CN105324660B - 浊度计 - Google Patents

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Abstract

一种用于测量在样品试管(30)中的液体样品(34)的浊度的浊度计(10)，所述浊度计包括用于将样品试管(30)定位在限定的试管位置(36)上的试管接收装置(33)。光源(20)在样品试管(30)中产生平行光束(24)。环形45°收光镜(12)环绕样品试管(30)。所述环形45°收光镜(12)与光束(24)同心地布置。圆柱形的散射体(44)布置为与环形45°收光镜(12)同心。散射光检测器(50)布置为接收被散射体(44)散射的光。环形45°聚光镜(40)与环形45°收光镜(12)同轴地布置。所述环形45°聚光镜(40)围绕所述散射体(44)，并且与所述环形45°收光镜(12)光学相对地布置。

Description

浊度计
技术领域
本发明涉及用于测量液体样品浊度的浊度计。
背景技术
常规的浊度计通过投射光束穿过包含液体样品的试管而确定悬浮在液体样品中的固体颗粒的浓度。光检测器检测被悬浮固态颗粒散射的与光束轴线成直角的光的量。如果光检测器检测在圆周的单个部分中散射的光，光检测器的信号是相对低的。
US 2012/0170137 A1描述了不同的圆形反射镜和棱镜布置，其同轴地围绕液体样品试管以将在整个圆周上径向散射的光引导到光检测器。这些装置可导致显著增加的信/噪比。然而，除了对试管内的液体样品浊度的局部不均匀性非常敏感之外，这些布置一般对整个光学布置的几何不准确性非常敏感。
发明内容
本发明的一个方面是提高浊度计测量和确定液体样品浊度的总体准确性。
在一个实施例中，本发明提供了一种浊度计，用于测量在样品试管中的液体样品的浊度，所述样品试管包括用于将样品试管定位在限定的试管位置上的试管接收装置。光源在样品试管中产生平行光束。环形45°收光镜(collecting mirror)围绕样品试管。所述环形45°收光镜被布置成与光束同心。散射体与环形45°收光镜同心地布置。散射光检测器布置为接收被散射体散射的光。环形45°聚光镜(concentration mirror)与环形45°收光镜同轴地布置。环形45°聚光镜围绕散射体，并且与环形45°收光镜光学相对地布置。
详细说明
根据本发明的浊度计设置有用于将样品试管定位在限定的试管位置上的试管接收装置。浊度计一般可设计用于浊度的连续测定，因此试管被固定在限定的试管位置上，并且液体样品流经该试管。浊度计能够可选地设计为使用可更换试管，所述可更换试管在插入到浊度计时已经充满了液体样品。试管接收装置规定了试管或多或少精确地定位在确定的容器位置上，而且规定了光束透过其进入试管的透明试管壁部被定位在限定角度上，例如，相对于所述光束轴成直角。
光源产生被引导到试管内的光束。光束本身是平行的，并可以例如是由激光二极管产生的单色激光束。试管内的激光束的直径不应太小，并且可以例如具有几毫米的直径，诸如，3mm的直径。
收光镜被布置为围绕试管，并设计为与试管中的光束轴线同心地布置的环形45°收光镜。收光镜并不一定完全地围绕试管，但是可以例如被布置为360°完全地围绕试管。收光镜轴向地反射或多或少径向地来自液体样品的散射光，并且更精确地说，来自反射穿透试管内的液体样品的光束的光的固体颗粒。收光镜不一定由单面镜限定，而是可选地通过有两个或多个镜面的镜体限定，因此，镜体例如通过五棱镜限定。
分离的聚光镜与收光镜同轴并光学相对地布置。聚光镜也被设计为环形45°反射镜，使得来自收光镜的或多或少轴向的光流被聚光镜径向向内反射到通过光束和收光镜限定的光轴内。在收光镜与聚光镜之间的光流限定圆柱形环。聚光镜并不一定完全地在圆周方向上封闭，但是能够例如被完全封闭。这两个反射镜都可以例如限定圆锥形和环形的封闭镜面。类似于收光镜，聚光镜可以通过具有两个或多个镜面的镜体限定。
