CN105321552A - 一种延迟锁相环及其复位控制方法 - Google Patents

一种延迟锁相环及其复位控制方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105321552A
CN105321552A CN201510791126.XA CN201510791126A CN105321552A CN 105321552 A CN105321552 A CN 105321552A CN 201510791126 A CN201510791126 A CN 201510791126A CN 105321552 A CN105321552 A CN 105321552A
Authority
CN
China
Prior art keywords
dll
control circuit
lock
circuit
logic control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510791126.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN105321552B (zh
Inventor
刘成
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Sinochip Semiconductors Co Ltd
Original Assignee
Xian Sinochip Semiconductors Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Sinochip Semiconductors Co Ltd filed Critical Xian Sinochip Semiconductors Co Ltd
Priority to CN201510791126.XA priority Critical patent/CN105321552B/zh
Publication of CN105321552A publication Critical patent/CN105321552A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105321552B publication Critical patent/CN105321552B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)

Abstract

本发明公开一种延迟锁相环及其复位控制方法,系统上电检测电路检测DRAM芯片上电时,发出系统上电信号给系统控制电路,系统控制电路产生一个DLL复位信号给逻辑控制电路,DLL开始锁定;当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL快速锁定。本发明能够在DRAM初始化后进行读/写操作时,保证DLL能够被完全锁定,有效的避免了现有技术中DRAM上电初始化后DLL没有完全锁定就开始读/写操作所引起的读/写错误。

Description

一种延迟锁相环及其复位控制方法
【技术领域】
本发明涉及延迟锁相环技术领域,特别涉及一种延迟锁相环及其复位控制方法。
【背景技术】
请参阅图1和图2所示,DRAM芯片上电后,芯片进入初始化状态,在初始化结束时,芯片系统的系统控制电路会发出延迟锁相环DLL复位的指令,在DLL复位指令后200个时钟周期,系统就会进行读/写操作。在系统进行读/写操作时,需要DLL处于锁定状态,也就是说DLL在复位后200个时钟周期内要锁定。
现有技术存在的问题:由于一些不可预知的原因,例如电源噪声,输入时钟的抖动等,DLL经常在200个时钟周期内不能锁定,当系统需要进行读/写时,如果DLL没有锁定,读/写就会出现错误。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种延迟锁相环及其复位控制方法,以解决现有延迟锁相环在芯片初始化结束时200个时钟周期内经常无法锁定,导致读/写出现错误的问题。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种延迟锁相环,包括延迟链、鉴相器、反馈电路、逻辑控制电路、系统控制电路、系统上电检测电路和状态存储电路;输入时钟信号线连接延迟链和鉴相器;延迟链的输出端连接输出时钟信号线;反馈电路的输入端连接延迟链的输出端,反馈电路的输出端连接鉴相器;鉴相器的输出端连接逻辑控制电路,逻辑控制电路的输出端连接延迟链;系统上电检测电路的输出端连接系统控制电路的输入端,系统控制电路的输出端连接逻辑控制电路。
进一步的,所述系统上电检测电路用于监测DRAM芯片上电时刻;状态存储电路用于存储初始化阶段DLL复位锁定后的锁定状态数值。
进一步的,系统上电检测电路检测DRAM芯片上电时,发出系统上电信号给系统控制电路,系统控制电路产生一个DLL复位信号给逻辑控制电路,DLL开始锁定;当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL快速锁定。
进一步的,所述系统上电检测电路连接状态存储电路,用于在DRAM芯片上电时复位状态存储电路。
一种延迟锁相环的复位控制方法,包括以下步骤:系统上电检测电路检测DRAM芯片上电时,发出系统上电信号给系统控制电路,系统控制电路产生一个DLL复位信号给逻辑控制电路,DLL开始锁定;当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL快速锁定。
相对于现有技术,本发明具有以下有益效果:
本发明,在DRAM上电后系统初始化时,系统控制电路直接产生DLL复位信号让DLL开始进行锁定,由于初始化时间很长,远远超过200个时钟周期,所以DLL肯定可以完全锁定。当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL直接从几乎已经锁定的状态开始锁定,DLL可以很快就处于完全锁定状态。本发明能够在DRAM初始化后进行读/写操作时,保证DLL能够被完全锁定,有效的避免了现有技术中DRAM上电初始化后DLL没有完全锁定就开始读/写操作所引起的读/写错误。
【附图说明】
图1为现有DRAM工作时序示意图;
图2为现有延迟锁相环的结构示意图;
图3为本发明延迟锁相环的结构示意图;
图4为本发明DRAM工作时序示意图。
【具体实施方式】
请参阅图3所示,本发明一种延迟锁相环,包括延迟链、鉴相器、反馈电路、逻辑控制电路、系统控制电路、系统上电检测电路和状态存储电路;输入时钟信号线连接延迟链和鉴相器;延迟链的输出端连接输出时钟信号线;反馈电路的输入端连接延迟链的输出端,反馈电路的输出端连接鉴相器;鉴相器的输出端连接逻辑控制电路,逻辑控制电路的输出端连接延迟链。系统上电检测电路的输出端连接系统控制电路的输入端,系统控制电路的输出端连接逻辑控制电路。系统上电检测电路的输出端还连接DLL状态存储电路,用于在DRAM芯片上电时刻复位DLL状态存储电路。
本发明在现有延迟锁相环结果的基础上,增加了一个系统上电检测电路和状态存储电路;系统上电检测电路用于监测DRAM芯片上电时刻;状态存储电路用于存储初始化阶段DLL复位锁定后的锁定状态数值。
请参阅图4所示,本发明一种延迟锁相环的复位控制方法,包括以下步骤:系统上电检测电路检测DRAM芯片上电时,发出系统上电信号给系统控制电路,系统控制电路产生一个DLL复位信号给逻辑控制电路,DLL开始锁定,由于初始化时间很长,远远超过200个时钟周期,所以DLL肯定可以完全锁定。当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL直接从几乎已经锁定的状态开始锁定,DLL可以很快就处于完全锁定状态。

