欲进入测试模式时，由外部将系统时钟脉冲输入振荡器输出OSCO，并将振荡器输入OSCI保持逻辑1直至测试信号TEST亦变为逻辑1，之后，两者即可依相位的变化控制各测试装置使系统模拟听筒挂上/取下的动作或进入各种测试模式。

一听筒挂上/取下模拟电路30，是由测试信号TEST的逻辑1电位启动，通过门电路的传输组合，振荡器输入OSCI与振荡器输出OSCO同时被输入听筒挂上/取下模拟电路30以比较其相应关系，并利用触发器T1的正相输出EMUOFF与听筒取下信号PWDN共同决定听筒挂上/取下的模拟动作POD。

一测试模式产生电路40，亦由测试信号TRST的逻辑1电位启动，通过门电路的传输组合，振荡器输入OSCI与振荡器输出OSCO的反相输出OSCO同时被输入测试模式产生电路40以比较其相位关系，并利用触发器D3的输出Q与反相输出QB，配合触发器D4的输出Q与反相输出QB共同决定系统的3种测试模式如TEST1、TEST2和TEST3。

一抑制信号产生电路50，是由4个触发器T2、T3、T4及D5串联而成，其靠一听筒取下信号PWDN启动，振荡器输出OSCO则作为触发器T2的时钟脉冲输入，用以使触发器D5经过8个振荡器周期后，输出一逻辑1的抑制信号INHIBIT，进而将该逻辑1的抑制信号INHIBIT传送至测试信号输出装置20，进而使系统不能进入测试模式。

现请参照图3，本发明增加拨号器测试功能的控制方法，可利用脉冲时序图显示其步骤如下：

a.正常操作下，测试信号TEST为逻辑0，振荡器输入OSCI与输出OSCO相位相反，并经内部的反馈产生振荡，此时整个测试电路并不动作。(该步骤未显示于图中)

b.当系统要进入测试模式时，首先将听筒取下，即信号HK由逻辑1变成逻辑0，促使听筒取下信号PWDN亦由逻辑1变成逻辑0，另从振荡器输出端OSCO中输入系统时钟脉冲，此时抑制信号INHIBIT会保持逻辑0达8个振荡器周期，系统因而可以进入测试模式。(直至抑制信号INHIBIT变为逻辑1后，系统即无法进入测试模式)

c.此时将振荡器输入OSCI保持在逻辑1电位，则在振荡器输出OSCO的第二个脉冲正沿触发时，触发器D2的输出会使测试信号TEST变为逻辑1，其后振荡器输入OSCI与输出OSCO保持高阻抗状态，系统即进入测试模式。

d.当振荡器输出OSCO为逻辑0时，在振荡器输入OSCI处输入一个脉冲，此时触发器T1的正相输出EMUOFF即由逻辑0变为逻辑1，系统即模拟听筒挂上的动作。

e.当振荡器输出OSCO为逻辑1时，在振荡器输入OSCI处输入一个脉冲，此时触发器D4的输出使第一测试模式TEST1由逻辑0变成逻辑1，系统即执行第一测试模式的功能。

f.重复e的步骤，此时触发器D3的反相输出使第二测试模式TEST2由逻辑0变成逻辑1，系统即执行第二测试模式的功能，而原第一测试模式TEST1再由逻辑1变成逻辑0，系统自动取消其测试功能，至于其它测试模式的选择，则亦依上述动作类推。

g.重复d步骤，触发器T1的正相输出EMUOFF再由逻辑1变为逻辑0，系统即模拟听筒取下的动作。

综合上述，由于本发明是利用在振荡器输入/输出的管脚中输入有相位关系的信号，如此在正常操作下，使用者不会进入测试模式，并且不需额外增加一测试管脚也能缩短进入各种测试模式的时间，此外于测试模式中，亦可产生其它诸如听筒挂上/取下模拟动作的信号，故其应用更为广泛，实用性也较高。

虽然本发明以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此项技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许改进，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所规定为准。

Claims (8)

1、一种增加拨号器测试功能的装置，其包括：

一测试信号输出装置，用以输出测试信号至各装置及其它测试电路，并决定系统是否进入测试模式；

一振荡器输出/输入装置，当系统维持正常操作，振荡器输出/输入装置的功能是提供系统时钟脉冲，若系统欲进入测试模式，则由外部将系统时钟脉冲输入振荡器输出管脚，并将设定信号输入振荡器输入管脚，比较两者的相位变化，并将前述的相位关系分别传送至测试信号输出装置及其它测试电路，用以使测试信号输出装置输出有效的测试信号，并使系统执行各种测试模式及模拟听筒挂上/取下的动作；