聚光镜围绕散射体，散射体是固体。散射体在由收光镜限定的横向平面上与收光镜同心地布置。散射体是半透明的，但由此对光源的光既不是完全透明的，也不是完全不透明的。散射体的散射特性可以例如在散射体的整个体积上是均匀的。被收光镜反射的光沿径向向内穿透散射体，使得此光被散射体在所有方向上漫射并散射。散射体例如可以在其整个长度是圆柱形的。散射体可以例如由一种类型的乳白玻璃或均匀填充有散射颗粒的塑料物质组成，所述散射颗粒可以是微型颗粒。塑料物质可以是PMMA或其它高度透明的物质。颗粒可以例如是磷酸钙、氟化物、氧化锡、氧化钛或其他合适的颗粒粉末。颗粒尺寸应该在由光源产生的光的波长的范围内和/或在光检测器的灵敏度波长的范围内，例如在1.0至5.0μm的范围内。
散射光传感器被布置并被设置为接收被散射体散射的光的一小部分，所述光是在光传感器的方向上轴向地散射的。光传感器可以例如直接连接到所述散射体，以将传输损失减少到最低。散射光传感器被布置在散射体的一个轴向端部处。散射光传感器优选地对于光源产生的光的波长范围是敏感的。散射光传感器可以设置有光学元件，其将散射体的平面轴向端面的整个表面的光引导到可能比所述端面小得多的传感器元件。光传感器元件可以是类似光电二极管的光电元件。
在本发明的一个实施例中，相对简单和便宜的光学系统可通过设置两个彼此相对的环形45°反射镜并通过提供浑浊散射体而获得，所述反射镜构造为以90°角引导从液体样品散射的光。45°收光镜和相对的45°聚光镜的几何结构具有的效果是，不是直接来自收光镜的中心轴的散射样品光仍然击中散射体，从而使不是直接来自收光镜的中心轴的散射样品光也由光检测器检测。在试管中检验的样品液体体积因此可以显著增加。因此，局部浊度不均匀性不会大程度地影响测量结果的准确性。
在本发明的实施例中，散射体的直径可以例如大于在试管中的光束直径，并且小于圆柱形试管的内径。散射体的几何形状和体积与试管内由光检测器监测的监测体积的几何形状或多或少是完全相同的；即，从试管内的监测体积内散射的所有光被散射体接收到。因为散射体的直径大于光束直径，由不完美地形成的试管底壁引起的光束偏差不必影响传输到散射体并由光检测器接收的光的量。因此浊度计变得对将光束引导到试管的光学装置更加宽容，使得浊度计的光学系统和试管的较大公差是可接受的。被试管主体散射的光未投射到散射体，因为散射体的直径比所述圆柱形试管的内径小。散射体的直径可以例如显著地小于试管的内径，使得即使试管相对于光束恰好轴向地定位，监测体积也不与试管主体干涉。
在本发明的实施例中，散射体的直径可以例如是光束直径的至少2.0倍，例如是至少3.0倍。散射体的直径的这种尺寸允许光束在试管内偏离几度，而不会导致由光检测器检测的散射光量的显著变化。
在本发明的实施例中，两个反射镜的轴向长度可以例如是相同的。散射体的轴向长度可以例如与两个反射镜的轴向长度是相同的。这种构造提供了不被光束光学系统或试管的不准确性显著地影响的恒定的监测体积。
在本发明的实施例中，光束镜可以例如轴向地布置在收光镜与聚光镜之间。光束镜将来自所述光源的光轴向地反射到试管内。换句话说，光束镜将来自光源的光耦合到由收光镜、聚光镜和散射体限定的纵向轴线内。光束镜可以例如相对于所述纵向轴线以45°镜角布置，使得径向地来自光源的光束被相对于纵向轴线以90°反射。
通过将光束耦合到聚光镜与收光镜之间，该装置可在顶部保持打开，使得试管可以从装置顶端进行更换，而不与任何光束光学器件干扰。
附图说明
本发明在实施例和附图的基础上在下面进行更详细地说明，其中：
图1以纵向横截面示出了浊度计的光学系统；和
图2以透视图示出了图1的浊度计的光学系统。
具体实施方式
附图示出了用于测量和确定在样品试管30中的液体样品34的浊度的浊度计10。在本实施例中，浊度计10不是所谓的处理设备，而是所谓的实验室设备，其不一定仅在实验室中使用，而是可被用来确定试管中的单个隔离的液体样品34的浊度。实验室设备不适合用于样品流的连续测定。