Claims (5)

1.一种延迟锁相环,其特征在于,包括延迟链、鉴相器、反馈电路、逻辑控制电路、系统控制电路、系统上电检测电路和状态存储电路;输入时钟信号线连接延迟链和鉴相器;延迟链的输出端连接输出时钟信号线;反馈电路的输入端连接延迟链的输出端,反馈电路的输出端连接鉴相器;鉴相器的输出端连接逻辑控制电路,逻辑控制电路的输出端连接延迟链;系统上电检测电路的输出端连接系统控制电路的输入端,系统控制电路的输出端连接逻辑控制电路。
2.根据权利要求1所述的一种延迟锁相环,其特征在于,所述系统上电检测电路用于监测DRAM芯片上电时刻;状态存储电路用于存储初始化阶段DLL复位锁定后的锁定状态数值。
3.根据权利要求1所述的一种延迟锁相环,其特征在于,系统上电检测电路检测DRAM芯片上电时,发出系统上电信号给系统控制电路,系统控制电路产生一个DLL复位信号给逻辑控制电路,DLL开始锁定;当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL快速锁定。
4.根据权利要求1所述的一种延迟锁相环,其特征在于,所述系统上电检测电路连接状态存储电路,用于在DRAM芯片上电时复位状态存储电路。
5.一种延迟锁相环的复位控制方法,其特征在于,包括以下步骤:系统上电检测电路检测DRAM芯片上电时,发出系统上电信号给系统控制电路,系统控制电路产生一个DLL复位信号给逻辑控制电路,DLL开始锁定;当DLL完全锁定后,把DLL的锁定状态数值存储到状态存储电路里,当芯片初始化结束以后DLL复位时,直接把这组存储的DLL的锁定状态数值输出给到逻辑控制电路,逻辑控制电路通过这组存储的DLL的锁定状态数值直接控制延迟链的长度,让DLL快速锁定。
CN201510791126.XA 2015-11-17 2015-11-17 一种延迟锁相环及其复位控制方法 Active CN105321552B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510791126.XA CN105321552B (zh) 2015-11-17 2015-11-17 一种延迟锁相环及其复位控制方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510791126.XA CN105321552B (zh) 2015-11-17 2015-11-17 一种延迟锁相环及其复位控制方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105321552A true CN105321552A (zh) 2016-02-10
CN105321552B CN105321552B (zh) 2018-08-10