一听筒挂上/取下模拟电路，其中该电路由测试信号启动，并依靠振荡器的输入与输出的相位关系决定听筒挂上/取下的模拟动作；

一测试模式产生电路，其中该电路由测试信号启动，并依靠振荡器的输入与输出的相位关系决定各种测试模式；及

一抑制信号产生电路，其由听筒取下信号启动，该电路用以决定系统进入测试模式的时间长短。

2、如权利要求1所述的增加拨号器测试功能的装置，其中测试信号输出装置包括：

多个逻辑门，用以处理输入信号的组合：

(1)抑制信号，决定系统可进入测试模式的振荡器周期数；

(2)振荡器输入，作为触发器的输入信号；

(3)振荡器输出，作为触发器的时钟脉冲；

(4)反馈的测试信号，使系统确定是否持续执行测试模式；及

多个反相器，其连结有多个逻辑门，并由此将输入的信号组合以控制多个触发器，而测试信号则由最后一级触发器的输出产生。

3.如权利要求1所述的增加拨号器测试功能的装置，其中听筒挂上/取下模拟电路包括：

多个逻辑门，用以处理振荡器输入与输出间的相位关系；及

一触发器，其连结多个逻辑门且由测试信号启动，配合上述的相位关系决定触发器的输出，此输出同时与听筒取下信号比较以决定听筒挂上/取下的模拟动作。

4.如权利要求1所述的增加拨号器测试功能的装置，其中测试模式产生电路包括：

多个逻辑门，用以处理振荡器输入与输出间的相位关系；及

多个触发器，其连结多个逻辑门且由测试信号启动，配合上述的相位关系决定多个触发器的各输出端的输出，并由各输出的组合决定各种测试模式。

5.如权利要求1所述的增加拨号器测试功能的装置，其中，抑制信号产生电路由多个触发器串联而成，振荡器输出则为抑制信号产生电路的时钟脉冲输入，用以使触发器能在多个振荡器周期后，输出一抑制信号至测试信号输出装置，进而使系统不能进入测试模式。

6.一种增加拨号器测试功能的控制方法，是利用一已有的振荡器输出/输入装置，来产生各种测试模式及听筒挂上/取下的模拟动作，其包括如下步骤：

(1)在听筒取下后，从振荡器输出端输入系统时钟脉冲，并将振荡器输入端接至第一电位，经过数个振荡器周期后，系统即确认进入测试模式；

(2)进入测试模式后，在振荡器输出端为第二电位时，从振荡器输入端输入一脉冲，使系统模拟听筒挂上/取下动作；

(3)进入测试模式后，在振荡器输出端为第一电位时，从振荡器输入端输入一脉冲，系统即执行设定的测试模式。

7、如权利要求6所述的增加拨号器测试功能的控制方法，其中第一电位是指高电位，而第二电位是指低电位。

8、如权利要求6所述的增加拨号器测试功能的控制方法，其特征在于：

正常操作下，测试信号为逻辑0，振荡器输入与输出相位相反，并经内部的反馈产生振荡，此时整个测试电路并不动作；

所述步骤(1)中在听筒取下后，信号由逻辑1变成逻辑0，并从振荡器输出端中输入系统时钟脉冲，此时抑制信号会保持逻辑0达8个振荡器周期，使系统可以进入各种测试模式，直至抑制信号变为逻辑1，系统即无法进入测试模式；

所述步骤(1)中所述第一电位是逻辑1电位，在振荡器输出的第二个脉冲正沿触发时，测试信号输出装置的触发器的输出会使测试信号变为逻辑1，其后振荡器的输入与输出保持高阻抗状态，系统即进入测试模式；

所述步骤(2)中所述第二电位是逻辑0，听筒挂上/取下模拟电路的触发器的反相输出由逻辑0变为逻辑1；

所述步骤(3)中所述第一电位是逻辑1，测试模式产生电路的触发器的输出使第一测试模式由逻辑0变成逻辑1，系统即执行第一测试模式的功能，

所述控制方法还包括如下步骤：

(4)重复所述步骤(3)，此时测试模式产生电路的触发器的反相输出使第二测试模式由逻辑0变成逻辑1，而原第一测试模式再由逻辑1变成逻辑0，系统因而自动取消第一测试模式的测试功能，至于其它测试模式的选择，则亦依上述动作类推；

(5)重复所述步骤(2)，此时听筒挂上/取下模拟电路的触发器的反相输出再由逻辑1变为逻辑0，系统即模拟听筒取下的动作。

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