液体的浊度是悬浮在液体样品34中的固体颗粒的浓度的指示。浊度是通过投射光束到液体样品内，并通过在与液体样品34中的光束纵轴成90°角的地方测量被液体样品34散射的光的光强度而确定的。
浊度计10设置有壳体(未示出)，该壳体具有用于将样品试管30插入在壳体内的试管接收装置33内并从其中弹出的开口。试管接收装置33以几度的倾斜角精度将插入的样品试管30定位在限定的试管位置36上。试管接收装置33在形状上是圆形的，并且设置有中心开口35，其允许纵向轴向光束24轴向地通过试管接收装置33，并穿过试管底壁32延伸进入包含液体样品34的试管内部。样品试管30主要由包括平面试管底壁32的透明并且圆柱形的试管主体31限定。
插入的样品试管30被共轴收光镜12围绕，所述收光镜是环形形状的并且在其紧轴向端设置有中心开口，样品试管30的顶端通过所述开口伸出。共轴收光镜12的镜面14由有45°圆锥角a1的圆锥精确地限定。
聚光镜40与共轴收光镜12同轴并且相对地设置。聚光镜40的镜面42在形状和尺寸上与共轴收光镜12的镜面14相同。因此，聚光镜40的镜面42相对于中心纵向轴线11的圆锥角a2恰好是-45°。聚光镜40定位在与共轴收光镜12恰好相对的位置上，使得被液体样品34径向地散射的光通过共轴收光镜12反射到恰好轴向的方向内，并且被聚光镜40反射回到中心进入恰好径向的方向内。
固体散射体44被提供并精确地定位在中心上并且在聚光镜40的平面上。固体散射体44是圆柱形的形状，由塑料制成，并且设置为在它的整个体积上是均匀地半透明的。换句话说，散射体44不是纯净的(clear)，而是由有在散射体的体积内均匀分布的微粒的透明固体塑料体组成。微粒将从径向方向进入散射体的光散射到各个方向上，使得进入的光被扩散。因此，进入的光的一部分被在两个轴向方向上都散射。散射体44可以由具有粒径为1至2μm的氧化钛微粒的透明PMMA制成。固体散射体44的远侧散射体端52和轴向近端54都是平面状的。固体散射体44的轴向近端54可设置有将散射光重定向到远侧散射体端52的平面反射面。
光源20被布置于轴向地在聚光镜40与同轴收光镜12之间的平面上。光源20可以是产生直径db为例如3.0mm的平行光束24’的激光二极管21。由光源20发射的平行光束24’位于与中心纵向轴线11垂直的横向平面上，并且被平面光束镜22反射到与中心纵向轴线11同轴的轴向方向内。平面光束镜22被布置为相对于中心纵向轴线11成45°角。反射的纵向轴线光束24穿过中心开口35和试管底壁32传播到液体样品34内。
光检测器50设置在固体散射体44的远侧散射体端52处。光检测器50对于通过光源20发射的光是敏感的。光检测器50检测在固体散射体44内部沿远侧轴向方向散射并反射的光。光检测器50可以例如在固体散射体44的远侧散射体端52的表面的整个直径上是敏感的。
作为对在固体散射体44的轴向近端54处的反射表面的替代，第二光检测器(未示出)可以设置在固体散射体44的轴向近端54处。
收光镜12、聚光镜40和固体散射体44的轴向长度l1、l2、l3都或多或少是相同的。圆柱形固体散射体44的直径ds约是在样品试管30中的平行光束24的直径db的3.0倍。
固体散射体44的形状和体积与由聚光镜40和同轴收光镜12在样品试管30内部产生的投影是相同的，使得相应的监测体积37限定在样品试管30内。对应的监测体积37具有与固体散射体44相同的直径ds和轴向长度l3，并限定由光检测器50监测的体积。相应的监测体积37在直径上大于平行光束24，使得光学布置相对于平行光束24在液体样品34内部的精确位置是宽容的。但是，固体散射体44的外径ds显著地小于样品试管30的内径di。
本发明不局限于本文所描述的实施例；应当参考所附的权利要求。

Claims (10)

1.一种用于测量在样品试管(30)中的液体样品(34)的浊度的浊度计(10)，所述浊度计包括：
用于将所述样品试管(30)定位在限定的试管位置(36)上的试管接收装置(33)；
用于在所述样品试管(30)中产生平行光束(24)的光源(20)；
环绕所述样品试管(30)的环形45°收光镜(12)，所述环形45°收光镜(12)布置为与平行光束(24)同心；
布置为与所述环形45°收光镜(12)同心的、半透明的固体散射体(44)；
布置为接收被散射体(44)散射的光的散射光检测器(50)；和
与环形45°收光镜(12)同轴地布置的环形45°聚光镜(40)，
其中，所述环形45°聚光镜(40)围绕所述散射体(44)，并且与所述环形45°收光镜(12)光学相对地布置。
2.根据权利要求1所述的浊度计(10)，其中，所述环形45°收光镜(12)和所述环形45°聚光镜(40)一起限定锥形的且环状封闭的镜面(14、42)。
3.根据权利要求1或2所述的浊度计(10)，其中，所述环形45°收光镜(12)和所述环形45°聚光镜(40)各自具有相同形状的镜面(14、42)。
4.根据权利要求1或2所述的浊度计(10)，其中，所述散射体(44)具有圆柱形形状。
5.根据权利要求1或2所述的浊度计(10)，其中，所述散射体(44)的直径ds大于在所述样品试管(30)中的光束直径db，并且小于圆柱形试管主体(31)的内径di。
6.根据权利要求5所述的浊度计(10)，其中，所述散射体(44)的直径ds是所述光束直径db的至少2.0倍。
7.根据权利要求6所述的浊度计(10)，其中，所述散射体(44)的直径ds是所述光束直径db的至少3.0倍。
8.根据权利要求1或2所述的浊度计(10)，其中，所述环形45°收光镜(12)和所述环形45°聚光镜(40)各自具有相同的轴向长度。
9.根据权利要求8所述的浊度计(10)，其中，所述散射体(44)具有与所述环形45°收光镜(12)和所述环形45°聚光镜(40)的轴向长度相同的轴向长度。
10.根据权利要求1或2所述的浊度计(10)，还包括轴向地布置在所述环形45°收光镜(12)与所述环形45°聚光镜(40)之间的光束镜(22)，所述光束镜(22)将来自所述光源(20)的光轴向地反射到所述样品试管(30)内。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014108630B4 (de) 2014-06-18 2021-07-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Durchführung optischer Messungen an fluiden Substanzen in Gefäßen mit einer Längsrichtung
EP3023768B1 (en) 2014-11-21 2020-03-04 Hach Lange GmbH A nephelometric turbidimeter and method for controlling the humidity of venting air in a nephelometric turbidimeter
EP3705873B1 (en) * 2014-11-27 2022-10-12 Hach Lange GmbH Nephelometric turbidimeter vial arrangement

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE934978C (de) * 1953-12-19 1955-11-10 Zeiss Carl Fa Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Gesamtstreulichts
GB1298658A (en) * 1970-01-29 1972-12-06 Beckman Instruments Inc Photometer for measuring total radiant energy at selected angles
JPS6136856U (ja) * 1984-08-07 1986-03-07 三菱電機株式会社 フラツシユ定着器光量検出装置
US4690560A (en) * 1983-06-30 1987-09-01 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization Optically based measurement of fluid parameters
CN2890898Y (zh) * 2006-03-14 2007-04-18 深圳市国赛生物技术有限公司 散射比浊专用测试仪
EP1826556A2 (de) * 2006-02-22 2007-08-29 Helmut A. Kappner Prüfeinrichtung
CN101191768A (zh) * 2006-12-01 2008-06-04 林洁丽 一种安全在线式激光光纤浊度计

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4129383A (en) * 1976-02-10 1978-12-12 Chloride Incorporated Smoke detector and housing assembly therefore
JPS54133179A (en) * 1978-04-05 1979-10-16 Kyoto Daiichi Kagaku Kk Standard scattering member for calibrating scattering photometer
JPS5764657U (zh) * 1980-10-07 1982-04-17
US4886348A (en) * 1988-10-26 1989-12-12 Westinghouse Electric Corp. Total transmissibility optical system
US6705736B1 (en) * 2001-12-03 2004-03-16 David E. Pressler Light-collection device
JP2006047166A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Yokogawa Electric Corp 濁度計
US7142299B2 (en) * 2004-11-18 2006-11-28 Apprise Technologies, Inc. Turbidity sensor
JP4728034B2 (ja) * 2005-04-25 2011-07-20 オリンパス株式会社 回転非対称光学系
EP2476017B1 (en) * 2009-09-11 2016-12-07 Hach Company Meso-optic device
CA2807630C (en) * 2010-08-06 2016-12-13 Hach Company Annular optical device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE934978C (de) * 1953-12-19 1955-11-10 Zeiss Carl Fa Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Gesamtstreulichts
GB1298658A (en) * 1970-01-29 1972-12-06 Beckman Instruments Inc Photometer for measuring total radiant energy at selected angles
US4690560A (en) * 1983-06-30 1987-09-01 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization Optically based measurement of fluid parameters
JPS6136856U (ja) * 1984-08-07 1986-03-07 三菱電機株式会社 フラツシユ定着器光量検出装置
EP1826556A2 (de) * 2006-02-22 2007-08-29 Helmut A. Kappner Prüfeinrichtung
CN2890898Y (zh) * 2006-03-14 2007-04-18 深圳市国赛生物技术有限公司 散射比浊专用测试仪
CN101191768A (zh) * 2006-12-01 2008-06-04 林洁丽 一种安全在线式激光光纤浊度计

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
散射式浊度仪的改进和应用;吴星五 等;《工业用水与废水》;20011231;第32卷(第4期);第8-10页 *

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