Family

ID=55248783

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510791126.XA Active CN105321552B (zh) 2015-11-17 2015-11-17 一种延迟锁相环及其复位控制方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105321552B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110557120A (zh) * 2019-08-16 2019-12-10 西安电子科技大学 一种快速锁定的延迟链锁相环
CN113659979A (zh) * 2021-08-20 2021-11-16 长江存储科技有限责任公司 延迟锁相环及其延迟线锁定方法、装置、介质及系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1664956A (zh) * 2004-03-05 2005-09-07 海力士半导体有限公司 半导体存储装置中的延迟锁定回路及其时钟锁定方法
CN101116245A (zh) * 2005-02-03 2008-01-30 睦塞德技术公司 用于初始化延迟锁定环的方法和装置
US20110298501A1 (en) * 2010-06-03 2011-12-08 Praveen Mosalikanti Methods and Apparatuses for Delay-Locked Loops and Phase-Locked Loops
CN102497204A (zh) * 2003-06-25 2012-06-13 睦塞德技术公司 用于延迟锁定环的初始化电路
CN204168277U (zh) * 2014-09-30 2015-02-18 山东华芯半导体有限公司 一种延迟锁相环防止错锁的电路
CN104702273A (zh) * 2015-03-25 2015-06-10 西安华芯半导体有限公司 一种防止错锁的延迟锁相环及其锁相方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102497204A (zh) * 2003-06-25 2012-06-13 睦塞德技术公司 用于延迟锁定环的初始化电路
CN1664956A (zh) * 2004-03-05 2005-09-07 海力士半导体有限公司 半导体存储装置中的延迟锁定回路及其时钟锁定方法
CN101116245A (zh) * 2005-02-03 2008-01-30 睦塞德技术公司 用于初始化延迟锁定环的方法和装置
US20110298501A1 (en) * 2010-06-03 2011-12-08 Praveen Mosalikanti Methods and Apparatuses for Delay-Locked Loops and Phase-Locked Loops
CN204168277U (zh) * 2014-09-30 2015-02-18 山东华芯半导体有限公司 一种延迟锁相环防止错锁的电路
CN104702273A (zh) * 2015-03-25 2015-06-10 西安华芯半导体有限公司 一种防止错锁的延迟锁相环及其锁相方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110557120A (zh) * 2019-08-16 2019-12-10 西安电子科技大学 一种快速锁定的延迟链锁相环
CN110557120B (zh) * 2019-08-16 2021-02-26 西安电子科技大学 一种快速锁定的延迟链锁相环
CN113659979A (zh) * 2021-08-20 2021-11-16 长江存储科技有限责任公司 延迟锁相环及其延迟线锁定方法、装置、介质及系统
CN113659979B (zh) * 2021-08-20 2024-07-05 长江存储科技有限责任公司 延迟锁相环及其延迟线锁定方法、装置、介质及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN105321552B (zh) 2018-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100452241C (zh) 半导体存储装置中的延迟锁定回路及其时钟锁定方法
KR101008993B1 (ko) 파이프래치 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치
US7606105B2 (en) Deep power down mode control circuit
KR102319392B1 (ko) 메모리 시스템 및 이의 동작 방법
TW201610640A (zh) 半導體裝置之輸出時序控制電路及其方法
US9672893B2 (en) Semiconductor device configured to generate a refresh pulse for executing a refresh operation in response to the decoded count signal and temperature code
KR100880831B1 (ko) 시스템 및 그것의 부트 코드 로딩 방법
CN106205673B (zh) 具有初始化电路的半导体器件及包括其的半导体系统
CN105321552A (zh) 一种延迟锁相环及其复位控制方法
KR20140124093A (ko) 반도체 장치
US8823428B2 (en) Semiconductor device, method for operating the same, and memory system including the same
KR102088835B1 (ko) 어레이 이-퓨즈의 부트-업 방법 및 그를 이용한 반도체 장치
TWI437820B (zh) 電壓保持電路
US20150236584A1 (en) Voltage generator with ramp rate control
US9159445B2 (en) Semiconductor device with fuse array and operating method thereof
US8581641B2 (en) Power-up signal generation circuit
US20140111254A1 (en) Integrated circuit chip and system having the same
US9747113B2 (en) Semiconductor device and semiconductor system including the same
US9384794B2 (en) Semiconductor device and method of operating the same
KR101062778B1 (ko) 파워업 신호 생성 장치 및 파워업 신호 생성 방법
US11916476B2 (en) Voltage generator and voltage generating method thereof
US8598928B1 (en) Delay-locked loop
KR101046049B1 (ko) 시스템온칩 플래쉬 메모리 보호 회로
JP2007018288A (ja) 演算処理装置及びその省電力モード切り換え方法
JP2008252864A (ja) 半導体装置及びその駆動方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 710055 Shaanxi City, Xi'an province high tech Road No. 38, innovation center, A, block, floor 4

Applicant after: XI'AN UNIIC SEMICONDUCTORS Co.,Ltd.

Address before: 710075 Shaanxi City, Xi'an province high tech Road No. 38, innovation center, A, block, floor 4

Applicant before: Xi'an Sinochip Semiconductors Co., Ltd.

COR Change of bibliographic data
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant